同惠TH2851在薄膜介電常數(shù)測(cè)試方案
在材料的介電常數(shù)測(cè)試中低頻測(cè)試，網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試方法很難達(dá)到更低的頻率，一般網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試介電常數(shù)的方式最低只能測(cè)到100MHz，如果我們想知道低頻的介電常數(shù)就沒(méi)有辦法，而且網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試時(shí)成本非常高，夾具尤其貴。
今天給大家介紹另一種儀器測(cè)試介電常數(shù)的儀器，就是阻抗分析儀，阻抗分析儀最低頻可以測(cè)到20Hz甚至更低，本套方案需要使用同惠阻抗分析儀TH2851以及 TH26077夾具進(jìn)行測(cè)試。
阻抗分析儀測(cè)試介電常數(shù)方法為平行板測(cè)試法
使用此方法可以直接在夾具上讀出材料厚度，此夾具可以測(cè)試的參數(shù)有電容（C）、耗損因數(shù)（D）、介電常數(shù)（εr', εr''）
測(cè)試原理如下：
介電常數(shù)公式
介電常數(shù)分析軟件
該軟件為選件，開(kāi)通后在TH2851界面直接選擇對(duì)應(yīng)的參數(shù)即可，分別可以單測(cè)、列表掃描、曲線(xiàn)掃描，下圖為曲線(xiàn)掃描界面。
審核編輯 黃宇
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