是德科技N1090A DCA-M 采樣示波器
核心性能與技術特點：

卓越的硬件性能與模塊化設計

主機平臺支持多種 電通道模塊（ECB） 和 光通道模塊（OCB），電模塊帶寬最高可達 110 GHz，光模塊支持從 850 nm 多模到 1310/1550 nm 單模 的廣泛波長范圍。

極低的 固有抖動（< 150 fs RMS） 和優(yōu)異的 噪聲底，確保能夠準確測量高速、低擺幅信號的微小眼圖張開度和抖動分量。

支持 多通道同步測量，精確分析差分信號或并行通道間的時序關系。

全面的光電器件分析能力

眼圖與模板測試：自動生成和測量NRZ/PAM4信號的眼圖，進行模板測試（Mask Test），評估信號質量。

高級抖動與噪聲分析：將總抖動（TJ）分解為隨機抖動（RJ）、確定性抖動（DJ）、周期性抖動（PJ）、數(shù)據(jù)相關抖動（DDJ）等成分，定位抖動根源。

光功率與消光比測量：精確測量平均光功率、消光比（ER）等關鍵光參數(shù)。

S參數(shù)與回波損耗測量：通過電學時域反射（ETDR/TDR）和時域傳輸（ETDT/TDT）功能，提取互連結構的S參數(shù)（S11, S21等），分析阻抗不連續(xù)性和插入損耗。

強大的軟件分析與自動化

集成 DCA-J、N1010A 等高級分析軟件，提供一鍵式自動化測試、標準一致性測試（如IEEE, OIF, PCIe）和詳盡的報告生成功能。

支持自定義測量腳本和遠程控制，便于集成到自動化測試系統(tǒng)（ATE）中。

靈活的系統(tǒng)配置

可單獨使用，也可與 是德科技比特誤碼率測試儀（如M8040A） 或 任意波形發(fā)生器 聯(lián)用，構建完整的發(fā)射機（Tx）或接收機（Rx）測試系統(tǒng)。

典型應用場景
高速光模塊（如400G-FR4, 800G-DR8）測試：測量光發(fā)射組件（TOSA）的眼圖、光調制幅度（OMA）、消光比和發(fā)射機色散眼圖閉合度（TDECQ）。

SerDes芯片與互連通道驗證：對224G/112G SerDes芯片的輸出或PCB/封裝互連進行眼圖、抖動和S參數(shù)分析。

有源電纜（AOC/DAC）性能評估：測量電纜組件的誤碼率浴盆曲線、眼圖及傳輸損耗。

科研與標準制定：用于探索新型調制格式、材料或封裝技術對信號完整性的影響。

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