博通薄膜熱釋電雙通道傳感器：氣體檢測(cè)新利器 電子工程師在設(shè)計(jì)氣體檢測(cè)及物質(zhì)濃度測(cè)量相關(guān)設(shè)備時(shí)，傳感器的性能往往起著決定性作用。今天要給大家介紹的是博通（Broadcom）的薄膜熱釋電紅外（IR
2025-12-30 16:05:14
77 隨著半導(dǎo)體器件向高溫、高頻、高功率方向發(fā)展，氮化鋁（AlN）等寬禁帶半導(dǎo)體材料的外延質(zhì)量至關(guān)重要。薄膜的厚度、界面粗糙度、光學(xué)常數(shù)及帶隙溫度依賴(lài)性直接影響器件性能。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非
2025-12-26 18:02:201016 
薄膜射頻/微波定向耦合器CP0603 SMD型：特性、參數(shù)與應(yīng)用解析 在射頻和微波電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，定向耦合器是一種關(guān)鍵的無(wú)源器件，它能夠?qū)⑤斎胄盘?hào)的一部分能量耦合到另一個(gè)端口，廣泛應(yīng)用于信號(hào)監(jiān)測(cè)、功率
2025-12-25 17:30:151014 在智能制造快速發(fā)展的今天，機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)正成為工業(yè)質(zhì)量控制的重要支柱。作為視覺(jué)系統(tǒng)的核心組件，條形視覺(jué)光源以其獨(dú)特的光學(xué)特性和靈活的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)，在眾多工業(yè)場(chǎng)景中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。 思奧特智能條形視覺(jué)
2025-12-24 15:35:41104 在光電行業(yè)飛速發(fā)展的今天，激光技術(shù)正以前所未有的深度和廣度改變世界。作為這一變革的重要推動(dòng)者，晶眾光電（CRYSTRONG）始終致力于激光薄膜技術(shù)的研發(fā)與制備，憑借覆蓋190nm至20μm全波段的頂尖鍍膜能力，為全球客戶提供高性能、高可靠性的光學(xué)薄膜解決方案。
2025-12-18 10:57:53403 在機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)中，光學(xué)成像的質(zhì)量直接影響檢測(cè)精度和系統(tǒng)可靠性。眩光（Glare）、鬼影（Ghosting）和熱點(diǎn)（Hotspots）是常見(jiàn)的光學(xué)干擾現(xiàn)象，這些問(wèn)題源于光線在鏡頭內(nèi)的反射、散射或不均勻
2025-12-10 10:09:50391 
傳統(tǒng)橢偏測(cè)量在同時(shí)確定薄膜光學(xué)常數(shù)（復(fù)折射率n,k）與厚度d時(shí)，通常要求薄膜厚度大于10nm，這限制了其在二維材料等超薄膜體系中的應(yīng)用。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率
2025-12-08 18:01:31237 在光學(xué)領(lǐng)域，放大倍率（Magnification）是一個(gè)核心參數(shù)，它定義了光學(xué)系統(tǒng)將物體成像后圖像尺寸相對(duì)于物體實(shí)際尺寸的比例。該指標(biāo)通常以“M”或“×”表示，例如“100×”意味著圖像被放大至原物
2025-12-06 16:47:35733 
光學(xué)像差是光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用中的核心概念，指光線在通過(guò)透鏡或鏡面時(shí)偏離理想成像路徑，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降的現(xiàn)象。這些像差源于光學(xué)元件的幾何形狀、材料特性以及光線傳播規(guī)律的物理極限。本文從基本原理
2025-12-05 17:12:41394 
靜電噴涂沉積（ESD）作為一種經(jīng)濟(jì)高效的薄膜制備技術(shù)，因其可精確調(diào)控薄膜形貌與化學(xué)計(jì)量比而受到廣泛關(guān)注。然而，薄膜的厚度均勻性是影響其最終性能與應(yīng)用可靠性的關(guān)鍵因素，其優(yōu)劣直接受到電壓、流速、針基距
2025-12-01 18:02:44404 
，分享了公司在新型顯示材料——液晶聚合物光學(xué)薄膜領(lǐng)域的最新研究成果。 和成顯示產(chǎn)品研發(fā)中心總監(jiān)楊亞非發(fā)表演講 液晶聚合物光學(xué)薄膜是由反應(yīng)性介晶（Reactive Mesogen, RM）通過(guò)光聚合反應(yīng)形成。它既具有液晶材料的高度各向異性，又具備聚合物的機(jī)械性能與環(huán)境穩(wěn)定性。
2025-11-24 22:10:10247 
，一套完善的光纜檢測(cè)系統(tǒng)相關(guān)功能有哪些呢？本文將為您進(jìn)行全面梳理和解析。 廣州郵科光纜監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 一、 實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè)：網(wǎng)絡(luò)的“7x24小時(shí)守護(hù)神” 這是光纜檢測(cè)系統(tǒng)最基礎(chǔ)也是最關(guān)鍵的功能。它通過(guò)部署在網(wǎng)絡(luò)中的采集單元，對(duì)
2025-11-18 11:44:37153 
