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探索 onsemi FCB099N65S3:高性能 N 溝道 MOSFET 的卓越之選

lhl545545 ? 2026-03-27 14:10 ? 次閱讀
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探索 onsemi FCB099N65S3:高性能 N 溝道 MOSFET 的卓越之選

電子工程師的設(shè)計世界里,選擇合適的 MOSFET 至關(guān)重要。今天,我們將深入探討 onsemi 的 FCB099N65S3,一款 650V、30A 的 N 溝道 SUPERFET III MOSFET,看看它如何在各類應(yīng)用中展現(xiàn)卓越性能。

文件下載:FCB099N65S3-D.PDF

產(chǎn)品概述

SUPERFET III MOSFET 是 onsemi 全新的高壓超結(jié)(SJ)MOSFET 系列,采用電荷平衡技術(shù),具備出色的低導(dǎo)通電阻和低柵極電荷性能。這種先進(jìn)技術(shù)旨在最小化傳導(dǎo)損耗,提供卓越的開關(guān)性能,并能承受極高的 dv/dt 速率。FCB099N65S3 作為該系列的一員,屬于 Easy drive 系列,有助于管理 EMI 問題,使設(shè)計實施更加輕松。

關(guān)鍵特性

電氣性能

  • 耐壓與電流:在 (T{J}=150^{circ}C) 時,耐壓可達(dá) 700V;連續(xù)漏極電流在 (T{C}=25^{circ}C) 時為 30A,(T_{C}=100^{circ}C) 時為 19A,脈沖漏極電流可達(dá) 75A。
  • 導(dǎo)通電阻:典型 (R_{DS(on)} = 79 mOmega),能有效降低傳導(dǎo)損耗。
  • 柵極電荷:超低柵極電荷(典型 (Q_{g}=61 nC)),有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
  • 輸出電容:低有效輸出電容(典型 (C_{oss(eff.) }=544 pF)),可降低開關(guān)過程中的能量損耗。

可靠性

  • 雪崩測試:經(jīng)過 100% 雪崩測試,確保在極端條件下的可靠性。
  • 環(huán)保合規(guī):這些器件無鉛且符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

應(yīng)用領(lǐng)域

  • 電信/服務(wù)器電源:在電信和服務(wù)器電源中,F(xiàn)CB099N65S3 的高性能和可靠性能夠滿足電源的高效轉(zhuǎn)換和穩(wěn)定輸出需求。
  • 工業(yè)電源:工業(yè)環(huán)境對電源的穩(wěn)定性和可靠性要求極高,該 MOSFET 能夠在復(fù)雜的工業(yè)環(huán)境中穩(wěn)定工作。
  • UPS/太陽能:在不間斷電源(UPS)和太陽能系統(tǒng)中,F(xiàn)CB099N65S3 的高效性能有助于提高能源轉(zhuǎn)換效率,降低系統(tǒng)成本。

絕對最大額定值

參數(shù) 符號 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 650 V
柵源電壓(DC (V_{GSS}) (pm30) V
柵源電壓(AC,f > 1 Hz) (V_{GSS}) (pm30) V
連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) (I_{D}) 30 A
連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) (I_{D}) 19 A
脈沖漏極電流 (I_{DM}) 75 A
單脈沖雪崩能量 (E_{AS}) 145 mJ
雪崩電流 (I_{AS}) 4.4 A
重復(fù)雪崩能量 (E_{AR}) 2.27 mJ
MOSFET dv/dt (dv/dt) 100 V/ns
峰值二極管恢復(fù) dv/dt (dv/dt) 20 V/ns
功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) (P_{D}) 227 W
25°C 以上降額系數(shù) (P_{D}) derate 1.82 W/°C
工作和存儲溫度范圍 (T{J}, T{STG}) -55 至 +150 °C
焊接時最大引腳溫度(距外殼 1/8″,5 秒) (T_{L}) 300 °C

需要注意的是,超過最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:在 (V{GS}=0 V),(I{D}=1 mA),(T{J}=25^{circ}C) 時為 650V;(T{J}=150^{circ}C) 時為 700V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù):(I_{D}=1 mA) 時,參考 25°C 為 0.68 V/°C。
  • 零柵壓漏極電流:(V{DS}=650 V),(V{GS}=0 V) 時為 1 μA;(V{DS}=520 V),(T{C}=125^{circ}C) 時為 1.4 μA。
  • 柵體泄漏電流:(V{GS}=pm30 V),(V{DS}=0 V) 時為 (pm100 nA)。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓:(V{GS}=V{DS}),(I_{D}=0.74 mA) 時,范圍為 2.5 - 4.5V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻:(V{GS}=10V),(I{D}=15A) 時,典型值為 79 mΩ,最大值為 99 mΩ。
  • 正向跨導(dǎo):(V{DS}=20V),(I{D}=15A) 時,典型值為 19 S。

動態(tài)特性

  • 輸入電容:(V{DS}=400 V),(V{GS}=0 V),(f = 1 MHz) 時為 2480 pF。
  • 輸出電容:55 pF。
  • 有效輸出電容:(V{DS}=0 V) 至 400 V,(V{GS}=0 V) 時為 544 pF。
  • 能量相關(guān)輸出電容:(V{DS}=0 V) 至 400 V,(V{GS}=0 V) 時為 78 pF。
  • 總柵極電荷:在 (V{DS}=400 V),(I{D}=15 A),(V_{GS}=10 V) 時為 61 nC。
  • 柵源柵極電荷:15 nC。
  • 柵漏“米勒”電荷:25 nC。
  • 等效串聯(lián)電阻:(f = 1 MHz) 時為 0.4 Ω。

開關(guān)特性

  • 開通延遲時間、關(guān)斷延遲時間和關(guān)斷下降時間等參數(shù)也有明確規(guī)定。

源漏二極管特性

  • 最大連續(xù)源漏二極管正向電流:30A。
  • 最大脈沖源漏二極管正向電流:75A。
  • 源漏二極管正向電壓:(V{GS}=0V),(I{SD}=15A) 時為 1.2V。
  • 反向恢復(fù)時間:(V{DD}=400 V),(I{SD}=15 A),(di/dt=100 A/μs) 時為 408 ns。
  • 反向恢復(fù)電荷:8.4 μC。

典型性能特性

文檔中提供了多個典型性能特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨殼溫的變化、(E_{oss}) 隨漏源電壓的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線有助于工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。

封裝與訂購信息

FCB099N65S3 采用 D2?PAK 封裝,卷盤尺寸為 330 mm,膠帶寬度為 24 mm,每卷 800 個。關(guān)于膠帶和卷盤規(guī)格的詳細(xì)信息,請參考 Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。

總結(jié)

onsemi 的 FCB099N65S3 MOSFET 憑借其出色的電氣性能、高可靠性和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,為電子工程師提供了一個優(yōu)秀的選擇。在設(shè)計過程中,工程師可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求,結(jié)合器件的各項特性,充分發(fā)揮其優(yōu)勢,實現(xiàn)高效、穩(wěn)定的電路設(shè)計。你在使用類似 MOSFET 時遇到過哪些挑戰(zhàn)呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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