在測(cè)試電流時(shí)，我們經(jīng)常收到客戶的一些問題，總的來(lái)說會(huì)有下列等問題困擾：

1.測(cè)試電流范圍較廣，從10A級(jí)別到mA、μA、nA級(jí)別甚至是pA、fA級(jí)別這樣的超小電流，尋找測(cè)試設(shè)備時(shí)無(wú)法選擇同一個(gè)品牌的儀器而煩惱。

2.即使找到了符合范圍的所有儀器，也無(wú)法解決測(cè)量精度問題。

3.解決了測(cè)量精度問題，測(cè)量速度又不夠。

4.測(cè)量速度夠了，又面臨只能測(cè)試單個(gè)器件，無(wú)法提高測(cè)試效率。

5.測(cè)試效率提高了，需要配套自動(dòng)化設(shè)備進(jìn)一步提高測(cè)試效率。

6.解決了上述問題后，又需要解決測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)記錄及統(tǒng)計(jì)等問題。

為了解決這些問題我們就需要選擇一套多通道的微小電流測(cè)試系統(tǒng)來(lái)滿足當(dāng)下的一個(gè)測(cè)試需求，這里呢我們推薦同惠的TH300-Cur 多通道微電流測(cè)試解決方案。

TH300系列多通道電流測(cè)試系統(tǒng)

l 多通道解決方案以TH2690系列飛安表技術(shù)為基礎(chǔ)，保證了測(cè)試小電流的精度及采樣速度；

l 采用了模組式運(yùn)行方式，一個(gè)模組支持10個(gè)通道的并行（同步）采樣，保證了測(cè)試速度和效率；

l 模組間支持?jǐn)U展，可根據(jù)需要擴(kuò)展至200個(gè)通道甚至更多，保證了其擴(kuò)展性；

l 數(shù)據(jù)采集用上位機(jī)來(lái)控制，可實(shí)時(shí)采樣每個(gè)通道的測(cè)試結(jié)果并用數(shù)據(jù)、圖形等方式顯示，測(cè)試結(jié)果可實(shí)時(shí)顯示合格與否，上位機(jī)軟件提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析及存儲(chǔ)能力。

l 對(duì)于不同的產(chǎn)品，可根據(jù)需求提供測(cè)試工裝或整套測(cè)試系統(tǒng)。