FQB8N90C - N-Channel QFET? MOSFET:設(shè)計(jì)高效開關(guān)電源的利器
在電子工程師的日常工作中,選擇合適的功率場(chǎng)效應(yīng)晶體管對(duì)于設(shè)計(jì)高效、可靠的電路至關(guān)重要。今天就來聊聊FAIRCHILD(現(xiàn)已并入ON Semiconductor)的FQB8N90C N-Channel QFET? MOSFET,看看它有哪些特性可以滿足我們的設(shè)計(jì)需求。
文件下載:FQB8N90CTM-D.pdf
一、公司背景與產(chǎn)品編號(hào)變更
Fairchild Semiconductor已經(jīng)成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購的零件編號(hào)需要變更。具體來說,F(xiàn)airchild零件編號(hào)中的下劃線(_)將改為破折號(hào)(-)。大家要記得去ON Semiconductor官網(wǎng)核查更新后的器件編號(hào),最新的訂購信息可在www.onsemi.com上找到。如果對(duì)系統(tǒng)集成有疑問,可發(fā)郵件至Fairchild_questions@onsemi.com。
二、FQB8N90C MOSFET概述
(一)產(chǎn)品描述
FQB8N90C是N溝道增強(qiáng)型功率場(chǎng)效應(yīng)晶體管,采用了Fairchild專有的平面條紋DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計(jì),能夠減少導(dǎo)通電阻,提供出色的開關(guān)性能,并能承受雪崩和換向模式下的高能量脈沖,非常適合用于高效開關(guān)電源。
(二)產(chǎn)品特性
- 電參數(shù)優(yōu)異:在 (V{GS}=10 V) 時(shí),具有6.3 A的電流承載能力和900 V的耐壓,最大導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 為1.9 Ω。
- 開關(guān)性能好:低柵極電荷(典型值35 nC)和低反饋電容 (C_{rss})(典型值12 pF),使得開關(guān)速度更快,能夠降低開關(guān)損耗。
- 可靠性高:經(jīng)過100%雪崩測(cè)試,并且具有改進(jìn)的dv/dt能力,能適應(yīng)更復(fù)雜的工作環(huán)境。
三、關(guān)鍵參數(shù)解讀
(一)絕對(duì)最大額定值
| 絕對(duì)最大額定值反映了器件在正常工作時(shí)所能承受的極限條件,這是我們?cè)谠O(shè)計(jì)電路時(shí)必須嚴(yán)格遵守的。 | 符號(hào) | 參數(shù) | FQB8N90CTM | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | 900 | V | |
| (I{D})((T{C}=25^{circ} C) 連續(xù)) | 漏極連續(xù)電流 | 6.3 | A | |
| (I{D})((T{C}=100^{circ} C) 連續(xù)) | 漏極連續(xù)電流 | 3.8 | A | |
| (I_{DM})(脈沖) | 漏極脈沖電流 | 25 | A | |
| (V_{GSS}) | 柵源電壓 | ± 30 | V | |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 850 | mJ | |
| (I_{AR}) | 雪崩電流 | 6.3 | A | |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 17.1 | mJ | |
| (dv/dt) | 峰值二極管恢復(fù)dv/dt | 4.0 | V/ns | |
| (P{D})((T{C}=25^{circ} C)) | 功率耗散 | 171 | W | |
| (P{D})((T{C}) 高于25°C降額) | 功率耗散降額系數(shù) | 1.37 | W/°C | |
| (T{J}), (T{STG}) | 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 到 +150 | °C | |
| (T_{L}) | 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8 ",5秒) | 300 | °C |
這里大家思考一下,如果我們的電路工作溫度較高,那么在選擇工作電流時(shí)應(yīng)該如何考慮呢?
(二)熱特性
| 熱特性對(duì)于保證器件的長期穩(wěn)定工作非常重要。FQB8N90C的熱阻參數(shù)如下: | 符號(hào) | 參數(shù) | FQB8N90CTM | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 結(jié)到殼的熱阻(最大) | 0.73 | °C / W | |
| (R_{θJA}) | 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) | 40 | °C / W |
假設(shè)我們?cè)O(shè)計(jì)的電路功率損耗較大,為了保證器件溫度不超過允許范圍,應(yīng)該采取哪些散熱措施呢?
(三)電氣特性
1. 關(guān)斷特性
包括漏源擊穿電壓 (BVDSS)、擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta BV{DSS}/Delta T{J}) 以及柵體泄漏電流等參數(shù)。這些參數(shù)決定了器件在關(guān)斷狀態(tài)下的性能,例如 (BVDSS) 在 (V{GS}=0 V),(I{D}=250 mu A) 時(shí)最小值為900 V,這表明器件能夠承受較高的反向電壓。
2. 導(dǎo)通特性
如閾值電壓 (V_{GS(th)}) 和靜態(tài)漏源電阻等。這些參數(shù)對(duì)于確定器件何時(shí)導(dǎo)通以及導(dǎo)通后的電阻大小非常關(guān)鍵。
3. 動(dòng)態(tài)特性
包含輸入電容 (C{iss})、輸出電容 (C{oss}) 和反向傳輸電容 (C_{rss}) 等。這些電容參數(shù)會(huì)影響器件的開關(guān)速度和開關(guān)損耗。
4. 開關(guān)特性
例如開啟延遲時(shí)間 (td(on))、關(guān)斷延遲時(shí)間 (td(off)) 和總柵極電荷 (Q_{g}) 等。這些參數(shù)直接反映了器件的開關(guān)性能,我們?cè)谠O(shè)計(jì)開關(guān)電源時(shí),需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求來考量這些參數(shù)。
5. 漏源二極管特性和最大額定值
涵蓋了最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I{S})、最大脈沖漏源二極管正向電流 (I{SM}) 以及反向恢復(fù)時(shí)間 (t_{r}) 等。這些參數(shù)對(duì)于了解器件內(nèi)部二極管的性能非常重要。
四、典型特性曲線
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,如圖1 - 圖12所示,它們直觀地展示了器件在不同條件下的性能變化。比如,導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化曲線(圖3),可以幫助我們了解在不同工作電流和柵極電壓下,導(dǎo)通電阻的變化情況,從而優(yōu)化電路設(shè)計(jì),減少導(dǎo)通損耗。
這里的特性曲線就像是我們了解器件的“地圖”,大家在實(shí)際設(shè)計(jì)中一定要充分利用這些曲線,才能更好地發(fā)揮器件的性能,你們?cè)诳催@些曲線的時(shí)候有沒有發(fā)現(xiàn)什么有趣的規(guī)律呢?
