，增加成本。 為了縮短測(cè)試時(shí)間，測(cè)試設(shè)備制造商開發(fā)了各種硬件和軟件，它們可以配合使用，實(shí)現(xiàn)眾多功能和復(fù)雜分析的自動(dòng)化。Teledyne LeCroy 的 HDO4104示波器與功率分析儀軟件就是硬件和軟件結(jié)合使用的一個(gè)很好例子。本文將介紹可如
2018-07-11 09:50:27
6874 ，從而能夠在最短的時(shí)間內(nèi)測(cè)試單一被測(cè)單元（UUT）。并行測(cè)試明顯地降低了總測(cè)試次數(shù)，并且提高了儀器利用率（見圖1），但是開發(fā)并行測(cè)試系統(tǒng)的復(fù)雜性是很高的。開發(fā)自己的測(cè)試管理軟件，并且實(shí)現(xiàn)一次對(duì)多個(gè)被測(cè)單元進(jìn)行測(cè)試要求對(duì)并行編程和多線程的深入理解。
2020-07-28 14:44:181306 日前，在SEMICON China 2019展期間，NI重點(diǎn)展示了其在半導(dǎo)體芯片和制造方面的測(cè)試方案，包括電源管理、5G射頻以及量產(chǎn)半導(dǎo)體?測(cè)試系統(tǒng)(STS)，NI工程師向電子發(fā)燒友詳細(xì)介紹了這些測(cè)試領(lǐng)域面臨的挑戰(zhàn)以及NI的解決方案。
2019-03-28 11:00:397494 不止STS（半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)），NI更多半導(dǎo)體測(cè)試方案來襲，附技術(shù)白皮書《5G新空口物理層介紹》
2021-01-18 06:59:56
什么是NI TestStand？概覽NI TestStand是一種隨時(shí)可運(yùn)行的測(cè)試管理軟件，它專為加速開發(fā)您的測(cè)試與驗(yàn)證系統(tǒng)而設(shè)計(jì)。NI TestStand用于測(cè)試序列的開發(fā)、管理和執(zhí)行。這些測(cè)試
2019-05-06 09:26:41
的基準(zhǔn)測(cè)試，它是我們致力于幫助工程師提高效率而開發(fā)產(chǎn)品的一個(gè)例子?！薄 on Bellin NI應(yīng)用程序與系統(tǒng)軟件研發(fā)部副總裁 PCI Express的增強(qiáng)功能 將Windows 7
2019-05-27 07:40:08
系統(tǒng)利用PCI Express提高了數(shù)據(jù)吞吐量，使用LabVIEW、多核處理器和FPGA增強(qiáng)了處理能力，最后利用NI TestStand軟件降低了每個(gè)待測(cè)單元的總體測(cè)試時(shí)間和費(fèi)用。轉(zhuǎn)載
2014-12-12 16:02:30
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一，因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么，有沒有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
電阻率是決定半導(dǎo)體材料電學(xué)特性的重要參數(shù)，為了表征工藝質(zhì)量以及材料的摻雜情況，需要測(cè)試材料的電阻率。半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試方法有很多種，其中四探針法具有設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、測(cè)量精度高以及對(duì)樣品形狀
2021-01-13 07:20:44
解決客戶實(shí)際使用痛點(diǎn)，開發(fā)難點(diǎn)，節(jié)約生產(chǎn)成本提高工作效率，助力行業(yè)發(fā)展。
四、半導(dǎo)體分立器件綜合測(cè)試系統(tǒng)BW-4022A應(yīng)用領(lǐng)域
**芯片制造領(lǐng)域**
1.**晶圓測(cè)試（CP 測(cè)試
2025-10-10 10:35:17
的設(shè)計(jì)目的在于解決四個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域的問題：簡(jiǎn)化與加速復(fù)雜序列的開發(fā)、提高代碼與測(cè)試程序的復(fù)用性和可維護(hù)性以及改進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)的執(zhí)行性能。這使得NI TestStand在多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域中被采用，包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品
2019-04-15 09:40:01
FS-Pro系列是業(yè)界唯一的人工智能驅(qū)動(dòng)的一體化半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，單臺(tái)設(shè)備具備IV， CV 與 1/f noise 測(cè)試能力，內(nèi)建的AI算法加速技術(shù)全面提升測(cè)試效率。業(yè)界低頻噪聲測(cè)試黃金系統(tǒng)
2020-07-01 10:02:55
等標(biāo)準(zhǔn)將繼續(xù)增加無線設(shè)備的復(fù)雜性。使用NI PXIe、STS、VTS等NI的軟硬件系統(tǒng)完成的測(cè)試方案有哪幾種呢？
