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廣立微校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室通過CNAS認(rèn)可

廣立微Semitronix ? 來(lái)源:廣立微Semitronix ? 2025-05-15 18:11 ? 次閱讀
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CNAS認(rèn)可

近日,杭州廣立測(cè)試設(shè)備有限公司校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室順利通過中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)的審核,正式踏入國(guó)際互認(rèn)實(shí)驗(yàn)室的行列。CNAS作為國(guó)內(nèi)認(rèn)可領(lǐng)域的權(quán)威機(jī)構(gòu),其認(rèn)可意味著廣立微在電磁學(xué)測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)領(lǐng)域的校準(zhǔn)能力、管理體系、技術(shù)水平等方面已達(dá)到ISO/IEC 17025國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室配備世界領(lǐng)先的先進(jìn)分析儀器和校準(zhǔn)設(shè)備,嚴(yán)格執(zhí)行國(guó)家《計(jì)量法》、《質(zhì)量法》以及其他與校準(zhǔn)相關(guān)的法規(guī),擁有一整套科學(xué)、規(guī)范的質(zhì)量保證體系和規(guī)章制度。

廣立微致力于開發(fā)和提供技術(shù)領(lǐng)先、具有國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)力的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),橫向拓展晶圓級(jí)可靠性測(cè)試設(shè)備品類,滿足更多樣化的市場(chǎng)需求。

機(jī)臺(tái)性能強(qiáng)大

精度高:電流測(cè)試精度sub-pA,電壓測(cè)試精度100μV,電容測(cè)試精度10fF;

軟硬協(xié)同:“設(shè)計(jì)與測(cè)試協(xié)同”方案幫助客戶提高測(cè)試生產(chǎn)率,可提升幾十倍至上千倍;

算法庫(kù)豐富

涵蓋了WAT, WLR, Spice, Addressable可尋址電路算法;

提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)

50人+FAE團(tuán)隊(duì),工作經(jīng)驗(yàn)豐富,大部分為碩士以上學(xué)歷;

數(shù)據(jù)分析

測(cè)試數(shù)據(jù)可直接導(dǎo)入Semitronix自有的DE-G軟件,使用相應(yīng)WAT/ WLR數(shù)據(jù)分析模塊,提供用戶工作效率;

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WAT 測(cè)試

數(shù)據(jù)準(zhǔn)確:測(cè)試數(shù)據(jù)可與市面上Baseline機(jī)臺(tái)match;

高效生產(chǎn)能力:測(cè)試速度為市面上Baseline 1.4x-5x;

支持多類工藝wafer測(cè)試:涵蓋LOGIC、CIS、DRAM、SRAM、FLASH、RO、BCD等;

算法庫(kù)豐富:支持ID/VT/VTGM/IOFF/ISUB/BV/CAP/CV/IV/ICP,BETA/VBE/BVCEO/BVCBO/BVEBO,R2/RKLV/LK/CAP_METAL,IREAD/ISTANDBY/IDDQ/WM/SNM,ERASE/PROGRAM,IDDA/IDDQ/FREQ等

軟件及算法靈活可定制

WLR 測(cè)試

數(shù)據(jù)準(zhǔn)確:測(cè)試數(shù)據(jù)可與市面上Baseline機(jī)臺(tái)match;

支持HCI/ BTI/ VRAMP/ JRAMP/ VTDDB/ JTDDB/ EM/ PID/ SM/ ICP等 WLR 測(cè)試;

可根據(jù)測(cè)試需求進(jìn)行定制化開發(fā),如添加特定的監(jiān)測(cè)模式,VRAMP測(cè)試過程輸出四端Curve等;

支持智能化并行測(cè)試,大幅度提升測(cè)試速度。

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目前,廣立微可基于行業(yè)通用的JEDEC或客戶定制標(biāo)準(zhǔn)提供半導(dǎo)體工藝可靠性相關(guān)咨詢、驗(yàn)證、測(cè)試及數(shù)據(jù)分析服務(wù),測(cè)試項(xiàng)目包括:

柵氧完整性(GOI Vramp/TDDB/Jramp)

熱載流子注入(HCI)

負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性(NBTI)等

亦可提供高壓及并行可靠性測(cè)試,提高測(cè)試效率,縮短客戶工藝調(diào)試周期。

自主研發(fā)高性能硬件配置方案,未來(lái)將逐步增加測(cè)試設(shè)備種類,拓展到其他測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景。

自此,廣立微出具的校準(zhǔn)報(bào)告,能在全球100多個(gè)國(guó)家和地區(qū)互認(rèn),可為全球客戶提供極具公信力的校準(zhǔn)證明,為客戶提供更可靠、更權(quán)威的技術(shù)支持。

此次廣立微成功獲得國(guó)家校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室CNAS認(rèn)可資質(zhì),標(biāo)志著我司在計(jì)量校準(zhǔn)領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了重大突破,全面提升了公司的綜合技術(shù)服務(wù)實(shí)力與行業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力。廣立微將依托國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)體系,為客戶提供更具公信力、精準(zhǔn)度和時(shí)效性的全維度校準(zhǔn)解決方案。

關(guān)于我們

杭州廣立微電子股份有限公司(股票代碼:301095)是領(lǐng)先的集成電路EDA軟件與晶圓級(jí)電性測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商,公司專注于芯片成品率提升和電性測(cè)試快速監(jiān)控技術(shù),是國(guó)內(nèi)外多家大型集成電路制造與設(shè)計(jì)企業(yè)的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測(cè)試設(shè)備以及與芯片成品率提升技術(shù)相結(jié)合的整套解決方案,在集成電路設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的整個(gè)產(chǎn)品周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)芯片性能、成品率、穩(wěn)定性的提升,成功案例覆蓋多個(gè)集成電路工藝節(jié)點(diǎn)。

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原文標(biāo)題:權(quán)威認(rèn)可 廣立微校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室通過CNAS認(rèn)可

文章出處:【微信號(hào):gh_7b79775d4829,微信公眾號(hào):廣立微Semitronix】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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