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板級(jí)備件通用測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

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2009-08-14 10:02:163

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用性研究

通用性是當(dāng)前ATS(自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng))的發(fā)展方向,文章分別從硬件及軟件兩個(gè)方面對(duì)ATS通用性的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了相應(yīng)的研究,特別是提出了功能接口的概念,為實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的通
2009-08-14 10:04:2717

基于Web的備料備件管理系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)

備料備件管理是工業(yè)生產(chǎn)控制管理中重要的組成部分,對(duì)生產(chǎn)與成本控制起到至關(guān)重大的作用。本文介紹了一個(gè)采用Oracle 技術(shù),基于Web 的企業(yè)備料備件管理系統(tǒng),詳細(xì)闡述了它
2009-08-21 08:54:2910

裝甲裝備電纜原位通用測(cè)試系統(tǒng)

為實(shí)現(xiàn)裝甲裝備全車電纜的原位自動(dòng)測(cè)試,克服傳統(tǒng)測(cè)試手段效率低、精度差等弊端,研制了一套針對(duì)裝甲裝備電纜斷、短路故障的原位通用測(cè)試系統(tǒng);系統(tǒng)采用單片機(jī)技術(shù)、數(shù)
2009-08-31 14:43:4223

1553B總線通用仿真測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與研究

航電系統(tǒng)是現(xiàn)代戰(zhàn)機(jī)的重要組成部分,構(gòu)建一個(gè)1553B 機(jī)載總線通用仿真測(cè)試系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)特定航電設(shè)備的測(cè)試及故障定位,并為航電設(shè)備的開(kāi)發(fā)提供一個(gè)調(diào)試平臺(tái)。重點(diǎn)分析了系
2009-12-19 14:56:1611

帶微處理器電路的故障測(cè)試系統(tǒng)

摘要:本文介紹了一種采用通用總線仿真方法對(duì)帶微處理器電路進(jìn)行故障測(cè)試系統(tǒng),并對(duì)以上各部分電路提出了診斷思路和實(shí)現(xiàn)方法。關(guān)鍵詞:通用總線仿真 微處理器電路
2010-05-05 10:22:4717

一種通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

為了提高自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用性,本文將三層結(jié)構(gòu)的客戶/服務(wù)器模型引入到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,提出了一種基于數(shù)據(jù)字典,通過(guò)數(shù)據(jù)映射對(duì)系統(tǒng)軟硬件進(jìn)行解耦的方法,并在實(shí)踐中發(fā)
2010-07-14 14:39:068

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通用性研究

通用性是當(dāng)前ATS(自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng))的發(fā)展方向,文章分別從硬件及軟件兩個(gè)方面對(duì)ATS通用性的關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了相應(yīng)的研究,特別是提出了功能接口的概念,為實(shí)現(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)通用
2010-07-20 17:16:2023

HONEYWELL測(cè)厚儀備件QCS 08445201

一、HONEYWELL 測(cè)厚儀備件 QCS 08445201 是 X 射線高壓包。它用于測(cè)量紙張的厚度 1、采用橡膠褶式氣囊驅(qū)動(dòng)的圓觸點(diǎn)來(lái)夾住紙的兩側(cè),氣囊與不銹鋼臂連接,使其能良好地懸浮
2024-08-16 09:11:49

前后 后級(jí)驅(qū)動(dòng),前級(jí)3525,后雙555。#硬聲創(chuàng)作季

級(jí)驅(qū)動(dòng)
Hello,World!發(fā)布于 2022-10-22 00:17:47

面向系統(tǒng)級(jí)電源管理方法:CompactPCI電路的電源

面向系統(tǒng)級(jí)電源管理方法:CompactPCI電路的電源管理案例研究 電源管理的挑戰(zhàn)   由于電路組件集成了越來(lái)越多的子系統(tǒng),他們的電源分配和管理系統(tǒng)
2010-01-16 08:57:011718

