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上海季豐電子

文章:240 被閱讀:71w 粉絲數(shù):42 關(guān)注數(shù):0 點贊數(shù):2

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季豐電子發(fā)布支持120V的數(shù)字老化機

在半導體生產(chǎn)領(lǐng)域,芯片的穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。為確保每顆芯片都能經(jīng)受長期使用的挑戰(zhàn),H160H應(yīng)運....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 01-13 11:43 ?927次閱讀
季豐電子發(fā)布支持120V的數(shù)字老化機

季豐電子全新推出MonitorMaster三代

在芯片測試領(lǐng)域,精準的電壓、電流監(jiān)控是確保產(chǎn)品性能和穩(wěn)定性的關(guān)鍵。季豐電子全新推出的MonitorM....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 01-02 11:49 ?1036次閱讀
季豐電子全新推出MonitorMaster三代

衢州季豐新增參數(shù)特色檢測能力氨氣測試

隨著光伏產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,對檢測服務(wù)的需求也在不斷增加,衢州季豐作為一家專業(yè)從事光伏產(chǎn)品檢測的第三方實....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-31 11:10 ?852次閱讀

透射電子顯微鏡中的應(yīng)變分析技術(shù)

季豐電子材料分析實驗室配備賽默飛Talos F200i,設(shè)備選配有Epsilon應(yīng)力分析系統(tǒng),配合精....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-31 11:06 ?3267次閱讀
透射電子顯微鏡中的應(yīng)變分析技術(shù)

透射電鏡中的EDS定性與定量分析

季豐電子材料分析實驗室配備賽默飛Talos F200E,EDS定量方法采用標準的Cliff-Lori....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-30 10:42 ?3771次閱讀
透射電鏡中的EDS定性與定量分析

季豐電子3D超景深數(shù)字顯微鏡簡介

日前,季豐電子與上海交通大學合作開發(fā)的3D超景深數(shù)字顯微鏡HY01正式通過了專家組驗收。
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-30 10:40 ?1461次閱讀

芯片失效機理之閂鎖效應(yīng)

?閂鎖效應(yīng)(Latch-up)是?CMOS工藝中一種寄生效應(yīng),通常發(fā)生在CMOS電路中,當輸入電流過....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-27 10:11 ?5582次閱讀
芯片失效機理之閂鎖效應(yīng)

季豐電子CA實驗室的技術(shù)優(yōu)勢

在半導體制造的復雜工藝中,超純試劑和超純氣體是保障晶圓表面清潔與蝕刻精度的核心材料。然而,痕量金屬雜....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-27 10:10 ?1136次閱讀

衢州季豐引進光伏組件沙塵試驗箱

為進一步滿足光伏行業(yè)不斷增長的客戶需求,衢州季豐引進了光伏組件沙塵試驗箱,可為廣大光伏廠家提供沙塵測....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-26 10:07 ?1053次閱讀

上海季豐榮獲ISO14001和ISO45001雙體系認證證書

日前,上海季豐電子股份有限公司/上海季豐電子科技有限公司通過了TQCSI集團認證,獲得ISO 140....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-26 10:05 ?1111次閱讀

季豐電子超聲波切割機的三大優(yōu)勢

在科技飛速發(fā)展的今天,精準切割技術(shù)對于眾多行業(yè)的重要性日益凸顯。季豐電子張江實驗室新引進的CSX-1....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-20 15:23 ?1107次閱讀

光刻膠成為半導體產(chǎn)業(yè)的關(guān)鍵材料

光刻膠是半導體制造等領(lǐng)域的一種重要材料,在整個電子元器件加工產(chǎn)業(yè)有著舉足輕重的地位。 它主要由感光樹....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-19 13:57 ?2512次閱讀

季豐電子推出200TPI高精度探針座

各行各業(yè)中,精度一直是企業(yè)和用戶最為關(guān)注的核心指標之一。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展和市場需求的日益多樣化,現(xiàn)....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-19 13:54 ?1125次閱讀
季豐電子推出200TPI高精度探針座

季豐RA新添可靠性試驗設(shè)備恒溫恒濕箱

隨著國內(nèi)半導體科技的不斷進步,各領(lǐng)域AI芯片產(chǎn)品的可靠性和耐用性成為了市場競爭的關(guān)鍵因素之一。針對非....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-18 14:18 ?932次閱讀

ESD測試模式簡介

在電子領(lǐng)域,有一個常常被忽視卻又可能帶來巨大危害的“隱形殺手”——ESD(Electrostatic....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-18 14:16 ?3437次閱讀
ESD測試模式簡介

