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探索 ON Semiconductor FQB5N90 N - Channel QFET? MOSFET

lhl545545 ? 2026-03-29 15:20 ? 次閱讀
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探索 ON Semiconductor FQB5N90 N - Channel QFET? MOSFET

電子工程師的日常工作中,選擇合適的 MOSFET 對于電路設(shè)計的成功至關(guān)重要。今天,我們就來深入了解一下 ON Semiconductor 的 FQB5N90 N - Channel QFET? MOSFET,看看它有哪些特性和優(yōu)勢,以及在實際應(yīng)用中如何發(fā)揮作用。

文件下載:FQB5N90-D.PDF

一、產(chǎn)品概述

FQB5N90 是一款 N - Channel 增強模式功率 MOSFET,采用了 ON Semiconductor 專有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)。這種先進的 MOSFET 技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計,旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強度。該器件適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。

二、關(guān)鍵參數(shù)與特性

(一)基本參數(shù)

  • 電壓與電流:具有 900V 的耐壓能力,連續(xù)漏極電流在 (T{C}=25^{circ}C) 時為 5.4A,在 (T{C}=100^{circ}C) 時為 3.42A,脈沖漏極電流可達 21.6A。
  • 導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=2.7A) 時,靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}) 最大為 2.3Ω。

(二)特性亮點

  1. 低柵極電荷:典型值為 31nC,這有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
  2. 低反向傳輸電容 (C_{rss}):典型值為 13pF,可降低米勒效應(yīng),改善開關(guān)性能。
  3. 100% 雪崩測試:保證了器件在雪崩情況下的可靠性,能夠承受高能量沖擊。
  4. RoHS 合規(guī):符合環(huán)保要求,滿足現(xiàn)代電子產(chǎn)品的綠色設(shè)計需求。

三、絕對最大額定值

絕對最大額定值規(guī)定了器件在正常工作時所能承受的最大參數(shù)范圍,以下是一些重要的額定值: 符號 參數(shù) FQB5N90 TM 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 900 V
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) 5.4 A
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) 3.42 A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 21.6 A
(V_{GSS}) 柵源電壓 ± 30 V
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 660 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 5.4 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 15.8 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 4.0 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) 3.13 W
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 158 W
25°C 以上降額 1.27 W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲溫度范圍 -55 至 +150 °C
(T_{L}) 焊接時最大引腳溫度(距外殼 1/8",5 秒) 300 °C

工程師在設(shè)計電路時,必須確保器件的工作參數(shù)在這些絕對最大額定值范圍內(nèi),以避免器件損壞。

四、電氣特性

(一)關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 (B_{V DSS}):在 (V{GS}=0V),(I{D}=250mu A) 時為 900V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù):在 (I_{D}=250mu A),參考 (25^{circ}C) 時為 1.0V/°C。
  • 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):在不同條件下有不同的值,如 (V{DS}=900V),(V{GS}=0V) 時為 10μA;(V{DS}=720V),(T{C}=125^{circ}C) 時為 100μA。

(二)導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓 (V_{GS(th)}):在 (V{DS}=V{GS}),(I_{D}=250mu A) 時,范圍為 3.0 - 5.0V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS}=10V),(I{D}=2.7A) 時,范圍為 1.8 - 2.3Ω。
  • 正向跨導(dǎo) (g_{fs}):在 (V{DS}=50V),(I{D}=2.7A) 時為 5.6S。

(三)動態(tài)特性

  • 輸入電容 (C_{iss}):在 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V) 時,范圍為 1200 - 1550pF。
  • 輸出電容 (C_{oss}):在 (f = 1.0MHz) 時,范圍為 110 - 145pF。
  • 反向傳輸電容 (C_{rss}):范圍為 13 - 17pF。

(四)開關(guān)特性

  • 開啟延遲時間 (t_{d(on)}):在 (V{DD}=450V),(I{D}=5.4A),(R_{G}=25Omega) 時,范圍為 28 - 65ns。
  • 開啟上升時間 (t_{r}):范圍為 65 - 140ns。
  • 關(guān)斷延遲時間 (t_{d(off)}):范圍為 65 - 140ns。
  • 關(guān)斷下降時間 (t_{f}):范圍為 50 - 110ns。
  • 總柵極電荷 (Q_{g}):在 (V{DS}=720V),(I{D}=5.4A),(V_{GS}=10V) 時,范圍為 31 - 40nC。
  • 柵源電荷 (Q_{gs}):為 7.2nC。
  • 柵漏電荷 (Q_{gd}):為 15nC。

(五)漏源二極管特性和最大額定值

  • 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I_{S}):為 5.4A。
  • 最大脈沖漏源二極管正向電流 (I_{SM}):為 21.6A。
  • 漏源二極管正向電壓 (V_{SD}):在 (V{GS}=0V),(I{S}=5.4A) 時為 1.4V。
  • 反向恢復(fù)時間 (t_{rr}):在 (V{GS}=0V),(I{S}=5.4A),(dI_{F}/dt = 100A/mu s) 時為 610ns。
  • 反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr}):為 5.26μC。

五、典型特性曲線

文檔中提供了多個典型特性曲線,這些曲線直觀地展示了器件在不同條件下的性能表現(xiàn),例如:

  • 導(dǎo)通區(qū)域特性曲線:展示了漏極電流 (I{D}) 與漏源電壓 (V{DS}) 的關(guān)系,不同的柵源電壓 (V_{GS}) 會影響曲線的形狀。
  • 傳輸特性曲線:體現(xiàn)了漏極電流 (I{D}) 與柵源電壓 (V{GS}) 的關(guān)系,在不同溫度下曲線有所不同。
  • 導(dǎo)通電阻變化曲線:顯示了導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 隨漏極電流 (I{D}) 和柵源電壓 (V_{GS}) 的變化情況。

這些曲線對于工程師在設(shè)計電路時進行參數(shù)選擇和性能評估非常有幫助。

六、封裝與訂購信息

FQB5N90 采用 (D^{2}-PAK) 封裝,包裝方式為帶盤包裝,盤徑 330mm,帶寬 24mm,每盤數(shù)量為 800 個。

七、測試電路與波形

文檔中還給出了多種測試電路和波形,如柵極電荷測試電路、電阻性開關(guān)測試電路、非鉗位電感開關(guān)測試電路和峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 測試電路等。這些測試電路和波形有助于工程師理解器件的工作原理和性能,在實際應(yīng)用中進行調(diào)試和優(yōu)化。

八、總結(jié)與思考

FQB5N90 N - Channel QFET? MOSFET 憑借其先進的技術(shù)和優(yōu)異的性能,在開關(guān)模式電源、PFC 和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。然而,在實際設(shè)計中,工程師還需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮器件的各項參數(shù)和特性,確保電路的穩(wěn)定性和可靠性。例如,在高溫環(huán)境下,器件的性能可能會發(fā)生變化,如何通過散熱設(shè)計來保證器件在合適的溫度范圍內(nèi)工作,是一個需要深入思考的問題。大家在使用這款器件時,有沒有遇到過什么挑戰(zhàn)呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和想法。

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