91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

半導(dǎo)體測試愈發(fā)重要,如何進行半導(dǎo)體測試?

MEMS ? 來源:YXQ ? 2019-04-11 09:12 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

導(dǎo)語:作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個環(huán)節(jié),半導(dǎo)體測試一直以來備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升,測試和驗證也變得更加重要。因此,這也是半導(dǎo)體研發(fā)從業(yè)人員必須掌握的基本技能。

近幾年,伴隨著人工智能、大數(shù)據(jù)及物聯(lián)網(wǎng)等新一代信息技術(shù)的發(fā)展,全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)又迎來了一輪景氣周期。為了解決需求及供給不匹配的矛盾,我國正在大力發(fā)展半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),以期實現(xiàn)國產(chǎn)替代。自2014年大基金實施以來,我國半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈得到了快速發(fā)展,未來也將不斷強化半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)地位。

半導(dǎo)體測試愈發(fā)重要

隨著技術(shù)發(fā)展,半導(dǎo)體芯片晶體管密度越來越高,相關(guān)產(chǎn)品復(fù)雜度及集成度呈現(xiàn)指數(shù)級增長,這對于芯片設(shè)計及開發(fā)而言是前所未有的挑戰(zhàn)。另一方面,隨著芯片開發(fā)周期的縮短,對于流片的成功率要求非常高,任何一次失敗,對企業(yè)而言都是無法承受的。為此,在芯片設(shè)計及開發(fā)過程中,需要進行充分的驗證和測試。除此之外,半導(dǎo)體制程工藝不斷提升,需要面臨大量的技術(shù)挑戰(zhàn),測試和驗證也變得更加重要。

與此同時,新興產(chǎn)業(yè)的發(fā)展也進一步凸顯半導(dǎo)體測試的重要性。例如,在國內(nèi)外廠商的大力推動下,5G手機將會在2019年出現(xiàn)。隨著通信速度的大幅提升,對基帶和射頻前端都帶來前所未有的挑戰(zhàn)。由于需要支持更多的模式,射頻前端也將集成更多的模塊如功率放大器,低噪聲放大器(LNA),雙工器和天線開關(guān)等,并將其封裝在單個組件中。在研發(fā)設(shè)計及生產(chǎn)過程中,測試就變得非常重要。只有精確測量組件的各個參數(shù),才能相應(yīng)的優(yōu)化設(shè)計方案,及提升產(chǎn)品生產(chǎn)成功率。

如何進行半導(dǎo)體測試?

對于半導(dǎo)體測試而言,雖然在批量生產(chǎn)、實驗室、晶圓等環(huán)節(jié)都需要用到,相關(guān)環(huán)節(jié)也比較復(fù)雜,但是電性能測試則是最為基本的環(huán)節(jié)。任何半導(dǎo)體器件或模組,在研發(fā)、設(shè)計及生產(chǎn)過程中,都免不了這一環(huán)節(jié)。

在電性能測試環(huán)節(jié),目前最先進的測試方案就是源測量單元(SMU)。SMU是一種精密電源儀器,具備電壓輸出和測量以及電流輸出和測量功能。這種對電壓和電流的控制使您可以靈活地通過歐姆定律計算電阻和功率??赏瑫r控制與量測高精度電壓、電流,專為消費性電子產(chǎn)品、IC設(shè)計與驗證、生醫(yī)、學(xué)術(shù)研究等實驗室提供電性能測試。

目前,市場上能夠提供源測量單元(SMU)廠商也不少,相關(guān)產(chǎn)品也有很多。然而,并不是測試儀器越昂貴,測試準確性就越高。想要真正意義上掌握源測量單元(SMU),必須首先清楚誤差產(chǎn)生的原因,以及減小誤差的有效途徑。