2019-02-13 14:09:43
公司開發(fā)的高精度源測(cè)量單元 （SMU）為核心測(cè)試設(shè)備，配備使用簡(jiǎn)便靈活，功能 豐富的CycleStar測(cè)試軟件，及精準(zhǔn)穩(wěn)定的探針臺(tái)，為客戶提供了可靠易用的解決方案，極大的提高了用戶 的工作效率。吉時(shí)利
2019-10-08 15:41:37
生產(chǎn)力下降、長(zhǎng)時(shí)間軟件維護(hù)帶來的資源 緊缺。相反，如果使用市場(chǎng)上現(xiàn)成可用的測(cè)試管理軟件，如NI TestStand，將讓您減少設(shè)備常見功能的開發(fā)，使您專注于每個(gè)設(shè)備不同操作的測(cè)試代碼，從而最大限度地提高
2019-04-08 09:42:12
HIL測(cè)試控制面板 用戶可以使用現(xiàn)有的方法和臺(tái)架測(cè)試模式著重驗(yàn)證所有ECU的軟件和硬件功能。使用和配置非常方便，用戶可以直接進(jìn)行系統(tǒng)重新配置而不需要請(qǐng)求客戶支持。NI PXI平臺(tái)適合與第三方的定制開發(fā)
2019-04-08 09:40:07
絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)軟件功能絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)由防爆一體機(jī)、HP3530絕緣電阻測(cè)試儀、待測(cè)絕緣電阻及腳踏開關(guān)組成。絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)由用戶管理、系統(tǒng)登錄、儀器連接、功能選擇及測(cè)試、歷史數(shù)據(jù)查詢、數(shù)據(jù)導(dǎo)出
2021-05-20 09:40:53
怎么可以創(chuàng)建出高性能的測(cè)試系統(tǒng)？如何利用NI LabVIEW技術(shù)提高測(cè)試系統(tǒng)的吞吐量？如何利用NI LabVIEW技術(shù)實(shí)現(xiàn)并行化處理和并行化測(cè)試？
2021-04-15 07:00:28
引信軟件安全性測(cè)試系統(tǒng)有什么特點(diǎn)？怎樣利用虛擬儀器技術(shù)去開發(fā)引信軟件安全性測(cè)試系統(tǒng)？
2021-04-09 07:01:56
系統(tǒng)等各種設(shè)備和系統(tǒng)。STM32系列微控制器的制造商意法半導(dǎo)體是世界領(lǐng)先的32位Arm?Cortex?-M-core 微控制器廠商。為加快和促進(jìn)開發(fā)社區(qū)的應(yīng)用開發(fā)，意法半導(dǎo)體建立了一個(gè)強(qiáng)大的軟硬件開發(fā)生態(tài)系統(tǒng)
2018-07-13 15:52:39
提升了測(cè)試覆蓋率。NI 射頻芯片測(cè)試方案配置NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS）芯片量產(chǎn)測(cè)試解決方案可基于NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），STS在完全封閉的測(cè)試頭里面繼承了NI PXI平臺(tái)、TestStand測(cè)試管理軟件
2018-07-11 11:00:40
`一、系統(tǒng)背景測(cè)試半導(dǎo)體材料的霍爾效應(yīng)是表征和分析半導(dǎo)體材料的重要手段。我們可以根據(jù)霍爾系數(shù)的符號(hào)來判斷半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電類型，是N型還是P型；霍爾效應(yīng)從本質(zhì)上講是運(yùn)動(dòng)的帶電粒子在磁場(chǎng)中受洛侖茲力作
2020-06-08 17:04:49
對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有何要求？對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試有哪幾種方式？如何對(duì)數(shù)字輸出執(zhí)行VOH、VOL和IOS測(cè)試？
2021-07-30 06:27:39
迭代更新速度日新月異，如何更靈活并高效地獲得產(chǎn)品創(chuàng)新支持？......國家儀器 （NI）旨在幫助全球的工程師借用PXI來加快測(cè)試執(zhí)行時(shí)間、提高軟件開發(fā)效率，提高處理能力并增強(qiáng)可擴(kuò)展性，從而極大地縮減總
2017-05-03 09:45:38
，以確保他們?cè)?b class="flag-6" style="color: red">軟件方面的投入能 夠被延續(xù)下去，提高軟件資源的重用率。事實(shí)上，2010年NI進(jìn)行的測(cè)試經(jīng)理人調(diào)查報(bào)告顯示，測(cè)試經(jīng)理們對(duì)系統(tǒng)軟件方面投入更多的關(guān)注，其重要性在2011年提高測(cè)試開發(fā)效率的策略中排名第二。
2019-07-22 07:58:31
挑戰(zhàn)，并提高產(chǎn)品開發(fā)周期的速度和效率。NI在2022年的收入為16.6億美元，在40多個(gè)國家開展業(yè)務(wù)，為半導(dǎo)體和電子、運(yùn)輸、航空航天和國防市場(chǎng)的約35,000名客戶提供服務(wù)。艾默生總裁兼首席執(zhí)行官Lal
