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分享一種基于深度圖像梯度的線特征提取算法download

jf_pmFSk4VX ? 來源:GiantPandaCV ? 2023-01-08 14:29 ? 次閱讀
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0. 筆者個(gè)人體會(huì)

在低紋理區(qū)域,傳統(tǒng)的基于特征點(diǎn)的SfM/SLAM/三維重建算法很容易失敗。因此很多算法會(huì)嘗試去提取線特征來提高點(diǎn)特征的魯棒性,典型操作就是LSD。

但在一些帶噪聲的低光照環(huán)境下,LSD很容易失效。而且線特征檢測的難點(diǎn)在于,由于遮擋,線端點(diǎn)的精確定位很難獲得。

它使用深度學(xué)習(xí)來處理圖像并丟棄不必要的細(xì)節(jié),然后使用手工方法來檢測線段。

因此,DeepLSD不僅對光照和噪聲具有更強(qiáng)魯棒性,同時(shí)保留了經(jīng)典方法的準(zhǔn)確性。整篇文章的推導(dǎo)和實(shí)驗(yàn)非常詳實(shí),重要的是算法已經(jīng)開源!

2. 摘要

線段在我們的人造世界中無處不在,并且越來越多地用于視覺任務(wù)中。由于它們提供的空間范圍和結(jié)構(gòu)信息,它們是特征點(diǎn)的補(bǔ)充。

基于圖像梯度的傳統(tǒng)線檢測器非??焖俸蜏?zhǔn)確,但是在噪聲圖像和挑戰(zhàn)性條件下缺乏魯棒性。他們有經(jīng)驗(yàn)的同行更具可重復(fù)性,可以處理具有挑戰(zhàn)性的圖像,但代價(jià)是精確度較低,偏向線框線。

我們建議將傳統(tǒng)方法和學(xué)習(xí)方法結(jié)合起來,以獲得兩個(gè)世界的最佳效果:一個(gè)準(zhǔn)確而魯棒的線檢測器,可以在沒有真值線的情況下在野外訓(xùn)練。

我們的新型線段檢測器DeepLSD使用深度網(wǎng)絡(luò)處理圖像,以生成線吸引力場,然后將其轉(zhuǎn)換為替代圖像梯度幅度和角度,再饋入任何現(xiàn)有的手工線檢測器。

此外,我們提出了一個(gè)新的優(yōu)化工具,以完善基于吸引力場和消失點(diǎn)的線段。

這種改進(jìn)大大提高了當(dāng)前深度探測器的精度。我們展示了我們的方法在低級線檢測度量上的性能,以及在使用多挑戰(zhàn)數(shù)據(jù)集的幾個(gè)下游任務(wù)上的性能。

3. 算法解讀

作者將深度網(wǎng)絡(luò)的魯棒性與手工制作的線特征檢測器的準(zhǔn)確性結(jié)合起來。具體來說,有如下四步:

(1) 通過引導(dǎo)LSD生成真實(shí)線距離和角度場(DF/AF)。

(2) 訓(xùn)練深度網(wǎng)絡(luò)以預(yù)測線吸引場DF/AF,然后將其轉(zhuǎn)換為替代圖像梯度。

(3) 利用手工LSD提取線段。

(4) 基于吸引場DF/AF進(jìn)行細(xì)化。

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圖1 方法概述

作者所做主要貢獻(xiàn)如下:

(1) 提出了一種自舉當(dāng)前檢測器的方法來在任意圖像上創(chuàng)建真實(shí)線吸引場。

(2) 引入了一個(gè)優(yōu)化過程,可以同時(shí)優(yōu)化線段和消失點(diǎn)。這種優(yōu)化可以作為一種獨(dú)立的細(xì)化來提高任何現(xiàn)有的深度線檢測器的精度。

(3) 在多個(gè)需要線特征的下游任務(wù)中,通過結(jié)合深度學(xué)習(xí)方法的魯棒性和手工方法在單個(gè)pipeline中的精度,創(chuàng)造了新的記錄。

3.1 線吸引場

最早通過吸引場表示線段的方法是AFM,為圖像的每個(gè)像素回歸一個(gè)2D向量場,來表示直線上最近點(diǎn)的相對位置。

該方法允許將離散量(線段)表示為適合深度學(xué)習(xí)的平滑2通道圖像。然而,這種表示方法并不是獲得精確線段的最佳方法。

如圖2所示,比如HAWP那樣直接預(yù)測端點(diǎn)的位置需要很大的感受野,以便能夠從遙遠(yuǎn)的端點(diǎn)獲取信息。

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圖2 吸引場參數(shù)化。(a)對二維向量進(jìn)行參數(shù)化可能會(huì)對小向量模產(chǎn)生噪聲角。(b) 向端點(diǎn)添加偏移量需要長程信息且對噪聲端點(diǎn)不具有魯棒性。作者提出將距離場(c)和線角度場(d)解耦。

