具有18位通用總線收發(fā)器的'ABTH18502A和'ABTH182502A掃描測試設備是德州儀器SCOPE可測性集成電路系列的成員。該系列器件支持IEEE標準1149.1-1990邊界掃描，便于測試復雜的電路板組件。掃描訪問測試電路是通過4線測試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件是18位通用總線收發(fā)器，它們組合了D型鎖存器和D類型的觸發(fā)器，允許數(shù)據(jù)以透明，鎖存或時鐘模式流動。它們既可以用作兩個9位收發(fā)器，也可以用作一個18位收發(fā)器。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現(xiàn)在器件引腳上的數(shù)據(jù)的快照樣本，或者對邊界測試單元執(zhí)行自測試。在正常模式下激活TAP不會影響SCOPE通用總線收發(fā)器的功能操作。

每個方向的數(shù)據(jù)流由輸出使能控制（和 ），鎖存使能（LEAB和LEBA）和時鐘（CLKAB和CLKBA）輸入。對于A到B數(shù)據(jù)流，當LEAB為高電平時，器件以透明模式工作。當LEAB為低電平時，A-bus數(shù)據(jù)被鎖存，而CLKAB保持在靜態(tài)低或高邏輯電平。否則，如果LEAB為低電平，則A總線數(shù)據(jù)存儲在CLKAB從低到高的轉換中。當為低電平，B輸出有效。當為高電平，B輸出處于高阻態(tài)。 B-to-A數(shù)據(jù)流類似于A-to-B數(shù)據(jù)流，但使用，LEBA和CLKBA輸入。

在測試模式下，SCOPE正常運行通用總線收發(fā)器被禁止，并且測試電路能夠觀察和控制設備的I /O邊界。啟用后，測試電路根據(jù)IEEE標準1149.1-1990中描述的協(xié)議執(zhí)行邊界掃描測試操作。

四個專用測試引腳觀察并控制測試的操作電路：測試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測試數(shù)據(jù)輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時鐘（TCK）。另外，測試電路執(zhí)行其他測試功能，例如數(shù)據(jù)輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數(shù)據(jù)輸出的偽隨機模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

通過每個I /O引腳架構采用一個邊界掃描單元（BSC），可以提高掃描效率。該體系結構以捕獲最相關的測試數(shù)據(jù)的方式實現(xiàn)。還包括PSA /COUNT指令，以簡化二進制計數(shù)尋址方案有用的存儲器和其他電路的測試。

有源總線保持電路將未使用或浮動的數(shù)據(jù)輸入保持在有效的邏輯電平。

'ABTH182502A的B端口輸出，設計用于提供或吸收高達12 mA的電流，包括25- 用于減少過沖和下沖的串聯(lián)電阻。

SN54ABTH18502A和SN54ABTH182502A的特點是可在-55°C至125°C的整個軍用溫度范圍內工作。 SN74ABTH18502A和SN74ABTH182502A的工作溫度范圍為-40°C至85°C。

A-to-B數(shù)據(jù)流是所示。 B-to-A數(shù)據(jù)流類似，但使用OEBA \，LEBA和CLKBA。

在建立穩(wěn)態(tài)輸入條件之前的輸出電平 < /p>