SN74LVT8980A嵌入式測(cè)試總線(xiàn)控制器（eTBC）是TI廣泛的可測(cè)性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990邊界掃描，便于測(cè)試復(fù)雜的電路組件。與該系列的大多數(shù)其他設(shè)備不同，eTBC不是邊界可掃描設(shè)備;相反，它們的功能是在嵌入式主機(jī)微處理器/微控制器的命令下掌握IEEE Std 1149.1（JTAG）測(cè)試訪(fǎng)問(wèn)端口（TAP）。因此，eTBC可以實(shí)際有效地使用IEEE Std 1149.1測(cè)試訪(fǎng)問(wèn)基礎(chǔ)設(shè)施，以支持板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的嵌入式/內(nèi)置測(cè)試，仿真和配置/維護(hù)設(shè)施。

eTBCs掌握支持一條4線(xiàn)或5線(xiàn)IEEE Std 1149.1串行測(cè)試總線(xiàn)所需的所有TAP信號(hào)：測(cè)試時(shí)鐘（TCK），測(cè)試模式選擇（TMS），測(cè)試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測(cè)試數(shù)據(jù)輸出（TDO）和測(cè)試重置（TRST）\。所有這些信號(hào)都可以直接連接到相關(guān)的目標(biāo)IEEE Std 1149.1設(shè)備，而無(wú)需額外的邏輯或緩沖。然而，除了直接連接之外，TMS，TDI和TDO信號(hào)還可以通過(guò)流水線(xiàn)連接到遠(yuǎn)程目標(biāo)IEEE Std 1149.1設(shè)備，重定時(shí)延遲最多15個(gè)TCK周期; eTBC自動(dòng)處理所有相關(guān)的串行數(shù)據(jù)調(diào)整。

從概念上講，eTBC作為簡(jiǎn)單的8位存儲(chǔ)器或I /O映射外設(shè)運(yùn)行到微處理器/微控制器（主機(jī)）。高級(jí)命令和并行數(shù)據(jù)通過(guò)其通用主機(jī)接口傳遞到eTBC或從eTBC傳遞，其中包括8位數(shù)據(jù)總線(xiàn)（D7-D0）和3位地址總線(xiàn)（A2-A0）。實(shí)現(xiàn)讀/寫(xiě)選擇（R /W \）和選通（STRB）\信號(hào)，以便關(guān)鍵主機(jī)接口時(shí)序獨(dú)立于CLKIN周期。當(dāng)eTBC無(wú)法立即響應(yīng)請(qǐng)求的讀/寫(xiě)操作時(shí)，提供異步就緒（RDY）指示器以將主機(jī)讀/寫(xiě)周期中的等待狀態(tài)延遲或插入。

高級(jí)命令由主機(jī)發(fā)出以使eTBC生成將測(cè)試總線(xiàn)從任何穩(wěn)定的TAP控制器狀態(tài)移動(dòng)到任何其他此類(lèi)穩(wěn)定狀態(tài)所需的TMS序列，通過(guò)目標(biāo)設(shè)備中的測(cè)試寄存器掃描指令或數(shù)據(jù)，和/或在Run-Test /Idle TAP狀態(tài)下執(zhí)行指令。可對(duì)32位計(jì)數(shù)器進(jìn)行編程，以允許預(yù)定數(shù)量的掃描或執(zhí)行周期。

在掃描操作期間，出現(xiàn)在TDI輸入端的串行數(shù)據(jù)將被轉(zhuǎn)換為串行至4×8位 - 并行先進(jìn)先出（FIFO）讀緩沖器，然后主機(jī)可以讀取該緩沖器，以便一次獲得最多8位的返回串行數(shù)據(jù)流。從TDO輸出發(fā)送的串行數(shù)據(jù)由主機(jī)寫(xiě)入，一次最多8位，寫(xiě)入4×8位并行到串行FIFO寫(xiě)緩沖區(qū)。

除了這種簡(jiǎn)單的狀態(tài)移動(dòng)，掃描和運(yùn)行測(cè)試操作，eTBC支持幾個(gè)附加命令，提供僅輸入掃描，僅輸出掃描，再循環(huán)掃描（其中TDI鏡像回TDO）和掃描模式使用TI的可尋址掃描端口生成用于支持多點(diǎn)TAP配置的協(xié)議。還支持兩種環(huán)回模式，允許微處理器/微控制器主機(jī)監(jiān)控eTBC輸出的TDO或TMS數(shù)據(jù)流。

eTBCs ??靈活的時(shí)鐘架構(gòu)允許用戶(hù)在自由運(yùn)行（其中TCK始終遵循CLKIN）和門(mén)控模式（其中TCK輸出保持靜態(tài)，除了在狀態(tài)移動(dòng)，運(yùn)行測(cè)試或掃描周期期間）之間進(jìn)行選擇以及從CLKIN中分解TCK。還可以使用離散模式，其中TAP在微處理器/微控制器主機(jī)的完全控制下由讀/寫(xiě)周期嚴(yán)格驅(qū)動(dòng)。這些功能確保eTBC幾乎可以為任何IEEE Std 1149.1目標(biāo)設(shè)備或設(shè)備鏈提供服務(wù)，即使這些設(shè)備或設(shè)備鏈可能不完全符合IEEE Std 1149.1。

雖然eTBC的大多數(shù)操作與CLKIN同步，提供測(cè)試輸出使能（TOE）\用于TAP輸出的輸出控制，并且為eTBC的硬件復(fù)位提供復(fù)位（RST）\輸入。前者可用于禁用eTBC，以便外部控制器可以控制相關(guān)的IEEE Std 1149.1測(cè)試總線(xiàn)。