EMC設(shè)計(jì)的好壞是要通過(guò)EMC測(cè)試來(lái)衡量的。只有在產(chǎn)品的EMC設(shè)計(jì)和研制的全過(guò)程中，進(jìn)行EMC的相容性預(yù)測(cè)和評(píng)估，才能及早發(fā)現(xiàn)可能存在的電磁干擾，并采取必要的抑制和防護(hù)措施，從而確保系統(tǒng)的電磁兼容性。否則，當(dāng)產(chǎn)品定型或系統(tǒng)建成后再發(fā)現(xiàn)不兼容的問(wèn)題，則需在人力、物力上花很大的代價(jià)去修改設(shè)計(jì)或采用補(bǔ)救的措施。然而，往往難以徹底的解決問(wèn)題，而給系統(tǒng)的使用帶來(lái)許多麻煩。

EMC測(cè)試包括測(cè)試方法、測(cè)量?jī)x器和試驗(yàn)場(chǎng)所。

測(cè)試方法以各類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)；測(cè)量?jī)x器以頻域?yàn)榛A(chǔ)；試驗(yàn)場(chǎng)地是進(jìn)行EMC測(cè)試的先決條件，也是衡量EMC工作水平的重 要因素。EMC檢測(cè)受場(chǎng)地的影響很大，尤其以電磁輻射發(fā)射、輻射接收與輻射敏感度的測(cè)試對(duì)場(chǎng)地的要求最為嚴(yán)格。目前，國(guó)內(nèi)外常用的試驗(yàn)場(chǎng)地有：開(kāi)闊場(chǎng)、半 電波暗室、屏蔽室、混響室及橫電磁波小室等。

EMC 測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室基本分為兩種類(lèi)型。

一種是第三方獨(dú)立檢測(cè)中心，另外一種是機(jī)構(gòu)內(nèi)部實(shí)驗(yàn)室。第三方獨(dú)立檢測(cè)中心，往往經(jīng)過(guò)EMC權(quán)威機(jī)構(gòu)審定和質(zhì)量體系認(rèn)證而 且具有法定測(cè)試資格的綜合性設(shè)計(jì)與測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，或稱(chēng)檢測(cè)中心。它包括有進(jìn)行傳導(dǎo)干擾、傳導(dǎo)敏感度及靜電放電敏感度測(cè)試的屏蔽室，有進(jìn)行輻射敏感度測(cè)試的消聲屏蔽室，有用來(lái)進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試的開(kāi)闊場(chǎng)地和配備齊全的測(cè)試與控制儀器設(shè)備。要建立這樣一套完善的實(shí)驗(yàn)室需投入幾百萬(wàn)以上。而預(yù)算動(dòng)輒數(shù)千萬(wàn)的10米法 電波暗室，正在成為大型檢測(cè)機(jī)構(gòu)爭(zhēng)相規(guī)劃的重點(diǎn)，成為名副其實(shí)的皇冠標(biāo)志。如西安高壓電器所、山東省計(jì)量科學(xué)研究院，包括11月份10米法電波暗室招標(biāo)剛 剛結(jié)束的杭州質(zhì)檢院等。

另一種類(lèi)型就是機(jī)構(gòu)內(nèi)部的實(shí)驗(yàn)室。根據(jù)本單位的實(shí)際需要和經(jīng)費(fèi)情況而建立的具有一定測(cè)試功能的EMC實(shí)驗(yàn)室。比起大 型的綜合實(shí)驗(yàn)室，這類(lèi)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室規(guī)模小，造價(jià)低。主要適用于預(yù)相容測(cè)試和EMC評(píng)估。也就是為了使產(chǎn)品在最后進(jìn)行EMC認(rèn)證之前，具有自測(cè)試和評(píng)估的手 段。如有不足，還可充分利用社會(huì)成果，內(nèi)外合作，相互比對(duì)和交流，以達(dá)節(jié)約開(kāi)支，改進(jìn)設(shè)計(jì)，不斷提高產(chǎn)品的電磁兼容性之目的。有些專(zhuān)項(xiàng)的實(shí)驗(yàn)室，如汽車(chē)行 業(yè)的電磁兼容測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，如長(zhǎng)春一汽電磁兼容測(cè)試中心。當(dāng)然，這些專(zhuān)項(xiàng)的檢測(cè)，往往會(huì)委托給大型第三方檢測(cè)季候，如上海天祥這類(lèi)綜合性的大型檢測(cè)機(jī)構(gòu)，也 有專(zhuān)門(mén)的汽車(chē)實(shí)驗(yàn)室，提供行業(yè)性的服務(wù)，可以對(duì)眾多汽車(chē)OEM電子零部件的EMC質(zhì)量管控進(jìn)行多項(xiàng)研究，如汽車(chē)零部件的混響室測(cè)試、汽車(chē)電池包EMC性能 測(cè)試等。

在測(cè)試儀器方面，以頻譜分析儀為核心的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，可以快捷、準(zhǔn)確地提供EMC有關(guān)參數(shù)。

新型的EMC掃描儀與頻譜儀相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了電磁輻射的可視化。可 對(duì)系統(tǒng)的單個(gè)元器件，PCB板、整機(jī)與電纜等進(jìn)行全方位的三維測(cè)試，顯示真實(shí)的電磁輻射狀況。EMC測(cè)試必須依據(jù)EMC標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范給出的測(cè)試方法進(jìn)行，并 以標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值作為判據(jù)。對(duì)于預(yù)相容測(cè)試，盡管不可能保證產(chǎn)品通過(guò)所有項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，但至少可以消除絕大部分的電磁干擾，從而提高產(chǎn)品的可信度。而 且能夠指出你如何改進(jìn)設(shè)計(jì)、抑制EMI發(fā)射。