漏電出現(xiàn)的時(shí)機(jī)也各有不同。有些是在LED封裝完成后的測(cè)試時(shí)就有;有些是在倉(cāng)庫(kù)放置一段時(shí)間后出現(xiàn);有些是在老化一段時(shí)間后出現(xiàn);有些是在客戶焊接后出現(xiàn);有些是在客戶使用一段時(shí)間后出現(xiàn)。而對(duì)漏電問題的具體發(fā)生原因，一直困擾著封裝廠的工程師。
2016-02-22 15:47:34
30164 ） 3、檢查并確認(rèn)連接LED屏幕及與主控制卡的HUB分配板的是否連接、是否插反?！ 《?b class="flag-6" style="color: red">led大屏幕剛上電時(shí)出現(xiàn)幾秒鐘的亮線或屏幕畫面變花的原因？ 將屏幕控制器與電腦及 HUB分配板和屏幕連接妥當(dāng)
2019-09-20 14:18:39
機(jī)理，并為客戶提出改善方向。 2.過電應(yīng)力 LED芯片對(duì)電較為敏感，超電流使用、靜電、雷擊、電網(wǎng)波動(dòng)、LED電源不良等都會(huì)產(chǎn)生過電應(yīng)力損傷芯片，導(dǎo)致芯片出現(xiàn)失效現(xiàn)象。針對(duì)過電應(yīng)力引起的芯片失效，金鑒
2020-10-22 09:40:09
機(jī)理，并為客戶提出改善方向。 2.過電應(yīng)力 LED芯片對(duì)電較為敏感，超電流使用、靜電、雷擊、電網(wǎng)波動(dòng)、LED電源不良等都會(huì)產(chǎn)生過電應(yīng)力損傷芯片，導(dǎo)致芯片出現(xiàn)失效現(xiàn)象。針對(duì)過電應(yīng)力引起的芯片失效，金鑒
2020-10-22 15:06:06
隨著智能儀器儀表與測(cè)試理論的不斷創(chuàng)新，工程應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試方法與應(yīng)用也不斷的發(fā)展，基于對(duì)產(chǎn)品性能優(yōu)化與特性研究的深入，應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試技術(shù)得到更廣泛的探索與應(yīng)用，尤其是在汽車、電力電子、航空航天、船舶
2017-06-08 09:03:25
)應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證數(shù)據(jù)(見表2和附錄4)●用經(jīng)過Q100-007認(rèn)證(當(dāng)適用于器件類型時(shí))的軟件故障等級(jí)水平的指示數(shù)據(jù),可以利用并能達(dá)到客戶的要求.3.1.1當(dāng)前認(rèn)證家族中新器件的認(rèn)證如果通過供應(yīng)商論證
2019-12-13 11:14:07
也可以通過DFM軟件發(fā)現(xiàn)？應(yīng)力導(dǎo)致的焊點(diǎn)和器件損傷，本身也是設(shè)計(jì)問題，同樣要?dú)w屬到DFx范疇中，理應(yīng)通過DFM工具來進(jìn)行排查。DFM軟件不能像Stress Gage測(cè)試那樣測(cè)量出應(yīng)力的大小，也不能像
2020-09-16 11:50:29
在樣機(jī)中正常成像的DMD，忽然無法正常清晰成像。檢查原因，發(fā)現(xiàn)窗片損傷，并且損傷的痕跡很奇怪！經(jīng)過實(shí)驗(yàn)測(cè)試窗片表面的溫度，發(fā)現(xiàn)最高40.5℃；也未發(fā)現(xiàn)其它應(yīng)力，請(qǐng)教同行，可能是什么原因？
2025-02-17 08:11:44
本系統(tǒng)基于LabVIEW軟件平臺(tái)、以美國(guó)NI CDAQ-9237為硬件核心搭建的應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試系統(tǒng)， 50kHz同步采集，軟件可定制擴(kuò)展。
2016-04-14 11:37:48
哪位大神知道 分流校準(zhǔn)NI9237應(yīng)力測(cè)試程序的
2014-01-02 21:30:44
PCB應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試操作方法
2023-06-12 22:22:10
各位大俠幫忙解釋一下。200V二極管做高壓蒸煮試驗(yàn)前測(cè)試pass，試驗(yàn)持續(xù)24H后，測(cè)試有管子VB穿通，開蓋發(fā)現(xiàn)芯片損傷。正常情況下，高壓蒸煮試驗(yàn)是檢測(cè)器件的抗?jié)駳饽芰Γ?b class="flag-6" style="color: red">出現(xiàn)芯片損傷，這是什么原因。請(qǐng)有經(jīng)驗(yàn)的大俠指教。
2022-07-14 08:50:42
。連接性失效包括開路、短路以及電阻值變化。這類失效容易測(cè)試，現(xiàn)場(chǎng)失效多數(shù)由靜電放電（ESD）和過電應(yīng)力（EOS）引起。電參數(shù)失效，需進(jìn)行較復(fù)雜的測(cè)量，主要表現(xiàn)形式有參數(shù)值超出規(guī)定范圍（超差）和參數(shù)不穩(wěn)定
2016-10-26 16:26:27
