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R&S?ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀收發(fā)模塊和AESA雷達(dá)測試

agitek2021 ? 來源:agitek2021 ? 作者:agitek2021 ? 2026-03-16 17:42 ? 次閱讀
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R&S?ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀只需單次連接,即可多方位測試收發(fā)模塊 (TRM) 和有源電子掃描陣列 (AESA) 雷達(dá)。
您的任務(wù)
收發(fā)模塊集成發(fā)射和接收子模塊,需要具有先進(jìn)的測量功能,包括放大器測試(壓縮點(diǎn) (CP)、互調(diào) (IM)、噪聲系數(shù) (NF))、高/低功率處理能力、多次變頻和多個相位可控信號源,以確保進(jìn)行全方位的特性測量。

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典型的TRM元件
羅德與施瓦茨解決方案
R&S?ZNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀專用于滿足 TRM 測試的嚴(yán)苛測量要求,為放大器測試和變頻測量提供了靈活全面的解決方案。R&S?ZNA 具有內(nèi)部合路器和多達(dá)四個內(nèi)部信號源1),可幫助工程師執(zhí)行各種測量任務(wù),包括接收機(jī)互調(diào)測試(兩個 IM 音信號和兩個外部本振信號)、壓縮測試以及嵌入式本振設(shè)備的群時延測試。分析儀由此成為工程師測試復(fù)雜的射頻微波系統(tǒng)時不可或缺的重要工具。
1)借助可通過后面板接入的可選的第二個內(nèi)部本振,分析儀可提供具有最高 26.5 GHz 頻率和 +25 dBm 功率的第五個信號源,并將其用作大功率本振信號源
特性和優(yōu)勢
多達(dá)四個可靈活配置掃描模式的內(nèi)部信號源和內(nèi)部合路器,可用于接收機(jī)互調(diào)和壓縮測試、具有本振接入的變頻模塊(支持雙本振測試)特性測量以及嵌入式本振設(shè)備的群時延測試
相位相參信號源支持變頻器相位測量和波束賦形子模塊的輻射方向圖測試
多通道頻譜分析選件,支持使用 R&S?ZNA 的所有接收機(jī)進(jìn)行雜散搜索,最多可并行使用四個接收機(jī)有效搜索雜散
增強(qiáng)型觸發(fā)和脈沖 I/O,便于同步與控制被測設(shè)備以實現(xiàn)同步的相位與功率測量
具有兩個信號源和選件的雙端口 R&S?ZNA,可用于高/低功率和噪聲系數(shù)測試,能夠測量雙端口 TRM 在各種條件下的特性和性能,包括互調(diào)、壓縮點(diǎn)和嵌入式本振變頻器群時延
總結(jié)
為了滿足 TRM 的復(fù)雜測量要求,R&S?ZNA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀集成先進(jìn)的放大器測試能力(包括壓縮點(diǎn)、互調(diào)和噪聲系數(shù)測量)、靈活的變頻和相位可控信號源,提供了全面的解決方案。


審核編輯 黃宇

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