而DeepLSD這項(xiàng)工作的巧妙之處在于,作者提出將網(wǎng)絡(luò)限制在一個(gè)較小的感受野,并使用傳統(tǒng)的啟發(fā)式方法來確定端點(diǎn)。

DeepLSD采用和HAWP類似的吸引場,但沒有額外的兩個(gè)指向端點(diǎn)的角度,只保留線距離場(DF)和線角度場(AF)。其中線距離場DF給出當(dāng)前像素到直線上最近點(diǎn)的距離,線角度場AF返回最近直線的方向:

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3.2 真值生成

為了學(xué)習(xí)線吸引場,需要ground truth。AFM和HAWP都是使用線框數(shù)據(jù)集的真值來監(jiān)督。但DeepLSD的作者探索了一種新的方法,即通過引導(dǎo)先前的線檢測器來獲取真值。

具體來說,就是通過單應(yīng)性自適應(yīng)生成真值吸引場。給定單幅輸入圖像I,將其與N個(gè)隨機(jī)單應(yīng)矩陣Hi進(jìn)行wrap,在所有wrap后的圖像Ii中使用LSD檢測直線段,然后將其wrap回到I來得到線集合Li。

下一步是將所有的線聚合在一起,這一部分是個(gè)難點(diǎn)。作者的做法是將線條集合Li轉(zhuǎn)換為距離場Di和角度場Ai,并通過取所有圖像中每個(gè)像素(u, v)的中值來聚合:

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通過取中值,可以去除僅在少數(shù)圖像中檢測到的噪聲,結(jié)果如圖3所示。

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圖3 偽GT可視化

3.3 學(xué)習(xí)線吸引場

為了回歸距離場和角度場,DeepLSD使用了UNet架構(gòu),尺寸為HxW的輸入圖像經(jīng)多個(gè)卷積層處理,并通過連續(xù)3次平均池化操作逐步降采樣至8倍。

然后通過另一系列卷積層和雙線性插值將特征放大回原始分辨率。得到的深度特征被分成兩個(gè)分支,一個(gè)輸出距離場,一個(gè)輸出角度場。最后距離場通過反歸一化得到:

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其中r是像素中的一個(gè)參數(shù),它定義了每條線周圍的區(qū)域。由于手工方法主要需要線段附近的梯度信息,因此DeepLSD只對距離線段小于r個(gè)像素的像素進(jìn)行監(jiān)督。

總損失為距離場和角度場的損失之和:

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這里就沒啥可說的了,LD為歸一化距離場之間的L1損失,LA為L2角度損失:

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3.4.提取線段

由于LSD是基于圖像梯度的,因此需要將距離場和角度場轉(zhuǎn)換為替代圖像梯度幅度和角度:

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AFM和LSD方法的一個(gè)重要區(qū)別是梯度方向。對于黑暗與明亮區(qū)域分離的邊緣,LSD跟蹤從暗到亮的梯度方向,而AFM不跟蹤。

如圖4所示,當(dāng)幾條平行線以暗-亮-暗或亮-暗-亮的模式相鄰出現(xiàn)時(shí),這就變得很重要。

為了更好的精度和尺度不變性,DeepLSD檢測這些雙邊緣,并構(gòu)造角度方向:

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圖4 區(qū)分雙邊緣。(a) 亮-暗-亮邊緣和定向角度場的示例。(b) HAWP將其視為一條直線。(c) 為了準(zhǔn)確,DeepLSD將其檢測為兩條線。

為了使線特征更加精確,作者還提出了一個(gè)優(yōu)化步驟,即利用第二步預(yù)測的DF和AF來細(xì)化。需要注意的是,這種優(yōu)化方法也可以用來增強(qiáng)任何其他深度探測器的線特征。

優(yōu)化的核心思路是,在3D中平行的線將共享消失點(diǎn)。因此DeepLSD將其作為軟約束融入到優(yōu)化中,有效地降低了自由度。

首先利用多模型擬合算法Progressive-X計(jì)算一組與預(yù)測線段相關(guān)的消失點(diǎn)(VPs)。然后對每條線段獨(dú)立進(jìn)行優(yōu)化,損失函數(shù)是三種不同成本的加權(quán)無約束最小二乘最小化:

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4. 實(shí)驗(yàn)

作者訓(xùn)練了DeepLSD的兩個(gè)版本,一個(gè)在室內(nèi)Wireframe數(shù)據(jù)集,沒有使用GT線,一個(gè)室外MegaDepth數(shù)據(jù)集。

