91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

亞穩(wěn)態(tài)與設計可靠性

FPGA之家 ? 來源:FPGA之家 ? 作者:FPGA之家 ? 2021-03-09 10:49 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

亞穩(wěn)態(tài)是我們在設計經(jīng)常遇到的問題。這個錯誤我在很多設計中都看到過。有人可能覺得不以為然,其實你現(xiàn)在沒有遇到問題只能說明:

1.你的發(fā)貨量還沒到一定的量級。

2.你很幸運。

當問題一旦發(fā)生的時候,亞穩(wěn)態(tài)的問題是非常難以定量的分析的,甚至復現(xiàn)也是非常困難的。為了不讓這樣的“玄學”問題困擾我們,我們在設計調(diào)試的時候,首先要把這類問題規(guī)避,才有助于我們撥開迷霧,找到問題的原因。設計的檢視也非常重要,不能說功能測試通過了,小批量發(fā)貨沒有問題產(chǎn)品就沒有潛在的隱患。

亞穩(wěn)態(tài)與設計可靠性

設計數(shù)字電路時大家都知道同步是非常重要的,特別當要輸入一個信號到一個同步電路中,但是該信號由另一個時鐘驅動時,這是要在接口處采取一些措施,使輸入的異步信號同步化,否則電路將無法正常工作,因為輸入端很可能出現(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)(Metastability),導致采樣錯誤。這里我們對亞穩(wěn)態(tài)的起因、危害、對可靠性的影響和消除仿真做一些介紹。

1.亞穩(wěn)態(tài)發(fā)生的原因

在同步系統(tǒng)中,如果觸發(fā)器的setup time / hold time不滿足,就可能產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài),此時觸發(fā)器輸出端Q在有效時鐘沿之后比較長的一段時間處于不確定的狀態(tài),在這段時間里Q端毛刺、振蕩、固定的某一電壓值,而不是等于數(shù)據(jù)輸入端D的值。這段之間成為決斷時間(resolution time)。經(jīng)過resolution time之后Q端將穩(wěn)定到0或1上,但是究竟是0還是1,這是隨機的,與輸入沒有必然的關系。

2.亞穩(wěn)態(tài)的危害

由于輸出在穩(wěn)定下來之前可能是毛刺、振蕩、固定的某一電壓值,因此亞穩(wěn)態(tài)除了導致邏輯誤判之外,輸出0~1之間的中間電壓值還會使下一級產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)(即導致亞穩(wěn)態(tài)的傳播)。
邏輯誤判有可能通過電路的特殊設計減輕危害(如異步FIFO中Gray碼計數(shù)器的作用),而亞穩(wěn)態(tài)的傳播則擴大了故障面,難以處理。

3.亞穩(wěn)態(tài)的解決辦法

只要系統(tǒng)中有異步元件,亞穩(wěn)態(tài)就是無法避免的,因此設計的電路首先要減少亞穩(wěn)態(tài)導致錯誤的發(fā)生,其次要使系統(tǒng)對產(chǎn)生的錯誤不敏感。前者要靠同步來實現(xiàn),而后者根據(jù)不同的設計應用有不同的處理辦法。用同步來減少亞穩(wěn)態(tài)發(fā)生機會的典型電路如圖1所示。

0a1f1254-7c39-11eb-8b86-12bb97331649.png

在圖1中,左邊為異步輸入端,經(jīng)過兩級觸發(fā)器同步,在右邊的輸出將是同步的,而且該輸出基本不存在亞穩(wěn)態(tài)。其原理是即使第一個觸發(fā)器的輸出端存在亞穩(wěn)態(tài),經(jīng)過一個CLK周期后,第二個觸發(fā)器D端的電平仍未穩(wěn)定的概率非常小,因此第二個觸發(fā)器Q端基本不會產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)。注意,這里說的是“基本”,也就是無法“根除”,那么如果第二個觸發(fā)器Q出現(xiàn)了亞穩(wěn)態(tài)會有什么后果呢?后果的嚴重程度是由你的設計決定的,如果系統(tǒng)對產(chǎn)生的錯誤不敏感,那么系統(tǒng)可能正常工作,或者經(jīng)過短暫的異常之后可以恢復正常工作,例如設計異步FIFO時使用格雷碼計數(shù)器當讀寫地址的指針就是處于這方面的考慮。如果設計上沒有考慮如何降低系統(tǒng)對亞穩(wěn)態(tài)的敏感程度,那么一旦出現(xiàn)亞穩(wěn)態(tài),系統(tǒng)可能就崩潰了。

