金鑒實驗室文章

• 高低溫循環(huán)測試對電子元件壽命有什么影響2025-10-16 15:00

  

  在電子產(chǎn)品無處不在的今天，微小元件的可靠性直接關(guān)系整個系統(tǒng)的成敗。小到手機，大到汽車、醫(yī)療及工業(yè)設(shè)備，任何元件的失效都可能造成設(shè)備癱瘓。要預(yù)知元件壽命，高低溫循環(huán)測試是關(guān)鍵所在。什么是高低溫循環(huán)測試？高低溫循環(huán)測試是一種環(huán)境可靠性測試方法，通過讓電子元件在設(shè)定的高溫和低溫極端值之間循環(huán)變化，模擬產(chǎn)品在運輸、存儲和使用過程中可能遇到的溫度變化環(huán)境。金鑒實驗室擁

  循環(huán)測試 電子產(chǎn)品 電子元件 654瀏覽量

• 聚焦離子束（FIB）技術(shù)：原理、應(yīng)用與制樣全解析2025-10-16 14:58

  

  在微觀世界的探索中，科學(xué)家們需要極其精密的工具來觀察和分析材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)與成分。聚焦離子束（FIB）技術(shù)就是這樣一把打開微觀世界大門的鑰匙，它通過將離子束聚焦到納米尺度，實現(xiàn)對材料的精確加工和分析。原理與簡介聚焦離子束系統(tǒng)利用電透鏡將離子束聚焦成非常小的尺寸，目前商用系統(tǒng)通常采用液相金屬離子源（LMIS），其金屬材質(zhì)為鎵（Ga）。為什么選擇鎵呢？這是因為它具

  fib 離子束 851瀏覽量

• LED死燈原因到底有多少種?2025-10-16 14:56

  

  于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測機構(gòu)，能夠?qū)ED進行嚴格的檢測，致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試服務(wù)，為LED在各個領(lǐng)域的可靠應(yīng)用提供堅實的質(zhì)量保障。以金鑒接觸的失效分析大數(shù)據(jù)顯示，LED死燈的原因可能過百種，我們僅以LED光源為例，從LED光源的五大原物料（芯片、支架、熒光粉、固晶膠、封裝膠和金線）的入手，介紹部分可能導(dǎo)致死燈的原因。芯片1.芯片抗靜電能力差LED燈珠

  led 死燈 815瀏覽量

• 基于振動與沖擊試驗的機械結(jié)構(gòu)疲勞可靠性評估2025-10-15 16:26

  

  振動環(huán)境堪稱機械結(jié)構(gòu)面臨的終極考驗之一。從噴氣式發(fā)動機的持續(xù)高頻振動，到高速列車與軌道接觸產(chǎn)生的復(fù)雜激勵，再到工業(yè)生產(chǎn)線設(shè)備永不停歇的運轉(zhuǎn)，這些動態(tài)載荷無時無刻不在考驗著工程結(jié)構(gòu)的耐久極限。在長期振動作用下，即使是最堅固的材料也會逐漸積累損傷，最終導(dǎo)致災(zāi)難性失效。因此，通過科學(xué)的試驗手段，在產(chǎn)品設(shè)計驗證階段精準評估其抗振與抗沖擊能力，是確保產(chǎn)品可靠性、安全性

  沖擊試驗 振動 機械 764瀏覽量

• 熱沖擊試驗對車燈有什么影響？2025-10-15 16:25

  

  什么是熱沖擊試驗？車輛外部照明和光信號裝置的熱沖擊試驗，是一項針對車燈環(huán)境可靠性的關(guān)鍵測試。它通過模擬車輛在日常使用中可能遭遇的急劇溫度變化，將車燈樣品交替暴露于極端高溫和低溫環(huán)境中，進行多次循環(huán)測試。該測試的主要目的是檢驗車燈在快速溫度變化條件下能否保持結(jié)構(gòu)完整性及功能穩(wěn)定性。測試能夠識別出材料開裂、變形、密封失效、光學(xué)性能異常以及電路故障等潛在問題，從而

