金鑒實驗室文章

• 透射電子顯微鏡（TEM）技術(shù)詳解2025-06-06 15:33

  

  TEM的工作原理透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）是一種利用高能電子束穿透樣品，通過電磁透鏡成像和分析的精密儀器。其工作原理基于電子束與樣品的相互作用，具體過程如下：1.電子束生成電子槍（常見類型有鎢絲、六硼化鑭或場發(fā)射）發(fā)射高能電子，能量通常在60-300keV之間。這些電子經(jīng)過聚光鏡聚焦，形成平行的電子

  TEM 電磁 透射電子顯微鏡 4331瀏覽量

• LED燈珠金線純度識別2025-06-06 15:31

  

  在LED制造領(lǐng)域，金線作為關(guān)鍵材料，其純度直接關(guān)系到LED產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。準確鑒別金線純度對于把控產(chǎn)品質(zhì)量至關(guān)重要，以下將從多個專業(yè)角度介紹鑒別方法。金線的材質(zhì)與替代品概述純正的金線是以金純度高達99.99%或以上的材質(zhì)經(jīng)過拉絲工藝制成，其中會含有微量的Ag、Cu、Si、Ca、Mg等微量元素。而銀線則是采用純度為99.99%或以上的銀材質(zhì)進行拉絲，同樣會包

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• LED芯片發(fā)光均勻度測試引領(lǐng)芯片電極圖案設(shè)計2025-06-06 15:30

  

  芯片電極圖案設(shè)計的重要性當前，芯片廠在LED芯片電極圖案設(shè)計過程中，僅僅是針對芯片進行相對簡單的測量，獲得整體的亮度、波長和電壓等參數(shù)，并不能精確地描述芯片的光分布情況，這樣容易導致芯片的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題。而由于缺乏專業(yè)的測試設(shè)備和測試經(jīng)驗，LED芯片廠對芯片發(fā)光不均勻的現(xiàn)象束手無策，沒有直觀的數(shù)據(jù)支持，無法從根本上改進芯片品質(zhì)。通過L

  led LED芯片 電極 648瀏覽量

• 芯片樣品備制前處理技術(shù)分析2025-06-05 15:14

  

  在芯片設(shè)計完成后，樣品功能性測試、可靠性測試以及失效分析除錯等環(huán)節(jié)開展之前，樣品備制前處理是不可或缺的關(guān)鍵步驟。其中，芯片切片方式用于斷面/橫截面觀察，對于確認芯片內(nèi)部的金屬接線、各層結(jié)構(gòu)、錫球接合結(jié)構(gòu)、封裝打線等潛在缺陷，具有至關(guān)重要的作用。傳統(tǒng)機械研磨：大面積觀察的可靠選擇傳統(tǒng)機械研磨的最大優(yōu)勢在于能夠?qū)崿F(xiàn)大面積的觀察范圍，可覆蓋小于15cm的區(qū)域，跨越

  SEM 離子束 芯片設(shè)計 667瀏覽量

• LED熒光粉來料檢驗精解2025-06-05 15:09

  

  熒光粉的關(guān)鍵作用熒光粉在白光LED制造中扮演著極為關(guān)鍵的角色。其性能的優(yōu)劣直接決定了白光LED的諸多重要特性，包括亮度、色坐標、色溫以及顯色性等。要制造出高亮度、高發(fā)光效率、高顯色性的白光LED，開發(fā)具備優(yōu)良發(fā)光特性的熒光粉是至關(guān)重要的核心環(huán)節(jié)。熒光粉檢測項目（1）熒光粉形貌和分散性觀察（SEM）（2）熒光粉直徑的測量（SEM）（3）熒光粉顆粒度分布測量（激

  led 測量 熒光粉 1204瀏覽量

• 一文詳解什么是氣體腐蝕測試2025-06-04 16:24

  