PCB通用測(cè)試技術(shù)分析

    一、引言    前隨著使用大規(guī)模集成電路的產(chǎn)品不斷出現(xiàn),相應(yīng)的PCB的安裝和測(cè)試工作已越來(lái)越重要。印制電路通用測(cè)試是PCB行業(yè)傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)、
2010-10-25 16:13:211088

級(jí)電路多信號(hào)模型自測(cè)試技術(shù)

率及故障隔離率,解決現(xiàn)場(chǎng)對(duì)級(jí)電路要求快速進(jìn)行故障診斷及故障定位的要求。   2.高速數(shù)據(jù)采集器的多信號(hào)流建模   原數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)未考慮可測(cè)性,系統(tǒng)本身可以提供的測(cè)試信息有限,大量重要測(cè)試
2010-11-17 10:34:481434

安全計(jì)算機(jī)板級(jí)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

實(shí)現(xiàn)安全計(jì)算機(jī)的級(jí)測(cè)試主要是針對(duì)FTSM進(jìn)行。邏輯、輸入輸出和通信電路復(fù)雜,宜采用計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試。而安全電源、3U組件、繼電器組件
2011-04-13 11:47:401587

基于邊界掃描的電路測(cè)試系統(tǒng)

本文針對(duì)當(dāng)前復(fù)雜數(shù)字電路 快速測(cè)試難的現(xiàn)狀,設(shè)計(jì)了一套基于邊界掃描的電路測(cè)試系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可以對(duì)含有邊 界掃描接口的復(fù)雜數(shù)字電路進(jìn)行快速診斷,幫助維修人員進(jìn)行
2011-05-18 10:04:582153

基于SOPC的電路測(cè)試插槽設(shè)計(jì)

為實(shí)現(xiàn)用一個(gè)測(cè)試插槽檢測(cè)多個(gè)不同的印刷電路(PCB),提出了利用可編程器件(PLD)的在線重配置功能,運(yùn)用可編程片上系統(tǒng)(SOPC)技術(shù)研發(fā)通用測(cè)試插槽的設(shè)計(jì)思
2011-06-10 17:28:480

多總線兼容的級(jí)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

由于不同板卡的總線接口不同,對(duì)板卡的測(cè)試也需要多種測(cè)試系統(tǒng),因此成本較高。針對(duì)以上問(wèn)題,設(shè)計(jì)了一種能兼容多種總線的級(jí)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)的硬件構(gòu)建方法和工
2011-08-01 15:35:010

基于邊界掃描技術(shù)的級(jí)測(cè)試分析

隨著支持IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描芯片的廣泛應(yīng)用,傳統(tǒng)的電路測(cè)試方法如使用萬(wàn)用表、示波器探針,已不能滿足級(jí)測(cè)試的需求,相反一種基于級(jí)測(cè)試的邊界掃描技術(shù)得到了迅速發(fā)
2012-05-30 15:06:4245

通用測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)

北京航天測(cè)控技術(shù)開(kāi)發(fā)公司自八十年代以來(lái),長(zhǎng)期致力于ATE/ATS技術(shù)研究,在電子設(shè)備的通用測(cè)試技術(shù)與系統(tǒng)集成方面取得了豐碩的成果,其通用測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品體現(xiàn)了通用化、模塊化、智
2012-07-17 13:48:511734

最新印制設(shè)計(jì)通用標(biāo)準(zhǔn)的“三連勝”

最新修訂的 IPC-2221B《印制設(shè)計(jì)通用標(biāo)準(zhǔn)》,涵蓋了各種類型的印制電路在設(shè)計(jì)中的各種要求,如測(cè)試、通孔保護(hù)、測(cè)試設(shè)計(jì)、表面處理等。IPC-2221B的發(fā)布標(biāo)志著印制電路設(shè)計(jì)三大重要標(biāo)準(zhǔn)皆大功告成。
2013-01-22 09:57:252229

