薄膜電容器是屬于一種使用頻率算是比較高的電器，它主要是被廣泛的使用在模擬信號(hào)的交連以及其他電源處。薄膜電容器它具有非常多優(yōu)良的特點(diǎn)，是一種相當(dāng)優(yōu)秀的電容器產(chǎn)品。

電容器失效

電容器擊穿、開(kāi)路、引線斷裂、絕緣了破裂等使電容器完全失去工作能力的失效屬致命性失效，其余一些失效會(huì)使電容不能滿足使用要求，并逐漸向致命失效過(guò)渡；電容器在工作應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力綜合作用下，工作一段時(shí)間后，會(huì)分別或同時(shí)產(chǎn)生某些失效模式。同一失效模式有多種失效機(jī)理，同一失效機(jī)理又可產(chǎn)生多種失效模式。失效模式與失效機(jī)理之間的關(guān)系不是一一對(duì)應(yīng)的。

薄膜電容失效分析

薄膜電容器用于二極管吸收電路，電容額定壓630VDC， 電路中正常尖峰小于200V，滿足降額要求。失效電容器外觀良好，無(wú)損壞痕跡用LCR長(zhǎng)測(cè)試，失效樣品均無(wú)容量，引腳間呈開(kāi)路狀態(tài)解開(kāi)電容器塑料封裝，引線以及引線與噴金層焊接良好，噴金層與芯子連接部位有發(fā)黑痕跡;展開(kāi)電容器芯子金屬化膜，部分失效電容器金屬化膜光亮平整完好，另。 部分金屬化膜已經(jīng)發(fā)熱變形。初步判斷為電路dv/dt過(guò)人導(dǎo)致電容器失效。測(cè)試電路中電壓波形，發(fā)現(xiàn)dv/dt 為3000V/u s，但選用的薄膜電容器dv/dt最大值只有40V/μ s。

為驗(yàn)證失效模式，取批新電容器，初測(cè)正常，上機(jī)老化后，電容器80-90%

失效，排除廠家來(lái)料質(zhì)量問(wèn)題，確定該電容器不適合在該電路中使用。

解決方案

所有單板（包括半成品、成品以及發(fā)貨產(chǎn)品》此位置使用的該電容器全部更換為可規(guī)格dv/dt較人的雙面金屬化聚丙烯山容器后問(wèn)題解決。

對(duì)于薄膜電容，選取吸收電容的參數(shù)除電壓和容量外，最主要的指標(biāo)還有dv/dt和紋波電流（電壓）。特別是dv/dt這個(gè)參數(shù)，即使是容量和電壓相同，系列不同、引腳間距不同的電容，其額定值可從幾V/us到幾KV/us。如果僅從電壓和容量指標(biāo)選擇電容，電容I作一段時(shí)間后就會(huì)容值衰減甚全消失。另外由于功率器件開(kāi)關(guān)頻率比較高（可達(dá)上百KHz），高頻下較小的電壓波動(dòng)就會(huì)導(dǎo)致較人的紋波電流（I=WCU），過(guò)人的紋波電流將導(dǎo)致心容溫開(kāi)高、參數(shù)劣化或燒毀。

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