MegaDepth數(shù)據(jù)集保留150個(gè)場景用于訓(xùn)練,17個(gè)場景用于驗(yàn)證,每個(gè)場景只采集50張圖像。

在實(shí)驗(yàn)細(xì)節(jié)上,使用Adam優(yōu)化器和初始學(xué)習(xí)率為1e3,學(xué)習(xí)率調(diào)整策略為,當(dāng)損失函數(shù)到達(dá)一定數(shù)值時(shí)學(xué)習(xí)率/10。

硬件條件為,在NVIDIA RTX 2080 GPU上訓(xùn)練時(shí)間12小時(shí)。

4.1 直線檢測性能

作者首先在HPatches數(shù)據(jù)集和RDNIM數(shù)據(jù)集上評估直線檢測性能,其中HPatches數(shù)據(jù)集具有不同的光照和視點(diǎn)變化,RDNIM數(shù)據(jù)集具有挑戰(zhàn)性的晝夜變化相關(guān)的圖像對。

評價(jià)指標(biāo)為重復(fù)性、定位誤差以及單應(yīng)估計(jì)分?jǐn)?shù)。重復(fù)性(Rep)衡量匹配誤差在3個(gè)像素以下的直線的比例,定位誤差(LE)返回50個(gè)最準(zhǔn)確匹配的平均距離。表1和圖5所示是與經(jīng)典線特征檢測器的對比結(jié)果。

表1 在HPatches和RDNIM數(shù)據(jù)集上的直線檢測評估

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圖5 線段檢測示例

從結(jié)果來看,以TPLSD為首的學(xué)習(xí)方法具有較好的可重復(fù)性,但存在較低的定位誤差和不準(zhǔn)確的單應(yīng)矩陣估計(jì)。

手工方法和DeepLSD由于不直接對端點(diǎn)進(jìn)行回歸,而是利用非常低的細(xì)節(jié)逐步增長線段,因此精度更高。

當(dāng)變化最具挑戰(zhàn)性時(shí),DeepLSD比LSD表現(xiàn)出最好的改善,即在晝夜變化強(qiáng)烈的RDNIM上。

可以顯著提高定位誤差和單應(yīng)性估計(jì)分?jǐn)?shù)。LSDNet由于通過將圖像縮放到固定的低分辨率而失去了準(zhǔn)確性。

總體而言,DeepLSD在手工方法和學(xué)習(xí)方法之間提供了最佳的權(quán)衡,并且在單應(yīng)性估計(jì)的下游任務(wù)中始終排名第一。

4.2 重建及定位

這項(xiàng)工作除了評估自身的線特征生成質(zhì)量外,還進(jìn)行了三維重建對比。作者利用Line3D++獲取一組已知姿態(tài)的圖像和相關(guān)的2D線段,并輸出線條的三維重建。

作者在Hypersim數(shù)據(jù)集的前4個(gè)場景上將DeepLSD與幾個(gè)基線進(jìn)行比較。其中召回R為距離網(wǎng)格5 mm以內(nèi)的所有線段的長度,單位為米,越高意味著許多線條被重建。精度P是距離網(wǎng)格5毫米以內(nèi)的預(yù)測線的百分比,越高表明大部分預(yù)測的直線在真實(shí)的三維表面上。

結(jié)果如表2所示,DeepLSD總體上獲得了最好的召回和精度。TP-LSD雖然在召回上排名第一,但是能夠恢復(fù)的直線很少,其平均精度比DeepLSD小71 %。

值得注意的是,DeepLSD比LSD能夠重建更多的直線,且精度更高。

表2 線三維重建對比結(jié)果

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作者在7Scenes數(shù)據(jù)集上進(jìn)行了定位實(shí)驗(yàn),估計(jì)位姿精度,其中Stairs場景對于特征點(diǎn)的定位非常具有挑戰(zhàn)性。

圖6表明,DeepLSD在這個(gè)具有挑戰(zhàn)性的數(shù)據(jù)集上獲得了最好的性能。

與僅使用點(diǎn)相比,可以突出線特征帶來的性能的大幅提升。在室內(nèi)環(huán)境中,線特征提取并定位的性能良好,即使在低紋理場景中也可以匹配。

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圖6 7Scenes數(shù)據(jù)集樓梯的視覺定位結(jié)果

4.3 線優(yōu)化的影響

作者還研究了優(yōu)化步驟的影響。對于每種方法,作者將原始線條與優(yōu)化后的線條和VP進(jìn)行比較。

表3展示了線檢測器在Wireframe測試集的462張圖像上的檢測結(jié)果。結(jié)果顯示,優(yōu)化可以顯著改善不精確方法的定位誤差和單應(yīng)性得分,并顯著提高評價(jià)直線精度的所有指標(biāo)。