中屏科技攜領(lǐng)先的通用化功能測(cè)試系統(tǒng)及汽車鑰匙標(biāo)定測(cè)試系統(tǒng)亮相NEPCON China

在上海世博展覽館一號(hào)館NEPCON China中國(guó)電子展,中屏科技將推出“通用化結(jié)構(gòu)的測(cè)試系統(tǒng)和行業(yè)領(lǐng)先的汽車鑰匙標(biāo)定測(cè)試系統(tǒng)”。
2015-03-05 14:02:541674

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適配器通用開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適配器通用開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)
2017-01-24 16:54:2414

淺談通用運(yùn)算放大器的參數(shù)測(cè)試及原理

SP-3160Ⅲ 數(shù)/模混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)提供的運(yùn)算放大器測(cè)試適配器便是根據(jù)上述基本原理設(shè)計(jì)而成。它由運(yùn)放測(cè)試適配及一系列測(cè)試適配卡組成,可以完成通用單運(yùn)放、雙運(yùn)放、四運(yùn)放及電壓比較器的測(cè)試。運(yùn)算放大器適配器原理圖如附圖所示。
2017-11-06 11:30:1118824

基于船舶備件費(fèi)效分析備件優(yōu)化模型分析

艦船備件優(yōu)化是保證艦船系統(tǒng)各裝備高任務(wù)可靠性的一個(gè)重要手段。為了權(quán)衡備件供應(yīng)保障中的經(jīng)費(fèi)與備件需求的矛盾,針對(duì)不可修復(fù)系統(tǒng),建立了定可靠度備件優(yōu)化和定費(fèi)用備件優(yōu)化的兩個(gè)模型,并對(duì)啟發(fā)式算法中的搜索
2017-11-08 11:50:2211

飛機(jī)飛行控制系統(tǒng)通用測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)

針對(duì)系列飛機(jī)飛行控制系統(tǒng)通用測(cè)試需求,采用虛擬儀器、軟硬件動(dòng)態(tài)配置及數(shù)據(jù)庫(kù)技術(shù),設(shè)計(jì)了一種能兼容多型飛機(jī),能靈活手動(dòng)和自動(dòng)測(cè)試通用飛行控制系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)。描述了系統(tǒng)的組成與工作原理,并對(duì)ICD
2017-11-16 11:23:1415

ATEstar通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng)

采用通用性和多線程的設(shè)計(jì)思想,研制一種通用測(cè)試平臺(tái)管理系統(tǒng),具體實(shí)現(xiàn)分為配置和運(yùn)行兩大部分。配置包括數(shù)據(jù)輸入定義和顯示存儲(chǔ)定義等功能。運(yùn)行根據(jù)配置參數(shù)按照預(yù)定測(cè)試流程完成設(shè)備控制和數(shù)據(jù)采集與管理功能。
2018-05-23 17:53:202905

電路功能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試對(duì)象及特點(diǎn)是什么

電路功能測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)軟件自定義功能和靈活的硬件配置使用戶可自定義測(cè)試步驟測(cè)試,適用于對(duì)電路電壓、電流、電阻和頻率、信噪比等信號(hào)進(jìn)行測(cè)量和分析,從而實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的電路測(cè)試流程。
2019-07-26 15:11:486851

基于總線技術(shù)和模塊化儀器實(shí)現(xiàn)通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

不同的測(cè)試系統(tǒng),在此期間,通過(guò)不斷引入國(guó)外先進(jìn)的測(cè)試理念和軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)亦有極大發(fā)展。目前多個(gè)兵種等都在研究測(cè)試系統(tǒng)通用性問(wèn)題,采用通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)正在成為軍用測(cè)試領(lǐng)域的熱點(diǎn)。目前在通用平臺(tái)技術(shù)方面,按照模塊化、系列化、標(biāo)準(zhǔn)化的要求,在一定范圍通用的各類自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)正陸續(xù)應(yīng)用。
2020-08-11 14:27:532048

芯片需要做哪些測(cè)試呢?芯片測(cè)試方式介紹

測(cè)試方法:級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試,多策并舉。
2020-12-29 14:47:0834305