、電測(cè)并確定失效模式3、非破壞檢查4、打開封裝5、鏡驗(yàn)6、通電并進(jìn)行失效定位7、對(duì)失效部位進(jìn)行物理、化學(xué)分析，確定失效機(jī)理。8、綜合分析，確定失效原因，提出糾正措施。1、收集現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)應(yīng)力類型試驗(yàn)
2016-12-09 16:07:04
功率應(yīng)力測(cè)試應(yīng)用服務(wù)
2019-09-09 15:40:37
PSV-201應(yīng)力測(cè)試儀應(yīng)用范圍廣泛。該儀器可以從水平或垂直角度，對(duì)玻璃和塑料配件進(jìn)行檢測(cè)，大多運(yùn)用于品控。PSV-201有足夠大的使用空間供各種產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量過程中，主要通過手持被測(cè)物體在偏光
2013-03-20 11:32:02
能力可達(dá)數(shù)米，并且超聲應(yīng)力儀非常便攜，便于在各種環(huán)境檢測(cè)作業(yè)，與其他應(yīng)力檢測(cè)方法相比，具有以下優(yōu)勢(shì)：u對(duì)被測(cè)對(duì)象零損傷u測(cè)量快速，單點(diǎn)測(cè)試不超過2s，可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)檢測(cè)，也可用于系統(tǒng)集成實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化或
2017-08-24 17:20:21
Acceleration(CA)試驗(yàn)，來驗(yàn)證產(chǎn)品是否能承受自然環(huán)境的外在應(yīng)力。而汽車電子委員會(huì)(AEC)將此項(xiàng)目列為必須執(zhí)行，若想進(jìn)入車用電子供應(yīng)鏈，須通過上述測(cè)試。 由于車用芯片，測(cè)試項(xiàng)目多且繁雜，iST宜特
2018-09-29 15:56:07
車載電子零部件、模塊、連接器 環(huán)境應(yīng)力測(cè)試、電性能測(cè)試 目的：驗(yàn)證車用電子電氣零部件在預(yù)期的設(shè)備使用壽命下能否承受環(huán)境應(yīng)力與電應(yīng)力測(cè)試。涵蓋標(biāo)準(zhǔn)：VW80000系列、GMW3172-2015
2020-06-12 09:42:58
指產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)由于材料損傷或蛻變而造成的失效，如疲勞斷裂、磨損、變形等。主要由結(jié)構(gòu)材料特性及受到的機(jī)械應(yīng)力造成，有時(shí)候也和熱應(yīng)力和電應(yīng)力有關(guān)。2、熱失效指產(chǎn)品由于過熱或急劇溫度變化而導(dǎo)致的燒毀、熔融
2019-10-11 09:50:49
Sharples 邊緣應(yīng)力測(cè)試儀的發(fā)明已為玻璃邊緣壓力測(cè)試提供了一便捷的方法。可以用于以下邊緣應(yīng)力測(cè)試 1、 薄片式的玻璃 如擋風(fēng)玻璃1.堅(jiān)韌的玻璃或柔和的玻璃測(cè)試2.加熱玻璃Sharples 邊緣
2013-03-20 11:35:25
，放電后器件電參數(shù)仍然合格或略有變化，但器件的抗過電應(yīng)力能力已經(jīng)明顯削弱，或者使用壽命已明顯縮短，再受到工作應(yīng)力或經(jīng)過一段時(shí)間工作后將進(jìn)一步退化，直至造成徹底失效。在使用環(huán)境中出現(xiàn)的靜電放電失效大多數(shù)為
2013-05-28 10:27:30
羿網(wǎng)通系列測(cè)試儀具備網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀模式、網(wǎng)絡(luò)損傷儀模式、測(cè)試儀+損傷儀融合模式、冗余鏈路測(cè)試儀模式等多種功能模式，各功能模式之間可靈活、快速地進(jìn)行切換。使用一臺(tái)設(shè)備即可完成網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀、網(wǎng)絡(luò)損傷儀、冗余鏈路測(cè)試儀等多臺(tái)測(cè)試儀的各項(xiàng)測(cè)試和損傷仿真功能。
2022-05-21 09:37:07
應(yīng)力測(cè)試儀： TSK-64是一款便攜式應(yīng)力測(cè)試儀，主要用于電路板ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、分板應(yīng)力測(cè)試和跌落應(yīng)力測(cè)試等等，也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試，玻璃應(yīng)力
2022-02-09 15:27:39
深圳市品控科技有限公司供應(yīng)阿克蒙德TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀、應(yīng)變片?？捎糜诜职錦ICT\FCT\BGA等PCBA應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試，PCB板通用應(yīng)變測(cè)試儀，電子廠通用測(cè)試儀，應(yīng)變片，擁有多年豐富應(yīng)力測(cè)試經(jīng)驗(yàn)
