分立器件測(cè)試晶體管圖示儀靜態(tài)/動(dòng)態(tài)參數(shù)SC2010半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)
SC2010半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)
一、系統(tǒng)定位
作為STI5000系列測(cè)試機(jī)的國產(chǎn)化替代方案，SC2010系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了：
全自動(dòng)I-V特性曲線生成
可編程功能測(cè)試模塊
實(shí)時(shí)數(shù)字化結(jié)果顯示
二、核心性能
測(cè)試效率
單點(diǎn)測(cè)試時(shí)間：6-20ms
百點(diǎn)曲線生成：＜5s
安全保障
門極過壓保護(hù)（OVP）
自診斷測(cè)試代碼系統(tǒng)
實(shí)時(shí)狀態(tài)監(jiān)測(cè)
三、技術(shù)參數(shù)矩陣
指標(biāo)項(xiàng)參數(shù)范圍分辨率測(cè)試電壓0-2000V1mV測(cè)試電流0-100A0.1nA測(cè)試精度0.2%+2LSB-脈沖寬度300μs-5ms-
四、應(yīng)用場(chǎng)景
工業(yè)領(lǐng)域
封裝產(chǎn)線QC檢測(cè)
器件失效分析
組合器件測(cè)試
科研領(lǐng)域
高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)
研究所參數(shù)研究
新型器件開發(fā)
五、數(shù)據(jù)管理
輸出格式：Excel/Word雙格式
分析工具：ATE專業(yè)軟件
曲線精度：逐點(diǎn)校準(zhǔn)技術(shù)
審核編輯 黃宇
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