具有18位通用總線收發(fā)器的?? LVTH18502A和?? LVTH182502A掃描測試設(shè)備是德州儀器SCOPE的成員？可測試性集成電路系列。該系列器件支持IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990邊界掃描，便于測試復(fù)雜的電路板組件。通過4線測試訪問端口（TAP）接口實(shí)現(xiàn)對(duì)測試電路的掃描訪問。

此外，這些器件專為低壓（3.3V）V _{CC <而設(shè)計(jì)/sub>操作，但能夠?yàn)? V系統(tǒng)環(huán)境提供TTL接口。}

在正常模式下，這些設(shè)備是18位通用總線收發(fā)器，與D型結(jié)合使用鎖存器和D型觸發(fā)器，它們?cè)试S數(shù)據(jù)以透明，鎖存或時(shí)鐘模式流動(dòng)。另一種用途是作為兩個(gè)9位收發(fā)器或一個(gè)18位收發(fā)器。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現(xiàn)在器件引腳上的數(shù)據(jù)的快照樣本，或者對(duì)邊界測試單元執(zhí)行自測試。在正常模式下激活TAP不會(huì)影響SCOPE通用總線收發(fā)器的功能操作。

每個(gè)方向的數(shù)據(jù)流由輸出使能（OEAB \和OEBA \），鎖存使能（ LEAB和LEBA）和時(shí)鐘（CLKAB和CLKBA）輸入。對(duì)于A到B數(shù)據(jù)流，當(dāng)LEAB為高電平時(shí)，器件以透明模式工作。當(dāng)LEAB為低電平時(shí)，A-bus數(shù)據(jù)被鎖存，而CLKAB保持在靜態(tài)低或高邏輯電平。否則，如果LEAB為低電平，則A總線數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在CLKAB從低到高的轉(zhuǎn)換中。當(dāng)OEAB \為低電平時(shí)，B輸出有效。當(dāng)OEAB \為高電平時(shí)，B輸出處于高阻態(tài)。 B-to-A數(shù)據(jù)流類似于A-to-B數(shù)據(jù)流，但使用OEBA \，LEBA和CLKBA輸入。

在測試模式下，SCOPE通用總線的正常操作禁止收發(fā)器，并且使測試電路能夠觀察和控制器件的I /O邊界。啟用后，測試電路根據(jù)IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990中描述的協(xié)議執(zhí)行邊界掃描測試操作。

四個(gè)專用測試引腳用于觀察和控制測試電路的操作：測試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測試數(shù)據(jù)輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時(shí)鐘（TCK）。另外，測試電路執(zhí)行其他測試功能，例如數(shù)據(jù)輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數(shù)據(jù)輸出的偽隨機(jī)模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

提供有源總線保持電路，用于保持有效邏輯電平的未使用或浮動(dòng)數(shù)據(jù)輸入。

B端口LVTH182502A的輸出，設(shè)計(jì)用于提供或吸收高達(dá)12 mA的電流，包括25- 系列電阻可減少過沖和下沖。

SN54LVTH18502A和SN54LVTH182502A的特點(diǎn)是可在55°C至125°C的整個(gè)軍用溫度范圍內(nèi)工作。 SN74LVTH18502A和SN74LVTH182502A的工作溫度范圍為?? 40°C至85°C。