2023-04-13 15:25:44
聯(lián)合儀器MEMS測(cè)試系統(tǒng)UI320A采用測(cè)試機(jī)加轉(zhuǎn)臺(tái)的構(gòu)架，是對(duì)MEMS陀螺儀和加速度計(jì)的測(cè)試平臺(tái)?？蓪?duì)MEMS傳感器芯片進(jìn)行測(cè)試，支持I2C/SPI的通訊方式，提供免費(fèi)的開源軟件底層API基于C開發(fā)，支持VC,VC++，labview等。
2021-12-01 11:34:09
半導(dǎo)體存儲(chǔ)器測(cè)試原理,半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的性能測(cè)試,集成電路測(cè)試系統(tǒng).
2008-08-17 22:36:43
169 基于NI的軟硬件開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試平臺(tái)
挑戰(zhàn):為我們的客戶，即主要的汽車生產(chǎn)商，設(shè)計(jì)、開發(fā)并實(shí)現(xiàn)一套標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試平臺(tái)，用于汽車消費(fèi)電子和控制系統(tǒng)的生
2010-03-26 17:21:4620 基于NI PXI平臺(tái)的汽車電子測(cè)試系統(tǒng)
本系統(tǒng)采用NI PXI 硬件平臺(tái)，使用LABVIEW，NI SWITCH EXECUITEIVE，CVI等軟件編寫程序實(shí)現(xiàn)了這一系統(tǒng)。使用了以下NI的硬件和軟件產(chǎn)
2010-03-26 17:23:2829 半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)產(chǎn)品介紹 產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu)，由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能 夠通過
2024-05-20 17:10:12
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)&能測(cè) IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V
2024-07-30 08:56:15
半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)&能測(cè) IGBT. Mosfet. Diode. BJT......半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V
2024-07-30 09:01:22
測(cè)試的多年經(jīng)驗(yàn)，以及眾多國內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，完全自主開發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“晶體管直流參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能
2024-09-09 13:46:47
NI 全新交互式測(cè)量軟件SignalExpress 使設(shè)計(jì)與測(cè)試走向融合
該軟件擴(kuò)展了虛擬儀器技術(shù)，增強(qiáng)了工作臺(tái)上的測(cè)量功能2004 年10 月--美國國
2009-06-12 10:55:48971 NI推出最新高性能軟件和硬件組件，構(gòu)建完整的測(cè)試系統(tǒng)
美國國家儀器有限公司（NI）近日宣布在NI AudioMASTER套件上推出其最新的高性能軟件和硬件組件。該模擬和數(shù)字
2010-01-13 08:32:08936 半導(dǎo)體功能測(cè)試包含一些新的術(shù)語，這里先簡(jiǎn)單介紹一下：
· Output Mask
2010-11-29 11:32:003551 測(cè)試程序軟件開發(fā)平臺(tái)的實(shí)現(xiàn)討論了測(cè)試程序軟件設(shè)計(jì)平臺(tái)的基本功能、組成和軟件結(jié)構(gòu),并介紹了與測(cè)試系統(tǒng)和UUT有關(guān)的各控制模型或數(shù)據(jù)庫的功能。在該平臺(tái)基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)TPS可以顯著減
2012-01-09 16:59:5041 吉時(shí)利儀器公司不斷增強(qiáng)半導(dǎo)體行業(yè)性價(jià)比最高的高速生產(chǎn)參數(shù)測(cè)試方案——S530參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的功能。由于有吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境軟件（KTE V5.4）的支持，S530目前配置為48引腳全Kelvin開關(guān)以
2012-03-30 11:05:191177 NI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）憑借其快速自動(dòng)化測(cè)量、功能強(qiáng)大的儀器結(jié)構(gòu)和經(jīng)簡(jiǎn)化的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)過程，可降低測(cè)試成本。還集成了高級(jí)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量功能，形成基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)