特別是對于HAWP和TP-LSD,兩者的定位誤差都下降了32 %,單應(yīng)性得分提高了27 %和39 %。

注意,優(yōu)化并沒有給DeepLSD帶來多大提升,這是因?yàn)樗脑碱A(yù)測線已經(jīng)是亞像素精確的,并且優(yōu)化受到DF和AF分辨率的限制。

表3 Wireframe數(shù)據(jù)集上的線優(yōu)化

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4.4 消融研究

作者在HPatches數(shù)據(jù)集上用低級別檢測器指標(biāo)驗(yàn)證了設(shè)計(jì)選擇,將DeepLSD與單邊相同模型進(jìn)行比較。表4展示了各組成部分的重要性。

值得注意的是,在DeepLSD上重新訓(xùn)練HAWP會(huì)導(dǎo)致較差的結(jié)果,因?yàn)榕c線框線相比,線條的數(shù)量更多,而且一般的直線往往有噪聲的端點(diǎn),因此預(yù)測到兩個(gè)端點(diǎn)的角度也是有噪聲的。

表4 HPatches數(shù)據(jù)集上的消融實(shí)驗(yàn)

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5. 結(jié)論

作者提出了一種混合線段檢測器,結(jié)合了深度學(xué)習(xí)的魯棒性和手工檢測器的準(zhǔn)確性,并使用學(xué)習(xí)的替代圖像梯度作為中間表示。還提出了一種可以應(yīng)用于現(xiàn)有深度檢測器的優(yōu)化方法,彌補(bǔ)了深度檢測器和手工檢測器之間的線局部化的差距。





審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:DeepLSD:基于深度圖像梯度的線段檢測和細(xì)化

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    方法,包括SLAM Toolbox的使用。 通過學(xué)習(xí)這部分,我了解到SLAM的基本原理,包括特征提取、特征匹配、地圖構(gòu)建和定位等關(guān)鍵步驟。書中還介紹了如何在ROS 2中使用SLAM Toolbox進(jìn)行
    發(fā)表于 04-27 11:42

    在友晶LabCloud平臺(tái)上使用PipeCNN實(shí)現(xiàn)ImageNet圖像分類

    利用深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(CNN)進(jìn)行圖像分類是通過使用多個(gè)卷積層來從輸入數(shù)據(jù)中提取特征,最后通過分類層做決策來識別出目標(biāo)物體。
    的頭像 發(fā)表于 04-23 09:42 ?1079次閱讀
    在友晶LabCloud平臺(tái)上使用PipeCNN實(shí)現(xiàn)ImageNet<b class='flag-5'>圖像</b>分類

    概倫電子標(biāo)準(zhǔn)單元庫特征化解決方案NanoCell介紹

    標(biāo)準(zhǔn)單元庫包括電路設(shè)計(jì)、版圖設(shè)計(jì)和特征提取,它對芯片設(shè)計(jì)至關(guān)重要。其中標(biāo)準(zhǔn)單元庫的特征提取需要大量仿真、模型提取和驗(yàn)證,在標(biāo)準(zhǔn)單元庫開發(fā)中占據(jù)了三分之
    的頭像 發(fā)表于 04-16 09:49 ?1014次閱讀
    概倫電子標(biāo)準(zhǔn)單元庫<b class='flag-5'>特征</b>化解決方案NanoCell介紹

    一種基于點(diǎn)、和消失點(diǎn)特征的單目SLAM系統(tǒng)設(shè)計(jì)

    本文提出了一種穩(wěn)健的單目視覺SLAM系統(tǒng),該系統(tǒng)同時(shí)利用點(diǎn)、和消失點(diǎn)特征來進(jìn)行精確的相機(jī)位姿估計(jì)和地圖構(gòu)建,有效解決了傳統(tǒng)基于點(diǎn)特征的SLAM的局限性。
    的頭像 發(fā)表于 03-21 17:07 ?1050次閱讀
    <b class='flag-5'>一種</b>基于點(diǎn)、<b class='flag-5'>線</b>和消失點(diǎn)<b class='flag-5'>特征</b>的單目SLAM系統(tǒng)設(shè)計(jì)

    給個(gè)思路也可以(不知道這個(gè)無線通信模塊怎么實(shí)現(xiàn))

    有償定做個(gè)智能考勤機(jī) 要求:(1)指紋模塊:采集指紋圖像和傳輸指紋信息,對指紋圖像進(jìn)行預(yù)處理,消除噪聲干擾,還原圖像的真實(shí)特征信息。完成
    發(fā)表于 03-21 16:50