在SSD生產(chǎn)與質(zhì)量控制過程中，高溫老化測試是保障產(chǎn)品長期可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。許多固態(tài)產(chǎn)品企業(yè)面臨著測試周期長、流程復(fù)雜、卻必須確保結(jié)果準(zhǔn)確穩(wěn)定的雙重壓力。測試環(huán)節(jié)不僅直接關(guān)系到產(chǎn)品出廠良率，更是影響客戶返修率與品牌信譽的核心防線。

為此，閃德半導(dǎo)體推出一款面向嚴(yán)苛工業(yè)級標(biāo)準(zhǔn)的SSD高溫BIT老化測試設(shè)備——PCT 300。

該設(shè)備集高溫加速老化、恒溫穩(wěn)態(tài)測試及高低溫交變試驗于一體，可在-60℃至150℃的寬溫域內(nèi)實現(xiàn)自動化精準(zhǔn)溫控，通過模擬極限環(huán)境應(yīng)力，快速暴露產(chǎn)品潛在缺陷，有效驗證元器件封裝完整性、環(huán)境適應(yīng)性與工作耐壓能力。

其定制化內(nèi)箱結(jié)構(gòu)確保溫場均勻穩(wěn)定，整機電路高度集成，兼顧測試效率與運維簡便性，為SSD企業(yè)提供高可靠、高效率的測試解決方案。

SSD高溫BIT老化測試設(shè)備——PCT 300

設(shè)備定位：該設(shè)備是一款面向工業(yè)級可靠性驗證的嚴(yán)苛環(huán)境模擬與加速老化測試系統(tǒng)，定位為SSD生產(chǎn)與研發(fā)環(huán)節(jié)中高端質(zhì)量檢測與可靠性篩選的核心設(shè)備。

設(shè)備特點

此設(shè)備用于模擬產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下（高低溫儲存，高低溫交變，高溫高濕，低溫低濕，溫度循環(huán)）檢測材料在各種環(huán)境下的適應(yīng)能力與特性是否改變，適合各類科研單位，檢測機構(gòu)，電子、電器、通訊、汽車配件、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用可制造苛刻的環(huán)境使用條件。

技術(shù)規(guī)格

溫度控制精度高，可制造【-60-150℃】的工業(yè)級別產(chǎn)品使用環(huán)境；冷媒伺服閥流量演算控制，省電30%，低溫工作1000小時不結(jié)霜；PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定，可實現(xiàn)降低40%的能耗 ；耐高溫耐低溫線材，壽命更長；產(chǎn)品可根據(jù)要求設(shè)置上電測試溫度；正常產(chǎn)品測試傳輸速度，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

應(yīng)用場景

該設(shè)備主要用于SSD產(chǎn)品的可靠性極限測試，可用于企業(yè)級SSD/工業(yè)級SSD在研發(fā)驗證、量產(chǎn)篩選，故障分析和品質(zhì)改進(jìn)等場景。

設(shè)備詳細(xì)參數(shù)