有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）的性能優(yōu)化高度依賴(lài)對(duì)其組成材料光學(xué)常數(shù)（特別是復(fù)折射率）的精確掌握。然而，當(dāng)前研究領(lǐng)域存在顯著空白：現(xiàn)有光學(xué)數(shù)據(jù)往往局限于少數(shù)特定材料或窄光譜范圍，且缺乏系統(tǒng)性的基板
2025-11-17 18:05:23316 這兩種技術(shù)的原理、差異及應(yīng)用場(chǎng)景，為電子制造企業(yè)選擇合適的檢測(cè)方案提供參考。 基本概念與技術(shù)原理 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（AOI）技術(shù) AOI是一種基于光學(xué)成像的檢測(cè)技術(shù)，通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描PCB，采集圖像后與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過(guò)圖像處理檢
2025-11-12 10:22:57584 薄膜刻蝕與薄膜淀積是集成電路制造中功能相反的核心工藝：若將薄膜淀積視為 “加法工藝”（通過(guò)材料堆積形成薄膜），則薄膜刻蝕可稱(chēng)為 “減法工藝”（通過(guò)材料去除實(shí)現(xiàn)圖形化）。通過(guò)這一 “減” 的過(guò)程，可將
2025-10-16 16:25:052851 
平板顯示（FPD）制造過(guò)程中，薄膜厚度的實(shí)時(shí)管理是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵因素。傳統(tǒng)方法如機(jī)械觸針?lè)?、顯微法和光學(xué)法存在破壞樣品、速度慢、成本高或局限于特定材料等問(wèn)題。本研究開(kāi)發(fā)了一種基于四探針?lè)ǖ膶?dǎo)電
2025-09-29 13:43:36642 
在現(xiàn)代科研和工業(yè)檢測(cè)中，光學(xué)技術(shù)扮演著不可替代的角色，而光纖光譜儀正是其中的“小巨人”。它體型小巧，卻具備強(qiáng)大的檢測(cè)能力，被廣泛應(yīng)用于材料分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品安全、半導(dǎo)體檢測(cè)等領(lǐng)域。 首先，光纖
2025-09-18 13:38:48288 固態(tài)薄膜因獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)與功能在諸多領(lǐng)域受重視，其厚度作為關(guān)鍵工藝參數(shù)，準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)真空鍍膜工藝控制意義重大，臺(tái)階儀法因其能同時(shí)測(cè)量膜厚與表面粗糙度而被廣泛應(yīng)用于航空航天、半導(dǎo)體等領(lǐng)域。費(fèi)曼儀器
2025-09-05 18:03:23631 LED太陽(yáng)光模擬器的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)需通過(guò)“光源系統(tǒng)-聚光鏡-光學(xué)積分器-準(zhǔn)直反射鏡”的處理，通過(guò)多部件協(xié)作模擬太陽(yáng)輻照，平衡準(zhǔn)直性、均勻性與光譜匹配性。光源系統(tǒng)用特定準(zhǔn)直透鏡將發(fā)散角降至2°內(nèi)，按
2025-09-03 18:08:42580 
橢偏術(shù)因其高靈敏度、非接觸與在線測(cè)量能力，已成為薄膜與IC工藝檢測(cè)的重要手段。但儀器的準(zhǔn)確性依賴(lài)系統(tǒng)中偏振元件與幾何參數(shù)的精確校準(zhǔn)，且在工業(yè)環(huán)境中這些參數(shù)會(huì)隨時(shí)間與環(huán)境漂移變化——因此需要快速、簡(jiǎn)單
2025-09-03 18:04:26881 針對(duì)鋰電池檢測(cè)的技術(shù)突破
STML-FD2020 圍繞鋰電池薄膜材料的測(cè)試需求，從 “分層檢測(cè)、數(shù)據(jù)精度、過(guò)程監(jiān)控” 三大維度創(chuàng)新，精準(zhǔn)解決傳統(tǒng)測(cè)試的局限，所有技術(shù)應(yīng)用均基于設(shè)備實(shí)際測(cè)試案例與參數(shù)
2025-08-30 14:16:41
在現(xiàn)代工業(yè)與科研中，薄膜厚度是決定材料腐蝕性能、半導(dǎo)體器件特性以及光學(xué)與電學(xué)性質(zhì)的關(guān)鍵參數(shù)。精準(zhǔn)測(cè)量此參數(shù)對(duì)于工藝優(yōu)化、功能材料理解及反向工程都至關(guān)重要。其中，臺(tái)階儀通過(guò)直接測(cè)量薄膜與暴露基底之間
2025-08-29 18:01:432656 橢偏儀是一種基于橢圓偏振分析的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，通過(guò)探測(cè)偏振光與樣品相互作用后偏振態(tài)的變化，獲取材料的光學(xué)常數(shù)和結(jié)構(gòu)信息。Flexfilm全光譜橢偏儀可以非接觸對(duì)薄膜的厚度與折射率的高精度表征，廣泛應(yīng)用
2025-08-27 18:04:521416 隨著半導(dǎo)體器件向更精密的封裝方案持續(xù)演進(jìn)，傳統(tǒng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)正逐漸觸及物理與計(jì)算的雙重邊界。對(duì)2.5D/3D集成、混合鍵合及晶圓級(jí)工藝的依賴(lài)日益加深，使得缺陷檢測(cè)的一致性與時(shí)效性面臨嚴(yán)峻挑戰(zhàn)——若無(wú)
