探索 onsemi NVMYS010N04CL 單通道 N 溝道 MOSFET
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)是不可或缺的元件,其性能直接影響著電路的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來深入了解 onsemi 推出的 NVMYS010N04CL 單通道 N 溝道 MOSFET,看看它有哪些獨(dú)特之處。
文件下載:NVMYS010N04CL-D.PDF
產(chǎn)品概述
NVMYS010N04CL 是一款耐壓 40V、導(dǎo)通電阻低至 10.3 mΩ、最大電流可達(dá) 38A 的單通道 N 溝道 MOSFET。它采用了 LFPAK4 封裝,尺寸僅為 5x6 mm,非常適合緊湊設(shè)計(jì)。同時,該產(chǎn)品通過了 AEC - Q101 認(rèn)證,可用于汽車級應(yīng)用,并且支持 PPAP(生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序)。
產(chǎn)品特性
緊湊設(shè)計(jì)
NVMYS010N04CL 的小尺寸(5x6 mm)封裝使其在空間有限的設(shè)計(jì)中具有很大優(yōu)勢。對于那些對電路板空間要求苛刻的應(yīng)用,如便攜式設(shè)備、小型電源模塊等,這種緊湊的設(shè)計(jì)能夠幫助工程師更靈活地布局電路,提高空間利用率。你在設(shè)計(jì)小型化產(chǎn)品時,是否會優(yōu)先考慮元件的尺寸呢?
低損耗性能
- 低導(dǎo)通電阻($R_{DS(on)}$):低 $R_{DS(on)}$ 可以有效降低導(dǎo)通損耗,提高電路的效率。在高電流應(yīng)用中,這一特性尤為重要,能夠減少發(fā)熱,延長元件的使用壽命。
- 低柵極電荷($Q_{G}$)和電容:低 $Q_{G}$ 和電容有助于降低驅(qū)動損耗,提高開關(guān)速度,使電路能夠更快速地響應(yīng)信號變化。這對于高頻應(yīng)用來說至關(guān)重要,能夠提升整個系統(tǒng)的性能。
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)封裝
LFPAK4 是一種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)封裝,具有良好的散熱性能和機(jī)械穩(wěn)定性。這種封裝便于安裝和焊接,并且在市場上有廣泛的應(yīng)用,工程師可以更容易地找到相關(guān)的設(shè)計(jì)參考和配套元件。
汽車級認(rèn)證
AEC - Q101 認(rèn)證表明該產(chǎn)品符合汽車電子的嚴(yán)格要求,能夠在惡劣的環(huán)境條件下穩(wěn)定工作。這使得 NVMYS010N04CL 適用于汽車電子領(lǐng)域,如電動座椅、車燈控制、電動門窗等系統(tǒng)。
關(guān)鍵參數(shù)
最大額定值
| 參數(shù) | 條件 | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| $V_{DSS}$(漏源電壓) | - | 40 | V |
| $V_{GS}$(柵源電壓) | - | ±20 | V |
| $I_{D}$(連續(xù)漏極電流) | $T_{C}=25^{circ}C$ | 38 | A |
| $T_{C}=100^{circ}C$ | - | A | |
| $P_{D}$(功率耗散) | $T_{C}=25^{circ}C$ | 28 | W |
| $T_{C}=100^{circ}C$ | 14 | W | |
| $I_{D}$(穩(wěn)態(tài)電流) | $T_{A}=25^{circ}C$ | 14 | A |
| $P_{D}$(功率耗散) | $T_{A}=25^{circ}C$ | 3.8 | W |
| $T_{A}=100^{circ}C$ | 1.9 | W | |
| 脈沖漏極電流 | $T{A}=25^{circ}C, t{p}=10 mu s$ | 187 | A |
| $T{J}, T{stg}$(工作結(jié)溫和存儲溫度) | - | -55 至 +175 | °C |
| $I_{S}$(源極電流,體二極管) | - | 24 | A |
| $E_{AS}$(能量) | $T{J}=25^{circ}C, I{L(pk)}=1.9 A$ | 62 | mJ |
| 焊接引線溫度(距外殼 1/8",10 s) | - | 260 | °C |
這些參數(shù)為工程師在設(shè)計(jì)電路時提供了重要的參考,確保元件在安全的工作范圍內(nèi)運(yùn)行。在實(shí)際應(yīng)用中,你是否會根據(jù)這些參數(shù)來評估元件的適用性呢?
