91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

芯片功能測(cè)試推拉力測(cè)試機(jī)

力標(biāo)精密設(shè)備 ? 來(lái)源:力標(biāo)精密設(shè)備 ? 作者:力標(biāo)精密設(shè)備 ? 2022-11-18 16:53 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過(guò)程中,表面貼裝技術(shù)已經(jīng)成為常見的生產(chǎn)工藝。在表面貼裝生產(chǎn)過(guò)程中,需要對(duì)安裝在印刷電路板上的器件進(jìn)行推力測(cè)試,為了測(cè)試安裝在印刷電路板上的器件的可靠性,以確認(rèn)其焊接保持力符合要求?,F(xiàn)有的半導(dǎo)體推力測(cè)試儀和方法容易導(dǎo)致裝置或印刷電路板報(bào)廢,造成資源浪費(fèi)。 為了解決上述當(dāng)前半導(dǎo)體推力測(cè)試儀導(dǎo)致設(shè)備或印刷電路板報(bào)廢從而導(dǎo)致成本增加的技術(shù)問(wèn)題,技術(shù)人員研發(fā)提供了一種半導(dǎo)體推力測(cè)試儀。該半導(dǎo)體推力測(cè)試儀包括頂針套,頂針套的一端設(shè)有與內(nèi)部連通的開口,頂針套內(nèi)部中空;彈性組件設(shè)置在頂針套內(nèi);測(cè)試頂針具有位于頂針套內(nèi)且可抵靠彈性部的第一端,以及與第一端相對(duì)設(shè)置并延伸出頂針套的第二端,測(cè)試頂針可移動(dòng)地設(shè)置在頂針套內(nèi),并可沿頂針套的軸向往復(fù)運(yùn)動(dòng);半導(dǎo)體推力測(cè)試儀測(cè)試頂針的第一端擠壓壓縮彈性元件當(dāng)測(cè)試頂針的第二端推動(dòng)被測(cè)器件時(shí),測(cè)試頂針部分或全部縮入頂針套內(nèi),使測(cè)試頂對(duì)被測(cè)器件的推力等于被測(cè)器件的標(biāo)準(zhǔn)焊接保持力,從而實(shí)現(xiàn)被測(cè)器件的推力測(cè)試。技術(shù)人員還提供了一種推力測(cè)試方法,該方法使用第一方面提供的任何推力測(cè)試儀來(lái)測(cè)試被測(cè)器件的推力,該方法包括:將半導(dǎo)體推力測(cè)試儀的測(cè)試套管端沿著被測(cè)器件的側(cè)面抵靠在被測(cè)器件上,并將被測(cè)器件焊接到印刷電路板上;沿測(cè)試頂針的軸向推動(dòng)推力測(cè)試儀,使半導(dǎo)體推力測(cè)試儀的測(cè)試頂對(duì)被測(cè)裝置的推力等于被測(cè)裝置的標(biāo)準(zhǔn)焊接保持力;如果被測(cè)器件沒(méi)有從印刷電路板上脫落,則被測(cè)器件的推力測(cè)試合格;如果被測(cè)器件從印刷電路板上脫落,則被測(cè)器件的推力測(cè)試失敗。 從上面可以看出,上述半導(dǎo)體推力測(cè)試儀及推力測(cè)試方法包括:套管,套管內(nèi)部為中空,套管的一端設(shè)有與內(nèi)部連通的開口;彈性組件設(shè)置在頂針套內(nèi);測(cè)試頂針可沿頂針套的軸向往復(fù)運(yùn)動(dòng),并可移動(dòng)地設(shè)置在頂針套內(nèi),測(cè)試頂針具有位于頂針套內(nèi)且可抵靠彈性組件的第一端,以及相對(duì)設(shè)置并延伸出頂針套的第二端。測(cè)試頂針的第一端擠壓壓縮彈性元件當(dāng)測(cè)試頂針的第二端推動(dòng)被測(cè)裝置時(shí),使測(cè)試頂針的第二端部分或全部縮入頂針套內(nèi),從而實(shí)現(xiàn)被測(cè)裝置的推力測(cè)試。推力測(cè)試儀用于測(cè)試裝置的推力。當(dāng)測(cè)試頂針推動(dòng)被測(cè)器件時(shí),測(cè)試頂針的另一端壓住彈性元件,彈性元件的彈性與測(cè)試頭對(duì)被測(cè)器件的推力相同。當(dāng)彈性元件的彈性達(dá)到被測(cè)裝置的推力標(biāo)準(zhǔn)時(shí),可以判斷被測(cè)裝置的推力合格,從而避免被測(cè)裝置報(bào)廢,節(jié)約檢測(cè)成本。

審核編輯 黃昊宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 芯片
    +關(guān)注

    關(guān)注

    463

    文章

    54119

    瀏覽量

    467381
  • 測(cè)試機(jī)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    272

