onsemi NVMJD020N08HL雙N溝道MOSFET深度解析
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率開(kāi)關(guān)器件,其性能和特性對(duì)于電路的穩(wěn)定性和效率起著至關(guān)重要的作用。今天我們就來(lái)深入了解一下onsemi的NVMJD020N08HL雙N溝道MOSFET。
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產(chǎn)品概述
NVMJD020N08HL是一款80V、19.5mΩ、30A的雙N溝道功率MOSFET。它采用了LFPAK8封裝,具有小尺寸(5x6 mm)的特點(diǎn),非常適合緊湊型設(shè)計(jì)。該器件具備低導(dǎo)通電阻((R{DS(on)}))和低柵極電荷((Q{G}))及電容,能有效降低導(dǎo)通損耗和驅(qū)動(dòng)損耗。此外,它還通過(guò)了AEC - Q101認(rèn)證,符合PPAP要求,并且是無(wú)鉛產(chǎn)品,滿(mǎn)足RoHS標(biāo)準(zhǔn)。
關(guān)鍵參數(shù)
最大額定值
| 參數(shù) | 符號(hào) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | (V_{DSS}) | 80 | V |
| 柵源電壓 | (V_{GS}) | +20 | V |
| 連續(xù)漏極電流((T_{c}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 30 | A |
| 功率耗散((T_{c}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 42 | W |
| 脈沖漏極電流((T{A}=25^{circ}C),(t{p}=10mu s)) | (I_{DM}) | 107 | A |
| 工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 | (T{J},T{stg}) | -55 至 +175 | (^{circ}C) |
| 源極電流(體二極管) | (I_{S}) | 35 | A |
| 單脈沖漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 1.5A)) | (E_{AS}) | 155 | mJ |
| 焊接用引腳溫度(距外殼1/8英寸,10s) | (T_{L}) | 260 | (^{circ}C) |
熱阻參數(shù)
| 參數(shù) | 符號(hào) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 結(jié)到殼熱阻(穩(wěn)態(tài)) | (R_{JC}) | 3.6 | (^{circ}C/W) |
| 結(jié)到環(huán)境熱阻(穩(wěn)態(tài),注2) | (R_{JA}) | 47.5 | (^{circ}C/W) |
注:整個(gè)應(yīng)用環(huán)境會(huì)影響熱阻值,這些值不是常數(shù),僅在特定條件下有效;表面貼裝在FR4板上,使用(650mm^{2})、2 oz.的銅焊盤(pán);脈沖長(zhǎng)達(dá)1秒的最大電流更高,但取決于脈沖持續(xù)時(shí)間和占空比。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓:(V{(BR)DSS})在(V{GS}=0V),(I_{D}=250mu A)時(shí)為80V,溫度系數(shù)為57mV/(^{circ}C)。
- 零柵壓漏極電流:(I{DSS})在(V{GS}=0V),(V{DS}=80V),(T{J}=25^{circ}C)時(shí)為10nA,(T_{J}=125^{circ}C)時(shí)為100nA。
- 柵源泄漏電流:(I{GSS})在(V{DS}=0V),(V_{GS}=20V)時(shí)給出相關(guān)參數(shù)。
導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓:(V{GS(TH)})在(V{GS}=V{DS}),(I{D}=30mu A)時(shí),最小值為1.2V,最大值為2.0V。
- 漏源導(dǎo)通電阻:(R{DS(on)})在(V{GS}=10V)時(shí),典型值為16.7mΩ,最大值為19.5mΩ;在(V{GS}=4.5V),(I{D}=15A)時(shí),典型值為21mΩ,最大值為25mΩ。
- 正向跨導(dǎo):(g{FS})在(V{DS}=8V),(I_{D}=15A)時(shí)給出相關(guān)參數(shù)。
電荷、電容和柵極電阻特性
| 參數(shù) | 符號(hào) | 測(cè)試條件 | 典型值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| 輸入電容 | (C_{ISS}) | (V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V{DS}=40V) | 611 | pF |
| 輸出電容 | (C_{OSS}) | 81 | pF | |
| 反向傳輸電容 | (C_{RSS}) | 5 | pF | |
| 總柵極電荷 | (Q_{G(TOT)}) | 11.4 | nC | |
| 閾值柵極電荷 | (Q_{G(TH)}) | 1 | nC | |
| 柵源電荷 | (Q_{GS}) | (V{GS}=10V),(V{DS}=64V);(I_{D}=15A) | 1.7 | nC |
| 柵漏電荷 | (Q_{GD}) | 2.4 | nC | |
| 平臺(tái)電壓 | (V_{GP}) | 2.8 | V |
開(kāi)關(guān)特性
在(V{GS}=10V),(V{DS}=64V),(I{D}=15A),(R{G}=1Omega)的條件下:
- 開(kāi)通延遲時(shí)間(t_{d(ON)})為6ns。
- 上升時(shí)間(t_{r})為3ns。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間(t_{d(OFF)})為16ns。
- 下降時(shí)間(t_{f})為2ns。
漏源二極管特性
- 正向二極管電壓:(V{SD})在(V{GS}=0V),(I_{S}=15A),(T = 25^{circ}C)時(shí),典型值為0.87V,最大值為1.2V;(T = 125^{circ}C)時(shí),典型值為0.76V。
- 反向恢復(fù)時(shí)間:(t{RR})在(V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/mu s),(I{S}=15A)時(shí)為25ns。
- 反向恢復(fù)電荷:(Q_{RR})為18nC。
典型特性曲線
文檔中給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓和漏極電流的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、漏源泄漏電流與電壓的關(guān)系、電容變化、柵源與總電荷的關(guān)系、電阻性開(kāi)關(guān)時(shí)間隨柵極電阻的變化、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、峰值電流與雪崩時(shí)間的關(guān)系以及熱響應(yīng)等。這些曲線能幫助工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。
訂購(gòu)信息
器件型號(hào)為NVMJD020N08HLTWG,標(biāo)記為020N08HL,采用LFPAK8雙無(wú)鉛封裝,每卷3000個(gè)。
封裝尺寸
LFPAK8封裝尺寸有詳細(xì)規(guī)定,包括各部分的最小、標(biāo)稱(chēng)和最大尺寸,同時(shí)對(duì)尺寸的測(cè)量和公差等也有明確說(shuō)明。
應(yīng)用注意事項(xiàng)
在使用NVMJD020N08HL時(shí),需要注意以下幾點(diǎn):
- 應(yīng)力超過(guò)最大額定值可能會(huì)損壞器件,若超過(guò)這些限制,不能保證器件功能正常,可能會(huì)造成損壞并影響可靠性。
- 產(chǎn)品的參數(shù)性能是在特定測(cè)試條件下給出的,若在不同條件下工作,產(chǎn)品性能可能與電氣特性不一致。
- 脈沖測(cè)試條件為脈沖寬度≤300μs,占空比≤2%;開(kāi)關(guān)特性與工作結(jié)溫?zé)o關(guān)。
總之,NVMJD020N08HL雙N溝道MOSFET以其出色的性能和特性,在電子設(shè)計(jì)中具有廣泛的應(yīng)用前景。工程師們?cè)谠O(shè)計(jì)電路時(shí),可以根據(jù)具體需求合理選擇和使用該器件。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過(guò)類(lèi)似MOSFET的使用問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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電子設(shè)計(jì)
+關(guān)注
關(guān)注
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