91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

白光干涉儀核心硬件-壓電陶瓷的大作用 | 科普篇

優(yōu)可測 ? 2023-04-07 09:18 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

優(yōu)可測Atometrics白光干涉儀AM系列搭載著超高精度掃描單元——壓電陶瓷納米級步進(jìn)!逐層掃描還原真實(shí)三維形貌,讓微小瑕疵、細(xì)微劃傷無所遁形。

今天小優(yōu)博士帶您了解壓電陶瓷在白光干涉儀內(nèi)的重要作用。

通過前幾期文章,相信大家已初步了解白光干涉儀實(shí)現(xiàn)納米級測量精度的原理。前兩期傳送門

↓↓↓

白光干涉儀如何選擇鏡頭丨科普

如何驗(yàn)證白光干涉儀精度丨科普篇

01

壓電陶瓷 PZT

v2-cf609a1888dd2f934f4e8aa2e9065733_720w.webp

v2-704589ad6410cc3e9deac3ad3bbc6f8a_720w.webp

壓電陶瓷PZT通過給予電壓信號產(chǎn)生相同間距的微量位移,負(fù)載鏡頭進(jìn)行逐層掃描。是白光干涉儀實(shí)現(xiàn)精細(xì)逐層掃描核心硬件。

是測量精度和三維圖像真實(shí)還原度的決定性因素。

區(qū)別于步進(jìn)電機(jī),壓電陶瓷有著如下幾個明顯優(yōu)勢

① 步進(jìn)低于幾十納米甚至幾納米

② 步進(jìn)線性均一

③ 步進(jìn)可控性強(qiáng)

02

壓電陶瓷精細(xì)掃描案例

v2-49986aa4210ec1b4c6887101ec9b7cca_720w.webp

圖1 金剛石工具表面 ( ER-230拍攝 )

金剛石表面細(xì)節(jié)豐富細(xì)膩

圖像真實(shí)還原性極高


v2-00ecc4e4401637c7d46c1d28b5fd4701_720w.webp

v2-4b2eecd742f33c6482065a0929736189_720w.webp

圖2 5nm臺階高度測量 ( NA-500拍攝 )

低于10nm的超微臺階輕松應(yīng)對


v2-f9cb32cc33302cbc59274e165bd85c4e_720w.webpv2-ac251014a619de67fa595fae0bdf11f5_720w.webp

圖3超光滑鏡片表面粗糙度( NA-500拍攝)

03

三大特點(diǎn)

優(yōu)可測Atometrics 白光干涉儀AM系列搭載的壓電陶瓷

“高精度”

“大量程”

“高速度”

白光干涉儀具體還由哪些重要的硬件組成呢?

關(guān)注小優(yōu)博士,下期繼續(xù)給大家科普吧!

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 硬件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    11

    文章

    3595

    瀏覽量

    69032
  • 干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    147

    瀏覽量

    10736
  • 白光干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    237

    瀏覽量

    3358
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    以設(shè)計(jì)鑄品質(zhì)!優(yōu)可測白光干涉儀AM-8000榮膺2025德國紅點(diǎn)獎

    優(yōu)可測白光干涉儀AM-8000打破了傳統(tǒng)精密儀器“輕設(shè)計(jì)” 的固有認(rèn)知,憑借技術(shù)沉淀與創(chuàng)新設(shè)計(jì),斬獲2025德國紅點(diǎn)獎!
    的頭像 發(fā)表于 11-21 11:59 ?2171次閱讀
    以設(shè)計(jì)鑄品質(zhì)!優(yōu)可測<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>AM-8000榮膺2025德國紅點(diǎn)獎

    白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓測量

    。 關(guān)鍵詞:白光干涉儀;晶圓;深腐蝕溝槽;3D 輪廓測量 一、引言 晶圓深腐蝕溝槽是功率器件、MEMS 傳感器等器件的核心結(jié)構(gòu),承擔(dān)著電場隔離、機(jī)械支撐等關(guān)鍵功能,其 3D 輪廓參數(shù)(如溝槽深度、側(cè)壁傾斜角、底部粗糙度)直接影響
    的頭像 發(fā)表于 10-30 14:22 ?390次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓測量

    電壓放大器:相位調(diào)制零差干涉儀性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵驅(qū)動力

    實(shí)驗(yàn)名稱: 相位調(diào)制零差干涉儀性能評價(jià)及實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?測試相位調(diào)制零差干涉儀在測量鏡靜止時(shí),由環(huán)境參數(shù)變化引起測量干涉儀與參考干涉儀之間干涉
    的頭像 發(fā)表于 09-22 13:43 ?479次閱讀
    電壓放大器:相位調(diào)制零差<b class='flag-5'>干涉儀</b>性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵驅(qū)動力

