本文介紹如何利用先進(jìn)的測(cè)試平臺(tái)來(lái)對(duì)ADSL芯片的某些關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,從而使半導(dǎo)體制造商能夠降低ADSL器件的測(cè)試成本。
2011-11-21 17:49:28
2336 、CDMA2000 等。因此,在 LTE 和 2G/3G 移動(dòng)系統(tǒng)之間實(shí)現(xiàn) InterRAT 切換和互通是 LTE 智能手機(jī)研發(fā)中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),并且在小區(qū)間移動(dòng)時(shí)的連接可靠性和穩(wěn)定性測(cè)試也是智能手機(jī)批量生產(chǎn)的重要部分。
2013-09-02 16:51:32
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的SMU往往價(jià)格昂貴,有鑒于此,美商國(guó)家儀器(NI)發(fā)布新一代PXI模組化 SMU儀器,助力客戶(hù)大幅降低測(cè)試成本。
2014-02-18 09:46:13
1463 有些測(cè)試對(duì)于噪聲很敏感,那么如何降低噪聲?本文就選擇電源以及引線(xiàn)連接的方式兩個(gè)方面闡述如何降低測(cè)試中的噪聲。
2015-08-05 14:29:18
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可測(cè)性設(shè)計(jì)是在滿(mǎn)足芯片正常功能的基礎(chǔ)上,通過(guò)有效地加入測(cè)試電路,來(lái)降低芯片的測(cè)試難度,降低測(cè)試成本。
2021-03-07 10:45:21
3315 對(duì)于手機(jī)產(chǎn)品,要想使價(jià)格具有竟?fàn)幜Γ谠O(shè)計(jì)時(shí)采用低成本元器件僅僅是第一步。生產(chǎn)過(guò)程成本,特別是最終測(cè)試過(guò)程中所發(fā)生的成本對(duì)于最終產(chǎn)品價(jià)格有同樣重要的影響。而且,設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常會(huì)低估生產(chǎn)過(guò)程所增加的成本。由于這些原因,生產(chǎn)工程師和設(shè)計(jì)工程師必須密切協(xié)作才能保證準(zhǔn)確達(dá)到生產(chǎn)成本目標(biāo)。
2019-06-04 07:00:35
本帖最后由 qzq378271387 于 2013-9-12 09:52 編輯
Elecfans特刊札記1308:如何減少多模LTE智能手機(jī)在小區(qū)間移動(dòng)時(shí)的連接測(cè)試成本?——讀《如何減少多模
2013-09-12 09:50:12
設(shè)計(jì)使用的特定資源進(jìn)行篩選。最后,裸片在六周內(nèi)完成組裝、標(biāo)記和最終測(cè)試,以確保功能和性能。市場(chǎng)上沒(méi)有任何其它 FPGA成本降低解決方案,能夠在這么短的時(shí)間內(nèi)完成從原型設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的轉(zhuǎn)化。采用賽靈思的專(zhuān)利測(cè)試
2012-08-11 18:17:16
GPS在測(cè)試方面具有哪些挑戰(zhàn)?如何降低GPS測(cè)試成本?如何創(chuàng)造一種多通道測(cè)試儀?
2021-04-15 06:01:19
為降低多重通訊產(chǎn)品的測(cè)試成本而設(shè)計(jì),是一個(gè)創(chuàng)新的兼容多個(gè)無(wú)線(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備。它可以同時(shí)測(cè)試多種無(wú)線(xiàn)通訊的性能,與單項(xiàng)逐一測(cè)試的方法相比,可節(jié)約多達(dá)75%的時(shí)間。特別是基于序列的測(cè)試可以縮短Tx和Rx
2018-02-28 17:10:16
現(xiàn)代高集成度的芯片有著“射頻到比特流”(“RF-to-bits”)或“射頻到模擬基帶”的構(gòu)架。射頻部分集成度提高帶來(lái)最大的沖擊之一是測(cè)試模式的轉(zhuǎn)移,即使得系統(tǒng)級(jí)的測(cè)試成為可能。
2019-09-03 06:45:33
推薦一個(gè)成熟軟件的設(shè)計(jì)思路:這個(gè)創(chuàng)新的軟件提供了一套標(biāo)準(zhǔn)功能,如測(cè)試概述;在線(xiàn)報(bào)告和報(bào)告可視化能力;可定制的面板;以及用戶(hù)管理功能,數(shù)據(jù)庫(kù)連接和測(cè)試序列編輯,以確保快速數(shù)據(jù)挖掘和錯(cuò)誤分析。重視用戶(hù)體驗(yàn),降低測(cè)試成本。內(nèi)容如下:
2019-04-19 09:40:01
TSP分布式控制有什么優(yōu)勢(shì)?TSP分布式控制提高了測(cè)試速度并且降低了測(cè)試成本。
2021-05-12 06:19:56
proteus上測(cè)試成功,實(shí)際無(wú)法用max485雙工,有正解嗎?