2025-08-19 13:47:10816 
橢偏技術(shù)是一種非接觸式、高精度、多參數(shù)等光學(xué)測(cè)量技術(shù)，是薄膜檢測(cè)的最好手段。本文以橢圓偏振基本原理為基礎(chǔ)，重點(diǎn)介紹了光學(xué)模型建立和仿真，為橢偏儀薄膜測(cè)量及誤差修正提供一定的理論基礎(chǔ)。費(fèi)曼儀器作為國(guó)內(nèi)
2025-08-15 18:01:293970 適用于透明玻璃薄膜材料，鋰電產(chǎn)品，3C電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體元器件等
2025-08-13 10:59:32475 
實(shí)驗(yàn)名稱(chēng)：量子點(diǎn)薄膜的非接觸無(wú)損原位檢測(cè) 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：量子點(diǎn)薄膜作為核心功能層，在發(fā)光二極管、顯示器等多種光電器件中起著關(guān)鍵作用。量子點(diǎn)薄膜厚度的不均勻性必然會(huì)影響器件的整體光電特性。然而，傳統(tǒng)的方法
2025-08-07 11:33:07396 
SuperViewW3D光學(xué)輪廓儀測(cè)量系統(tǒng)基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量
2025-08-06 14:19:13
功率模塊測(cè)試與驗(yàn)證：對(duì)封裝完成的功率模塊（如IGBT模塊、SiC模塊）進(jìn)行單體或半橋/全橋功能測(cè)試與參數(shù)驗(yàn)證。 新能源與工業(yè)應(yīng)用器件檢測(cè)：服務(wù)于光伏逆變器、新能源汽車(chē)電驅(qū)&amp
2025-07-29 16:21:17
中圖儀器白光干涉光學(xué)粗糙度檢測(cè)儀可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能
2025-07-28 15:36:38
濟(jì)南祥控自動(dòng)化設(shè)備有限公司自主研制的近紅外水分檢測(cè)儀XKCON-NIR-MA-FV根據(jù)近紅外波長(zhǎng)會(huì)被水分子吸收的原理，通過(guò)分析某特定波長(zhǎng)的近紅外能量變化，能夠精確檢測(cè)絕緣薄膜極其微量的水分含量變化。
2025-07-25 17:35:14417 
在半導(dǎo)體制造中，薄膜的沉積和生長(zhǎng)是關(guān)鍵步驟。薄膜的厚度需要精確控制，因?yàn)楹穸绕顣?huì)導(dǎo)致不同的電氣特性。傳統(tǒng)的厚度測(cè)量依賴(lài)于模擬預(yù)測(cè)或后處理設(shè)備，無(wú)法實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)沉積過(guò)程中的厚度變化，可能導(dǎo)致工藝偏差和良
2025-07-22 09:54:561646 的光學(xué)測(cè)量技術(shù)，通過(guò)分析光與材料相互作用后偏振態(tài)的變化，能夠同時(shí)獲取薄膜的厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。本文將從原理、測(cè)量流程及實(shí)際應(yīng)用三個(gè)方面，解析橢偏儀如何實(shí)現(xiàn)
2025-07-22 09:54:271743 薄膜在半導(dǎo)體、顯示和二次電池等高科技產(chǎn)業(yè)中被廣泛使用，其厚度通常小于一微米。對(duì)于這些薄膜厚度的精確測(cè)量對(duì)于質(zhì)量控制至關(guān)重要。然而，能夠測(cè)量薄膜厚度的技術(shù)非常有限，而光學(xué)方法因其非接觸和非破壞性特點(diǎn)而
2025-07-22 09:54:082166 透明薄膜在生物醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體及光學(xué)器件等領(lǐng)域中具有重要應(yīng)用，其厚度與光學(xué)特性直接影響器件性能。傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法（如觸針輪廓儀）易損傷樣品，而非接觸式光學(xué)方法中，像散光學(xué)輪廓儀（基于DVD激光頭
2025-07-22 09:53:59606 檢測(cè)需求。本文聚焦光學(xué)表征技術(shù)的革新，重點(diǎn)闡述橢偏儀等光學(xué)方法在大面積薄膜映射與成像中的突破性應(yīng)用。其中，F(xiàn)lexfilm全光譜橢偏儀以其獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，在大面積薄
2025-07-22 09:53:501277 生物聚合物薄膜（如纖維素、甲殼素、木質(zhì)素）因其可調(diào)控的吸水性、結(jié)晶度和光學(xué)特性，在涂層、傳感器和生物界面模型等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。薄膜厚度是決定其性能的關(guān)鍵參數(shù)，例如溶脹行為、分子吸附和光學(xué)響應(yīng)。然而
2025-07-22 09:53:40608 薄膜結(jié)構(gòu)在半導(dǎo)體制造中扮演著至關(guān)重要的角色，廣泛應(yīng)用于微電子器件、光學(xué)涂層、傳感器等領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進(jìn)步，對(duì)薄膜結(jié)構(gòu)的檢測(cè)精度和效率提出了更高的要求。傳統(tǒng)的檢測(cè)方法，如橢圓偏振法、反射