    白光干涉儀與激光干涉儀的區(qū)別及應(yīng)用解析

    在精密測量領(lǐng)域,干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測的儀器,被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場景。其中,白光干涉儀與激光干涉儀是兩類具有
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:16 ?1312次閱讀

    白光干涉儀與原子力顯微鏡測試粗糙度的區(qū)別解析

    表面粗糙度作為衡量材料表面微觀形貌的關(guān)鍵指標(biāo),其精準(zhǔn)測量在精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域具有重要意義。白光干涉儀與原子力顯微鏡(AFM)是兩類常用的粗糙度測試工具,二者基于不同的測量原理,在測試范圍、精度及適用性上存在顯著差異。明確這些差異對于選擇合適的測量方法、保障數(shù)據(jù)可靠性
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:15 ?1050次閱讀

    一文讀懂:白光干涉儀vs共聚焦顯微鏡的優(yōu)劣勢差異

    在半導(dǎo)體、鋰電、光伏、航空航天等高端制造領(lǐng)域,高精度光學(xué)測量技術(shù)是把控產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)工藝的核心支撐,直接關(guān)系到產(chǎn)業(yè)升級與技術(shù)創(chuàng)新進(jìn)程。白光干涉儀與共聚焦顯微鏡是高端制造常用核心測量
    的頭像 發(fā)表于 09-11 18:16 ?802次閱讀
    一文讀懂:<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>vs共聚焦顯微鏡的優(yōu)劣勢差異

    引進(jìn)白光干涉儀管控微流控芯片形貌,性能大幅提升

    白光干涉儀納米級管控微流控芯片表面粗糙度,以及微流道高度和寬度,提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量,滿足不同客戶需求。
    的頭像 發(fā)表于 05-29 17:34 ?684次閱讀
    引進(jìn)<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>管控微流控芯片形貌,性能大幅提升

    VirtualLab Fusion:用于光學(xué)檢測的斐索干涉儀

    摘要 斐索干涉儀是工業(yè)上常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,通常用于高精度測試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下,我們建立了一個Fizeau干涉儀,并將其用于測試不同的光學(xué)表面
    發(fā)表于 05-28 08:48

    Aigtek電壓放大器在光纖干涉儀噪聲抑制研究中的應(yīng)用

    相位信息的光強(qiáng)信號,經(jīng)過特定設(shè)計(jì)的信號處理模塊,將反饋信號加載在激光器的調(diào)頻端口上,即可鎖定輸出激光的頻率,從而有效降低頻率噪聲。本節(jié)采用自主研制的帶有壓電陶瓷(PZT)的單頻光纖激光器,結(jié)合非平衡光纖干涉儀的鑒
    的頭像 發(fā)表于 05-15 11:49 ?761次閱讀
    Aigtek電壓放大器在光纖<b class='flag-5'>干涉儀</b>噪聲抑制研究中的應(yīng)用

    FRED應(yīng)用:天文光干涉儀

    干涉儀中光線的光程差會隨著角度的增大而增大。探測器上生成的干涉圖樣的一些例子如圖2所示。 圖2.左:角度范圍為1弧秒的恒星在探測器上的白光干涉圖樣,
    發(fā)表于 04-29 08:52

    納米級形貌快速測量,優(yōu)可測白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

    研究摩擦學(xué),能帶來什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
    的頭像 發(fā)表于 04-21 12:02 ?1256次閱讀
    納米級形貌快速測量,優(yōu)可測<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

    一鍵對焦+一鍵調(diào)平,測量效率提升7倍 | 優(yōu)可測全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

    測量精度小于1納米,性能進(jìn)入全球一梯隊(duì),優(yōu)可測旗艦白光干涉儀發(fā)布
    的頭像 發(fā)表于 03-27 11:03 ?1169次閱讀
    一鍵對焦+一鍵調(diào)平,測量效率提升7倍 | 優(yōu)可測全新旗艦<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>發(fā)布

    安泰電壓放大器在相位調(diào)制零差干涉儀性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用

    實(shí)驗(yàn)名稱: 相位調(diào)制零差干涉儀性能評價(jià)及實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?測試相位調(diào)制零差干涉儀在測量鏡靜止時(shí),由環(huán)境參數(shù)變化引起測量干涉儀與參考干涉儀之間干涉
    的頭像 發(fā)表于 03-12 11:42 ?718次閱讀
    安泰電壓放大器在相位調(diào)制零差<b class='flag-5'>干涉儀</b>性能評價(jià)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用