  在現(xiàn)代工業(yè)的眾多領(lǐng)域中，氣體腐蝕測試憑借其對材料耐腐蝕性能的精準評估，已成為確保生產(chǎn)安全、延長設(shè)備使用壽命不可或缺的重要工具。從化工、能源到交通運輸，氣體腐蝕的潛在危害無處不在，而氣體腐蝕測試則為應對這些挑戰(zhàn)提供了科學依據(jù)和技術(shù)支持。氣體腐蝕測試的基理與作用氣體腐蝕是指金屬表面在無液相條件下與腐蝕性氣體發(fā)生化學反應而導致的劣化現(xiàn)象。這種腐蝕過程主要受溫濕度、

  氣體 測試 617瀏覽量

• LED封裝器件熱阻測試與散熱能力評估2025-06-04 16:18

  

  熱阻概念與重要性熱阻是衡量熱量在熱流路徑上所遇阻力的物理量，它反映了介質(zhì)或介質(zhì)間傳熱能力的強弱，具體表現(xiàn)為1W熱量引起的溫升大小，單位為℃/W或K/W?？梢詫崃勘茸麟娏?，溫差比作電壓，那么熱阻就相當于電阻。在LED器件的實際應用中，其結(jié)構(gòu)熱阻分布涵蓋了芯片襯底、襯底與LED支架的粘結(jié)層、LED支架、LED器件外掛散熱體以及自由空間的熱阻，這些熱阻通道呈串聯(lián)

  led 封裝器件 熱阻測試 888瀏覽量

• 鍵合線剪切試驗——確保汽車電子產(chǎn)品的可靠連接2025-06-03 15:11

  

  汽車電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性對于現(xiàn)代汽車至關(guān)重要，因為它們直接影響到汽車的性能和安全。AEC-Q102標準下的鍵合線剪切試驗是評估這些電子產(chǎn)品中關(guān)鍵連接點強度的重要手段。汽車電子的可靠性保障：鍵合線剪切試驗解析AEC-Q102標準下的鍵合線剪切試驗，作為評估這些產(chǎn)品中關(guān)鍵連接點強度的一項測試，扮演著至關(guān)重要的角色。本文旨在深入探討這一測試的重要性、實施流程及

  AEC 汽車電子 試驗 713瀏覽量

• 混合氣體腐蝕試驗：材料耐蝕性能評估的關(guān)鍵手段2025-05-29 16:16

  

  在現(xiàn)代工業(yè)環(huán)境中，材料面臨著來自各種腐蝕性氣體的嚴峻挑戰(zhàn)。混合氣體腐蝕試驗作為一種模擬真實大氣環(huán)境中多種腐蝕性氣體協(xié)同作用的加速腐蝕測試方法，憑借其精準的環(huán)境模擬與高效的腐蝕加速能力，成為材料耐蝕性能評估不可或缺的工具。試驗原理與重要性混合氣體腐蝕試驗聚焦于模擬工業(yè)廢氣、汽車尾氣、化工生產(chǎn)等場景中廣泛存在的腐蝕性氣體，如二氧化硫（SO?）、二氧化氮（NO?）

  材料 模擬 測試 842瀏覽量

• 一文了解聚焦離子束（FIB）技術(shù)及聯(lián)用技術(shù)2025-05-29 16:15

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)憑借其獨特的原理和強大的功能，成為微納加工與分析領(lǐng)域不可或缺的重要工具。FIB如何工作聚焦離子束（FIB）技術(shù)是一種先進的微納加工技術(shù)，其核心在于液態(tài)金屬離子源，通常使用鎵作為離子源材料。通過電場激發(fā)，液態(tài)金屬離子源能夠生成穩(wěn)定的離子流。隨后，利用靜電透鏡系統(tǒng)，將離子束聚焦至直徑僅幾納米的極細束斑。當這束高能離子束轟擊樣品表面時，會引

  fib 微納加工 離子束 1188瀏覽量