    瀏覽量

    14246
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    柔性電路板推力測(cè)試案例解析|Beta-S100推拉力測(cè)試機(jī)操作指南

    最近,我們接待了一位來(lái)自大連的柔性電路板行業(yè)的客戶,提出柔性電路板推力測(cè)試的需求,今天,科準(zhǔn)測(cè)控小編就基于我們的Beta-S100推拉力測(cè)試機(jī)完成實(shí)測(cè)驗(yàn)證,本文將基于真實(shí)的測(cè)試數(shù)據(jù),為
    的頭像 發(fā)表于 03-16 10:56 ?65次閱讀
    柔性電路板推力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>案例解析|Beta-S100<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>操作指南

    FPCB焊點(diǎn)強(qiáng)度總不合格?推拉力測(cè)試機(jī)推力測(cè)試方法與判定標(biāo)準(zhǔn)

    今天接待了一位來(lái)自上海的客戶,他們主要做柔性電路板(FPCB)相關(guān)產(chǎn)品,目前想評(píng)估元器件焊接點(diǎn)的焊接強(qiáng)度。針對(duì)這個(gè)需求,科準(zhǔn)測(cè)控小編今天就和大家分享一下,如何使用 Beta S100 推拉力測(cè)試機(jī)
    的頭像 發(fā)表于 03-13 09:32 ?69次閱讀
    FPCB焊點(diǎn)強(qiáng)度總不合格?<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>推力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法與判定標(biāo)準(zhǔn)

    功能推拉力測(cè)試機(jī)是集高精度、多功能于一體的力學(xué)檢測(cè)設(shè)備

    功能推拉力測(cè)試機(jī)作為工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域的“精密天平”,以其高精度、多功能與智能化特性,成為保障產(chǎn)品質(zhì)量的核心工具。從半導(dǎo)體封裝到航空航天,從汽車電子到醫(yī)療設(shè)備,其應(yīng)用場(chǎng)景的廣泛性印證了技術(shù)
    的頭像 發(fā)表于 03-10 17:57 ?104次閱讀
    多<b class='flag-5'>功能</b><b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>是集高精度、多<b class='flag-5'>功能</b>于一體的力學(xué)檢測(cè)設(shè)備

    光學(xué)組件推力測(cè)試怎么做?推拉力測(cè)試機(jī)操作使用

    測(cè)控小編就為您詳細(xì)講解,如何使用推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行光學(xué)組件的推力測(cè)試,系統(tǒng)闡述光學(xué)組件側(cè)推測(cè)試的原理、標(biāo)準(zhǔn)、操作流程及數(shù)據(jù)意義,通過(guò)模擬實(shí)際安裝或使用中的側(cè)向受力狀態(tài),以高精度力學(xué)數(shù)據(jù)界
    的頭像 發(fā)表于 03-06 11:08 ?110次閱讀
    光學(xué)組件推力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>怎么做?<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>操作使用

    PCB板焊點(diǎn)高低溫環(huán)境下強(qiáng)度測(cè)試推拉力測(cè)試機(jī)選型指南+實(shí)測(cè)演示

    在汽車電子、工控設(shè)備及消費(fèi)電子領(lǐng)域,PCB焊點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度直接決定了產(chǎn)品在振動(dòng)、沖擊及熱循環(huán)工況下的服役壽命,焊點(diǎn)推力測(cè)試是量化焊接質(zhì)量的核心手段。本文我們將基于科準(zhǔn)測(cè)控Beta-S100推拉力測(cè)試機(jī)
    的頭像 發(fā)表于 03-06 11:07 ?105次閱讀
    PCB板焊點(diǎn)高低溫環(huán)境下強(qiáng)度<b class='flag-5'>測(cè)試</b>|<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>選型指南+實(shí)測(cè)演示

    權(quán)威認(rèn)證,精準(zhǔn)護(hù)航,推拉力測(cè)試機(jī)校準(zhǔn)步驟

    權(quán)威認(rèn)證,精準(zhǔn)護(hù)航,推拉力測(cè)試機(jī)校準(zhǔn)步驟
    的頭像 發(fā)表于 10-31 16:57 ?1007次閱讀
    權(quán)威認(rèn)證,精準(zhǔn)護(hù)航,<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>校準(zhǔn)步驟

    基于推拉力測(cè)試機(jī)的PCBA電路板元器件焊點(diǎn)可靠性評(píng)估與失效機(jī)理探討

    測(cè)試機(jī)進(jìn)行PCBA電路板元器件焊接強(qiáng)度測(cè)試,為半導(dǎo)體封裝和電子組裝行業(yè)提供了一種高精度的力學(xué)測(cè)試解決方案,能夠全面評(píng)估電路板元器件的焊接質(zhì)量。 一、測(cè)試原理
    的頭像 發(fā)表于 10-24 10:33 ?684次閱讀
    基于<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>的PCBA電路板元器件焊點(diǎn)可靠性評(píng)估與失效機(jī)理探討

