Onsemi NTH4LN067N65S3H MOSFET:滿足高效電力系統(tǒng)需求的理想之選
在電子工程領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率半導(dǎo)體器件,其性能直接影響著各類電力系統(tǒng)的效率和穩(wěn)定性。Onsemi推出的NTH4LN067N65S3H MOSFET,憑借其卓越的性能和先進(jìn)的技術(shù),成為眾多電力系統(tǒng)應(yīng)用的理想選擇。
產(chǎn)品概述
NTH4LN067N65S3H屬于Onsemi的SUPERFET III系列,這是一款全新的高壓超結(jié)(SJ)MOSFET產(chǎn)品。它采用了電荷平衡技術(shù),具有出色的低導(dǎo)通電阻和較低的柵極電荷性能。這種先進(jìn)技術(shù)不僅能有效降低傳導(dǎo)損耗,還具備卓越的開關(guān)性能,能夠承受極高的dv/dt速率。因此,SUPERFET III MOSFET FAST系列非常適合各種追求小型化和高效率的電力系統(tǒng)。
產(chǎn)品特性
電氣性能優(yōu)越
- 耐壓能力強(qiáng):在TJ = 150°C時(shí),可承受700V的電壓;正常工作時(shí),漏源擊穿電壓(BVDSS)在TJ = 25°C時(shí)為650V,TJ = 150°C時(shí)可達(dá)700V。
- 低導(dǎo)通電阻:典型的RDS(on)為55mΩ,在VGS = 10V、ID = 20A的測(cè)試條件下,最大RDS(on)為67mΩ,能有效降低導(dǎo)通損耗。
- 低柵極電荷:典型的Qg = 80nC,可減少開關(guān)過程中的能量損耗,提高開關(guān)速度。
- 低輸出電容:典型的Coss(eff.) = 691pF,有助于降低開關(guān)損耗。
可靠性高
- 雪崩測(cè)試:該器件經(jīng)過100%雪崩測(cè)試,能夠承受一定的雪崩能量,提高了產(chǎn)品的可靠性。
- 環(huán)保合規(guī):符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),無鉛設(shè)計(jì),滿足環(huán)保要求。
應(yīng)用領(lǐng)域
NTH4LN067N65S3H適用于多種電力系統(tǒng),包括但不限于:
- 電信/服務(wù)器電源:在電信和服務(wù)器領(lǐng)域,對(duì)電源的效率和穩(wěn)定性要求極高。該MOSFET的低導(dǎo)通電阻和卓越的開關(guān)性能,能夠有效提高電源的轉(zhuǎn)換效率,降低功耗。
- 工業(yè)電源:工業(yè)環(huán)境對(duì)電源的可靠性和耐用性要求較高。NTH4LN067N65S3H的高耐壓能力和雪崩測(cè)試特性,使其能夠在復(fù)雜的工業(yè)環(huán)境中穩(wěn)定工作。
- UPS/太陽能:在不間斷電源(UPS)和太陽能系統(tǒng)中,需要高效的功率轉(zhuǎn)換和可靠的保護(hù)機(jī)制。該MOSFET能夠滿足這些需求,提高系統(tǒng)的整體性能。
絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | 符號(hào) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDSS | 650 | V |
| 柵源電壓(DC) | VGSS | ±30 | V |
| 柵源電壓(AC,f > 1Hz) | VGSS | ±30 | V |
| 連續(xù)漏極電流(TC = 25°C) | ID | 40 | A |
| 連續(xù)漏極電流(TC = 100°C) | ID | 25 | A |
| 脈沖漏極電流 | IDM | 112 | A |
| 單脈沖雪崩能量 | EAS | 422 | mJ |
| 雪崩電流 | IAS | 6.5 | A |
| 重復(fù)雪崩能量 | EAR | 2.66 | mJ |
| MOSFET dv/dt | dv/dt | 100 | V/ns |
| 峰值二極管恢復(fù)dv/dt | - | 20 | - |
| 功率耗散(TC = 25°C) | PD | 266 | W |
| 25°C以上降額 | - | 2.13 | W/°C |
| 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | TJ, TSTG | -55 to +150 | °C |
| 焊接時(shí)最大引線溫度(距外殼1/8″,5秒) | TL | 260 | °C |
需要注意的是,超過絕對(duì)最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
熱特性
- 結(jié)到外殼熱阻(RJC):最大為0.47°C/W。
- 結(jié)到環(huán)境熱阻(RJA):最大為40°C/W。