2021-10-05 19:33:46
更高,而降低成本得唯一方式就是讓這種無(wú)線(xiàn)充電大面積普及。盡管現(xiàn)狀如此,無(wú)線(xiàn)充電在手機(jī)上的應(yīng)用仍是大勢(shì)所趨,很多手機(jī)廠(chǎng)商表示將在下一代旗艦機(jī)上采用無(wú)線(xiàn)充電技術(shù),這是因?yàn)樗鼈兛春脽o(wú)線(xiàn)充電的前景。隨著技術(shù)
2018-08-12 20:51:22
成本以及需要定期更換零件。工程師應(yīng)考慮在技術(shù)或工藝上進(jìn)行投資如何在不降低生產(chǎn)率的情況下降低電動(dòng)機(jī)的速度。
2021-02-01 07:25:07
使用 ENA 系列安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀降低測(cè)試成本測(cè)試成本 (COT) 的定義是特定時(shí)間內(nèi)為生產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試流程中的設(shè)備所花費(fèi)的總成本。設(shè)備在其使用壽命中的不同階段,COT 會(huì)發(fā)生變化。在設(shè)備購(gòu)得之時(shí) (t0
2021-08-18 11:01:08
的使命感也將會(huì)越來(lái)越強(qiáng)。于是,對(duì)以太網(wǎng)測(cè)試儀有需求的客戶(hù)就會(huì)對(duì)儀器質(zhì)量和解決方案有著嚴(yán)格要求的同時(shí),也面臨著降低測(cè)試成本、保證產(chǎn)品質(zhì)量的、縮短上市時(shí)間等多重挑戰(zhàn)。 近年來(lái),中國(guó)的測(cè)試測(cè)量?jī)x器每年都以超過(guò)
2014-01-07 14:28:49
的同時(shí),也面臨著降低測(cè)試成本、保證產(chǎn)品質(zhì)量的、縮短上市時(shí)間等多重挑戰(zhàn)。BigTao 系列以太網(wǎng)測(cè)試儀就是肩負(fù)著這樣的使命誕生的,它可以滿(mǎn)足市場(chǎng)上降低測(cè)試資本并保證產(chǎn)品質(zhì)量縮短上市時(shí)間的需求,填補(bǔ)了市場(chǎng)的一塊空白,為許多所需求企業(yè)節(jié)省下不少的成本。`
2014-01-08 16:23:47
您好,關(guān)于使用舊手機(jī)的拆解的再生原料制造的手機(jī)成本,我對(duì)此問(wèn)題不太清楚,請(qǐng)盡可能多的舉例說(shuō)明。求大家解答
2022-05-17 08:18:22
市場(chǎng)上已有的解決方案,以降低開(kāi)發(fā)成本。在當(dāng)今對(duì)成本和功耗都非常敏感的“綠色”環(huán)境下,對(duì)于高技術(shù)企業(yè),兩種挑戰(zhàn)都有什么影響呢?第一種挑戰(zhàn)意味著開(kāi)發(fā)全新的產(chǎn)品,其功能是獨(dú)一無(wú)二的,具有較低的價(jià)格以及較低
2019-08-09 07:41:27
的性能,MIMO測(cè)試在進(jìn)行多信道測(cè)試時(shí)的要求更復(fù)雜、規(guī)范更嚴(yán)格、測(cè)試成本更高,所需要的測(cè)試時(shí)間也更長(zhǎng)。 本文提供一些MIMO功率測(cè)量的要點(diǎn)及建議,能夠降低測(cè)試成本、縮短測(cè)試時(shí)間,以及提高測(cè)試精度
2019-06-03 06:44:36