電氣特性
關(guān)斷特性
- $V_{(BR)DSS}$(漏源擊穿電壓):在不同溫度下有不同的值,如 $T{J}=25^{circ}C$ 時為 40V,$T{J}=125^{circ}C$ 時為 250V。
- $I_{GSS}$(柵源泄漏電流):$V{DS}=0 V, V{GS}=20 V$ 時為 100 nA。
- $I_{DSS}$(零柵壓漏極電流):$V{GS}=0 V, V{DS}=40 V$ 時為 24 mV/°C(溫度系數(shù))。
導(dǎo)通特性
當(dāng) $I{D}=20 A$,$V{GS}=4.5V$ 時,$R_{DS(on)}$ 為 14.5 - 17.6 mΩ。
電荷、電容和柵極電阻
| 參數(shù) | 測試條件 | 典型值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| $C_{Iss}$(輸入電容) | $V{Gs}=0V, f = 1 MHz, V{ps}=25 V$ | 570 | pF |
| $C_{oss}$(輸出電容) | - | 230 | pF |
| $C_{RSS}$(反向傳輸電容) | - | 11 | pF |
| $Q_{G(TOT)}$(總柵極電荷) | $V{Gs}=10V, V{ps}=20V; I_{p}=20 A$ | 7.3 | nC |
| $V{Gs}=4.5 V, V{ps}=20V; I_{p}=20 A$ | 3.4 | nC | |
| $Q_{G(TH)}$(閾值柵極電荷) | - | 0.9 | nC |
| $Q_{GS}$(柵源電荷) | - | 1.6 | nC |
| $Q_{GD}$(柵漏電荷) | - | 1.0 | nC |
| $V_{GP}$(平臺電壓) | - | 3.4 | V |
開關(guān)特性
在 $V{GS}=4.5 V, V{DS}=20 V, I{D}=20 A, R{G}=1$ 的條件下,導(dǎo)通延遲時間 $t{d(ON)}$ 為 43 ns,上升時間 $t{r}$ 為 43 ns,關(guān)斷延遲時間 $t{d(OFF)}$ 為 11 ns,下降時間 $t{f}$ 為 2 ns。
漏源二極管特性
- $V_{SD}$(正向二極管電壓):$T{J}=25^{circ}C$ 時為 0.88 - 1.2 V,$T{J}=125^{circ}C$ 時為 0.79 V。
- $t_{RR}$(反向恢復(fù)時間):為 18 ns,其中充電時間 $t{a}$ 為 9 ns,放電時間 $t$ 為 9 ns。
- $Q_{RR}$(反向恢復(fù)電荷):為 6.0 nC。
這些電氣特性詳細(xì)描述了 MOSFET 在不同工作條件下的性能,工程師可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求來選擇合適的元件參數(shù)。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,你是否會對這些參數(shù)進(jìn)行詳細(xì)的計(jì)算和驗(yàn)證呢?
典型特性曲線
文檔中還給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓和漏極電流的關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、漏源泄漏電流與電壓的關(guān)系、電容變化、柵源與總電荷的關(guān)系、電阻性開關(guān)時間隨柵極電阻的變化、二極管正向電壓與電流的關(guān)系、安全工作區(qū)、峰值電流與雪崩時間的關(guān)系以及熱特性等。這些曲線直觀地展示了 MOSFET 在不同條件下的性能變化,為工程師提供了更全面的參考。你在設(shè)計(jì)電路時,是否會參考這些典型特性曲線呢?
封裝與訂購信息
NVMYS010N04CL 采用 LFPAK4 封裝,其機(jī)械尺寸和引腳布局都有詳細(xì)的說明。同時,文檔還提供了訂購信息,如 NVMYS010N04CLTWG 型號采用 3000 個/卷帶包裝。在選擇元件時,封裝和訂購信息也是需要考慮的重要因素,你是否會根據(jù)這些信息來選擇合適的元件呢?
總結(jié)
onsemi 的 NVMYS010N04CL 單通道 N 溝道 MOSFET 具有緊湊設(shè)計(jì)、低損耗性能、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)封裝和汽車級認(rèn)證等優(yōu)點(diǎn),適用于多種應(yīng)用場景。通過詳細(xì)了解其關(guān)鍵參數(shù)和典型特性,工程師可以更好地將其應(yīng)用到實(shí)際設(shè)計(jì)中,提高電路的性能和穩(wěn)定性。在未來的電子設(shè)計(jì)中,你是否會考慮使用這款 MOSFET 呢?歡迎在評論區(qū)分享你的看法。
-
MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
151文章
10310瀏覽量
234586
發(fā)布評論請先 登錄
探索 onsemi NVMYS010N04CL 單通道 N 溝道 MOSFET
評論