2025-07-22 09:53:301528 域干涉法（SDI）用于基板厚度的測(cè)量。本研究提出SR-SDI集成光學(xué)系統(tǒng)，通過(guò)可見(jiàn)光反射譜與近紅外干涉譜的協(xié)同處理，實(shí)現(xiàn)跨尺度同步厚度測(cè)量，并開(kāi)發(fā)模型化干涉分析算
2025-07-22 09:53:091468 系統(tǒng)探討四探針?lè)ǖ臏y(cè)量原理、優(yōu)化策略及其在新型導(dǎo)電薄膜研究中的應(yīng)用，并結(jié)合FlexFilm在半導(dǎo)體量測(cè)裝備及光伏電池電阻檢測(cè)系統(tǒng)的技術(shù)積累，為薄膜電學(xué)性能的精確測(cè)
2025-07-22 09:52:041006 橢偏儀作為表征光學(xué)薄膜性能的核心工具，在光學(xué)薄膜領(lǐng)域具有不可替代的作用。本研究聚焦基底類(lèi)型（K9玻璃、石英玻璃、單晶硅）對(duì)溶膠-凝膠法制備的TiO?和SiO?薄膜光學(xué)性能的調(diào)控機(jī)制。Flexfilm
2025-07-22 09:51:091317 。本文本文基于FlexFilm單點(diǎn)膜厚儀的光學(xué)干涉技術(shù)框架，提出一種基于共焦光譜成像與薄膜干涉原理的微型化測(cè)量系統(tǒng)，結(jié)合相位功率譜（PPS）算法，實(shí)現(xiàn)了無(wú)需校準(zhǔn)的高效
2025-07-21 18:17:571456 過(guò)渡金屬二硫族化合物（TMDs）因其獨(dú)特的激子效應(yīng)、高折射率和顯著的光學(xué)各向異性，在納米光子學(xué)領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大潛力。本研究采用Flexfilm全光譜橢偏儀結(jié)合機(jī)械剝離技術(shù)，系統(tǒng)測(cè)量了多種多層TMD薄膜
2025-07-21 18:17:46848 薄膜厚度和復(fù)折射率的測(cè)定通常通過(guò)橢圓偏振術(shù)或分光光度法實(shí)現(xiàn)。本研究采用Flexfilm大樣品倉(cāng)紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)精確測(cè)量薄膜的反射率（R）和透射率（T）光譜，為反演光學(xué)參數(shù)提供高精度實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)
2025-07-21 18:17:12581 Molex 的薄膜電池由鋅和二氧化錳制成，讓最終用戶更容易處置電池。大多數(shù)發(fā)達(dá)國(guó)家都有處置規(guī)定;這使得最終用戶處置帶有鋰電池的產(chǎn)品既昂貴又不便。消費(fèi)者和醫(yī)療制造商需要穿著舒適且輕便的解決方案
2025-07-15 17:53:47
檢測(cè)系統(tǒng)需要同時(shí)對(duì)接這兩大“派系”，怎么破？答案就是耐達(dá)訊通信技術(shù)CAN轉(zhuǎn)EtherCAT網(wǎng)關(guān)，堪稱(chēng)工業(yè)通信界的“破壁機(jī)”！
汽車(chē)質(zhì)檢對(duì)實(shí)時(shí)性和精度要求苛刻：視覺(jué)系統(tǒng)要快速識(shí)別零件瑕疵，同步控制機(jī)械臂
2025-07-15 15:37:47
晶體管參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是用于評(píng)估半導(dǎo)體分立器件電氣性能的專(zhuān)業(yè)儀器設(shè)備，其核心功能是對(duì)晶體管的靜態(tài)/動(dòng)態(tài)參數(shù)進(jìn)行精密測(cè)量與特性分析。以下是系統(tǒng)的關(guān)鍵要素解析： 一、系統(tǒng)核心功能 ?靜態(tài)參數(shù)測(cè)試
2025-07-08 14:49:56560 
一種重要的光學(xué)檢測(cè)工具——光纖光譜儀。 光纖光譜儀以其結(jié)構(gòu)緊湊、響應(yīng)快速、操作靈活等優(yōu)勢(shì)，已廣泛應(yīng)用于薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、均勻性等參數(shù)的測(cè)量中，是當(dāng)前實(shí)現(xiàn)非接觸、非破壞性測(cè)量的重要手段之一。本文將圍繞光纖光譜
2025-07-08 10:29:37406 中天光伏材料有限公司自2012年6月28日成立以來(lái)，在光伏材料領(lǐng)域成績(jī)斐然。公司經(jīng)營(yíng)范圍廣泛，涵蓋功能膜、光學(xué)薄膜、太陽(yáng)能電池背板等產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)與銷(xiāo)售。在其產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中，材料質(zhì)量把控至關(guān)重要
2025-07-04 09:16:28655 
了化學(xué)發(fā)光傳感、熒光傳感、電化學(xué)發(fā)光傳感等多種可視化光學(xué)傳感模式在霉菌毒素檢測(cè)中的應(yīng)用。文中系統(tǒng)闡述了食品中霉菌毒素的危害及傳統(tǒng)檢測(cè)方法的局限性，詳細(xì)解析了各類(lèi)光學(xué)傳感器的工
2025-07-01 17:08:541278 