  沖擊試驗 車燈 385瀏覽量

• 氬離子束截面分析在鋰電池電極材料研究中的應(yīng)用2025-10-15 16:24

  

  鋰離子電池作為新一代綠色高能電池，憑借其卓越的性能，在新能源汽車等高新技術(shù)領(lǐng)域占據(jù)著舉足輕重的地位。隨著新能源汽車行業(yè)的蓬勃發(fā)展，鋰電池材料的需求與應(yīng)用前景呈現(xiàn)出持續(xù)向好的態(tài)勢。鋰離子電池的優(yōu)勢1.高能量密度在相同的體積或重量下，鋰離子電池能夠儲存更多的電能，為新能源汽車提供更長的續(xù)航里程。2.長循環(huán)壽命在多次充放電循環(huán)后，電池的容量衰減速度相對較慢，這不僅

  電極材料 鋰電池 239瀏覽量

• 碳化硅雙極退化：材料的本征局限還是工藝難題？2025-10-15 16:22

  

  在功率電子領(lǐng)域，碳化硅（SiC）器件以其優(yōu)異的性能正逐漸取代傳統(tǒng)硅基器件。然而，SiCMOSFET和SiC二極管在實際應(yīng)用中卻面臨一種特殊的可靠性挑戰(zhàn)——雙極退化。這一現(xiàn)象直接影響著器件的長期穩(wěn)定性和使用壽命，成為工程師們必須重視的問題。什么是雙極退化？雙極退化是SiC器件中一種特定的性能衰退模式。當電流持續(xù)流過SiCMOSFET的體二極管時，注入的電子-空

  SiC 材料 碳化硅 363瀏覽量

• 外殼防護等級（IP代碼）全解讀2025-10-14 12:13

  

  什么是外殼防護等級（IP代碼）IP代碼，全稱為“國際防護等級”，是由國際電工委員會制定的全球通用標準。這一標準旨在為電子設(shè)備外殼的防護能力提供一個清晰、統(tǒng)一的評判體系。簡單來說，IP代碼就是電子設(shè)備的“防護身份證”。我們常見的IP代碼由“IP”和緊隨其后的兩位數(shù)字組成，例如IP65。第一位數(shù)字代表設(shè)備對固體異物（如灰塵）的防護能力，第二位數(shù)字則表示對液體（主

  電子設(shè)備 1274瀏覽量

• FIB-SEM雙束系統(tǒng)：微納尺度的一體化解決方案2025-10-14 12:11

  

  在微觀世界的探索中，科研人員一直致力于發(fā)展兼具精準操作與高分辨率表征功能的集成化系統(tǒng)。聚焦離子束-掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）正是滿足這一需求的先進工具，它實現(xiàn)了微納加工與高分辨成像功能的有機融合，已成為材料科學(xué)及相關(guān)領(lǐng)域不可或缺的分析平臺。雙束協(xié)同：原理與優(yōu)勢FIB-SEM系統(tǒng)由兩大核心技術(shù)組成：聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）。

  fib SEM 544瀏覽量

• 深度解析LED芯片與封裝失效機理2025-10-14 12:09

  

  隨著LED技術(shù)的迅猛發(fā)展，其在照明領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛，LED以其高效、節(jié)能、環(huán)保等優(yōu)勢被視為傳統(tǒng)照明技術(shù)的替代品。然而，LED產(chǎn)品在實際應(yīng)用中仍然面臨諸多挑戰(zhàn)，尤其是穩(wěn)定性和可靠性問題。LED芯片失效和封裝失效的原因，并分析其背后的物理機制。金鑒實驗室作為一家專注于LED產(chǎn)業(yè)的科研檢測機構(gòu)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各個環(huán)節(jié)，使LED產(chǎn)業(yè)健康

  led 封裝 芯片 374瀏覽量