動態(tài)
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發(fā)布了文章 2026-03-02 11:50
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發(fā)布了文章 2026-02-10 11:49
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發(fā)布了文章 2026-02-09 15:30
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發(fā)布了文章 2026-02-05 15:43
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發(fā)布了文章 2026-01-20 13:24
什么是PCT試驗(yàn)?
PCT試驗(yàn)(壓力蒸煮試驗(yàn))是一種模擬極端環(huán)境條件的測試方法,通過將樣品置于高溫、高濕度和高壓的環(huán)境中,評估其在嚴(yán)苛條件下的性能表現(xiàn)。該試驗(yàn)的核心在于模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的高濕環(huán)境,從而提前發(fā)現(xiàn)潛在問題,優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝,確保產(chǎn)品在市場中的可靠性和競爭力。PCT試驗(yàn)的核心目標(biāo)PCT試驗(yàn)的主要目標(biāo)是評估電子元件在高濕環(huán)境中的耐久性,特別是針對印刷線 -
發(fā)布了文章 2026-01-19 13:46
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發(fā)布了文章 2026-01-15 15:28
一文了解什么是功率半導(dǎo)體器件產(chǎn)品的失效
功率半導(dǎo)體器件失效,指的是器件功能完全或部分喪失、參數(shù)發(fā)生顯著漂移,或間歇性出現(xiàn)上述異常狀態(tài)。無論失效是否可逆,一旦發(fā)生,該器件在實(shí)際應(yīng)用中便不再具備使用條件,必須予以更換或廢棄。失效模式,是失效所呈現(xiàn)的具體形式、狀態(tài)與現(xiàn)象,是失效在宏觀層面的表現(xiàn)。不同種類的功率芯片,其失效模式各有差異,常見的有電極間短路、熱燒毀、參數(shù)漂移等。導(dǎo)致器件失效的因素復(fù)雜多樣。外183瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2026-01-07 12:20
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發(fā)布了文章 2026-01-05 15:34
汽車光耦不做 AEC-Q102 認(rèn)證?可能面臨的 3 大風(fēng)險(xiǎn)與隱性損失
在汽車電子系統(tǒng)不斷向智能化、電動化演進(jìn)的大趨勢下,各類電子元器件正發(fā)揮著前所未有的關(guān)鍵作用。其中,光耦——即光電耦合器,作為實(shí)現(xiàn)電路信號隔離、電平轉(zhuǎn)換及抑制干擾的核心器件,其性能表現(xiàn)與整車的安全、穩(wěn)定運(yùn)行息息相關(guān)。從車載電源管理、電池管理系統(tǒng)(BMS)、電機(jī)驅(qū)動控制,到車身網(wǎng)絡(luò)通信、車燈控制與傳感信號調(diào)理,光耦的身影幾乎遍布整車電子架構(gòu)的各個關(guān)鍵環(huán)節(jié)。因此, -
發(fā)布了文章 2026-01-04 16:45
車用LED核心考驗(yàn):凝露測試如何決定車燈的可靠與安全
在現(xiàn)代汽車設(shè)計(jì)中,車燈早已超越單純的照明功能,成為集行車安全、智能交互、個性表達(dá)于一體的關(guān)鍵系統(tǒng)。作為車燈光源的核心,LED燈珠的可靠性直接影響著車輛在不同環(huán)境下的穩(wěn)定表現(xiàn)。在眾多車用LED的驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)中,AEC-Q102是公認(rèn)的國際權(quán)威可靠性認(rèn)證體系,其中的“凝露測試”更是評估LED封裝抵抗?jié)駳鉂B透能力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。凝露測試的核心價(jià)值1.貼近真實(shí)駕駛環(huán)境的嚴(yán)苛