引言 深凹槽結(jié)構(gòu)在航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片榫槽、模具型腔等關(guān)鍵零部件中廣泛應(yīng)用，其幾何參數(shù)精度直接影響裝備的可靠性與壽命。光學(xué)檢測(cè)技術(shù)憑借非接觸、高精度等優(yōu)勢(shì)，成為深凹槽質(zhì)量控制的核心手段。隨著飛秒激光
2025-06-24 14:43:24488 
氧化硅薄膜和氮化硅薄膜是兩種在CMOS工藝中廣泛使用的介電層薄膜。
2025-06-24 09:15:231750 
在光學(xué)精密加工領(lǐng)域，微納結(jié)構(gòu)元件的三維形貌檢測(cè)是保障器件性能的重要環(huán)節(jié)。以微透鏡陣列、衍射光學(xué)元件為代表的精密光學(xué)元件，其特征尺寸已突破亞微米量級(jí)，對(duì)表面輪廓精度與結(jié)構(gòu)面形誤差的檢測(cè)要求達(dá)到納米級(jí)
2025-06-05 10:09:26
0 摘要
為了對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的性質(zhì)有一個(gè)基本的了解，對(duì)其組件的可視化和光傳播的提示是非常有幫助的。為此，VirtualLab Fusion提供了一個(gè)工具來(lái)顯示光學(xué)系統(tǒng)的三維視圖。這些工具可以進(jìn)一步用于檢查
2025-05-30 08:45:05
薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀在薄膜生產(chǎn)、質(zhì)檢等環(huán)節(jié)起著關(guān)鍵作用，用于檢測(cè)薄膜存在的針孔、裂紋等電弱點(diǎn)缺陷。然而在實(shí)際使用過(guò)程中，可能會(huì)遇到各種問(wèn)題影響檢測(cè)效率與準(zhǔn)確性。以下為薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀常見(jiàn)問(wèn)題及對(duì)應(yīng)
2025-05-29 13:26:04491 
摘要
斐索干涉儀是工業(yè)上常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面
2025-05-28 08:48:10
摘要
在半導(dǎo)體工業(yè)中，晶片檢測(cè)系統(tǒng)被用來(lái)檢測(cè)晶片上的缺陷并找到它們的位置。為了確保微結(jié)構(gòu)所需的圖像分辨率，檢測(cè)系統(tǒng)通常使用高NA物鏡，并且工作在UV波長(zhǎng)范圍內(nèi)。作為例子，我們建立了包括高NA聚焦
2025-05-28 08:45:08
圖1.帶有端部反射鏡及保護(hù)玻璃的單反射鏡掃描系統(tǒng)示意圖
單反射鏡掃描光學(xué)系統(tǒng)往往多設(shè)在光學(xué)系統(tǒng)端部用以掃描物方視場(chǎng)，故有常稱(chēng)端部反射鏡。由于具有單次反射面的反射棱鏡也具有反射鏡的功能，也經(jīng)常
2025-05-27 08:44:05
從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。 SuperViewW3D光學(xué)表面輪廓檢測(cè)儀器具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)
2025-05-26 16:17:36
光學(xué)系統(tǒng)的重要參數(shù)。
為了調(diào)整光學(xué)元素的空間位置在修改指定參數(shù)時(shí)還必須保持其他元素的位置不變，比如要在系統(tǒng)在改變其中孔徑光欄位置，或者叫把孔徑光闌在前后兩個(gè)透鏡間移動(dòng)，此時(shí)可以利用工具條在“位移”功能
2025-05-23 08:51:01
全息投影車(chē)載系統(tǒng)需在高溫（＞85℃）環(huán)境下實(shí)現(xiàn)高亮度、高分辨率的動(dòng)態(tài)成像，而光學(xué)模組的供電與散熱穩(wěn)定性直接決定投影清晰度與壽命。平尚科技基于AEC-Q200認(rèn)證的薄膜電容技術(shù)，通過(guò)金屬化聚丙烯薄膜
2025-05-19 15:01:01611 
是（b）將應(yīng)用參數(shù)轉(zhuǎn)化為光學(xué)系統(tǒng)布局的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)師，到（c）將光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)和公差轉(zhuǎn)化為優(yōu)化制造鏈的光學(xué)制造鏈設(shè)計(jì)師，最終將其移交給（d）生產(chǎn)制造。雖然光學(xué)設(shè)計(jì)軟件工具可以很好地支持客戶和光學(xué)系統(tǒng)
2025-05-12 08:53:48
生成
光學(xué)系統(tǒng)的生成一般是一個(gè)涉及四方的過(guò)程（如圖2a所示）：從（a）客戶開(kāi)始，他們希望將光作為工具使用，并因此定義了應(yīng)用參數(shù)（例如，MTF、圖像分辨率、信噪比dB），接著是（b）光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)者，他們將
2025-05-12 08:51:43
變頻器的自動(dòng)檢測(cè)功能，也被稱(chēng)為“自學(xué)習(xí)”功能，是矢量控制變頻器的一個(gè)重要特性。這一功能主要用于自動(dòng)檢測(cè)并設(shè)定被控制電動(dòng)機(jī)的相關(guān)參數(shù)，從而確保變頻器能夠準(zhǔn)確、高效地控制電動(dòng)機(jī)的運(yùn)行。以下是對(duì)變頻器
2025-05-11 17:08:051215 