并降低測(cè)試成本。EXT是一款綜合測(cè)試儀,內(nèi)含矢量信號(hào)分析儀、矢量信號(hào)發(fā)生器、高速序列分析儀和多制式硬件。它提供了非常強(qiáng)大的功能,可滿(mǎn)足未來(lái)的LTE TDD測(cè)試需求,例如:高達(dá)3.8GHz的全蜂窩頻段范圍(包括LTE TDD 43頻段);并支持最新芯片組中實(shí)施的快速序列測(cè)試模式。
2019-06-06 07:04:28
本文將介紹和比較在硅光電子領(lǐng)域中使用的多種激光器技術(shù),包括解理面、混合硅激光器和蝕刻面技術(shù)。我們還會(huì)深入探討用于各種技術(shù)的測(cè)試方法,研究測(cè)試如何在推動(dòng)成本下降和促進(jìn)硅光子技術(shù)廣泛普及的過(guò)程中發(fā)揮重要作用。
2021-05-08 08:14:10
對(duì)于手機(jī)產(chǎn)品,要想使價(jià)格具有竟?fàn)幜Γ谠O(shè)計(jì)時(shí)采用低成本元器件僅僅是第一步。生產(chǎn)過(guò)程成本,特別是最終測(cè)試過(guò)程中所發(fā)生的成本對(duì)于最終產(chǎn)品價(jià)格有同樣重要的影響。而且,設(shè)計(jì)工程師經(jīng)常會(huì)低估生產(chǎn)過(guò)程所增加的成本。由于這些原因,生產(chǎn)工程師和設(shè)計(jì)工程師必須密切協(xié)作才能保證準(zhǔn)確達(dá)到生產(chǎn)成本目標(biāo)。
2019-09-29 07:04:50
降低蜂窩手機(jī)功耗并且延長(zhǎng)其電池壽命是每一位手機(jī)設(shè)計(jì)工程師的目標(biāo)。設(shè)計(jì)工程師正在不斷將MP3播放器、照相機(jī)以及全運(yùn)動(dòng)視頻等功能加入到現(xiàn)代手機(jī)中,從而需要不斷地將功耗降到最低。
2019-08-23 08:26:40
有什么方法可以提高片上系統(tǒng)級(jí)集成嗎?有什么方法可以降低物料成本嗎?
2021-05-14 06:20:23
如何確保GPS測(cè)試完整性?如何實(shí)現(xiàn)GPS較短的測(cè)試時(shí)間和較低的測(cè)試成本?
2021-04-15 06:57:09
數(shù)十億臺(tái)5G設(shè)備將面世,如何有效降低5G測(cè)試成本?
2021-02-22 08:15:00
和微波開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問(wèn)題,包括不同的開(kāi)關(guān)種類(lèi),RF開(kāi)關(guān)卡規(guī)格,和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的RF開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問(wèn)題。
2019-07-10 08:02:09
和微波開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問(wèn)題,包括不同的開(kāi)關(guān)種類(lèi),RF開(kāi)關(guān)卡規(guī)格,和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的RF開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問(wèn)題。
2019-07-10 06:34:58
隨著移動(dòng)通信設(shè)備的復(fù)雜性與功能性以指數(shù)方式(由摩爾定律得出)的增長(zhǎng),測(cè)試它們的成本也在增加。工程師們面臨的挑戰(zhàn)是:需要尋找一種方法,最大程度的降低測(cè)試成本,但是有一種方法就是可以用更少的資源來(lái)完成更多的測(cè)試。那么,并行且便攜式的測(cè)試系統(tǒng)有哪些作用呢?
