臺(tái)階儀vs.白光干涉：薄膜厚度測(cè)量技術(shù)選型指南

在半導(dǎo)體制造、光伏電池、MEMS器件以及先進(jìn)薄膜材料研發(fā)過程中，薄膜厚度與表面形貌的精確測(cè)量是質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。當(dāng)前工業(yè)與科研領(lǐng)域廣泛使用的...

2026-03-06 標(biāo)簽：薄膜測(cè)量白光干涉儀 111 0

脈沖激光加工后，表面形貌與粗糙度如何測(cè)量？

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀，精準(zhǔn)高效測(cè)量激光加工后的表面微觀形貌、粗糙度、臺(tái)階高度、體積等參數(shù)，納米級(jí)精度把控品質(zhì)，同時(shí)反向優(yōu)化加工參數(shù)，提高產(chǎn)品良率30%。

2026-01-26 標(biāo)簽：三維形貌脈沖激光粗糙度 1.1k 0

一文讀懂：白光干涉儀vs共聚焦顯微鏡的優(yōu)劣勢(shì)差異

在半導(dǎo)體、鋰電、光伏、航空航天等高端制造領(lǐng)域，高精度光學(xué)測(cè)量技術(shù)是把控產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)工藝的核心支撐，直接關(guān)系到產(chǎn)業(yè)升級(jí)與技術(shù)創(chuàng)新進(jìn)程。白光干涉儀與共...

2025-09-11 標(biāo)簽：測(cè)量顯微鏡干涉儀 860 0

提升人形機(jī)器人運(yùn)動(dòng)能力，需要把控運(yùn)動(dòng)關(guān)節(jié)哪些關(guān)鍵參數(shù)？

電機(jī)、減速器、絲杠則是人形機(jī)器人關(guān)鍵運(yùn)動(dòng)的關(guān)鍵組成部件。因此在生產(chǎn)制造中，如何精確控制這三大零部件的關(guān)鍵尺寸與參數(shù)，成為首要課題。

2025-07-01 標(biāo)簽：人形機(jī)器人白光干涉儀優(yōu)可測(cè) 1.6k 0

引進(jìn)白光干涉儀管控微流控芯片形貌，性能大幅提升

白光干涉儀納米級(jí)管控微流控芯片表面粗糙度，以及微流道高度和寬度，提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量，滿足不同客戶需求。

2025-05-29 標(biāo)簽：微流控芯片微流控表面粗糙度 726 0

探索微觀世界的“度量衡”：顯微測(cè)量?jī)x器解析

臺(tái)階儀、光學(xué)輪廓儀和共聚焦顯微鏡，這些看似冰冷的儀器設(shè)備，實(shí)則是微觀世界的“度量衡”，憑借其技術(shù)與性能，為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。

2025-05-23 標(biāo)簽：測(cè)量?jī)x器輪廓測(cè)量白光干涉儀 801 0

三維表面輪廓儀的維護(hù)保養(yǎng)是確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵

三維表面輪廓儀是一種高精度測(cè)量設(shè)備，用于非接觸式或接觸式測(cè)量物體表面的三維形貌、粗糙度、臺(tái)階高度、紋理特征等參數(shù)。其主要基于光學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量。它利用激光...

2025-05-21 標(biāo)簽：輪廓測(cè)量?jī)x白光干涉儀輪廓儀 680 0

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀和薄膜厚度測(cè)量?jī)x：如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”

ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測(cè)亞納米級(jí)檢測(cè)ITO薄膜黃金參數(shù)，幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能，實(shí)現(xiàn)降本增效。

2025-04-16 標(biāo)簽：表面粗糙度ITO薄膜薄膜厚度 1k 0

白光干涉儀：表面形貌分析，如何區(qū)分波紋度與粗糙度？

表面形貌分析中，波紋度和粗糙度是兩種關(guān)鍵特征。通過濾波技術(shù)設(shè)置截止波長(zhǎng)，可將兩者分離。分離后，通過計(jì)算參數(shù)或FFT驗(yàn)證效果。這種分析有助于優(yōu)化加工工藝、...

2025-03-19 標(biāo)簽：測(cè)量表面粗糙度白光干涉儀 1.3k 0

微透鏡陣列精準(zhǔn)全檢，優(yōu)可測(cè)3D自動(dòng)量測(cè)方案提效70%

微透鏡陣列可實(shí)現(xiàn)許多傳統(tǒng)光學(xué)元器件難以實(shí)現(xiàn)的特殊功能，應(yīng)用廣泛。某福州工廠需全檢晶圓MLA產(chǎn)品，引入優(yōu)可測(cè)NX230系列晶圓3D自動(dòng)量測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)高精度...