2022-02-11 14:48:14
應(yīng)力測(cè)試儀： TSK-64是一款便攜式應(yīng)力測(cè)試儀，主要用于電路板ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、分板應(yīng)力測(cè)試和跌落應(yīng)力測(cè)試等等，也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試，玻璃應(yīng)力
2022-02-11 15:12:33
TSK-64系列、TSK-32系列和DL-1000系列都是便攜式應(yīng)力測(cè)試儀，主要用于電路板ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、分板應(yīng)力測(cè)試和跌落應(yīng)力測(cè)試等等，也
2023-08-15 11:36:09
白酒瓶?jī)?nèi)應(yīng)力測(cè)試儀在當(dāng)今的白酒生產(chǎn)工業(yè)中，包裝安全性的問題一直是備受關(guān)注。其中，白酒瓶?jī)?nèi)應(yīng)力測(cè)試儀在其中扮演著至關(guān)重要的角色。那么，什么是內(nèi)應(yīng)力測(cè)試儀？它是如何工作的？它在提高包裝安全性方面又有何
2023-09-19 15:00:29
引言玻璃制品在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，如建筑、光學(xué)、電子等。然而，玻璃制品在使用過程中可能會(huì)受到各種應(yīng)力的作用，這些應(yīng)力可能導(dǎo)致材料變形、破裂等問題。因此，對(duì)玻璃制品進(jìn)行應(yīng)力測(cè)試是非常重要的。玻璃
2023-10-23 15:06:53
應(yīng)變背景介紹 常見由于機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致PCBA失效 所有表面處理方式的封裝基板，過大的應(yīng)變都會(huì)導(dǎo)致失效。典型幾種失效模式：焊料球開裂、線路損傷、電容Y型開裂和45°型開裂等。 因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">應(yīng)力
2023-10-26 11:10:40
pcb應(yīng)力測(cè)試全方位PCB檢測(cè)分析儀TSK-64-16C阿克蒙德片應(yīng)力測(cè)試儀TSK應(yīng)力測(cè)試儀我們有的團(tuán)隊(duì)為您提供應(yīng)力測(cè)試儀及應(yīng)力測(cè)試服務(wù)，以及推薦Z適合的應(yīng)變片。并提供在生產(chǎn)流水線上的應(yīng)力測(cè)試改良
2023-10-26 13:38:59
PCB分板制程ICT FCT測(cè)試應(yīng)力測(cè)試儀TSK-64-24CTSK-64是一款便攜式應(yīng)力測(cè)試儀，用于電路板ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、跌落應(yīng)力測(cè)試等等，也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試
2023-10-26 13:46:54
阿克蒙德PCBA應(yīng)力測(cè)試儀應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)力儀TSK-64-32C應(yīng)力測(cè)試儀原理：根據(jù)應(yīng)變片電阻的變化來測(cè)試應(yīng)變，將strain gages 的信號(hào), 透過惠斯登電橋模塊加以平衡, 可轉(zhuǎn)換成相對(duì)
2023-10-26 14:54:25
SPL711 LED光通量電參數(shù)測(cè)試儀用戶使用手冊(cè):LED 行業(yè)在高速發(fā)展，LED 應(yīng)用日趨廣泛，對(duì)于LED 的電性能及光通量的測(cè)量，也顯得越來越重要，為此，本公司研制了SPL711 LED 光通量測(cè)試儀
2010-07-24 23:13:50
28 阿克蒙德TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀公司供應(yīng)：阿克蒙德TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀，，此應(yīng)力測(cè)試儀用途廣泛，它可以是，手機(jī)應(yīng)力測(cè)試儀，也是電腦主板應(yīng)力測(cè)試儀，還是路由器應(yīng)力測(cè)試儀，也是鋼結(jié)構(gòu)應(yīng)力測(cè)試儀，主要
2024-03-26 14:41:10
這是一款便攜式應(yīng)力測(cè)試儀，用于電路板ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、跌落應(yīng)力測(cè)試等等，也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試，玻璃應(yīng)力測(cè)，以及一些結(jié)構(gòu)件的應(yīng)力測(cè)試，等等。儀器體積小，軟件
2024-03-26 15:00:00
一．實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?