2019-08-09 06:55:57
操作,測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)量速度已經(jīng)變得越來(lái)越重要。然而,在大多數(shù)情況下,除了縮短測(cè)試的時(shí)間并降低測(cè)試成本之外,系統(tǒng)的測(cè)量精度與可重復(fù)性卻不能受到影響。怎么進(jìn)行WLAN測(cè)試?提升測(cè)試速度?這些問(wèn)題急需解決。
2019-08-08 08:28:40
新型序列式測(cè)試儀器測(cè)試技術(shù)指南吉時(shí)利測(cè)試技術(shù)指南-適合電子制造商使用的,測(cè)試成本更低的新型序列式測(cè)試儀器目前,生產(chǎn)線(xiàn)所用的ATE系統(tǒng)可分為大容量、高成本、大機(jī)柜式的測(cè)試系統(tǒng);采用PC控制的基于慢速
2009-11-04 10:00:03
提高測(cè)試質(zhì)量、提升測(cè)試效率、降低測(cè)試成本的自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)在非手機(jī)測(cè)試領(lǐng)域早已成熟運(yùn)用,而在手機(jī)領(lǐng)域,自動(dòng)化測(cè)試意義雖早已被公認(rèn),但因?yàn)槿鄙儆行Чぞ吆徒鉀Q方案,無(wú)法有效實(shí)現(xiàn)手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試。
2019-07-22 08:04:27
請(qǐng)問(wèn)有什么方法可以降低Linux的成本嗎?
2021-04-25 06:15:12
功能的需求都給移動(dòng)設(shè)備OEM廠(chǎng)商增添了不小壓力。這些額外的功能一方面意味著需要添加額外的頻段,另一方面還意味著將增加成本。為了保持已經(jīng)很薄的利潤(rùn)空間,這些成本將轉(zhuǎn)嫁到消費(fèi)者身上。然而,轉(zhuǎn)到消費(fèi)者身上
2019-07-18 06:20:31
橫河
測(cè)試測(cè)量 想
降低光器件
成本?必選經(jīng)濟(jì)高效光譜儀! YOKOGAWA橫河
測(cè)試測(cè)量 中國(guó)的芯片之痛,想必已被川普大叔狠狠科普了一把。今天我們也必須忍痛揭揭這個(gè)傷疤,談?wù)劰馔ㄐ诺男酒?/div>
2018-12-08 19:12:08
淺談低成本智能手機(jī)的發(fā)展
2021-06-01 06:34:33
從去年開(kāi)始,由于去產(chǎn)能、環(huán)保督查等因素引起電機(jī)原材料大幅漲價(jià),從而導(dǎo)致生產(chǎn)成本推高,很多企業(yè)在不斷尋求降低成本的途徑。然而,也有不少企業(yè)在降成本的過(guò)程中走入了誤區(qū)!企業(yè)衡量成本優(yōu)勢(shì)的原則是:在保證
2018-10-11 10:20:16
測(cè)試時(shí)相當(dāng)?shù)馁M(fèi)時(shí)。目前主流的測(cè)試方案是使用IC teSTer測(cè)試系統(tǒng),此系統(tǒng)高速、高效但十分的昂貴。因此,在保證測(cè)試速度和精度的條件下降低測(cè)試成本成為器件測(cè)試行業(yè)首要考慮的問(wèn)題?! 】紤]到當(dāng)前的測(cè)試
2019-06-05 08:12:26
并行測(cè)試(Parallel Test)擁有減少測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試成本的強(qiáng)大優(yōu)勢(shì),正成為研究熱點(diǎn)之一。首先介紹了并行測(cè)試技術(shù)產(chǎn)生的背景,總結(jié)了國(guó)內(nèi)外的研究現(xiàn)狀;接著介紹了實(shí)現(xiàn)并行
2009-07-15 11:30:37
64 如今的手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試面臨越來(lái)越復(fù)雜的環(huán)境,一邊是多種頻段和多制式的挑戰(zhàn),一邊是生產(chǎn)測(cè)試速度的壓力,同時(shí)還面臨測(cè)試成本的壓力。確定手機(jī)射頻參數(shù)和功能檢驗(yàn)測(cè)試的
2009-12-10 23:20:32
11 摘要:在測(cè)試音響電路的解調(diào)功能時(shí),用點(diǎn)頻方式代替掃頻方式輸入已調(diào)制信號(hào),可以有效地提高測(cè)試時(shí)間,從而降低測(cè)試成本。該文介紹利用鎖相技術(shù)實(shí)現(xiàn)音響電路的點(diǎn)頻測(cè)試方
2010-05-05 10:18:08
19 昨天(05年10月13日),中芯國(guó)際生產(chǎn)、重慶重郵信科開(kāi)發(fā)的第三代移動(dòng)通信手機(jī)(3G手機(jī))專(zhuān)用0.13微米芯片“通芯一號(hào)”又宣告測(cè)試成功。 &nbs