器件的生產(chǎn)過(guò)程，并增加了其成本。
在光學(xué)系統(tǒng)的生成過(guò)程中，隨后涉及三個(gè)不同的實(shí)體：
1)最初，光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員將性能參數(shù)轉(zhuǎn)換為光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)，如使用的玻璃類(lèi)型，透鏡幾何形狀，表面形狀精度，粗糙度和中頻誤差
2025-05-09 08:51:45
簡(jiǎn)介
盡管光學(xué)設(shè)計(jì)能夠?qū)?b class="flag-6" style="color: red">光學(xué)系統(tǒng)的應(yīng)用參數(shù)（如調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、圖像分辨率等）轉(zhuǎn)化為定義明確的技術(shù)圖紙，但其可生產(chǎn)性評(píng)估往往只能事后進(jìn)行，例如通過(guò)人工分析，或者使用近年來(lái)出現(xiàn)的PanDao軟件
2025-05-09 08:49:35
始于終端用戶對(duì)應(yīng)用場(chǎng)景的描述。他們與光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)師溝通，后者借助Zemax、Code V等專(zhuān)業(yè)軟件，將光作為工具的應(yīng)用需求轉(zhuǎn)化為光學(xué)系統(tǒng)的具體架構(gòu)。
系統(tǒng)設(shè)計(jì)師產(chǎn)出技術(shù)圖紙并定義多項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù)，包括所需
2025-05-08 08:46:08
是通過(guò)對(duì)其加工參數(shù)進(jìn)行系統(tǒng)分析確定的。
1.簡(jiǎn)介
在光學(xué)制造技術(shù)中，可預(yù)測(cè)且穩(wěn)定的制造工藝對(duì)成本與質(zhì)量進(jìn)行可靠管理至關(guān)重要。本文闡述了針對(duì)特定光學(xué)元件與系統(tǒng)，如何來(lái)確定光學(xué)制造鏈中應(yīng)采用的最佳光學(xué)制造技術(shù)
2025-05-07 09:01:47
：始于 (a)終端客戶（以光為工具的應(yīng)用需求方，定義MTF、圖像分辨率、信噪比等應(yīng)用參數(shù)），繼由 (b)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)師將應(yīng)用參數(shù)轉(zhuǎn)化為光學(xué)系統(tǒng)架構(gòu)，并依據(jù)ISO10110標(biāo)準(zhǔn)明確光學(xué)元件參數(shù)（如玻璃類(lèi)型
2025-05-07 08:54:01
pdf”功能生成）
d) 載入系統(tǒng)預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)模板透鏡，并根據(jù)需求修改其參數(shù)值及公差范圍
e) 直接手動(dòng)輸入光學(xué)元件的參數(shù)值及公差范圍
完成上述操作后，點(diǎn)擊“ask PanDao“即可啟動(dòng)系統(tǒng)，獲取兼顧最低成本與制造風(fēng)險(xiǎn)的最優(yōu)光學(xué)元件制造鏈方案。
2025-05-06 08:47:41
譜線）讀取形狀精度參數(shù)3/A(B)。546.1nm波長(zhǎng)的光是由汞蒸氣燈在電激發(fā)下產(chǎn)生的綠色發(fā)射譜線，在激光技術(shù)問(wèn)世前廣泛應(yīng)用于光學(xué)檢測(cè)、對(duì)準(zhǔn)及校準(zhǔn)。根據(jù)ISO10110標(biāo)準(zhǔn)，用戶可通過(guò)修改3/@lambda中
2025-05-06 08:45:53
一、軟件簡(jiǎn)介
光學(xué)設(shè)計(jì)軟件工具可以很好地幫助光學(xué)工程師開(kāi)發(fā)一款鏡頭產(chǎn)品，然而光學(xué)工程師和光學(xué)加工商之間仍然是基于人與人的交互。這個(gè)部分是光學(xué)系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)的最后一個(gè)主要障礙之一，因?yàn)樗腔趥€(gè)人的判斷
2025-05-06 08:43:51
性能與可靠性至關(guān)重要。
二、內(nèi)藏式觸控高分子分散液晶結(jié)構(gòu)的光學(xué)復(fù)合結(jié)構(gòu)
2.1 結(jié)構(gòu)組成
該光學(xué)復(fù)合結(jié)構(gòu)主要由高分子分散液晶層、觸控感應(yīng)層和光學(xué)薄膜層構(gòu)成。高分子分散液
2025-04-30 14:44:55556 
ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測(cè)亞納米級(jí)檢測(cè)ITO薄膜黃金參數(shù)，幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能，實(shí)現(xiàn)降本增效。
2025-04-16 12:03:19824 
智能化生產(chǎn)。
多功能與適應(yīng)性
多參數(shù)測(cè)量：除直徑外，還能檢測(cè)橢圓度、平均直徑、極大/極小直徑等，可配置測(cè)控軟件進(jìn)行詳細(xì)分析存儲(chǔ)。
環(huán)境耐受性：部分型號(hào)（如八軸測(cè)徑儀、十六軸測(cè)徑儀等）抗高溫、灰塵、煙霧