2012-12-04 13:47:131748 本文介紹使用NI的BMS HIL系統(tǒng)來測(cè)試用于電動(dòng)或混合動(dòng)力汽車的高壓電池，以評(píng)估BMS的控制邏輯和故障診斷功能。通過Simulink創(chuàng)建一個(gè)電池模型，然后利用LabVIEW仿真接口工具包將電池模型應(yīng)用到開發(fā)平臺(tái)。同時(shí)，我們也使用NI PXI系統(tǒng)，以確保系統(tǒng)高效及可靠的運(yùn)行。
2013-09-05 16:20:088256 
隨著現(xiàn)代軟件開發(fā)中UML建模T具的廣泛應(yīng)用，如何對(duì)基于UML建模的開發(fā)模型進(jìn)行測(cè)試，成為提高軟件開發(fā)質(zhì)量的關(guān)鍵。而當(dāng)前針對(duì)軟件測(cè)試的方案中包括V、W、H3種測(cè)試模型。其中V型模型測(cè)試主要進(jìn)行單元測(cè)試
2017-11-16 11:45:209 從供應(yīng)商定義功能的傳統(tǒng)儀器轉(zhuǎn)向NI提供的軟件定義的系統(tǒng)架構(gòu)，允許用戶定義的實(shí)時(shí)測(cè)試與分析。您甚至可以通過對(duì)一個(gè)板載的FPGA芯片進(jìn)行編程部署算法來擴(kuò)展系統(tǒng)的靈活性，并提供儀器的性能。使用軟件定義
2017-11-18 02:13:014373 
使用MES提高生產(chǎn)力已經(jīng)成為半導(dǎo)體測(cè)試廠商的常見手段，而客戶對(duì)FT測(cè)試流程及測(cè)試步驟的多樣化需求要求MES軟件必須具有靈活定制測(cè)試流程的功能，并在必要時(shí)能夠由開發(fā)人員在MES軟件中快速擴(kuò)展出新種類
2017-12-05 14:06:043 了NIPXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機(jī)電（MEMS）系統(tǒng)設(shè)備以及混合信號(hào)IC的制造商從傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)的封閉式架構(gòu)中解放出來。 傳統(tǒng)ATE的測(cè)試覆蓋率通常無法滿足最新半導(dǎo)體設(shè)備的要求。通過將半導(dǎo)體行業(yè)成熟的數(shù)字測(cè)試
2018-01-20 03:32:11579 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，N(美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)今日宣布為半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)增加了全新
2018-07-11 10:13:001430 近日，基于美國國家儀器 (National Instruments，以下簡(jiǎn)稱“NI”) 的PXI源測(cè)量單元 (SMU)，專注利用人工智能驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體測(cè)試測(cè)量的北京博達(dá)微科技有限公司 (簡(jiǎn)稱“博達(dá)微
2018-01-24 14:27:406506 
的交互式體驗(yàn)，可讓用戶在測(cè)試時(shí)更直觀地進(jìn)行調(diào)試。 航空航天、汽車和半導(dǎo)體行業(yè)的工程師將受益于這一更高效的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)流程。
2018-06-01 08:06:002172 觀看來自ST Errison的Sylvain Bertrand談?wù)撍麄內(nèi)绾卧贜ova THOR平臺(tái)上使用NI RF產(chǎn)品測(cè)試多種無線數(shù)據(jù)協(xié)議。 使用NI PXIe-5665可使測(cè)試速度提高10倍。
2018-06-25 01:48:004130 NI半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)創(chuàng)新論壇，關(guān)注探討如何在實(shí)驗(yàn)室V&V驗(yàn)證、晶圓及封裝測(cè)試中進(jìn)一步降低成本、提高上市時(shí)間，針對(duì)RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片，探討如何通過PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)的測(cè)試成本、以及提高測(cè)試效率等。
2018-08-22 11:29:394589 針對(duì)于RFIC、ADC等混合信號(hào)芯片探討如何通過PXI平臺(tái)化方法降低從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試成本、提高測(cè)試效率等，NI與合作伙伴，華興源創(chuàng)，全球儀器，博達(dá)微科技共同邀請(qǐng)您參與此次研討會(huì)，共建良好半導(dǎo)體測(cè)試生態(tài)體系。