2006-03-13 13:05:46
1253 利用先進(jìn)的校準(zhǔn)測(cè)試方法降低移動(dòng)設(shè)備的成本
如今消費(fèi)者利用10年前連聽(tīng)都沒(méi)有聽(tīng)說(shuō)過(guò)的各種方式使用移動(dòng)設(shè)備已是很平常的事情了。無(wú)論是在他們喜愛(ài)
2009-04-05 12:57:58
989 
越來(lái)越小的利潤(rùn)空間正驅(qū)使元器件制造商降低生產(chǎn)成本,包括測(cè)試成本在內(nèi)。采用具有嵌入式測(cè)試排序器的儀器會(huì)起到作用。為了采取更有效的測(cè)試手段來(lái)提高利潤(rùn)空間,制造商要考慮
2012-04-26 10:22:31
2485 
雖然LitePoint(萊特波特)進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)已有7 年, 但今年注定是這家無(wú)線(xiàn)測(cè)試方案供應(yīng)商最重要的發(fā)展年,因?yàn)榻衲耆蛑悄?b class="flag-6" style="color: red">手機(jī)和平板電腦將迎來(lái)最快的增長(zhǎng)。LitePoint副總裁兼中國(guó)區(qū)總經(jīng)理
2013-07-09 18:52:14
1235 
RGB-三基色LED燈帶控制-測(cè)試成功
2013-09-10 10:26:59
697 隨著越來(lái)越多的主機(jī)廠(chǎng)開(kāi)始采用ADAS技術(shù),通過(guò)大規(guī)模路試來(lái)驗(yàn)證系統(tǒng)功能,降低可能的風(fēng)險(xiǎn)也變得越發(fā)重要。如何提升ADAS測(cè)試效率,減少測(cè)試成本成為工程師們亟待解決的問(wèn)題之一。
2017-09-19 17:48:41
10 本文將介紹和比較在硅光電子領(lǐng)域中使用的多種激光器技術(shù),包括解理面、混合硅激光器和蝕刻面技術(shù)。我們還會(huì)深入探討用于各種技術(shù)的測(cè)試方法,研究測(cè)試如何在推動(dòng)成本下降和促進(jìn)硅光子技術(shù)廣泛普及的過(guò)程中
2017-10-17 10:56:05
6 提高測(cè)試質(zhì)量、提升測(cè)試效率、降低測(cè)試成本的自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)在非手機(jī)測(cè)試領(lǐng)域早已成熟運(yùn)用,而在手機(jī)領(lǐng)域,自動(dòng)化測(cè)試意義雖早已被公認(rèn),但因?yàn)槿鄙儆行Чぞ吆徒鉀Q方案,無(wú)法有效實(shí)現(xiàn)手機(jī)自動(dòng)化測(cè)試。
2019-03-19 11:45:43
1135 
。
針對(duì)這些層出不窮的技術(shù),為了要減少物聯(lián)網(wǎng)測(cè)試硬件的重復(fù)投資成本,開(kāi)放式架構(gòu)測(cè)式方案是理想選擇之一,因其擁有靈活的硬件擴(kuò)充性,且能利用可編程軟件實(shí)時(shí)調(diào)整測(cè)試需求,因此能協(xié)助業(yè)者降低產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試成本及提高生產(chǎn)效率。
2018-06-05 17:50:00
2166 
NI半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新論壇,關(guān)注探討如何在實(shí)驗(yàn)室V&V驗(yàn)證、晶圓及封裝測(cè)試中進(jìn)一步降低成本、提高上市時(shí)間,針對(duì)RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片,探討如何通過(guò)PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)的測(cè)試成本、以及提高測(cè)試效率等。
2018-08-22 11:29:39
4589 集成電路的生產(chǎn)成本以測(cè)試開(kāi)發(fā)、測(cè)試時(shí)間以及測(cè)試設(shè)備為主。模擬電路一般只占芯片面積的10%左右,測(cè)試成本卻占總測(cè)試成本的主要部分。所以,削減模擬部分的測(cè)試成本將有利于芯片的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)。
2019-06-08 09:32:00
2787 
馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),推進(jìn)汽車(chē)的電氣化,并且降低了90%的測(cè)試成本