五、測(cè)試電路與波形
文檔還提供了多種測(cè)試電路和波形,如柵極電荷測(cè)試電路、電阻開關(guān)測(cè)試電路、無鉗位電感開關(guān)測(cè)試電路以及峰值二極管恢復(fù)dv/dt測(cè)試電路等(圖13 - 圖16)。這些測(cè)試電路和波形對(duì)于我們理解器件的工作原理和性能驗(yàn)證非常有幫助。在進(jìn)行電路設(shè)計(jì)時(shí),我們可以參考這些測(cè)試電路來搭建實(shí)驗(yàn)平臺(tái),對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證。大家在實(shí)際測(cè)試中,有沒有遇到過和文檔中波形不太一樣的情況呢?
六、機(jī)械尺寸與封裝
FQB8N90C采用 (D^{2}-PAK) 封裝,文檔給出了詳細(xì)的機(jī)械尺寸圖(圖17)。在進(jìn)行電路板布局設(shè)計(jì)時(shí),我們需要根據(jù)這些尺寸來合理安排器件的位置,確保電路板的布局緊湊、合理,同時(shí)還要考慮散熱和電氣性能的要求。在設(shè)計(jì)電路板時(shí),封裝尺寸和引腳布局可是需要重點(diǎn)關(guān)注的問題,大家有沒有因?yàn)榉庋b問題導(dǎo)致設(shè)計(jì)反復(fù)修改的經(jīng)歷呢?
七、其他注意事項(xiàng)
(一)商標(biāo)與知識(shí)產(chǎn)權(quán)
ON Semiconductor擁有眾多專利、商標(biāo)、版權(quán)和商業(yè)秘密等知識(shí)產(chǎn)權(quán)。其產(chǎn)品相關(guān)的專利覆蓋情況可在www.onsemi.com/site/pdf/Patent - Marking.pdf查詢。這提醒我們?cè)谑褂闷骷r(shí),要尊重知識(shí)產(chǎn)權(quán),避免侵權(quán)行為。
(二)產(chǎn)品責(zé)任與免責(zé)聲明
ON Semiconductor對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行變更時(shí)可能不另行通知,且不保證產(chǎn)品適用于特定用途,不承擔(dān)因產(chǎn)品應(yīng)用或使用產(chǎn)生的任何責(zé)任。買家需要對(duì)使用其產(chǎn)品的應(yīng)用負(fù)責(zé),包括遵守相關(guān)法律法規(guī)和安全標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),該產(chǎn)品不適合用于生命支持系統(tǒng)、FDA 3類醫(yī)療設(shè)備等特定應(yīng)用。如果買家將其用于非授權(quán)應(yīng)用,需承擔(dān)相應(yīng)責(zé)任。這就要求我們?cè)谠O(shè)計(jì)產(chǎn)品時(shí),要充分了解產(chǎn)品的適用范圍,避免因不當(dāng)使用而帶來風(fēng)險(xiǎn)。
(三)產(chǎn)品狀態(tài)定義
文檔對(duì)產(chǎn)品狀態(tài)進(jìn)行了明確的定義,包括提前信息(設(shè)計(jì)階段)、初步(首批生產(chǎn))、無標(biāo)識(shí)(全面生產(chǎn))和過時(shí)(停產(chǎn))。我們?cè)谶x擇器件時(shí),要清楚產(chǎn)品的狀態(tài),優(yōu)先選擇處于全面生產(chǎn)階段的產(chǎn)品,以確保產(chǎn)品的供應(yīng)穩(wěn)定性。
(四)訂購與技術(shù)支持信息
提供了ON Semiconductor的文獻(xiàn)訂購、技術(shù)支持等相關(guān)信息,方便我們?cè)谛枰獣r(shí)獲取產(chǎn)品資料和技術(shù)幫助。
綜上所述,F(xiàn)QB8N90C N - Channel QFET? MOSFET憑借其優(yōu)異的性能和特性,在高效開關(guān)電源領(lǐng)域具有很大的應(yīng)用潛力。但在實(shí)際應(yīng)用中,我們需要充分了解其各項(xiàng)參數(shù)和特性,結(jié)合具體的設(shè)計(jì)需求,合理選擇和使用該器件,同時(shí)要注意遵守相關(guān)的規(guī)定和要求,確保設(shè)計(jì)的電路安全、可靠、高效。你在使用類似的MOSFET時(shí),有沒有遇到過什么特別的問題或者有什么獨(dú)特的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)?zāi)??歡迎在評(píng)論區(qū)分享。
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