對于半導(dǎo)體芯片而言,一次流片的成本高達數(shù)百萬人民幣,測試儀器參數(shù)的任何微小調(diào)整就有可能產(chǎn)生不同的結(jié)果??芍^是失之毫厘,差之千里!為此,我們特意為半導(dǎo)體從業(yè)人員準備了一份源測量單元(SMU)實用指南,針對測量精度、測量速度、電線電阻消除、偏移電壓補償、最小化外部噪聲、避免電流泄露以及校準等環(huán)節(jié)進行了具體說明,希望對大家有所幫助。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 芯片
    +關(guān)注

    關(guān)注

    463

    文章

    54050

    瀏覽量

    466561
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    339

    文章

    30801

    瀏覽量

    264592

原文標題:不容忽視,這一步?jīng)Q定了芯片制造的成?。?/p>

文章出處:【微信號:MEMSensor,微信公眾號:MEMS】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    半導(dǎo)體嵌入式單元測試的核心技術(shù)、工具選型與落地全流程

    函數(shù)、類或組件)進行的驗證活動,它在半導(dǎo)體嵌入式軟件開發(fā)中具有不可替代的核心價值。首先,單元測試能夠在開發(fā)早期捕獲缺陷。據(jù)SEI研究所統(tǒng)計,發(fā)布后修復(fù)一個缺陷的成本是開發(fā)階段修復(fù)的100倍以上,而
    發(fā)表于 03-06 14:55

    「聚焦半導(dǎo)體分立器件綜合測試系統(tǒng)」“測什么?為什么測!用在哪?”「深度解讀」

    隨著科技發(fā)展,高端設(shè)備應(yīng)用與半導(dǎo)體器件發(fā)展密不可分,其應(yīng)用場景與穩(wěn)定性直接決定產(chǎn)品性能,半導(dǎo)體分立器件綜合測試系統(tǒng)是半導(dǎo)體測試環(huán)節(jié)的核心樞紐
    發(fā)表于 01-29 16:20

    半導(dǎo)體測試儀使用注意事項

    ? ? ? 本篇內(nèi)容聊一下半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測試,LADCT2000 半導(dǎo)體分立器件直流參數(shù)測試設(shè)備-半導(dǎo)體
    的頭像 發(fā)表于 01-26 10:56 ?510次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測試</b>儀使用注意事項

    半導(dǎo)體行業(yè)知識專題九:半導(dǎo)體測試設(shè)備深度報告

    (一)測試設(shè)備貫穿半導(dǎo)體制造全流程半導(dǎo)體測試設(shè)備是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈核心裝備,涵蓋晶圓測試、封裝測試
    的頭像 發(fā)表于 01-23 10:03 ?1861次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>行業(yè)知識專題九:<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測試</b>設(shè)備深度報告

    半導(dǎo)體測試制程介紹

    半導(dǎo)體產(chǎn)品的附加價值高、制造成本高,且產(chǎn)品的性能對于日后其用于最終電子商品的功能有關(guān)鍵性的影響。因此,在半導(dǎo)體的生產(chǎn)過程中的每個階段,對于所生產(chǎn)的半導(dǎo)體IC產(chǎn)品,都有著層層的測試及檢驗
    的頭像 發(fā)表于 01-16 10:04 ?370次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測試</b>制程介紹

    半導(dǎo)體測試,是“下一個前沿”

    本文由半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫(ID:ICVIEWS)編譯自3dincites利用人工智能進行半導(dǎo)體測試創(chuàng)新,將能夠共享與良率、覆蓋率和成本息息相關(guān)的真實數(shù)據(jù)。雖然人工智能在
    的頭像 發(fā)表于 12-26 10:02 ?558次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測試</b>,是“下一個前沿”

    探秘半導(dǎo)體“體檢中心”:如何為一顆芯片做靜態(tài)參數(shù)測試

    —— 走進STD2000X半導(dǎo)體電性測試系統(tǒng)的技術(shù)世界 ?在現(xiàn)代電子設(shè)備中,半導(dǎo)體器件如同人體的“心臟”與“神經(jīng)”,其性能直接決定了整機的可靠性與效率。而如何對這些微小的“電子器官”進行
    的頭像 發(fā)表于 11-20 13:31 ?352次閱讀
    探秘<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>“體檢中心”:如何為一顆芯片做靜態(tài)參數(shù)<b class='flag-5'>測試</b>?