2018-10-11 19:37:31
4753 該裝置適用于一般移液器,能大幅降低這種常見(jiàn)醫(yī)學(xué)測(cè)試的時(shí)間和成本,并開(kāi)啟在遠(yuǎn)距或低資源區(qū)域進(jìn)行醫(yī)學(xué)測(cè)試的可能性。
2019-05-31 14:37:34
2970 研究人員開(kāi)發(fā)出用3D打印的酶聯(lián)免疫吸附試驗(yàn)裝置。該裝置適用于一般移液器,能大幅降低這種常見(jiàn)醫(yī)學(xué)測(cè)試的時(shí)間和成本,并開(kāi)啟在遠(yuǎn)距或低資源區(qū)域進(jìn)行醫(yī)學(xué)測(cè)試的可能性。
2019-06-05 15:03:53
3091 據(jù)外媒報(bào)道,密歇根大學(xué)Mcity測(cè)試機(jī)構(gòu)最新發(fā)布了一份白皮書(shū),表示增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)技術(shù)可以將網(wǎng)聯(lián)汽車(chē)和自動(dòng)駕駛汽車(chē)(CAV)的測(cè)試速度提高1,000至100,000倍,并且將車(chē)輛額外的測(cè)試價(jià)格降低到幾乎為零。
2020-01-06 10:45:00
1325 EMI測(cè)試成本高,同時(shí),為了滿(mǎn)足合規(guī)要求,能有效降低EMI的設(shè)計(jì)又是十分重要的。充分了解產(chǎn)生電磁場(chǎng)的來(lái)源可為低EMI設(shè)計(jì)奠定堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
2020-01-21 16:48:00
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本文來(lái)自cnBeta AMD第一款Ryzen 5000 APU - AMD Ryzen 7 5700U測(cè)試成績(jī)已經(jīng)曝光,這款處理器屬于代號(hào)Renoiren Refresh Ryzen 5000
2020-11-06 15:24:40
2994 國(guó)際知名的評(píng)測(cè)機(jī)構(gòu)DxOMark近期在持續(xù)的放出iPhone12系列的測(cè)試成績(jī),繼iPhone 12的音頻測(cè)試后,DxOMark公布對(duì)iPhone 12 Pro的屏幕測(cè)試成績(jī)。整體來(lái)看,iPhone 12 Pro的屏幕測(cè)試結(jié)果還是不錯(cuò)的,目前排名第四,被三星和1+的部分機(jī)型所超越。
2020-11-12 11:30:35
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根據(jù)Geekbench測(cè)試網(wǎng)展示的數(shù)據(jù),這款手機(jī)的型號(hào)就是“moto g stylus(2021)”,手機(jī)單核測(cè)試成績(jī)是542分,多核測(cè)試成績(jī)是1650分,從這些數(shù)據(jù)來(lái)看,其搭載硬件定位應(yīng)該和上代差不多。
2021-01-23 10:01:04
2806 為了滿(mǎn)足批量生產(chǎn)的需求,用戶(hù)需要布置很多工位來(lái)調(diào)試這些器件的S參數(shù)指標(biāo)。傳統(tǒng)的做法是在每個(gè)工位獨(dú)立配置一臺(tái)二端口VNA,這樣整個(gè)車(chē)間會(huì)需求大量的VNA,導(dǎo)致用戶(hù)的測(cè)試成本長(zhǎng)期居高不下。如何進(jìn)一步降低測(cè)試成本,成為用戶(hù)當(dāng)前最大的挑戰(zhàn)
2021-02-08 09:34:00
2426 2021年OPPO開(kāi)發(fā)者大會(huì)趙梁:云真機(jī)為開(kāi)發(fā)者降低不同機(jī)型測(cè)試成本,極大提升研發(fā)效率。
2021-10-27 15:21:38
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?自主射頻測(cè)量助手可在多個(gè)溫度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)完全自主,免提的射頻校準(zhǔn)和測(cè)量。它具有獨(dú)特的Contact Intelligence?技術(shù),可降低測(cè)試成本并以提高的準(zhǔn)確性和縮短的設(shè)計(jì)周期縮短產(chǎn)品上市時(shí)間
2022-06-21 14:55:08
1345 如何滿(mǎn)足不同測(cè)試需求,減少測(cè)試成本、加快測(cè)試時(shí)間和產(chǎn)品上市時(shí)間?
