前 言
在有源電力濾波器(APF)系統(tǒng)中,功率器件的選擇直接影響整機的濾波性能、效率與可靠性。隨著電網(wǎng)電能質量要求日益提高,APF需要具備更高的開關頻率、更低的損耗以及更強的過載能力。碳化硅功率器件以其優(yōu)異的高頻、高溫特性,正成為提升APF性能的關鍵技術路徑。
本文將系統(tǒng)介紹基本半導體碳化硅產品及配套驅動解決方案在APF中的應用,通過仿真數(shù)據(jù)與產品分析,展示其在提升效率、功率密度和運行可靠性方面的顯著優(yōu)勢。
在APF這類需要快速動態(tài)響應、高頻開關的應用中,碳化硅MOSFET的低開關損耗、高開關頻率特性顯得尤為重要?;景雽w提供從分立器件到模塊的全系列碳化硅MOSFET產品,并搭配自主研發(fā)的隔離驅動與電源芯片,為APF系統(tǒng)提供高性能、高可靠的整體解決方案。


02E2B半橋模塊BMF240R12E2G3和單管B3M013C120Z在APF應用中的仿真數(shù)據(jù)
1) 模塊BMF240R12E2G3介紹

2) 單管B3M011C120Z介紹

3) 仿真情況
仿真條件
APF拓撲:兩電平全橋
散熱器溫度:在80℃、90℃下仿真
評估其在輸出相電流150A時的總損耗和最高芯片結溫

APF仿真拓撲
紅框為溫度和損耗監(jiān)控碳化硅MOSFET位置,其他碳化硅MOSFET完全對稱,數(shù)據(jù)不做展示

E2B半橋模塊 BMF240R12E2G3單機用3只

單管 B3M011C120Z單機用12只APF感性無功仿真數(shù)據(jù)
模塊BMF240R12E2G3 仿真方案

輸出無功功率=150A*400V*3*1=180kVar
等效效率(%)=輸出無功功率/(輸出無功功率+器件總損耗功率)=180kVar/180kVar+(0.167*6)kW=99.45%
b. 單管B3M011C120Z兩并 仿真方案

輸出無功功率=150A*400V*3*1=180kVar
等效效率(%)=輸出無功功率/(輸出無功功率+器件總損耗功率)=180kVar/180kVar+(0.07485*12)kW=99.50%
c. E2B半橋模塊 BMF240R12E2G3 TH=90℃ Iout=150Arms工況仿真波形

d. 單管B3M011C120Z TH=90℃ Iout=150Arms工況仿真波形

仿真結果表明,即使在80℃、90℃高溫的嚴苛條件下,BMF240R12E2G3模塊和B3M011C120Z單管兩種方案均能保持合理的結溫與損耗水平,充分驗證了其在高頻、高負載APF應用中的優(yōu)異性能與可靠性。
APF系統(tǒng)開發(fā)商可根據(jù)系統(tǒng)成本、裝聯(lián)方式、散熱條件自行選擇模塊或者單管解決方案。
03碳化硅MOSFET產品系列
基本半導體碳化硅MOSFET系列產品基于高性能晶圓平臺開發(fā),在比導通電阻、開關損耗及可靠性等方面表現(xiàn)卓越。產品涵蓋工業(yè)模塊與分立器件,封裝形式多樣,可滿足不同功率等級和拓撲結構的APF設計需求。
1) 工業(yè)級碳化硅MOSFET功率模塊

2) 不同陶瓷覆銅板的性能對比
模塊的可靠性很大程度上取決于基板材料。以下是常用陶瓷覆銅板(DCB)的性能比較:
AI2O3——導熱率最低,DCB的成本也最低
AlN——導熱性最好,但抗彎強度差,而且厚度應稍高一些(典型厚度630um)
Si3N4——導熱性比AlN差,但抗彎強度要好得多,因此厚度可以更低(典型厚度360um)
經(jīng)過10次溫度沖擊后,AI2O3/AlN在垂直面上剝落,而Si3N4則在1000次溫度沖擊試驗后保持了良好的接合強度,所以Si3N4非常適合碳化硅MOSFET模塊