2018-08-26 09:14:006249 芯片量產(chǎn)測(cè)試解決方案可基于NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），STS在完全封閉的測(cè)試頭里面繼承了NI PXI平臺(tái)、TestStand測(cè)試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具。它采用“集成到測(cè)試頭
2018-09-28 09:30:0014175 許多半導(dǎo)體的檢驗(yàn)與特性實(shí)驗(yàn)室．都依賴機(jī)架堆疊儀器搭配大量的手動(dòng)測(cè)試程序，而生產(chǎn)測(cè)試單位則使用完整、高效能的昂貴自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 ATE 來完成。
2018-11-30 15:55:325575 據(jù)NI現(xiàn)場(chǎng)工程師介紹，在這套測(cè)試系統(tǒng)中匯聚了NI與其合作伙伴的領(lǐng)先技術(shù)：如Innosimulation的駕駛模擬器、Konrad基于NI VRTS提供的雷達(dá)測(cè)試方案，以及NI的GNSS模擬，數(shù)據(jù)記錄
2018-12-20 11:00:255685 作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個(gè)環(huán)節(jié)，半導(dǎo)體測(cè)試一直以來備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升，測(cè)試和驗(yàn)證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:5916340 半導(dǎo)體測(cè)試解決方案專業(yè)品牌蔚華科技今日宣布與美商NI（National Instruments 國家儀器）合作，未來將負(fù)責(zé)NI大中華區(qū)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS， Semiconductor
2019-05-22 09:32:301584 NIWeek - NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱 NI) 是一家以軟件為中心的平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶加速自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)和性能，該公司宣布
2019-05-27 16:54:516620 NI作為一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶加速自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)及性能，近日宣布推出最新版 SystemLink 軟件。
2019-06-24 16:33:383262 
NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱 NI) ,是一家以軟件為中心的平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶加速自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)，并提高其性能，該公司近日宣布推出毫米波矢量信號(hào)收發(fā)儀（VST），以解決5G 毫米波 RFIC收發(fā)儀和功率放大器帶來的測(cè)試挑戰(zhàn)。
2019-06-24 16:55:493726 NI車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng) （VRTS） 為76至81 GHz的汽車?yán)走_(dá)系統(tǒng)提供了自動(dòng)化雷達(dá)測(cè)量和障礙物模擬功能。工程師可利用VRTS來測(cè)試汽車硬件及軟件子系統(tǒng)，包括雷達(dá)傳感器、ADAS子系統(tǒng)和嵌入式軟件。
2019-07-24 11:58:283441 “NI是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)（VRTS）。
2019-11-20 16:56:174631 NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)(VRTS)。
2019-11-21 11:46:453658 本設(shè)計(jì)使用NI PCI-6220多功能數(shù)據(jù)采集卡和LabVIEW 7.1開發(fā)軟件，根據(jù)德國大眾的ABS傳感器功能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，開發(fā)出了滿足要求的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)速度快、運(yùn)行可靠，能實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、分析及存儲(chǔ)，并已經(jīng)在生產(chǎn)線上投入使用。
2020-04-18 09:49:114718 