2022-07-05 15:02:37
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當(dāng)您設(shè)計(jì)和生產(chǎn)產(chǎn)品時(shí),PCB很容易成為整個(gè)產(chǎn)品中成本最高的組件之一,因此降低PCB成本可能是被證明有利于降低整體生產(chǎn)成本的主要因素之一。主要是通過(guò)減小PCB尺寸、選擇合適的組件和引入合適的設(shè)計(jì)技術(shù)來(lái)
2022-07-06 16:56:01
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測(cè)試是任何衛(wèi)星計(jì)劃的重要組成部分。提高總程序成本的一種方法是降低測(cè)試成本。取消測(cè)試似乎很誘人,但設(shè)備故障的風(fēng)險(xiǎn)會(huì)顯著增加。保持儀器和系統(tǒng)的準(zhǔn)確性可降低測(cè)試成本,并以多種方式縮短程序進(jìn)度。例如,衛(wèi)星
2022-11-16 15:31:07
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一站式PCBA智造廠(chǎng)家今天為大家講講如何通過(guò)PCB設(shè)計(jì)降低PCBA成本?通過(guò)PCB設(shè)計(jì)降低PCBA成本的方法。我們可以通過(guò)PCB設(shè)計(jì)的合理尺寸和公差來(lái)降低產(chǎn)品PCBA成本,接下來(lái)為大家介紹如何通過(guò)PCB設(shè)計(jì)降低PCBA成本。
2022-12-23 09:17:57
2020 2023年4月6日,是德科技(Keysight Technologies,Inc.)日前宣布,推出一款全新 FlexOTO 光測(cè)試優(yōu)化軟件和解決方案。該解決方案可降低多通道接口測(cè)試的總體測(cè)試成本
2023-04-06 18:00:01
1752 自動(dòng)化測(cè)試工具是指能夠自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試任務(wù)、記錄測(cè)試結(jié)果和產(chǎn)生測(cè)試報(bào)告的軟件工具,其主要目的是用來(lái)提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本、提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
2023-04-18 14:40:56
14719 原文標(biāo)題:本周五|TSO.ai:打通AI應(yīng)用“最后一公里”,降低芯片測(cè)試成本 文章出處:【微信公眾號(hào):新思科技】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
2023-06-12 17:45:03
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MEMS傳感器的分類(lèi)復(fù)雜,全球每年消耗的MEMS傳感器數(shù)以?xún)|計(jì),這些MEMS傳感器的被廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)、汽車(chē)電子、智能制造等領(lǐng)域。由于不同MEMS器件的功能和性能都存在差異,以往的測(cè)試方案都是采用定制化的儀器。造價(jià)高昂的測(cè)試方案導(dǎo)致MEMS傳感器廠(chǎng)商的測(cè)試成本提升,最終由消費(fèi)者買(mǎi)單。
2022-09-13 14:48:22
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虛擬DOE能夠降低硅晶圓測(cè)試成本,并成功降低DED鎢填充工藝中的空隙體積
2023-07-10 10:18:30
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本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)單插入測(cè)試,以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試,從而降低測(cè)試成本,簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。
2023-07-10 15:42:53
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雖然Chiplet近年來(lái)越來(lái)越流行,將推動(dòng)晶體管規(guī)模和封裝密度的持續(xù)增長(zhǎng),但從設(shè)計(jì)、制造、封裝到測(cè)試,Chiplet和異構(gòu)集成也面臨著多重挑戰(zhàn)。因此,進(jìn)一步通過(guò)減少缺陷逃逸率,降低報(bào)廢成本,優(yōu)化測(cè)試成本通過(guò)設(shè)計(jì)-制造-測(cè)試閉環(huán)實(shí)現(xiàn)良率目標(biāo)已成為當(dāng)務(wù)之急。
