硅光芯片是通過標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體工藝將硅光材料和器件集成在一起的集成光路，主要由光源、調(diào)制器、探測器、無源波導(dǎo)器件等組成，并且將光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片具有集成度高、成本低、傳輸更好等特點。在小型化封裝的趨勢下，各硅光廠商都努力把器件集成到芯片中去，硅光器件是一個高度集成的產(chǎn)品，且芯片內(nèi)部檢測，對設(shè)備的要求是非常高的。

圖1. 硅光芯片昊衡科技推出的高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OCI）原理基于光頻域反射技術(shù)（OFDR），以亞毫米級別的分辨率探測光學(xué)元件內(nèi)部，并準(zhǔn)確測量回?fù)p、插損、光譜等信息，實現(xiàn)芯片“可視化”測試。

圖2. 高分辨光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OCI）

硅發(fā)射芯片主要組件有一維光柵耦合器、可變光衰減器、強度調(diào)制器和偏振調(diào)制器。將芯片和OCI1500連接，進行反射率分布測量。
圖3. 硅發(fā)射芯片在10μm空間分辨率下獲得測試結(jié)果，硅發(fā)射器芯片內(nèi)部出現(xiàn)幾個反射峰。光柵序號與對應(yīng)通道序號相同。為確定反射峰位置，在調(diào)制器上施加信號，對反射峰的變化情況進行觀察和分析。OCI1500實現(xiàn)對芯片內(nèi)各器件的識別、定位及回?fù)p的測量。圖4. OFDR測試結(jié)果硅光測試領(lǐng)域，OFDR可以快速精確測量光纖與芯片耦合點性能、芯片內(nèi)部各器件損耗情況以及各個器件之間的微小距離是否符合設(shè)計要求。硅光發(fā)展日益成熟，OFDR的市場也正在逐漸變大，硅光芯片、光器件、光模塊廠家大多都需要用OFDR來檢測其產(chǎn)品性能參數(shù)是否符合設(shè)計以及產(chǎn)品的品質(zhì)把控。

Megasense

一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級自校準(zhǔn)光學(xué)測量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是一家實現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。