1．加深理解材料的彈塑性過程，材料進(jìn)入塑性后的性態(tài)與卸載后的殘余應(yīng)力分布情況。
2．X射線法與電測(cè)法相結(jié)合。用電測(cè)法觀察試件加、卸載時(shí)的應(yīng)
2010-11-23 20:49:2430 摘要:在使用綜合參數(shù)測(cè)試儀測(cè)試808nm發(fā)射的半導(dǎo)體量子阱激光器的過程中,出現(xiàn)了一種由電浪涌所導(dǎo)致的災(zāi)變性損傷。通過測(cè)試的功率曲線和伏安特性曲線,斷定激光器出現(xiàn)了災(zāi)變性的
2010-11-27 23:21:5322 軸承的損傷和其原因及對(duì)策
一般，如果正確使用軸承，可以使用至達(dá)到疲勞壽命為止。但會(huì)有意外過早地損傷，不能耐于使用的情況。這種早期損傷，與疲勞壽命相對(duì)
2009-05-14 08:30:18814 半導(dǎo)體器件在使用過程中最常見的失效模式之一就是電浪涌引起的電過應(yīng)力(EOS)損傷或燒毀電浪涌(即電瞬變)指的是一種隨機(jī)的短時(shí)間的電壓或電流沖擊，它是在機(jī)器裝調(diào)和使用過程中常
2011-05-20 17:18:02125 LED引腳在承受拉伸、彎曲應(yīng)力時(shí)容易破壞塑封體而脫離內(nèi)引線造成開路。產(chǎn)品在組裝已經(jīng) LED 的成型時(shí)避免有機(jī)械應(yīng)力通過引腳傳遞到 LED內(nèi)域
2011-05-30 09:26:181880 
基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理中文版
2016-02-25 16:08:1110 保護(hù)LED免受EOS損傷的防護(hù)方案對(duì)比
2017-01-18 20:35:0911 led產(chǎn)品的重要特點(diǎn)：節(jié)能：可用；亮度可調(diào)性：可控；壽命長(zhǎng)：可靠。
led的電性能測(cè)試：開關(guān)電源的電性能測(cè)試；更加側(cè)重電流測(cè)試。
2017-08-28 14:16:377 后損傷的部位才發(fā)展到絕緣破壞。導(dǎo)致損傷部位徹底崩潰形成故障。 2.電纜外皮的電腐蝕：如果電力電纜埋設(shè)在強(qiáng)力電場(chǎng)的地面下（如大型行車、電力機(jī)車軌道附近），往往出現(xiàn)電纜外皮鉛包腐蝕致穿的現(xiàn)象，導(dǎo)致潮氣侵入，絕緣破壞。
2017-09-29 09:25:4312 盡管LED通常是非常耐用的，但由于電應(yīng)力的原因仍會(huì)發(fā)生故障。Mauro Ceresa是Cree的EMEA現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用工程師，將涉及所有與電過應(yīng)力有關(guān)的方面。
2018-08-08 15:08:416770 、應(yīng)變及剪應(yīng)力的分布曲線。模擬結(jié)果表明最大應(yīng)力集中在鍵合層邊角處；軸向最大位移在透鏡與熱沉接觸邊緣；最大剪應(yīng)力集中在鍵合層的邊角區(qū)域。通過實(shí)驗(yàn)測(cè)試了LED 基板底面中心點(diǎn)的溫度變化，與仿真結(jié)果相符合，研究了各層材料導(dǎo)熱系數(shù)對(duì)LED 溫度場(chǎng)和應(yīng)力場(chǎng)分布的影
2018-10-24 09:38:256679 線路板一旦出現(xiàn)問題，那么也是導(dǎo)致這種led燈不亮的重要原因，要解決這件事情其實(shí)是非常麻煩的，我們最好交給專業(yè)人員來操作。
2019-05-10 16:41:5537437 互連應(yīng)力測(cè)試又稱直流電感應(yīng)熱循環(huán)測(cè)試，IST是對(duì)PCB成品板進(jìn)行熱應(yīng)力試驗(yàn)的快速方法，用于評(píng)估PCB板互連結(jié)構(gòu)的完整性，為了適應(yīng)無鉛焊接的要求，其溫度可以設(shè)定到260℃。IST測(cè)試是一種客觀、綜合的測(cè)試，其測(cè)試速度快，它可反映PCB板在組裝、返工和*終使用環(huán)境條件下的可靠性。
2019-05-30 15:49:057442 焊接過程中焊件受到的不均勻局部加熱和冷卻是導(dǎo)致焊接應(yīng)力和變形產(chǎn)生的根本原因。
2020-02-04 15:15:5613902 
世間萬物皆有自我屬性和層次，何況電線電纜產(chǎn)品應(yīng)用廣泛、種類繁多，即使你身處行業(yè)之中，也并非面面俱到，今天淇玥高溫線纜小編整理的這篇文章，希望能幫助大家更好的找到電線電纜損傷的原因。那導(dǎo)致電線電纜損傷
2020-09-15 10:04:308567 電纜故障測(cè)試儀之故障原因 想用電纜故障測(cè)試儀，就要知道故障原因，給大家盤點(diǎn)一下。 電纜常見故障原因大可分為8類： 一．機(jī)械損傷：機(jī)械損傷引起的電纜故障占電纜事故很大的比例。據(jù)上海的資料統(tǒng)計(jì)，外力機(jī)械
2021-06-01 15:15:43980 RH1959：位移損傷測(cè)試報(bào)告