作為致力于開發(fā)標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體自動(dòng)化驗(yàn)證、測(cè)試軟件平臺(tái)的創(chuàng)新者，孤波將與NI共同推進(jìn)測(cè)試測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化流程在各行各業(yè)行業(yè)的落地。
2020-05-28 15:23:401869 ●全面的RF、數(shù)字和直流儀器產(chǎn)品組合—您可以自定義新的STS配置并升級(jí)現(xiàn)有測(cè)試儀，以納入您需要的儀器資源，同時(shí)保持測(cè)試程序和負(fù)載板的可移植性。
2020-07-27 16:05:461668 NI于2014年推出的NI STS，基于實(shí)驗(yàn)室儀表級(jí)別精度的模塊化儀器，同時(shí)滿足測(cè)試精度和量產(chǎn)測(cè)試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺(tái)，因此，NI STS可以不斷擴(kuò)展以滿足日益增多以及定制化的測(cè)試需求。
2020-08-05 15:52:472898 
Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用，強(qiáng)大的FPGA功能大大提高了測(cè)試吞吐量，使新的測(cè)試成為可能，從而增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)，現(xiàn)成可用的商業(yè)硬件平臺(tái)以及LabVIEW為FPGA編程帶來的簡(jiǎn)化，也大大降低了系統(tǒng)開發(fā)難度和成本。
2020-08-18 09:35:394391 
吉時(shí)利8010型大功率器件測(cè)試夾具與2651A以及2657A型大功率系統(tǒng)數(shù)字源表一起完善了功率半導(dǎo)體器件測(cè)試解決方案。圖1給出源測(cè)量單元（SMU）儀器與8010型夾具的連接圖。在8010型互連參考指南（IRG）中給出詳細(xì)的器件測(cè)試配置實(shí)例。
2020-08-21 13:49:313468 
半導(dǎo)體封測(cè)解決方案專業(yè)品牌蔚華科技與合作伙伴NI共同宣布成功為安科諾（arQana）打造完整射頻測(cè)試解決方案，從實(shí)驗(yàn)室開發(fā)至量產(chǎn)導(dǎo)入皆采用NI 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)（STS），在航空與國防芯片的高標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
2020-10-20 15:33:372237 半導(dǎo)體測(cè)試貫穿設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程的核心環(huán)節(jié)。半導(dǎo)體測(cè)試就是通過測(cè)量半導(dǎo)體的輸出響應(yīng)和預(yù)期輸出并進(jìn)行比較以確定或評(píng)估集成電路功能和性能的過程，其測(cè)試內(nèi)容主要為電學(xué)參數(shù)測(cè)試。一般來說，每個(gè)芯片都要經(jīng)過兩類
2020-10-30 04:08:071859 一般來說，半導(dǎo)體封裝及測(cè)試是半導(dǎo)體制造流程中極其重要的收尾工作。半導(dǎo)體封裝是利用薄膜細(xì)微加工等技術(shù)將芯片在基板上布局、固定及連接，并用可塑性絕緣介質(zhì)灌封后形成電子產(chǎn)品的過程，目的是保護(hù)芯片免受
2020-12-09 16:24:5936366 （Loadboard），季豐電子保持一貫的作風(fēng)：一次設(shè)計(jì)生產(chǎn)成功，滿足客戶測(cè)試指標(biāo)要求并準(zhǔn)時(shí)交貨。其他客戶的STS專板也正在設(shè)計(jì)中，將于近期交付。 NI STS是一款直接可用于量產(chǎn)環(huán)境的ATE，具有高吞吐量、低成本等優(yōu)勢(shì)，適用于RF、混合信號(hào)和MEMS半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測(cè)試。STS可直
2020-12-15 17:29:232372 如今，半導(dǎo)體企業(yè)愈發(fā)關(guān)注產(chǎn)品上市前的測(cè)試環(huán)節(jié)。NI采用顛覆性的半導(dǎo)體測(cè)試方案，助力企業(yè)降低測(cè)試成本以及加速產(chǎn)品上市，這就是我們常說的“一個(gè)平臺(tái)”戰(zhàn)略，從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試，只需一個(gè)平臺(tái)。安森美、英飛凌
2021-01-04 09:17:292710 
半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf(匯編語言嵌入式開發(fā))-半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及其測(cè)試.pdf
2021-07-30 09:39:3073 近日，NI在時(shí)隔兩年再次回歸線下的全球用戶大會(huì)上發(fā)布最新的電池測(cè)試系統(tǒng)（BTS），用于電動(dòng)汽車（EV）測(cè)試。通過在整個(gè)電池測(cè)試工作流程中增強(qiáng)定制化、自動(dòng)化和數(shù)據(jù)連接，確保產(chǎn)品性能并加速上市時(shí)間，從而幫助一級(jí)供應(yīng)商和汽車制造商應(yīng)對(duì)電動(dòng)汽車電池測(cè)試要求的復(fù)雜度和規(guī)模。