    推拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試模塊選擇,看完選擇不迷茫

    推拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試模塊如何選擇?昨天有小型電子產(chǎn)品的行業(yè)客戶咨詢?cè)O(shè)備,需要自動(dòng)切換模組的LB-8100A,那么就涉及到模組的選擇。測(cè)試模組包括:推力測(cè)
    的頭像 發(fā)表于 09-26 17:51 ?2319次閱讀
    <b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>模塊選擇,看完選擇不迷茫

    芯片鍵合強(qiáng)度如何評(píng)估?推拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)解讀

    工程師需要系統(tǒng)性地排查各種可能原因,從外圍電路到生產(chǎn)工藝,甚至需要原廠支持進(jìn)行剖片分析。 本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹芯片失效分析的原理、標(biāo)準(zhǔn)、常用設(shè)備(如Beta S100推拉力測(cè)試機(jī))以及標(biāo)準(zhǔn)流程,幫助工程師更好地理
    的頭像 發(fā)表于 07-14 11:15 ?984次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>鍵合強(qiáng)度如何評(píng)估?<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法與標(biāo)準(zhǔn)解讀

    從理論到實(shí)踐:推拉力測(cè)試機(jī)在微電子封裝失效分析中的關(guān)鍵作用

    方向發(fā)展,這對(duì)封裝材料的機(jī)械性能和可靠性提出了更高要求。 本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將重點(diǎn)介紹推拉力測(cè)試在微電子封裝可靠性評(píng)估中的關(guān)鍵作用,并以Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)為例,詳細(xì)闡述其
    的頭像 發(fā)表于 06-09 11:15 ?800次閱讀
    從理論到實(shí)踐:<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>在微電子封裝失效分析中的關(guān)鍵作用

    揭秘推拉力測(cè)試機(jī):如何助力于IGBT功率模塊封裝測(cè)試?

    驗(yàn)證。 Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)作為一種高精度的力學(xué)測(cè)試設(shè)備,可有效評(píng)估IGBT模塊的封裝可靠性,確保產(chǎn)品符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹IGBT功率模塊封裝測(cè)試的原理、
    的頭像 發(fā)表于 05-14 11:29 ?1322次閱讀
    揭秘<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>:如何助力于IGBT功率模塊封裝<b class='flag-5'>測(cè)試</b>?

    AEC-Q102之推拉力測(cè)試

    在汽車智能化與電動(dòng)化的浪潮中,光電半導(dǎo)體器件(如LED、激光雷達(dá)、光傳感器等)的可靠性直接決定了車輛的安全性與性能。AEC-Q102作為汽車電子領(lǐng)域針對(duì)分立光電半導(dǎo)體的核心測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),其推拉力測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 05-09 16:49 ?782次閱讀
    AEC-Q102之<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>

    提升QFN封裝可靠性的關(guān)鍵:附推拉力測(cè)試機(jī)檢測(cè)方案

    近期,公司出貨了一臺(tái)推拉力測(cè)試機(jī),是專門用于進(jìn)行QFN封裝可靠性測(cè)試。在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,QFN(Quad Flat No-leads)封裝因其體積小、散熱性能優(yōu)異和電氣性能突出等優(yōu)勢(shì),被廣泛應(yīng)用
    的頭像 發(fā)表于 05-08 10:25 ?1293次閱讀

    你不知道的COB封裝測(cè)試方法,快來(lái)看看推拉力測(cè)試機(jī)的應(yīng)用!

    近期,有客戶向小編咨詢推拉力測(cè)試機(jī),如何進(jìn)行COB封裝測(cè)試?在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,COB(Chip on Board)封裝技術(shù)因其高集成度和靈活性被廣泛應(yīng)用于LED、傳感器、顯示驅(qū)動(dòng)等產(chǎn)品中。然而
    的頭像 發(fā)表于 04-03 10:42 ?1626次閱讀
    你不知道的COB封裝<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法,快來(lái)看看<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>的應(yīng)用!

    Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)助力激光通訊器件封裝質(zhì)量檢測(cè)!

    激光通訊器件的封裝質(zhì)量檢測(cè),科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹如何利用Beta S100推拉力測(cè)試機(jī)進(jìn)行有效的封裝測(cè)試。 一、測(cè)試目的 激光通訊器件在實(shí)際應(yīng)用中需要承受各種機(jī)械應(yīng)力,因此封裝的可靠
    的頭像 發(fā)表于 04-02 10:37 ?1076次閱讀
    Beta S100<b class='flag-5'>推拉力</b><b class='flag-5'>測(cè)試機(jī)</b>助力激光通訊器件封裝質(zhì)量檢測(cè)!