芯片測試是每一顆芯片進入市場前的必經(jīng)環(huán)節(jié)。和消費類芯片不同，汽車芯片對安全性、可靠性有著更嚴苛的標準，自然也對測試提出了更高的要求，這不僅關乎用戶體驗，更關乎用戶安全，因而至關重要。季豐電子推出車規(guī)級專線測試服務，以期滿足客戶對于芯片功能、性能、品質等多方面的要求。專注于三溫CP，三溫FT，三溫SLT以及量產(chǎn)老化測試領域，旨在全面提升芯片測試能力，為車規(guī)級芯片保駕護航。

*CP測試目的：

CP測試，英文全稱Chip Probing，對Wafer進行電性功能測試，挑選出好die，可以減少封裝和測試的成本，也可以透過Wafer的良率，檢查fab廠制造的工藝水平，起到監(jiān)控的目的。

*FT測試目的：

FT測試，英文全稱Final Test，即在芯片封裝完成后，通過分選機和測試機的配合使用，對芯片功能和電參數(shù)性能進行的一系列測試。這一般是芯片出廠前的最后一道攔截，以保證芯片性能和功能滿足要求。

*SLT測試目的：

SLT測試，英文全稱System Level Test，模擬終端使用場景中對被測芯片進行測試，純粹通過運行和使用來完成測試，測試時間一般超過一分鐘，甚至可能長達數(shù)十分鐘之久。

*量產(chǎn)老化測試目的：

量產(chǎn)老化測試，英文全稱Burn in test

這種老化測試一般是對車規(guī)級類別芯片在FT結束后放入高溫環(huán)境中洗個澡，并加上高壓，這樣幾個小時就相當于過了幾周，然后再進行測試，不好的淘汰掉，好的進行出貨，這個高溫環(huán)境測試過程稱為老化測試。 硬件齊全 專業(yè)保證

季豐電子三溫CP測試車間擁有千級無塵車間面積3000+平方米，F(xiàn)T測試車間擁有萬級無塵車間面積8000+平方米，車間已通過ISO9001質量體系認證。

CP測試車間配備AOI（Camtek Eagle series）、Prober有Opus SH系列&SLT系列等設備，可滿足6寸、8寸、12寸產(chǎn)品-55°~200°三溫測試需求，年產(chǎn)能可達40萬片。

FT測試車間配備鴻勁HT1028C、HT7080B、Cohu Rasco2000T、SRM F208、SRM Z208、SRMF248、Vitrox TR3000Si等知名品牌分選機，滿足-65℃~175℃的三溫測試要求，年產(chǎn)能可達2億顆產(chǎn)品。

測試機主要配備ADVANTEST V93000 CTH&STH、V93000EXA、TERADYNE J750HD&ETS-88、Chroma3380P、Accotest8200、Accotest8200動態(tài)測試、Accotest8200PMOS、Accotest8300、Juno DTS1000等主流測試機。

季豐電子

上海季豐電子股份有限公司成立于2008年，致力于集成電路及相關領域內的軟硬件及設備研發(fā)與專業(yè)技術服務，為客戶提供一站式的綜合解決方案。公司的四大業(yè)務版塊包括：基礎技術中心、硬件軟件方案、特種封裝測試、儀器設備研發(fā)。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術企業(yè)、上海市“科技小巨人”、研發(fā)機構、公共服務平臺等企業(yè)資質認定，通過了ISO9001、ISO17025、CMA、CNAS等認證。公司員工規(guī)模超過700人，總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設有分公司。