2021-05-10 21:25:481 電器是通過電流的運(yùn)動(dòng)來實(shí)現(xiàn)運(yùn)作的，而電容則是通過電器電壓來達(dá)到容電效果，這種類型的產(chǎn)品在使用過程中經(jīng)常都會(huì)遇到一個(gè)比較致命的問題那就是短路，產(chǎn)品一旦短路，無非就是內(nèi)部的電容出現(xiàn)失效或者破損的現(xiàn)象，所以分析并解決導(dǎo)致短路現(xiàn)象的原因很重要。
2021-05-18 16:35:368397 大家好，前段時(shí)間在知乎上看到有個(gè)網(wǎng)友問：“在大功率變頻器應(yīng)用中，我們常用雙脈沖測(cè)試評(píng)估器件的動(dòng)態(tài)特征，在實(shí)際中有可比性嗎？”感覺這個(gè)問題提的比較好，也是作者想和大家討論的一個(gè)話題，那我們這期就來聊聊雙脈沖測(cè)試是否能夠反映器件在真實(shí)換流中的各種電應(yīng)力。
2022-04-15 09:15:025559 通常情況下，造成LED電子顯示屏模組集成芯片冒煙燒毀的原因主要有以下三種：
2022-06-23 16:26:189001 瑞峰恒久LED顯示屏在使用過程中出現(xiàn)了條紋，尤其是在使用中出現(xiàn)橫條紋或豎條紋，會(huì)直接影響LED顯示屏播放效果及觀看體驗(yàn)，特別是商場(chǎng)、步行街等人流量多的地方。那么針對(duì)這種問題，該如何去排查和解決呢？
2022-07-25 17:06:3113730 PCB板在生產(chǎn)測(cè)試流程中，會(huì)受到不同程度的應(yīng)力影響。近年電子工業(yè)由于大量使用無鉛焊料代替?zhèn)鹘y(tǒng)的錫鉛焊料，以至于壓力引起的焊接問題被大大激發(fā)了，由于元器件焊點(diǎn)對(duì)應(yīng)變失效非常敏感，因此PCA在最惡劣
2022-10-09 14:06:102928 
主要用于分析SMT在PCBA組裝、測(cè)試和操作中受到的應(yīng)變，以便及時(shí)改善和調(diào)整，避免產(chǎn)品發(fā)生不良，提升產(chǎn)品品質(zhì)。 每種材料的應(yīng)力和應(yīng)變的關(guān)系是線性的，也是有一定安全范圍的。應(yīng)力過大會(huì)引起物體的斷裂，損傷以及不可恢復(fù)的形變
2022-10-11 09:09:201847 深圳市品控科技開發(fā)有限公司 ，專業(yè)針對(duì)PCB電路板開發(fā)設(shè)計(jì)的 TSK-12、DL-1000 系列應(yīng)力測(cè)試儀 ?？蓪?shí)時(shí)監(jiān)測(cè)PCB板各個(gè)工序應(yīng)力應(yīng)變變化，為廣大PCB廠家排除電路板生產(chǎn)過程的應(yīng)力故障
2022-11-06 15:22:135806 
尤為重要，而應(yīng)力測(cè)試是PCBA測(cè)試中最重要的一環(huán)。 ? ? ? ?應(yīng)力測(cè)試原理：電路板在生產(chǎn)組裝過程中，容易造成形變，過大的形變會(huì)導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測(cè)電路板形變量，是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。深圳市品控科技
2022-11-16 11:01:431768 
深圳市品控科技開發(fā)有限公司，是一家專業(yè)研發(fā)制造應(yīng)力測(cè)試儀器的廠家。公司主要生產(chǎn)應(yīng)力測(cè)試儀器、應(yīng)變片。為3C產(chǎn)業(yè)、汽車電子、半導(dǎo)體行業(yè)提供PCB應(yīng)變測(cè)試解決方案。主營(yíng)產(chǎn)品：TSK應(yīng)力測(cè)試儀（TSK-8
2022-11-16 15:28:062110 
TSK-64是一款便攜式應(yīng)力測(cè)試儀，主要用于PCBA生成SMT和DIP應(yīng)變測(cè)試、分板應(yīng)力測(cè)試、ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試和跌落應(yīng)力測(cè)試等等，也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試，玻璃應(yīng)力
2022-11-30 10:09:211718 應(yīng)力測(cè)試原理：電路板在生產(chǎn)組裝過程中，容易造成形變，過大的形變會(huì)導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測(cè)電路板形變量，是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。137+柒陸壹伍
2022-12-02 17:29:5717681 應(yīng)力測(cè)試原理：電路板在生產(chǎn)組裝過程中，容易造成形變，過大的形變會(huì)導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測(cè)電路板形變量，是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。深圳市品控科技開發(fā)
