文章由濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司提供

Leak-DS微泄漏密封性測(cè)試儀采用真空衰減法/壓力衰減法測(cè)試原理，主要用于瓿瓶、西林瓶、玻璃輸液瓶、塑料輸液瓶/袋、卡式瓶、預(yù)充針、滴眼劑瓶等成品包裝密封完整性測(cè)試。真空壓力衰減法檢漏一體機(jī)設(shè)計(jì)，采用專(zhuān)利結(jié)構(gòu)，輕松完成不同內(nèi)容物藥品包裝容器的檢測(cè)測(cè)試。
其測(cè)試原理采用真空衰減和壓力衰減雙系統(tǒng)，具體測(cè)試過(guò)程：將微泄漏密封性測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)物的測(cè)試腔內(nèi)，包裝物內(nèi)外形成壓差，在壓力作用下，包裝物內(nèi)外氣體或者液體形成擴(kuò)散。真空/壓力高精度傳感技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系，從而判斷試樣是否泄漏。

真空衰減法是目前應(yīng)用范圍較廣的確定性檢測(cè)方法，可用于各種液體、固體，剛性、半剛性、柔性產(chǎn)品的密封性檢漏。非破壞性無(wú)損檢測(cè)使其獲得制藥企業(yè)廣泛的認(rèn)可。但真空衰減法檢漏儀并不能完成所有內(nèi)容物的測(cè)試，像混懸液、乳狀液（如蛋白質(zhì)）、粉末等容易堵塞泄漏通道的內(nèi)容物對(duì)真空衰減法檢漏構(gòu)成挑戰(zhàn)。而壓力衰減法能夠補(bǔ)充一部分真空衰減法的弊端。因此真空壓力衰減法檢漏一體機(jī)-Leak-DS微泄漏密封性測(cè)試儀對(duì)于用戶來(lái)說(shuō)能夠測(cè)試的樣品更多，拓寬了儀器適用范圍。巧妙的設(shè)計(jì)使得儀器結(jié)構(gòu)更小，方法的切換更簡(jiǎn)單。
作為CCIT容器密封完整性測(cè)試技術(shù)的開(kāi)拓者，提供給用戶更多選擇，像高壓放電法、色水法、微生物挑戰(zhàn)法等多種儀器，并提供解決方案。

審核編輯 黃宇