3) Pcore2 E2B系列碳化硅MOSFET模塊
產品亮點
低導通電阻,高溫RDS(on)表現(xiàn)優(yōu)異
內部集成碳化硅SBD,管壓降低且基本沒有反向恢復行為
低開關損耗,開關損耗隨溫度上升反而下降
高閾值電壓,降低誤導通風險
高性能Si3N4AMB和高溫焊料引入,提高產品可靠性
支持Press-Fit壓接和Soldering焊接工藝
集成NTC溫度傳感器
應用領域
大功率快速充電樁
150A有源濾波器APF
125kW工商業(yè)儲能PCS
高端工業(yè)電焊機
高頻DCDC變換器
電機驅動控制

產品列表

4) 碳化硅MOSFET模塊內部內置碳化硅SBD優(yōu)勢
內置SBD實現(xiàn)了更高的可靠性,降低RDS(on)實驗前后的變化:
在普通碳化硅MOSFET 中,體二極管導通運行1000小時后導通內阻RDS(on)波動高達42%,而本產品的RDS(on)變化率在3%以內

5) BMF240R12E2G3的開通損耗Eon隨溫度升高而降低
從以下各品牌曲線圖得出,碳化硅MOSFET的Eon的數(shù)值遠大于Eoff,Eon占總損耗Etotal的60~80%左右
FF6MR12W2M1H_B70 (I***)和CAB006M12GM3(W***)的Eon顯示正溫度特性,隨著溫度上升Eon變大
BMF240R12E2G3的Eon呈現(xiàn)負溫度特性,隨著溫度上升Eon變小,這使得高溫時開關損耗會下降,而Eon的權重很高,所以高溫重載時,整機效率就顯得很出色,尤其在硬開關的拓撲中,這個特征在PCS應用中很有價值

6) 碳化硅MOSFET分立器件

04
使用碳化硅MOSFET
的驅動板整體解決方案
基本半導體提供碳化硅MOSFET驅動板及其零件

結 語
碳化硅功率器件憑借其高頻、高效、高溫特性,為有源電力濾波器(APF)的性能提升提供了強勁支持?;景雽w憑借在碳化硅技術領域的深厚積累,提供從功率模塊、分立器件到驅動電源芯片的完整解決方案。仿真與實測表明,其產品在高溫、過載等嚴苛條件下表現(xiàn)優(yōu)異,能有效提升APF系統(tǒng)的可靠性、效率與功率密度。
隨著碳化硅成本的持續(xù)優(yōu)化與產業(yè)鏈的完善,其在電能質量治理領域的應用將不斷深化?;景雽w將持續(xù)投入創(chuàng)新,致力于為客戶提供高性能、高可靠的碳化硅產品,共同推動綠色電網(wǎng)與智能電能管理技術的發(fā)展。
關于基本半導體
深圳基本半導體股份有限公司是中國第三代半導體創(chuàng)新企業(yè),專業(yè)從事碳化硅功率器件的研發(fā)與產業(yè)化。公司總部位于深圳,在北京、上海、無錫、香港以及日本名古屋設有研發(fā)中心和制造基地。公司擁有一支國際化的研發(fā)團隊,核心團隊由來自清華大學、中國科學院、英國劍橋大學等國內外知名高校及研究機構的博士組成。
基本半導體掌握碳化硅核心技術,研發(fā)覆蓋碳化硅功率半導體的芯片設計、晶圓制造、封裝測試、驅動應用等產業(yè)鏈關鍵環(huán)節(jié),核心產品包括碳化硅二極管和MOSFET芯片、汽車級及工業(yè)級碳化硅功率模塊、功率器件驅動芯片等,性能達到國際先進水平,服務于電動汽車、風光儲能、軌道交通、工業(yè)控制、智能電網(wǎng)等領域的全球數(shù)百家客戶。
基本半導體是國家級專精特新“小巨人”企業(yè),承擔了國家工信部、科技部及廣東省、深圳市的眾多研發(fā)及產業(yè)化項目,與深圳清華大學研究院共建第三代半導體材料與器件研發(fā)中心,是國家5G中高頻器件創(chuàng)新中心股東單位之一,獲批中國科協(xié)產學研融合技術創(chuàng)新服務體系第三代半導體協(xié)同創(chuàng)新中心、廣東省第三代半導體碳化硅功率器件工程技術研究中心。
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原文標題:應用筆記 | 基本半導體碳化硅功率器件在有源濾波器APF中的應用
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基本半導體碳化硅功率器件在有源濾波器APF中的應用
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