2022-12-03 15:46:323253 
應(yīng)力測(cè)試原理：電路板在生產(chǎn)組裝過程中，容易造成形變，過大的形變會(huì)導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測(cè)電路板形變量，是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。深圳市品控科技開發(fā)
2022-12-03 15:47:302261 
TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀資料分享
2022-12-14 14:40:413 PCB板在生產(chǎn)測(cè)試流程中，會(huì)受到不同程度的應(yīng)力影響。近年電子工業(yè)由于大量使用無鉛焊料代替?zhèn)鹘y(tǒng)的錫鉛焊料，以至于壓力引起的焊接問題被大大激發(fā)了，由于元器件焊點(diǎn)對(duì)應(yīng)變失效非常敏感，因此PCA在最惡劣條件下的應(yīng)變特性顯得至關(guān)重要。
2022-12-14 14:53:582085 
供應(yīng)阿克蒙德TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀，此應(yīng)力測(cè)試儀用途廣泛，它可以是，手機(jī)應(yīng)力測(cè)試儀，也是電腦主板應(yīng)力測(cè)試儀，還是路由器應(yīng)力測(cè)試儀，也是鋼結(jié)構(gòu)應(yīng)力測(cè)試儀，主要用在電路板ICT應(yīng)力測(cè)試，F(xiàn)CT應(yīng)力測(cè)試以及電路板組裝應(yīng)力測(cè)試，電路板跌落應(yīng)力測(cè)試。
2022-12-16 15:53:061924 TSK應(yīng)力測(cè)試儀（TSK-8、TSK-32、TSK-64系列）、TSK應(yīng)變片、PCB視覺打標(biāo)和應(yīng)變測(cè)試服務(wù)應(yīng)力測(cè)試儀。應(yīng)力測(cè)試儀主要用于PCB板通用應(yīng)變測(cè)試測(cè)試，可用于SMT\DIP\分板\ICT\FCT\等PCB應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試,品質(zhì)保證，價(jià)格合理，并提供應(yīng)力代測(cè)測(cè)量服務(wù)。
2022-12-16 15:57:452127 深圳市品控科技開發(fā)有限公司成立于2011年，是一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的綜合性企業(yè)。公司是一家專注于應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試技術(shù)研發(fā)和應(yīng)用的企業(yè)，為3C電子、汽車電子、半導(dǎo)體行業(yè)提供PCB應(yīng)變測(cè)試解決方案
2022-12-17 11:26:581722 
應(yīng)力測(cè)試原理：電路板在生產(chǎn)組裝過程中，容易造成形變，過大的形變會(huì)導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測(cè)電路板形變量，是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。137+柒陸壹伍
2023-03-11 14:49:581325 應(yīng)力測(cè)試原理：電路板在生產(chǎn)組裝過程中，容易造成形變，過大的形變會(huì)導(dǎo)致電路板元器件開裂、焊球開裂、線路起翹等。如何控制和監(jiān)測(cè)電路板形變量，是電路板生產(chǎn)組裝過程不可或缺的一環(huán)。137+柒陸壹伍
2023-03-11 14:56:552966 焊點(diǎn)剝離現(xiàn)象多出現(xiàn)在通孔波峰焊接工藝中，但也在SMT回流焊工藝中出現(xiàn)過?，F(xiàn)象是焊點(diǎn)和焊盤之間出現(xiàn)斷層而剝離。這類現(xiàn)象的主要原因是無鉛合金的熱膨脹系數(shù)和基板之間的差別很大，導(dǎo)致焊點(diǎn)固話時(shí)在剝離部分有太大的應(yīng)力而使它們分開，一些焊料合金的非共晶性也是造成這種現(xiàn)象的原因之一。
2023-05-26 10:10:251683 機(jī)理、氣候環(huán)境應(yīng)力失效機(jī)理和輻射應(yīng)力失效機(jī)理等幾大類。 1. 電應(yīng)力失效機(jī)理 電應(yīng)力失效包括封裝中的靜電放電，集成電路中存在n-p-n-p結(jié)構(gòu)而形成正反饋（月鎖效應(yīng)） 或鈍化層介質(zhì)受潮/污染/損傷 （白道擊穿）等過電應(yīng)力損傷導(dǎo)致
2023-06-26 14:15:312480 
