電子發(fā)燒友網(wǎng)訊：2012年9月19日，泰克@深圳嵌入式開(kāi)發(fā)與應(yīng)用研討會(huì)在深圳東方銀座美爵酒店如期進(jìn)行。此次研討會(huì)規(guī)模不大，但內(nèi)容翔實(shí)，讓大家深入了解了泰克公司各產(chǎn)品在嵌入式上的開(kāi)發(fā)與應(yīng)用。以下是電子發(fā)燒友網(wǎng)編輯來(lái)自現(xiàn)場(chǎng)的報(bào)道。本次會(huì)議主要介紹了泰克和吉時(shí)利公司為客戶(hù)提供的測(cè)試解決方案。這些測(cè)試解決方案能幫助客戶(hù)解決最根本的嵌入式控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)問(wèn)題，包括系統(tǒng)調(diào)試、完整的電路分析、微信號(hào)測(cè)試等多方面，進(jìn)而加快工程師的開(kāi)發(fā)工作。

　　嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試及無(wú)線數(shù)字系統(tǒng)的驗(yàn)證測(cè)試解決方案

　　首先，泰克行業(yè)渠道開(kāi)發(fā)經(jīng)理王躍偉為大家介紹了泰克嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試及實(shí)時(shí)數(shù)字系統(tǒng)的驗(yàn)證測(cè)試解決方案設(shè)。

圖 泰克行業(yè)渠道開(kāi)發(fā)經(jīng)理王躍偉

　　本主題主要包括以下幾點(diǎn)內(nèi)容：

　　（1）嵌入式系統(tǒng)及其測(cè)試要求

　　這部分主要講述了以下內(nèi)容：嵌入式是無(wú)處不在的，基本上今天的每一個(gè)電子產(chǎn)品都是一個(gè)嵌入系統(tǒng)；無(wú)線通信的無(wú)處不在及其涉及到的數(shù)字信號(hào)、模擬信號(hào)和射頻信號(hào)測(cè)試問(wèn)題；嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)的技術(shù)構(gòu)成；嵌入式系統(tǒng)的應(yīng)用以及嵌入式系統(tǒng)對(duì)混合與分析的要求等。

　?。?）FPGA的分析

　　這部分主要為大家分析了FPGA設(shè)計(jì)過(guò)程、FPGA設(shè)計(jì)調(diào)試的挑戰(zhàn)、如何選擇適當(dāng)?shù)腇PGA調(diào)試方法以及由泰克提供的FPGA實(shí)時(shí)邏輯調(diào)試解決方案。

　　通過(guò)使用FPGAView，能達(dá)到以下目的：縮短調(diào)試和驗(yàn)證時(shí)間；深入了解到嵌入式邏輯分析儀和外部測(cè)試設(shè)備各自的優(yōu)缺點(diǎn)；消除外部設(shè)備的大部分問(wèn)題，從而實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)調(diào)試Xilinx和Altera FPGA、提高工作效率、與其他調(diào)試方法相比，使用更簡(jiǎn)單、插入性更低。

圖 由泰克提供的FPGA實(shí)時(shí)邏輯調(diào)試解決方案

　?。?）混合信號(hào)的嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)及測(cè)試

圖 混合信號(hào)示波器?

　　這部分主要闡述了混合信號(hào)示波器在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)及測(cè)試中的應(yīng)用?；旌闲盘?hào)示波器是嵌入式系統(tǒng)挑食的理想工具，其MOS系列混合信號(hào)示波器簡(jiǎn)化和加快了嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試工作。此外，王經(jīng)理通過(guò)一個(gè)調(diào)試實(shí)例為大家展示了混合信號(hào)示波器的工作過(guò)程。

圖 利用MSO4000調(diào)試數(shù)字溫控器


圖 調(diào)試過(guò)程分析

　?。?）最新的混合域分析技術(shù)及應(yīng)用

　　這里主要介紹了泰克推出的世界上首臺(tái)混合域分析儀（MDO），可以說(shuō)一臺(tái)MDO相當(dāng)于在一臺(tái)設(shè)備中觀測(cè)時(shí)間相關(guān)的模擬、數(shù)字和射頻信號(hào)。

圖 世界上首臺(tái)混合域分析儀（MDO）

　?。?）泰克科技的產(chǎn)品方案

　　泰克的產(chǎn)品方案這塊就為大家展示了MSO/DPO系列示波器及其各種參數(shù)對(duì)比、應(yīng)用范圍等。

　　嵌入式系統(tǒng)的調(diào)試及實(shí)時(shí)數(shù)字系統(tǒng)的驗(yàn)證測(cè)試解決方案

　　這部分由泰克設(shè)計(jì)與制造儀器產(chǎn)品部應(yīng)用工程師王宏軍為我們介紹，主要介紹泰克最新的TLA6000系列邏輯分析儀以及如何使用上述儀器及相應(yīng)的軟件套件簡(jiǎn)化，驗(yàn)證并調(diào)試復(fù)雜的現(xiàn)場(chǎng)總線測(cè)試，F(xiàn)PGA， SOC系統(tǒng)測(cè)試， MCU/CPU/RF等嵌入式設(shè)計(jì)以及當(dāng)前流行的嵌入式系統(tǒng)級(jí)調(diào)試。

圖 泰克設(shè)計(jì)與制造儀器產(chǎn)品部應(yīng)用工程師王宏軍

圖 嵌入式系統(tǒng)級(jí)調(diào)試主要分為五個(gè)階段
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　　在介紹嵌入式系統(tǒng)級(jí)調(diào)試時(shí)，我們了解到嵌入式系統(tǒng)級(jí)調(diào)試主要分為五個(gè)階段：探測(cè)——發(fā)現(xiàn)——捕獲——搜索——分析。而未來(lái)嵌入式系統(tǒng)級(jí)調(diào)試的大趨勢(shì)是箱子高速度、高集成度、高一致性發(fā)展的。當(dāng)我們面對(duì)一系列的難題時(shí)，如紋波、串行、IEEE、噪聲、串?dāng)_、脈沖等，我們需要的測(cè)試工具就需要更加完美，而圖 泰克正好為大家提供的各種解決方案。具體如下圖所示：

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圖 泰克正好為大家提供的各種解決方案

圖 總結(jié)

　　微弱信號(hào)測(cè)試技術(shù)

　　該部分有吉時(shí)利張衛(wèi)華為大家重點(diǎn)闡述，主要介紹如何進(jìn)行精確的微弱電壓，電流測(cè)試，怎樣屏蔽測(cè)試過(guò)程中所產(chǎn)生的誤差，以及解決產(chǎn)生誤差的不同誤差源的問(wèn)題。同時(shí)介紹KEITHLEY的相關(guān)產(chǎn)品數(shù)表，開(kāi)關(guān)和源表等。

圖 吉時(shí)利張衛(wèi)華

圖 吉時(shí)利產(chǎn)品在微弱信號(hào)測(cè)試中的應(yīng)對(duì)方案


圖 泰克在本次研討會(huì)中展示的產(chǎn)品

圖 吉時(shí)利在本次研討會(huì)中展示的產(chǎn)品
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