4.亞穩(wěn)態(tài)與系統(tǒng)可靠性
使用同步電路以后,亞穩(wěn)態(tài)仍然有發(fā)生的可能,與此相連的是MTBF(Mean Time Between Failure),亞穩(wěn)態(tài)的發(fā)生概率與時鐘頻率無關,但是MTBF與時鐘有密切關系。有文章提供了一個例子,某一系統(tǒng)在20MHz時鐘下工作時,MTBF約為50年,但是時鐘頻率提高到40MHz時,MTBF只有1分鐘!可見降低時鐘頻率可以大大減小亞穩(wěn)態(tài)導致系統(tǒng)錯誤的出現(xiàn),其原因在于,提供較長的resolution time可減小亞穩(wěn)態(tài)傳遞到下一級的機會,提高系統(tǒng)的MTBF,如圖2所示。

5.總結
亞穩(wěn)態(tài)與設計可靠性有非常密切的關系,當前對很多設計來說,實現(xiàn)需要的功能并不困難,難的是提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性,較小亞穩(wěn)態(tài)發(fā)生的概率,并降低系統(tǒng)對亞穩(wěn)態(tài)錯誤的敏感程度可以提高系統(tǒng)的可靠性。

責任編輯:lq

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 數(shù)字電路

    關注

    193

    文章

    1651

    瀏覽量

    83344
  • 觸發(fā)器
    +關注

    關注

    14

    文章

    2056

    瀏覽量

    63405
  • 異步信號
    +關注

    關注

    0

    文章

    9

    瀏覽量

    7184

原文標題:亞穩(wěn)態(tài)的傳播

文章出處:【微信號:zhuyandz,微信公眾號:FPGA之家】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    什么是高可靠性?

    一、什么是可靠性可靠性指的是“可信賴的”、“可信任的”,是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時間內(nèi),完成規(guī)定功能的能力。對于終端產(chǎn)品而言,可靠度越高,使用保障就越高。 PCB可靠性是指
    發(fā)表于 01-29 14:49

    芯片可靠性(RE)性能測試與失效機理分析

    2025年9月,國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布了六項半導體可靠性測試國家標準,為中國芯片產(chǎn)業(yè)的質(zhì)量基石奠定了技術規(guī)范。在全球芯片競爭進入白熱化的今天,可靠性已成為衡量半導體產(chǎn)品核心價值的關鍵指標。01芯片
    的頭像 發(fā)表于 01-09 10:02 ?783次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>(RE)性能測試與失效機理分析

    如何測試單片機MCU系統(tǒng)的可靠性

    用什么方法來測試單片機系統(tǒng)的可靠性,當一個單片機系統(tǒng)設計完成,對于不同的單片機系統(tǒng)產(chǎn)品會有不同的測試項目和方法,但是有一些是必須測試的。 下面分享我的一些經(jīng)驗: 1、測試單片機軟件功能的完善
    發(fā)表于 01-08 07:50

    可靠性設計的十個重點

    專注于光電半導體芯片與器件可靠性領域的科研檢測機構,能夠對LED、激光器、功率器件等關鍵部件進行嚴格的檢測,致力于為客戶提供高質(zhì)量的測試服務,為光電產(chǎn)品在各種高可靠性場景中的穩(wěn)定應用提供堅實的質(zhì)量
    的頭像 發(fā)表于 08-01 22:55 ?1055次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>設計的十個重點

    太誘MLCC電容的可靠性如何?