? 測(cè)試一些LED的反向擊穿過程中的單光子現(xiàn)象 [2] ??中對(duì)于手邊的幾種LED進(jìn)行測(cè)試，?發(fā)現(xiàn)只有兩款紅外LED可以出現(xiàn)反向雪崩擊穿現(xiàn)象，其它LED都沒有這種情況。?對(duì)于同一種紅外LED，經(jīng)過測(cè)試
2023-06-30 07:35:041859 
深圳市品控科技有限公司供應(yīng)阿克蒙德TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀、應(yīng)變片?？捎糜诜职錦ICT\FCT\BGA等PCBA應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試，PCB板通用應(yīng)變測(cè)試儀，電子廠通用測(cè)試儀，應(yīng)變片，擁有多年豐富應(yīng)力測(cè)試經(jīng)驗(yàn)
2022-02-12 15:00:582704 
對(duì)于SMT加工廠來說加工過程中出現(xiàn)的錫珠是必須要解決的，首先要知道問題出現(xiàn)的原因，SMT貼片加工廠來分析一下錫珠出現(xiàn)的原因。
2023-10-17 16:09:451822 機(jī)械結(jié)構(gòu)強(qiáng)度的重要手段，同時(shí)也廣泛用于起重機(jī)、龍門吊、大型工程機(jī)械，以及大飛機(jī)上的應(yīng)力測(cè)試等。 機(jī)械結(jié)構(gòu)應(yīng)力監(jiān)測(cè)常用的有光纖光柵傳感器監(jiān)測(cè)與電阻應(yīng)變計(jì)技術(shù)監(jiān)測(cè)。技術(shù)型授權(quán)代理商Excelpoint世健的工程師Galen Zhang基于電
2023-10-26 13:54:42933 
金屬結(jié)構(gòu)作為大型機(jī)械設(shè)備的支持構(gòu)架，其結(jié)構(gòu)強(qiáng)度是影響機(jī)械設(shè)備安全可靠運(yùn)行的關(guān)鍵。隨著機(jī)械設(shè)備朝著大型化、重型化、高速化方向發(fā)展，要求設(shè)備具有更高安全性，從而突出了結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度要求。應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試是研究
2023-10-26 08:24:391295 
所有表面處理方式的封裝基板，過大的應(yīng)變都會(huì)導(dǎo)致失效。典型幾種失效模式：焊料球開裂、線路損傷、電容Y型開裂和45°型開裂等。
因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">應(yīng)力引起的PCBA失效，損失的不僅有物料成本，還有研發(fā)、生產(chǎn)等諸多部門聯(lián)合調(diào)查所浪費(fèi)的時(shí)間。
2023-10-26 09:49:593118 
我司專業(yè)針對(duì)PCB電路板開發(fā)設(shè)計(jì)的TSK、DL系列應(yīng)力測(cè)試儀 ?？蓪?shí)時(shí)監(jiān)測(cè)PCB板各個(gè)工序應(yīng)力應(yīng)變變化，為廣大PCB廠家排除電路板生產(chǎn)過程的應(yīng)力故障。測(cè)試工序包括：分板應(yīng)力、插件應(yīng)力、貼片應(yīng)力、焊錫應(yīng)力、點(diǎn)膠應(yīng)力、組裝應(yīng)力、ICT應(yīng)力、FCT應(yīng)力、跌落應(yīng)力、震蕩應(yīng)力、堆疊應(yīng)力等。
2023-10-30 14:37:323268 
在PCBA中，MLCC對(duì)應(yīng)變比較敏感，過大的應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致PCBA失效。在生成過程中SMT,DIP,FATP三大電子制造環(huán)境，都會(huì)對(duì)PCBA產(chǎn)生應(yīng)力。所以需要把控風(fēng)險(xiǎn)，進(jìn)行日常制程的應(yīng)力測(cè)試。
2022-03-21 11:19:43117 PCB應(yīng)力測(cè)試報(bào)告測(cè)試模板，軟件操作簡(jiǎn)單，上手方便，適合廠快速測(cè)量并根據(jù)IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)一鍵自動(dòng)生成報(bào)告。對(duì)生產(chǎn)測(cè)試流程進(jìn)行完整的應(yīng)力測(cè)試分析，該系統(tǒng)在滿足常規(guī)的應(yīng)力數(shù)值分析、最大主
2023-07-29 11:05:5517 LED測(cè)試不當(dāng)，會(huì)發(fā)生電應(yīng)力損傷：你知道這是什么原因嗎？
2023-12-05 11:38:541088 S-on-1測(cè)試法又被叫做多脈沖測(cè)試法，使用能量密度固定的激光對(duì)薄膜樣品表面進(jìn)行輻照，對(duì)每個(gè)點(diǎn)以極短的時(shí)間間隔輻照S次且實(shí)時(shí)監(jiān)控損傷情況，如果輻照不到S次就產(chǎn)生了損傷則立刻停止并轉(zhuǎn)而輻照下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。