2022-06-16 11:16:502189 什么是功能測(cè)試？ 進(jìn)行功能測(cè)試以確保應(yīng)用程序的功能符合需求規(guī)范。這是黑盒測(cè)試，不涉及應(yīng)用程序源代碼的詳細(xì)信息。在執(zhí)行功能測(cè)試時(shí)，重點(diǎn)應(yīng)放在應(yīng)用程序主要功能的用戶友好性上。要首先執(zhí)行功能測(cè)試，我們需要
2023-01-03 17:07:352465 的，是利用測(cè)試設(shè)備執(zhí)行設(shè)定好的測(cè)試工作，然后對(duì)得到的各項(xiàng)參數(shù)值進(jìn)行判斷是否符合設(shè)計(jì)時(shí)的規(guī)范，而這些參數(shù)值會(huì)記錄在規(guī)格表(Device Specifications)中。 半導(dǎo)體檢測(cè)的測(cè)試系統(tǒng)稱為ATE，由電子電路和機(jī)械硬件組成，是由同一個(gè)主控制器指揮下的電源、計(jì)量?jī)x器、信號(hào)發(fā)生器、模式的合體，用于模仿被測(cè)
2023-03-07 11:16:111793 
NI宣布收購 SET GmbH(簡(jiǎn)稱“SET”)。SET是長(zhǎng)期專注于航空航天和國防測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)的專家，也是功率半導(dǎo)體可靠性測(cè)試領(lǐng)域的創(chuàng)新者。加入NI后，將共同縮短關(guān)鍵的、高度差異化的解決方案的上市時(shí)間，并以碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等功率電子材料為切入點(diǎn)，加速從半導(dǎo)體到汽車的供應(yīng)鏈融合。
2023-03-15 17:42:562174 為什么要進(jìn)行半導(dǎo)體芯片測(cè)試?芯片測(cè)試的目的是在找出沒問題的芯片的同時(shí)盡量節(jié)約成本。芯片復(fù)雜度越來越高,為了保證出廠的芯片質(zhì)量不出任何問題,需要在出廠前進(jìn)行測(cè)試以確保功能完整性等。而芯片作為一個(gè)大
2022-12-29 16:33:294586 
測(cè)試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動(dòng)化測(cè)試。
2023-06-20 16:55:172399 
在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測(cè)試不改變故障的物理特性，但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:184934 
芯片測(cè)試大講堂系列 又和大家見面了 本期我們來聊聊 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試 內(nèi)容涉及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試原理， 參數(shù)測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)與實(shí)測(cè)避坑指南。 前言 ● 半導(dǎo)體元器件是構(gòu)成現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的基礎(chǔ)，其性能
2023-09-13 07:45:025532 
半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試，目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能，主要是測(cè)試半導(dǎo)體器件在工作過程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測(cè)試工程師提供整體解決方案，此系統(tǒng)可程控，可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試，移動(dòng)端也可實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:301926 半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在交流條件下對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試，是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有開關(guān)時(shí)間、開關(guān)損耗、反向恢復(fù)電流、開關(guān)電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:381135 
芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng)，今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。
2023-10-16 15:49:321515 