2023-07-12 15:04:18
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虹科電源測(cè)試系統(tǒng)ATE升級(jí)實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本01高密度精度測(cè)量單元HK-HDPMU在單板上提供多達(dá)192個(gè)額外的獨(dú)立參數(shù)測(cè)量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測(cè)試,而無(wú)需創(chuàng)建
2023-09-04 16:22:23
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電源ATE測(cè)試在短路保護(hù)測(cè)試中不僅可以提高測(cè)試效率,而且還提供智能數(shù)據(jù)分析,幫助短路測(cè)試實(shí)現(xiàn)高精準(zhǔn)度,也為企業(yè)降低了測(cè)試成本。
2023-09-11 18:21:19
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在當(dāng)前的市場(chǎng)環(huán)境下,企業(yè)面臨著利潤(rùn)下滑、業(yè)務(wù)收縮的困境,如何降低成本,提高效率,成為了企業(yè)的當(dāng)務(wù)之急。而企業(yè)在 IT 開(kāi)發(fā)過(guò)程中,服務(wù)器硬件成本往往占據(jù)了很大的比重,如何有效地降低測(cè)試成本也是企業(yè)
2023-11-12 17:53:36
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ATECLOUD是智能自動(dòng)化新能源汽車(chē)電源測(cè)試系統(tǒng),打破測(cè)試程序繁瑣、技術(shù)要求高、無(wú)法隨之更新兼容、測(cè)試成本高等測(cè)試難點(diǎn),為用戶(hù)量身打造新能源汽車(chē)電源測(cè)試設(shè)備并定制一體化測(cè)試方案,降低測(cè)試成本,實(shí)現(xiàn)高效能測(cè)試。系統(tǒng)內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能進(jìn)行全方位數(shù)據(jù)分析,幫助用戶(hù)用數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)生產(chǎn)力。
2023-12-05 14:57:32
1032 eCall是在汽車(chē)碰撞場(chǎng)景下完成,具有不可重復(fù)性,提高eCall碰撞測(cè)試成功功率對(duì)其測(cè)試認(rèn)證尤為重要。通過(guò)掃頻、首先完成零部件測(cè)試、增加濾波器、同步首先完成、側(cè)碰首先完成、保證上行鏈接、多次重復(fù)點(diǎn)測(cè)等方式提高eCall碰撞成功率。
2024-08-16 16:16:38
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和降低成本方面表現(xiàn)出顯著優(yōu)勢(shì)。通過(guò)集成先進(jìn)的傳感器技術(shù)和智能控制系統(tǒng),自動(dòng)密封測(cè)試儀可以快速準(zhǔn)確地檢測(cè)產(chǎn)品的氣密性。與傳統(tǒng)的手動(dòng)測(cè)試方法相比,密封測(cè)試儀可以大大縮短
2025-03-07 11:52:32
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帶來(lái)了重大轉(zhuǎn)變,針對(duì)復(fù)雜測(cè)試需求提供適應(yīng)性強(qiáng)且高效的解決方案,同時(shí)有利于降低單個(gè)芯片的測(cè)試成本。本文將解析影響晶圓測(cè)試的最新趨勢(shì),并探討飛針測(cè)試技術(shù)如何改變半導(dǎo)體制
2025-07-17 17:36:53
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泰克探頭是泰克科技(Tektronix)推出的一系列測(cè)試測(cè)量附件,主要用于電子測(cè)試領(lǐng)域,如示波器、信號(hào)源等設(shè)備,以實(shí)現(xiàn)對(duì)電信號(hào)的高精度測(cè)量和分析。
2025-08-19 16:54:10
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評(píng)論