淺談PCB設(shè)計(jì)級(jí)測(cè)試中的有源測(cè)試

關(guān)于測(cè)試,分級(jí)測(cè)試和芯片測(cè)試,級(jí)測(cè)試又分無(wú)源測(cè)試,有源測(cè)試。級(jí)測(cè)試的目的是驗(yàn)證在當(dāng)前特定的這塊PCB上,板材、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、走線長(zhǎng)度等等都已固化的情況下,信號(hào)質(zhì)量如何。芯片測(cè)試的目的是驗(yàn)證這款芯片
2021-03-26 11:42:285903

真正的功率和電流監(jiān)視器實(shí)現(xiàn)級(jí)系統(tǒng)級(jí)優(yōu)化

真正的功率和電流監(jiān)視器實(shí)現(xiàn)級(jí)系統(tǒng)級(jí)優(yōu)化
2021-03-19 08:06:317

潤(rùn)和軟件企業(yè)級(jí)通用安全操作系統(tǒng)獲銷售許可證

《信息安全技術(shù)操作系統(tǒng)安全技術(shù)要求GB/T20272-2019》第三級(jí)、《信息安全技術(shù)通用滲透測(cè)試檢測(cè)條件JCTJ005-2016》(6.2.1、6.2.2)中相關(guān)條款所述的有關(guān)要求。經(jīng)審查通過(guò),獲得《計(jì)算機(jī)信息系統(tǒng)安全專用產(chǎn)品銷售許可證》。 潤(rùn)和軟件企業(yè)級(jí)通用安全操作
2021-05-12 09:15:262387

GAT通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)是什么

GAT通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)適用于軍用及民用電子產(chǎn)品生命周期的器件選型、研發(fā)測(cè)試、DVT (設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試)、可靠性試驗(yàn)、生產(chǎn)過(guò)程控制等關(guān)鍵環(huán)節(jié)。通過(guò)系統(tǒng)平臺(tái)的導(dǎo)入,能夠快速為用戶搭建產(chǎn)品的測(cè)試驗(yàn)證系統(tǒng)
2021-12-20 11:40:101222

印制設(shè)計(jì)通用標(biāo)準(zhǔn)

印制設(shè)計(jì)通用標(biāo)準(zhǔn)免費(fèi)下載。
2022-03-07 16:20:260

提高測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)通用

  面臨資金減少的國(guó)防電子集成商希望測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)可以跨多個(gè)平臺(tái)使用,而不是為每個(gè)武器,無(wú)線電等提供一個(gè)測(cè)試集。這種對(duì)通用性和標(biāo)準(zhǔn)化的推動(dòng)是由當(dāng)今國(guó)防部(DoD)預(yù)算受限的環(huán)境推動(dòng)的。
2022-10-28 10:55:411272

系統(tǒng)級(jí)測(cè)試有什么獨(dú)到之處?

SLT亦稱為功能測(cè)試,是在模擬終端使用場(chǎng)景中對(duì)待測(cè)芯片(DUT)進(jìn)行測(cè)試的一種方法,通過(guò)運(yùn)行操作系統(tǒng)和使用待測(cè)芯片執(zhí)行通用或目標(biāo)應(yīng)用測(cè)試,無(wú)需像傳統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)那樣創(chuàng)建測(cè)試向量。SLT仍需要編寫測(cè)試,但編寫方式不同。
2022-11-03 09:33:386649

Vivado工程升級(jí)及級(jí)信號(hào)調(diào)試方案

本次操作包括:工程的版本遷移,級(jí)測(cè)試時(shí)信號(hào)的抓取。
2023-02-09 09:36:344743

剛性印制通用規(guī)范

要成為PCB設(shè)計(jì)高手,必須掌握PCB工藝及印制通用規(guī)范標(biāo)準(zhǔn),然后在PCB設(shè)計(jì)軟件中做好約束條件,最后做好可測(cè)試及可制造檢查即可!
2023-08-04 16:06:2421