2025-04-15 14:16:31
。
線性度校準(zhǔn)：檢測(cè)并校正垂直通道的線性誤差，避免波形失真。
2. 水平系統(tǒng)參數(shù)
時(shí)基校準(zhǔn)：利用標(biāo)準(zhǔn)時(shí)標(biāo)信號(hào)（如方波、三角波）校準(zhǔn)示波器的掃描時(shí)間因數(shù)，確保時(shí)間測(cè)量精度。
觸發(fā)校準(zhǔn)：調(diào)整觸發(fā)電路的靈敏度
2025-04-11 14:05:11
摘要
為了從根本上了解光學(xué)系統(tǒng)的特性，對(duì)其組件進(jìn)行可視化并顯示光的傳播情況大有幫助。為此，VirtualLab Fusion 提供了顯示光學(xué)系統(tǒng)三維可視化的工具。這些工具還可用于檢查元件和探測(cè)器
2025-04-02 08:42:16
樁測(cè)試的主要參數(shù)及其意義，為設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)驗(yàn)收和運(yùn)維提供參考。 ? 一、電氣安全參數(shù)：保障基礎(chǔ)安全 ? 充電樁作為高功率電力設(shè)備，電氣安全是首要檢測(cè)方向。 ? 絕緣電阻 ? 檢測(cè)充電樁內(nèi)部電路與外殼之間的絕緣性能，
2025-03-25 16:15:06791 1.摘要
利用VirtualLab Fusion的參數(shù)耦合功能可在光學(xué)設(shè)置中耦合參數(shù)。耦合的參數(shù)可重新計(jì)算系統(tǒng)的其他參數(shù)，進(jìn)而自動(dòng)保持系統(tǒng)參數(shù)間的關(guān)系。因此，參數(shù)耦合功能使用戶可以參數(shù)設(shè)置復(fù)雜
2025-03-17 11:11:02
VirtualLab Fusion中，這不僅僅是一種學(xué)術(shù)主張，而是我們通過(guò)物理光學(xué)和光線光學(xué)建模之間的無(wú)縫且可控的轉(zhuǎn)換，將其引入到現(xiàn)實(shí)生活中的經(jīng)驗(yàn)。
理論背景
VirtualLab Fusion中的高速物理光學(xué)系統(tǒng)
2025-03-14 08:54:35
偏光片是用二向色染料染色聚乙烯醇基薄膜，然后拉伸制成的。然后，TAC(三乙酰纖維素)附著在偏光片的頂部作為保護(hù)膜。PET(聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯)作為T(mén)AC薄膜的替代品，雖然性?xún)r(jià)比高，但它存在嚴(yán)重
2025-03-14 08:47:25
現(xiàn)代技術(shù)在材料加工領(lǐng)域的出現(xiàn)，使得高功率激光源在光學(xué)系統(tǒng)中的使用頻率大大增加。高能源產(chǎn)生的大量熱量導(dǎo)致了幾何形狀的變形和系統(tǒng)中光學(xué)元件折射率的調(diào)制，這將影響它們的光學(xué)特性。在VirtualLab
2025-03-13 08:57:22
概述
激光在大氣湍流中傳輸時(shí)會(huì)拾取大氣湍流導(dǎo)致的相位畸變，特別是在長(zhǎng)距離傳輸?shù)募す馔ㄐ?b class="flag-6" style="color: red">系統(tǒng)中。這種畸變會(huì)使傳輸激光的波前劣化。通過(guò)在系統(tǒng)中引入自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)，可以對(duì)激光傳輸時(shí)拾取的低頻畸變進(jìn)行校正
2025-03-10 08:55:14
能夠改變光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)是任何設(shè)置分析的關(guān)鍵部分，以便更好地了解系統(tǒng)在從制造錯(cuò)誤到組件潛在錯(cuò)位的任何情況下的行為。設(shè)計(jì)一個(gè)在面對(duì)這些不可避免的偏離理想化預(yù)期設(shè)計(jì)時(shí)表現(xiàn)出魯棒性的系統(tǒng)，與找到一個(gè)完全滿足
2025-03-07 08:46:51
摘要
為了詳細(xì)分析光學(xué)系統(tǒng)的功能和能力，需要能夠改變光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)。為此，VirtualLab Fusion的參數(shù)運(yùn)行提供了多種選項(xiàng)和可以應(yīng)用不同的變化策略。不同迭代的結(jié)果以方便緊湊的方式提供在參數(shù)
2025-03-06 08:57:30
、微觀幾何輪廓、曲率等。 SuperViewW中圖儀器光學(xué)三維輪廓儀系統(tǒng)具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)
2025-03-05 14:14:44
在光學(xué)設(shè)計(jì)軟件VirtualLab Fusion中實(shí)現(xiàn)的建模技術(shù)的交互性意味著其用戶可以完全靈活地在精度和速度之間找到始終相關(guān)的折衷方案。這也適用于模擬光通過(guò)亞波長(zhǎng)結(jié)構(gòu)傳播：可以只為光學(xué)系統(tǒng)中表
2025-03-04 09:59:44
;新參數(shù)優(yōu)化
?快捷鍵“Ctrl+T”
?光學(xué)裝置編輯器的工具按鈕
參數(shù)選擇
檢測(cè)裝置規(guī)范
指定約束條件
在此頁(yè)面上，用戶可以指定約束類(lèi)型和關(guān)聯(lián)值
? 系統(tǒng)選定的自由參數(shù)
? 探測(cè)器或分析儀計(jì)算
2025-02-28 08:44:06