    半導(dǎo)體器件的通用測試項目都有哪些?

    的保障,半導(dǎo)體器件的測試愈發(fā)重要。 對于半導(dǎo)體器件而言,它的分類非常廣泛,例如二極管、三極管、MOSFET、IC等,不過這些器件的
    的頭像 發(fā)表于 11-17 18:18 ?2656次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>器件的通用<b class='flag-5'>測試</b>項目都有哪些?

    是德科技Keysight B1500A 半導(dǎo)體器件參數(shù)分析儀/半導(dǎo)體表征系統(tǒng)主機

    電子器件、材料、半導(dǎo)體和有源/無源元器件。 可以在 CV 和 IV 測量之間快速切換,無需重新連接線纜。 能夠捕獲其他傳統(tǒng)測試儀器無法捕獲的超快速瞬態(tài)現(xiàn)象。 能夠檢測 1 kHz 至 5 MHz
    發(fā)表于 10-29 14:28

    BW-4022A半導(dǎo)體分立器件綜合測試平臺---精準洞察,卓越測量

    )** 在芯片制造的前端,對晶圓上的芯片進行初步測試是至關(guān)重要的。半導(dǎo)體測試設(shè)備能夠在晶圓切割之前,通過微小的探針接觸芯片的焊盤,對芯片的
    發(fā)表于 10-10 10:35

    是德示波器在半導(dǎo)體器件測試中的應(yīng)用

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)作為現(xiàn)代科技的基石,其技術(shù)的發(fā)展日新月異。半導(dǎo)體器件從設(shè)計到生產(chǎn),每個環(huán)節(jié)都對測試設(shè)備的精度、效率提出了嚴苛要求。示波器作為關(guān)鍵的測試測量儀器,在
    的頭像 發(fā)表于 07-25 17:34 ?808次閱讀
    是德示波器在<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>器件<b class='flag-5'>測試</b>中的應(yīng)用

    半導(dǎo)體分立器件測試的對象與分類、測試參數(shù),測試設(shè)備的分類與測試能力

    半導(dǎo)體分立器件測試是對二極管、晶體管、晶閘管等獨立功能半導(dǎo)體器件的性能參數(shù)進行系統(tǒng)性檢測的過程,旨在評估其電氣特性、可靠性和適用性。以下是主要測試
    的頭像 發(fā)表于 07-22 17:46 ?1022次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>分立器件<b class='flag-5'>測試</b>的對象與分類、<b class='flag-5'>測試</b>參數(shù),<b class='flag-5'>測試</b>設(shè)備的分類與<b class='flag-5'>測試</b>能力

    功率半導(dǎo)體器件——理論及應(yīng)用

    本書較全面地講述了現(xiàn)有各類重要功率半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)、基本原理、設(shè)計原則和應(yīng)用特性,有機地將功率器件的設(shè)計、器件中的物理過程和器件的應(yīng)用特性聯(lián)系起來。 書中內(nèi)容由淺入深,從半導(dǎo)體的性質(zhì)、基本的
    發(fā)表于 07-11 14:49

    半導(dǎo)體測試可靠性測試設(shè)備

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴苛環(huán)境,對半導(dǎo)體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進行評估,確保其在實際使用中能穩(wěn)定運行。以下為你詳細介紹常見的
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?1317次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>測試</b>可靠性<b class='flag-5'>測試</b>設(shè)備

    康盈半導(dǎo)體徐州測試基地投產(chǎn),為存儲產(chǎn)業(yè)注入新動能

    3 月 25 日,在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)競爭白熱化,國產(chǎn)化需求愈發(fā)迫切的大背景下,康盈半導(dǎo)體取得重大突破 —— 康盈半導(dǎo)體徐州測試基地正式投產(chǎn)。這
    發(fā)表于 04-03 09:12 ?850次閱讀
    康盈<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>徐州<b class='flag-5'>測試</b>基地投產(chǎn),為存儲產(chǎn)業(yè)注入新動能