2024-02-26 11:11:343950 
長(zhǎng)脈寬激光及連續(xù)激光作用于薄膜時(shí)，雜質(zhì)和缺陷對(duì)熱量的吸收積累是造成薄膜損傷破壞的主要原因，此時(shí)損傷主要以熱損傷為主。下面是幾個(gè)討論熱致損傷常見的模型。
2024-04-12 10:07:54978 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《雙線磁環(huán)共模電感測(cè)試中出現(xiàn)異常的原因分析.docx》資料免費(fèi)下載
2024-06-03 14:50:210 )上。盡管SMT技術(shù)極大地提高了生產(chǎn)效率和電子設(shè)備的可靠性，但在貼片加工過程中，某些組件的封裝類型可能會(huì)比其他類型更容易出現(xiàn)問題。 容易出現(xiàn)問題的封裝類型及其原因： 1. 微型封裝(如0201、01005尺寸的組件) 原因： - 尺寸小，操作困難： 這些微型組件
2024-08-30 09:28:03999 
燈具密封性能的破壞性測(cè)試方法。一般的LED光源，支架PPA/PCT/EMC與金屬框架間較易出現(xiàn)裂縫，PPA/PCT/EMC與封裝膠結(jié)合面較易出現(xiàn)氣密性問題，如果在光
2025-02-08 12:14:181367 
“System Level EOS Testing Method”可以翻譯為：
“系統(tǒng)級(jí)電性過應(yīng)力測(cè)試方法”
2025-05-05 15:55:55777 
一、AKEMOND應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)是一款專業(yè)用于PCBA各制程中的應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試儀器，非常適于客戶研發(fā)、電子加工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行PCBA各制程中對(duì)不良品的應(yīng)變分析。主要制程有：PCBA板裁切分板、SMT
2025-06-04 17:11:17769 和使用壽命。 PCBA在經(jīng)歷SMT、DIP、組裝和可靠性測(cè)試等階段，過大的機(jī)械應(yīng)力都會(huì)導(dǎo)致自身失效。常見的由于機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致失效的集中模式有：焊料球開裂、線路損傷、焊盤翹起、基板開裂、電容Y型開裂和45°型開裂等。 以下詳細(xì)介紹PCB分板應(yīng)力測(cè)
2025-06-17 17:22:371613 
PCBA(Printed Circuit Board Assembly）是指印刷電路板組裝，是電子產(chǎn)品制造過程中重要的一環(huán)。在PCBA的生產(chǎn)過程中，應(yīng)力是一個(gè)非常重要的因素，對(duì)于產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性
2025-06-19 17:53:27839 
常見的由于機(jī)械應(yīng)力導(dǎo)致失效的幾種模式有：焊料球開裂、線路損傷、焊盤翹起、基板開裂、電容Y型開裂和45°開裂等。 一、SMT貼片加工階段 錫膏印刷：在錫膏印刷過程中，刮刀對(duì)鋼網(wǎng)的壓力以及鋼網(wǎng)與PCB板
2025-06-21 15:41:25851 
應(yīng)力測(cè)試儀的作用： 1.元器件焊點(diǎn)對(duì)應(yīng)變失效非常敏感，PCB受力翹曲形變會(huì)導(dǎo)致連接處出現(xiàn)錫裂失效。 2.隨著無鉛制程、新的PCB層壓板材料的廣泛應(yīng)用和互連密度的增加，翹曲導(dǎo)致損傷的幾率也隨之增加
2025-06-23 17:33:26450 
TSK-32系列、TSK-64系列、都是深圳品控科技公司便攜式應(yīng)力測(cè)試儀，主要用于電路板ICT應(yīng)力測(cè)試、FCT應(yīng)力測(cè)試、組裝應(yīng)力測(cè)試、分板應(yīng)力測(cè)試和跌落應(yīng)力測(cè)試等等，也常用于空調(diào)管路應(yīng)力測(cè)試，玻璃
2025-10-17 16:20:490 ）或內(nèi)聚失效（承墊坑裂）和封裝基板開裂。經(jīng)證實(shí)，運(yùn)用PCB應(yīng)變測(cè)量來控制印制板失效是有利的，而且能作為一種識(shí)別和改進(jìn)生產(chǎn)操作（有造成互連損傷的高風(fēng)險(xiǎn)）的方法也被逐漸的認(rèn)可。 二、PCBA應(yīng)力測(cè)試原理 根據(jù)電阻片阻值的變化來量化機(jī)械
2025-11-05 17:04:42806 
電子發(fā)燒友App
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論