季豐電子新引入ERSA真空氮氣回流焊

公司位于浙江省嘉興市嘉善縣惠民街道鑫達路8號A2幢3樓,總面積3200平方米,通過了ISO9001質(zhì)....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-18 09:47 ?1551次閱讀

WAT基本定義的介紹

半導體測試領(lǐng)域常常提到WAT,什么是WAT?
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-18 09:45 ?9776次閱讀
WAT基本定義的介紹

季豐電子推出全新激光位移傳感器LK-N050

季豐電子推出了一款全新激光位移傳感器——LK-N050,集高精度、緊湊設(shè)計和多樣化通信接口于一體。這....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-17 11:10 ?1466次閱讀

成都季豐獲批CNAS實驗室認可證書

日前,經(jīng)中國合格評定國家認可委員會嚴格審核,成都季豐檢測技術(shù)有限公司(以下簡稱成都季豐)成功獲批CN....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-16 18:12 ?1506次閱讀

芯片靜電測試之HBM與CDM詳解

在芯片制造與使用的領(lǐng)域中,靜電是一個不容小覷的威脅。芯片對于靜電極為敏感,而HBM(人體模型)測試和....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-16 18:07 ?11184次閱讀
芯片靜電測試之HBM與CDM詳解

季豐電子開發(fā)出LPDDR5的SER測試方案并在中子輻射下完成SER實驗

近日,受國內(nèi)存儲大廠委托,季豐電子在原有SER技術(shù)基礎(chǔ)上,開發(fā)出了LPDDR5的SER測試方案,并成....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-07 11:13 ?1686次閱讀
季豐電子開發(fā)出LPDDR5的SER測試方案并在中子輻射下完成SER實驗

浙江季豐精密電子SMT導入高分辨率X-RAY檢測儀

電子組件產(chǎn)品在SMT(表面貼裝技術(shù))中,經(jīng)常遇到一些質(zhì)量缺陷無法從外觀視覺包括AOI設(shè)備檢查到,也不....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 12-06 10:21 ?1501次閱讀
浙江季豐精密電子SMT導入高分辨率X-RAY檢測儀

季豐電子完成自研Acco8200_CP_Generic_Board公板測試驗證

日前,季豐電子順利完成自研Acco8200_CP_Generic_Board公板的測試驗證。不僅可免....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-29 14:59 ?1765次閱讀
季豐電子完成自研Acco8200_CP_Generic_Board公板測試驗證

季豐電子推出DM256桌面型多通道驅(qū)動器

芯片行業(yè)需要一種可以跑Pattern、IO數(shù)量多、體積小、軟件功能強大、可以自己定制開發(fā)的驅(qū)動器, ....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-29 14:56 ?1527次閱讀
季豐電子推出DM256桌面型多通道驅(qū)動器

IMC到底是越厚越好?還是越薄越好

? 談起IMC這個問題,有點困惑 IMC到底是越厚越好?還是越薄越好? IMC全稱為intermet....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-27 11:23 ?4278次閱讀
IMC到底是越厚越好?還是越薄越好

Plasma等離子清洗技術(shù)介紹

Plasma等離子清洗技術(shù)在微電子、光電子以及印刷電路工業(yè)等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用,季豐電子極速封裝部....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-25 11:52 ?7154次閱讀
Plasma等離子清洗技術(shù)介紹

季豐電子受聘為中國汽車芯片標準檢測認證聯(lián)盟團體標準審查專家

為充分發(fā)揮行業(yè)專家和技術(shù)人才引領(lǐng)作用,深入推進汽車芯片、軟件團體標準建設(shè)。日前,中國汽車芯片標準檢測....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-21 18:48 ?1902次閱讀

PCB三防工藝總體介紹

PCB三防對于提高PCB在各種復雜環(huán)境下的可靠性和使用壽命至關(guān)重要,在電子設(shè)備制造過程中是一項不可或....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-18 15:19 ?1743次閱讀

ESD HBM測試差異較大的結(jié)果分析

ESD HBM測試結(jié)果差異較大的原因,通常包括設(shè)備/儀器差異、?校準和維護水平不同、?環(huán)境條件差異、....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 11-18 15:17 ?2101次閱讀
ESD HBM測試差異較大的結(jié)果分析

季豐電子參與國家6G研發(fā)計劃

日前,國家重點研發(fā)計劃“多模態(tài)網(wǎng)絡(luò)與通信”重點專項青年科學家項目,“面向6G的大帶寬毫米波前端芯片架....
的頭像 上海季豐電子 發(fā)表于 09-02 11:07 ?1613次閱讀