    眾所周知,多層陶瓷電容器(MLCC)已成為消費電子、汽車電子、工業(yè)控制等領域的核心被動元件。太陽誘電(太誘)通過材料創(chuàng)新、工藝優(yōu)化與嚴苛測試體系,構建了MLCC電容的可靠性護城河,其產(chǎn)品失效率長期
    的頭像 發(fā)表于 07-09 15:35 ?866次閱讀

    關于LED燈具的9種可靠性測試方案

    LED燈具的可靠性試驗,與傳統(tǒng)燈具有顯著區(qū)別。作為新一代光源,LED燈具正在逐漸取代傳統(tǒng)節(jié)能燈的市場,因此無法簡單地沿用傳統(tǒng)燈具的測試方法。那么,LED燈具需要進行哪些可靠性試驗呢?標準名稱:LED
    的頭像 發(fā)表于 06-18 14:48 ?1074次閱讀
    關于LED燈具的9種<b class='flag-5'>可靠性</b>測試方案

    可靠性測試包括哪些測試和設備?

    在當今競爭激烈的市場環(huán)境中,產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無論是電子產(chǎn)品、汽車零部件,還是智能家居設備,都需要經(jīng)過嚴格的可靠性測試,以確保在各種復雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運行,為用戶提供可靠的使用體驗。那么,
    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?1452次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b>測試包括哪些測試和設備?

    半導體測試可靠性測試設備

    在半導體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴苛環(huán)境,對半導體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進行評估,確保其在實際使用中能穩(wěn)定運行。以下為你詳細介紹常見的半導體測試可靠性測試設備。
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?1273次閱讀
    半導體測試<b class='flag-5'>可靠性</b>測試設備

    提供半導體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    隨著半導體工藝復雜度提升,可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術通過直接在未封裝晶圓上施加加速應力,實現(xiàn)快速
    發(fā)表于 05-07 20:34

    電機微機控制系統(tǒng)可靠性分析

    可靠性是電機微機控制系統(tǒng)的重要指標,延長電機平均故障間隔時間(MTBF),縮短平均修復時間(MTTR)是可靠性研究的目標。電機微機控制系統(tǒng)的故障分為硬件故障和軟件故障,分析故障的性質(zhì)和產(chǎn)生原因,有
    發(fā)表于 04-29 16:14

    IGBT的應用可靠性與失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性問題包括安全工作區(qū)、閂鎖效應、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性問題包括并聯(lián)均流、軟關斷、電磁干擾及散熱等。
    的頭像 發(fā)表于 04-25 09:38 ?3075次閱讀
    IGBT的應用<b class='flag-5'>可靠性</b>與失效分析

    保障汽車安全:PCBA可靠性提升的關鍵要素

    汽車電子PCBA的可靠性提升要點 隨著汽車智能化、網(wǎng)聯(lián)化的快速發(fā)展,汽車電子在整車中的占比不斷提升,其重要日益凸顯。作為汽車電子的核心部件,PCBA(印制電路板組裝)的可靠性直接關系到汽車的安全
    的頭像 發(fā)表于 04-14 17:45 ?699次閱讀

    電路可靠性設計與工程計算技能概述

    電路可靠性設計與工程計算通過系統(tǒng)學習電路可靠性設計與工程計算,工程師不僅能提高電路的可靠性和穩(wěn)定性,還能優(yōu)化產(chǎn)品設計過程,減少潛在的故障風險,從而提升產(chǎn)品的市場競爭力和消費者信任度。為什么工程師需要
    的頭像 發(fā)表于 03-26 17:08 ?768次閱讀
    電路<b class='flag-5'>可靠性</b>設計與工程計算技能概述

    詳解晶圓級可靠性評價技術

    隨著半導體工藝復雜度提升,可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術通過直接在未封裝晶圓上施加加速應力,實現(xiàn)快速、低成本的可靠性評估,成為工藝開發(fā)的
    的頭像 發(fā)表于 03-26 09:50 ?1863次閱讀
    詳解晶圓級<b class='flag-5'>可靠性</b>評價技術

    集成電路前段工藝的可靠性研究

    在之前的文章中我們已經(jīng)對集成電路工藝的可靠性進行了簡單的概述,本文將進一步探討集成電路前段工藝可靠性
    的頭像 發(fā)表于 03-18 16:08 ?1983次閱讀
    集成電路前段工藝的<b class='flag-5'>可靠性</b>研究