了解熱特性對(duì)于合理設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)至關(guān)重要,能夠確保器件在正常工作溫度范圍內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓(BVDSS):在VGS = 0V、ID = 1mA、TJ = 25°C時(shí)為650V;在TJ = 150°C時(shí)為700V。
- 零柵壓漏極電流(IDSS):在VDS = 650V、VGS = 0V時(shí),最大值為2μA;在VDS = 520V、TC = 125°C時(shí),典型值為1.6μA。
- 柵體泄漏電流(IGSS):在VGS = ±30V、VDS = 0V時(shí),最大值為±100nA。
導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓(VGS(th)):在VGS = VDS、ID = 3.9mA時(shí),最小值為2.4V,最大值為4.0V。
- 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on)):在VGS = 10V、ID = 20A時(shí),典型值為55mΩ,最大值為67mΩ。
- 正向跨導(dǎo)(gFS):在VDS = 20V、ID = 20A時(shí),典型值為28S。
動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容(Ciss):在VDS = 400V、VGS = 0V、f = 250kHz時(shí),典型值為3750pF。
- 輸出電容(Coss):典型值為60pF。
- 有效輸出電容(Coss(eff.)):在VDS從0V到400V、VGS = 0V時(shí),典型值為691pF。
- 與能量相關(guān)的輸出電容(Coss(er.)):在VDS從0V到400V、VGS = 0V時(shí),典型值為107pF。
- 總柵極電荷(Qg(tot)):在VDS = 400V、ID = 20A、VGS = 10V時(shí),典型值為80nC。
- 柵源柵極電荷(Qgs):典型值為21nC。
- 柵漏“米勒”電荷(Qgd):典型值為20nC。
- 等效串聯(lián)電阻(ESR):在f = 1MHz時(shí),典型值為0.6Ω。
開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時(shí)間(td(on)):在VDD = 400V、ID = 20A、VGS = 10V、Rg = 4.7Ω時(shí),典型值為28ns。
- 導(dǎo)通上升時(shí)間(tr):典型值為7.2ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間(td(off)):典型值為81ns。
- 關(guān)斷下降時(shí)間(tf):典型值為2.6ns。
源漏二極管特性
- 最大連續(xù)源漏二極管正向電流(IS):最大值為40A。
- 最大脈沖源漏二極管正向電流(ISM):最大值為112A。
- 源漏二極管正向電壓(VSD):在VGS = 0V、ISD = 20A時(shí),最大值為1.2V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間(trr):在VGS = 0V、ISD = 20A、dIF/dt = 100A/μs時(shí),典型值為411ns。
- 反向恢復(fù)電荷(Qrr):典型值為7.8μC。
典型特性曲線
文檔中提供了多種典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨外殼溫度的變化、Eoss隨漏源電壓的變化、瞬態(tài)熱阻抗等。這些曲線能夠幫助工程師更好地了解器件在不同工作條件下的性能,為電路設(shè)計(jì)提供參考。
封裝信息
NTH4LN067N65S3H采用TO - 247 4 - 引腳、細(xì)引腳封裝(CASE 340CW),提供了詳細(xì)的封裝尺寸信息,包括各尺寸的最小值、標(biāo)稱值和最大值。在進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí),需要根據(jù)這些尺寸信息合理布局器件,確保安裝和散熱的有效性。
總結(jié)
Onsemi的NTH4LN067N65S3H MOSFET憑借其卓越的性能、高可靠性和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,為電子工程師在設(shè)計(jì)各類電力系統(tǒng)時(shí)提供了一個(gè)優(yōu)秀的選擇。在實(shí)際應(yīng)用中,工程師需要根據(jù)具體的電路需求和工作條件,合理選擇和使用該器件,并注意其絕對(duì)最大額定值和熱特性,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。你在使用這款MOSFET的過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。
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