SN54BCT8245A 具有八路總線收發(fā)器的掃描測(cè)試設(shè)備

數(shù)據(jù)： Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers 數(shù)據(jù)表

描述

具有八進(jìn)制總線收發(fā)器的BCT8245A掃描測(cè)試設(shè)備是Texas Instruments SCOPE ^TM可測(cè)性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990邊界掃描，便于測(cè)試復(fù)雜的電路板組件。掃描訪問測(cè)試電路是通過(guò)4線測(cè)試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件在功能上等同于'F245和'BCT245八路總線收發(fā)器。測(cè)試電路可以由TAP激活，以獲取出現(xiàn)在設(shè)備終端的數(shù)據(jù)的快照樣本，或者對(duì)邊界測(cè)試單元執(zhí)行自測(cè)試。在正常模式下激活TAP不會(huì)影響SCOPE ^TM八進(jìn)制總線收發(fā)器的功能操作。

在測(cè)試模式下，SCOPE ^{TM <的正常操作/sup>八進(jìn)制總線收發(fā)器被禁止，并且測(cè)試電路能夠觀察和控制器件的I /O邊界。啟用后，測(cè)試電路可以執(zhí)行IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990中描述的邊界掃描測(cè)試操作。}

四個(gè)專用測(cè)試終端控制測(cè)試電路的操作：測(cè)試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測(cè)試數(shù)據(jù)輸出（TDO），測(cè)試模式選擇（TMS）和測(cè)試時(shí)鐘（TCK）。另外，測(cè)試電路執(zhí)行其他測(cè)試功能，例如數(shù)據(jù)輸入上的并行簽名分析（PSA）和來(lái)自數(shù)據(jù)輸出的偽隨機(jī)模式生成（PRPG）。所有測(cè)試和掃描操作都與TAP接口同步。

SN54BCT8245A的特點(diǎn)是可在-55°C至125°C的整個(gè)軍用溫度范圍內(nèi)工作。 SN74BCT8245A的工作溫度范圍為0°C至70°C。

特性

德州儀器SCOPE ^TM可測(cè)性產(chǎn)品系列的成員
Octal Test-Integrated電路
在功能上等效于正常功能模式下的'F245和'BCT245
兼容IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990（JTAG）測(cè)試訪問端口和邊界掃描架構(gòu)
測(cè)試操作同步測(cè)試訪問端口（TAP）
通過(guò)識(shí)別TMS引腳上的雙高電平電壓（10 V）實(shí)現(xiàn)可選的測(cè)試復(fù)位信號(hào)
SCOPE ^TM指令集
- IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990必需指令，可選INTEST，CLAMP和HIGHZ
- 輸入并行簽名分析
- 樣本輸入/切換輸出
封裝選項(xiàng)包括塑料小外形（DW）封裝，陶瓷芯片載體（FK），標(biāo)準(zhǔn)塑料和陶瓷300密耳DIP（JT，NT）

SCOPE是德州儀器公司的商標(biāo)。

參數(shù) 與其它產(chǎn)品相比?邊界掃描 (JTAG)

?
Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA)
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns)
IOL (Max) (mA)
Input Type
Output Type
Rating
Operating Temperature Range (C)
?