電源功能測(cè)試是評(píng)估電源質(zhì)量好壞、性能、響應(yīng)等的重要測(cè)試方法，也是電源的常規(guī)測(cè)試內(nèi)容，包含電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、紋波測(cè)試等。納米軟件專注于儀器測(cè)試軟件的開發(fā)，針對(duì)電源模塊測(cè)試提供軟硬件解決方案。對(duì)于
2023-11-03 15:50:225380 聯(lián)訊儀器WAT 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)基于自主研發(fā)pA/亞pA高精度源表，半導(dǎo)體矩陣開關(guān)，高電壓半導(dǎo)體脈沖源，3500V高壓源表等基礎(chǔ)儀表，掌握核心技術(shù)，通過優(yōu)化整機(jī)軟硬件設(shè)計(jì)，進(jìn)一步提高系統(tǒng)精度，提升
2023-11-06 16:27:573508 
半導(dǎo)體如今在集成電路、通信系統(tǒng)、照明等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用，是一種非常重要的材料。在半導(dǎo)體行業(yè)中，半導(dǎo)體測(cè)試是特別關(guān)鍵的環(huán)節(jié)，以保證半導(dǎo)體器件及產(chǎn)品符合規(guī)定和設(shè)計(jì)要求，確保其質(zhì)量和性能。
2023-11-07 16:31:171468 
什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)，如何測(cè)試其特性？ 半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試制造出來的半導(dǎo)體器件的一種設(shè)備。它可以通過一系列測(cè)試和分析來確定半導(dǎo)體器件的性能和功能是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。 半導(dǎo)體器件是現(xiàn)代
2023-11-09 09:36:441403 軟件功能測(cè)試根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案，測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計(jì)需求。本地化軟件的功能測(cè)試，用于驗(yàn)證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對(duì)目標(biāo)用戶能正確工作。使用適當(dāng)?shù)钠脚_(tái)、瀏覽器和測(cè)試腳本，以保證目標(biāo)用戶的體驗(yàn)將足夠好。
2023-12-22 11:23:131682 成都某半導(dǎo)體芯片公司是一家專注于開發(fā)設(shè)計(jì)半導(dǎo)體電源芯片的高新技術(shù)企業(yè)，目前企業(yè)對(duì)于電源管理芯片研發(fā)階段的測(cè)試，絕大部分采用人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，耗時(shí)長(zhǎng)，數(shù)據(jù)管理儲(chǔ)存難度大，無法快速地完成
2023-12-25 16:42:041424 
來源：半導(dǎo)體芯科技 SiSC編譯 通過現(xiàn)有的AMARI Callbox，Amarisoft客戶可以訪問Advantest（愛德萬）測(cè)試軟件的增強(qiáng)用戶界面（UI），旨在最大限度地提高易用性，以及通過
2024-01-04 17:34:301075 因素造成的損傷，增強(qiáng)芯片的散熱性能，實(shí)現(xiàn)電氣連接，確保電路正常工作。測(cè)試主要是對(duì)芯片產(chǎn)品的功能、性能測(cè)試等，將功能、性能不符合要求的產(chǎn)品選出來。隨著數(shù)字化時(shí)代的發(fā)展，采用全面的信息化管理系統(tǒng)在半導(dǎo)體封測(cè)過程
2024-04-19 17:34:531178 
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)產(chǎn)品介紹 HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測(cè)試的多年經(jīng)驗(yàn)，以及眾多國內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，自主開發(fā)
2024-05-21 10:37:570 半導(dǎo)體推拉力測(cè)試儀是一款精密的自動(dòng)測(cè)試儀器，專為半導(dǎo)體和電子制造業(yè)的拉力和剪切力而設(shè)計(jì)，它將成熟可靠的技術(shù)與自主研發(fā)軟件的自動(dòng)化PR系統(tǒng)相結(jié)合。該測(cè)試機(jī)配備了專用軟件，功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)單，與工廠
2024-06-03 17:28:20918 
關(guān)于NI NI 是自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者，可以幫助工程師解決全球頂尖難題。NI 提供模塊化硬件、軟件、服務(wù)和系統(tǒng)，幫助您加快測(cè)試速度，改善設(shè)計(jì)質(zhì)量，提高可靠性，同時(shí)充分利用測(cè)試數(shù)據(jù)。NI
2024-08-19 10:34:421642
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