的分布情況，幫助用戶了解足部受力狀態(tài)，從而為步態(tài)分析、疾病診斷、運(yùn)動(dòng)優(yōu)化和鞋類(lèi)設(shè)計(jì)提供科學(xué)依據(jù)。 薄膜壓力分布測(cè)量系統(tǒng)概述： 薄膜壓力分布測(cè)量系統(tǒng)主要由薄膜傳感器、數(shù)據(jù)采集儀和軟件組成。薄膜由壓敏電阻組成，能夠
2025-02-24 16:24:36968 
激光跟蹤儀的檢測(cè)功能及應(yīng)用實(shí)例如下：1、檢測(cè)功能-三維坐標(biāo)測(cè)量：能精確測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)，確定物體在空間中的位置和姿態(tài)，為后續(xù)的尺寸測(cè)量、形位公差檢測(cè)等提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。-尺寸測(cè)量：可測(cè)量物體的長(zhǎng)度
2025-02-24 09:48:271021 
本文引入基于光學(xué)PCB的波導(dǎo)嵌入式系統(tǒng)（WES），用于AI/HPC數(shù)據(jù)中心，以克服CPO集成挑戰(zhàn)。WES通過(guò)集成光學(xué)引擎與精確耦合結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)高密度、低損耗、無(wú)光纖的設(shè)備間光互連。 ? 引入基于光學(xué)
2025-02-14 10:48:111309 
離軸光學(xué)系統(tǒng)具有多個(gè)顯著的優(yōu)勢(shì)，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： 1.更廣闊的視場(chǎng) 離軸光學(xué)系統(tǒng)通過(guò)使用非對(duì)稱(chēng)的光學(xué)元件，能夠顯著擴(kuò)大視場(chǎng)范圍，使得觀察者可以獲得更廣闊的視野。這對(duì)于航天、天文、航空等領(lǐng)域
2025-02-12 06:15:29780 
PSF和MTF以及橫向均勻性。
光波導(dǎo)系統(tǒng)均勻性檢測(cè)器
為了評(píng)估AR/MR器件領(lǐng)域中光波導(dǎo)系統(tǒng)的性能，眼動(dòng)范圍中光分布的橫向均勻性是最關(guān)鍵的參數(shù)之一。這個(gè)用例展示了如何使用VirtualLab的一致性檢測(cè)器。
2025-02-10 08:48:01
光學(xué)儀器是利用光的特性來(lái)觀察、測(cè)量和分析物體的性質(zhì)的設(shè)備，它們?cè)诳蒲?、工業(yè)生產(chǎn)、醫(yī)療診斷、天文觀測(cè)等領(lǐng)域發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。以下是對(duì)光學(xué)儀器的工作原理、種類(lèi)及功能的詳細(xì)介紹。 一、光學(xué)
2025-01-31 10:00:002405 單腔雙光梳技術(shù)是近年來(lái)光學(xué)領(lǐng)域備受矚目的研究方向之一。這項(xiàng)技術(shù)不僅在光譜分析、激光測(cè)距、厚膜檢測(cè)、泵浦探測(cè)等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用前景，還為研究精密光譜學(xué)、量子光學(xué)、光子學(xué)等提供了全新的研究平臺(tái)。
2025-01-23 13:56:45680 
回流焊時(shí)光學(xué)檢測(cè)方法主要依賴(lài)于自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（AOI）技術(shù)。以下是對(duì)回流焊時(shí)光學(xué)檢測(cè)方法的介紹： 一、AOI技術(shù)概述 AOI（Automated Optical Inspection）即自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)
2025-01-20 09:33:461451 中圖儀器VT6000轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)成像系統(tǒng)以轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ)，結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和3D重建算法，共同組成測(cè)量系統(tǒng)。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測(cè)，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等
2025-01-16 14:56:21
“Littrow結(jié)構(gòu)”是指那些包含反射光柵的光學(xué)系統(tǒng)，其中光柵方向被設(shè)置為可以使工作階(通常是第一衍射階)沿著入射光束的方向返回。這可以用于各種不同的應(yīng)用，例如，在激光諧振器的背景下，光柵可以
2025-01-11 13:19:56
**摘要
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為了從根本上了解光學(xué)系統(tǒng)的特性，對(duì)其組件進(jìn)行可視化并顯示光的傳播情況大有幫助。為此，VirtualLab Fusion 提供了顯示光學(xué)系統(tǒng)三維可視化的工具。這些工具還可用于檢查元件
2025-01-06 08:53:13
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評(píng)論