2025-01-15 標(biāo)簽：微透鏡光學(xué)元件白光干涉儀 1.4k 0

人工視網(wǎng)膜晶體的表面粗糙度測(cè)量-3D白光干涉儀應(yīng)用

1 、引言 人工視網(wǎng)膜晶體作為治療視網(wǎng)膜病變的關(guān)鍵植入式醫(yī)療器械，其表面粗糙度直接影響生物相容性、光學(xué)成像質(zhì)量及長(zhǎng)期植入安全性。表面過于粗糙易引發(fā)眼部組...

2026-01-26 標(biāo)簽：半導(dǎo)體白光干涉儀 102 0

存儲(chǔ)漲價(jià)持續(xù)到 2027？?jī)?yōu)可測(cè)揭秘存儲(chǔ)芯片的“品質(zhì)密碼”

AI 浪潮下存儲(chǔ)爆發(fā)漲價(jià)潮，供需緊張推動(dòng)行業(yè)發(fā)展，而品質(zhì)才是核心競(jìng)爭(zhēng)力！優(yōu)可測(cè)深耕半導(dǎo)體精密檢測(cè)，覆蓋晶圓、芯片、PCB 領(lǐng)域，以亞納米級(jí)至微米級(jí)高精度...

2025-11-29 標(biāo)簽：半導(dǎo)體AI存儲(chǔ)芯片 1.7k 0

以設(shè)計(jì)鑄品質(zhì)！優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-8000榮膺2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-8000打破了傳統(tǒng)精密儀器“輕設(shè)計(jì)” 的固有認(rèn)知，憑借技術(shù)沉淀與創(chuàng)新設(shè)計(jì)，斬獲2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)！

2025-11-21 標(biāo)簽：干涉儀白光干涉儀紅點(diǎn)獎(jiǎng) 2.2k 0

白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓測(cè)量

摘要：本文研究白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用，分析其工作原理及適配深腐蝕溝槽特征的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，通過實(shí)際案例驗(yàn)證測(cè)量精度，為晶圓深腐蝕工...

2025-10-30 標(biāo)簽：晶圓測(cè)量白光干涉儀 461 0

白光干涉儀在肖特基二極管晶圓的深溝槽 3D 輪廓測(cè)量

摘要：本文研究白光干涉儀在肖特基二極管晶圓深溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用，分析其工作原理及適配深溝槽結(jié)構(gòu)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，通過實(shí)際案例驗(yàn)證其測(cè)量精度，為肖特基...

2025-10-20 標(biāo)簽：晶圓肖特基二極管輪廓測(cè)量 451 0

iPhone17Pro換背板材料，隱藏著什么工藝變化？我們測(cè)給你看！

iPhone 17 Pro 系列發(fā)售近半個(gè)月，關(guān)于其與前代手感差異的討論眾說紛紜。今天我們聚焦手機(jī)背板這一關(guān)鍵部件，用優(yōu)可測(cè)白光干涉儀 AM 系列，通過...

2025-09-29 標(biāo)簽：iPhone表面粗糙度白光干涉儀 1k 0

提升霧化片性能，關(guān)鍵是要把控好這些參數(shù)...

霧化片是霧化器的關(guān)鍵零部件，它早已滲透到醫(yī)療、工業(yè)、農(nóng)業(yè)、消費(fèi)等多個(gè)領(lǐng)域，霧化片盲孔對(duì)霧化器性能有著直接影響，因此精確測(cè)量盲孔成為各個(gè)霧化片廠家的關(guān)鍵課題。

2025-09-28 標(biāo)簽：表面粗糙度白光干涉儀霧化片 3.9k 0

白光干涉儀在晶圓濕法刻蝕工藝后的 3D 輪廓測(cè)量

引言 晶圓濕法刻蝕工藝通過化學(xué)溶液對(duì)材料進(jìn)行各向同性或選擇性腐蝕，廣泛應(yīng)用于硅襯底減薄、氧化層開窗、淺溝槽隔離等工藝，其刻蝕深度均勻性、表面平整度、側(cè)向...

2025-09-26 標(biāo)簽：晶圓刻蝕白光干涉儀 1.2k 0