網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

(NetworkAutomationTest)集成專業(yè)的測(cè)試設(shè)備,提供豐富的測(cè)試用例,具備測(cè)試管理功能,支持部件級(jí)系統(tǒng)級(jí)網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)化測(cè)試。該系統(tǒng)具有測(cè)試覆蓋度廣、執(zhí)行效率高、操作簡(jiǎn)單、通用性好等特點(diǎn),可大幅減少人力
2021-07-26 11:21:352252

PCB應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試方案,分應(yīng)力測(cè)試,ICT應(yīng)力測(cè)試,F(xiàn)CT應(yīng)力測(cè)試,裝配應(yīng)力測(cè)試

深圳市品控科技有限公司供應(yīng)阿克蒙德TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀、應(yīng)變片??捎糜诜?b class="flag-6" style="color: red">板\ICT\FCT\BGA等PCBA應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試,PCB通用應(yīng)變測(cè)試儀,電子廠通用測(cè)試儀,應(yīng)變片,擁有多年豐富應(yīng)力測(cè)試經(jīng)驗(yàn)
2022-02-12 15:00:582703

通用測(cè)試系統(tǒng)硬件和軟件架構(gòu)介紹

通用測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu) 通用化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)主要由圖1所示的三個(gè)部分組成: ?主控計(jì)算機(jī)、 其中“主控計(jì)算機(jī)”中的軟件主要包括操作系統(tǒng)、編譯器、測(cè)試執(zhí)行程序(TP)。 ?總線儀器測(cè)控組合、 “總線
2023-10-30 11:06:553966

OTA自動(dòng)化測(cè)試解決方案——實(shí)車級(jí)OTA測(cè)試系統(tǒng)PAVELINK.OTABOX

,并簡(jiǎn)單介紹北匯信息的實(shí)車級(jí)OTA自動(dòng)化測(cè)試解決方案——PAVELINK.OTABOX。實(shí)車級(jí)OTA自動(dòng)化系統(tǒng)目前,OTA自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的落地方式主要包含以下三種:
2024-07-11 08:26:072074

PCBA測(cè)試方法有哪些?

我們經(jīng)常提及到測(cè)試,是硬件產(chǎn)品的測(cè)試,它又分為級(jí)測(cè)試(PCBA),部件測(cè)試,整機(jī)測(cè)試。 PCBA電路是核心組件,一般需要嚴(yán)格的測(cè)試,常見(jiàn)的測(cè)試類型有:ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、老化測(cè)試、自動(dòng)光學(xué)
2024-10-07 16:10:412924

DaVinci系統(tǒng)級(jí)基準(zhǔn)測(cè)試測(cè)量

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《DaVinci系統(tǒng)級(jí)基準(zhǔn)測(cè)試測(cè)量.pdf》資料免費(fèi)下載
2024-10-16 11:32:120

芯片極限能力、封裝成品及系統(tǒng)級(jí)測(cè)試

本文介紹了芯片極限能力、封裝成品及系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。 本文將介紹芯片極限能力、封裝成品及系統(tǒng)級(jí)測(cè)試,分述如下: 極限能力測(cè)試 封裝成品測(cè)試(Final Test, FT) 系統(tǒng)級(jí)測(cè)試(SLT) 1、極限
2024-12-24 11:25:391843

瑞芯微平臺(tái)Android系統(tǒng)串口測(cè)試方法,觸覺(jué)智能RK3562開(kāi)發(fā)演示

瑞芯微方案主板Android系統(tǒng)串口測(cè)試方法,通用RK3568、RK3566、RK3588、RK3576等。觸覺(jué)智能RK3562開(kāi)發(fā)演示
2024-12-24 11:51:331523

基于V25接口的海軍ATE測(cè)試設(shè)備

01項(xiàng)目概述為海軍ATE測(cè)試設(shè)備開(kāi)發(fā)海量互連V25通用測(cè)試接口,提升測(cè)試系統(tǒng)通用性、可移植性和維護(hù)效率。核心思想:從“面向儀器”轉(zhuǎn)向“面向信號(hào)”,通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化信號(hào)鏈路實(shí)現(xiàn)硬件與軟件解耦。02傳統(tǒng)測(cè)試
2025-03-21 16:37:58659

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