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季豐電子開發(fā)出LPDDR5的SER測試方案并在中子輻射下完成SER實驗

上海季豐電子 ? 來源:上海季豐電子 ? 2024-12-07 11:13 ? 次閱讀
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近日,受國內(nèi)存儲大廠委托,季豐電子在原有SER技術(shù)基礎(chǔ)上,開發(fā)出了LPDDR5的SER測試方案,并成功在中子輻射下完成SER實驗。

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本次LPDDR5芯片的SER(軟錯誤率)測試領(lǐng)域,主要涵蓋硬件和軟件兩個方面的創(chuàng)新。

硬件優(yōu)化

為了滿足LPDDR苛刻低壓IO要求,季豐團隊專門開發(fā)了新一代先進驅(qū)動設(shè)備DM256用于本次實驗。該設(shè)備具備以下特點:

更低的IO電壓支持:

可滿足0.5V的LPDDR5 IO電壓標準,確保測試環(huán)境的精準性和可靠性。滿足最新測試要求。

更高的測試頻率:

支持高達20MHz的測試頻率,可以滿足高頻率運行的需求,為高效測試提供了強有力的硬件保障。

這一硬件設(shè)計的突破,不僅提升了測試設(shè)備的適應(yīng)性,還為后續(xù)更高標準的芯片測試提供了可能。

軟件升級

在軟件層面,團隊開發(fā)了功能全面的測試控制系統(tǒng),大幅提升了測試能力和精度,其核心功能包括:

寄存器設(shè)置功能:

實現(xiàn)了對芯片內(nèi)部寄存器的高效配置和管理。

全芯片讀寫能力:

能夠全面覆蓋芯片所有存儲單元的讀寫操作,確保測試的完整性。

Fail Bit精準定位:

能夠準確鎖定出現(xiàn)錯誤的存儲地址,大幅提升測試效率和問題排查能力。

通過軟硬件協(xié)同優(yōu)化,我們成功突破了LPDDR5芯片測試中的技術(shù)瓶頸,為后續(xù)DDR類型芯片及其他種類芯片的測試提供了寶貴的技術(shù)積累和實踐經(jīng)驗。

季豐每年完成20+件SER項目,芯片類型涵蓋數(shù)字芯片、Flash芯片、DDR芯片......,輻射類型包括:中子輻射、α輻射、β輻射、γ輻射、X射線輻射等。

GIGA FORCE

季豐電子

季豐電子成立于2008年,是一家聚焦半導(dǎo)體領(lǐng)域,深耕集成電路檢測相關(guān)的軟硬件研發(fā)及技術(shù)服務(wù)的賦能型平臺科技公司。公司業(yè)務(wù)分為四大板塊,分別為基礎(chǔ)實驗室、軟硬件開發(fā)、測試封裝和儀器設(shè)備,可為芯片設(shè)計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈和新能源領(lǐng)域公司提供一站式的檢測分析解決方案。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機構(gòu)、公共服務(wù)平臺等企業(yè)資質(zhì)認定,通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工近1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有子公司。

季豐電子四大業(yè)務(wù)板塊:

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原文標題:技術(shù)突破 | 季豐成功完成中子輻射下DDR5 SER測試

文章出處:【微信號:zzz9970814,微信公眾號:上海季豐電子】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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