TOPCon太陽能電池技術(shù)發(fā)展迅猛,但同時也面臨著硅片減薄、銀耗降低及雙玻結(jié)構(gòu)普及帶來的新可靠性挑戰(zhàn)。IEC61215標(biāo)準(zhǔn)的1000小時濕熱(DH)測試雖關(guān)鍵,但其耗時過長,無法滿足量產(chǎn)工藝快速優(yōu)化的需求。本文提出了一種電池層級的醋酸熏蒸(AaF)加速測試方法,該方法通過直接控制醋酸蒸汽濃度和溫度,繞過了EVA水解過程,結(jié)合美能PL/EL一體機(jī)測試儀的電致發(fā)光(EL)測試對金屬柵線腐蝕失效的可視化表征,該方法能在電池層級高效復(fù)現(xiàn)并量化DH失效的核心機(jī)制。
實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
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實(shí)驗(yàn)路線圖
DH降解主因是EVA封裝水解產(chǎn)生的醋酸腐蝕電池金屬柵線(發(fā)射極-銀漿界面),導(dǎo)致接觸電阻增大(EL圖像中柵線邊緣變暗);本文提出方法創(chuàng)新:繞過EVA水解過程,直接通入醋酸蒸汽模擬腐蝕路徑,并驗(yàn)證電池級腐蝕與組件級DH失效模式一致性(均呈現(xiàn)FF、Isc下降)。
對照驗(yàn)證:同批次電池分為AaF15組(50片)和封裝組件DH1000組(300片),比對效率衰減率及EL圖像;
變量控制:三組實(shí)驗(yàn)僅改變銀漿配方(主因),封裝材料(POE/EPE)作為次要變量驗(yàn)證普適性;
穩(wěn)定性測試:10組同質(zhì)電池AaF15腐蝕率誤差<10%(均值16.05%),證實(shí)方法可重復(fù)。
TOPCon電池的AaF15測試
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3組TOPCon電池在AaF15測試前后的效率對比

TOPCon電池EL圖像腐蝕特征對比
對三組使用不同銀漿的TOPCon電池進(jìn)行AaF15測試,均觀察到顯著效率衰減(程度不同)和電致發(fā)光(EL)圖像劣化(邊緣變暗、柵線模糊),表明醋酸成功誘導(dǎo)了類似DH的金屬接觸腐蝕。
TOPCon組件的DH1000結(jié)果
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POE與EPE封裝組件DH1000衰減率對比
與AaF實(shí)驗(yàn)同批次的電池被制成太陽能組件。這些組件進(jìn)行了DH1000測試。每批TOPCon電池被分為兩組,分別使用EPE和POE主流封裝材料進(jìn)行封裝。所有基于EPE或POE的DH測試組件均出現(xiàn)不同程度的衰減,這與電池?cái)?shù)據(jù)一致。

DH1000測試后組件EL圖像典型失效模式
組件DH測試前后的EL圖像,柵線和主柵附近出現(xiàn)了更多暗區(qū)。這與電池的AaF結(jié)果相似。此外,兩條金屬柵線之間橫向傳輸能力的下降導(dǎo)致柵線間出現(xiàn)了一些暗區(qū)。
醋酸熏蒸與DH1000的對比
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電池AaF15衰減率與組件DH1000衰減率的線性映射關(guān)系(R2=0.97)
電池在AaF15后的效率衰減率與對應(yīng)組件在DH1000后的功率衰減率呈現(xiàn)顯著正相關(guān)。例如,電池衰減>80%的組,組件衰減>10%(遠(yuǎn)超5%控制線);電池衰減~24%的組,組件衰減~4%(接近控制線);電池衰減~15%的組,組件衰減<3.6%(優(yōu)于控制線)。

EL對比 (電池AaF15后 vs. 組件DH1000后 vs. 原始狀態(tài))
對比嚴(yán)重衰減、輕微衰減及衰減前的EL圖像。AaF15后電池EL劣化程度與組件DH后EL劣化程度一致,進(jìn)一步佐證了預(yù)測方法的有效性。
穩(wěn)定性驗(yàn)證
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同批次電池AaF15測試穩(wěn)定性驗(yàn)證
對同批次電池進(jìn)行10組AaF15測試,衰減率平均值16.05%,波動范圍14.48% - 17.69 %(最大誤差<10%),證明該方法在量產(chǎn)監(jiān)測中具備足夠穩(wěn)定性。
TOPCon電池的AaF15加速測試與組件DH1000結(jié)果存在顯著相關(guān)性,可有效預(yù)測組件DH失效風(fēng)險(xiǎn)。實(shí)驗(yàn)和誤差分析表明,為保障組件DH1000衰減≤5%,電池AaF15衰減率應(yīng)控制在24%以下,實(shí)際應(yīng)用建議采用更嚴(yán)格的20%閾值。該方法僅需15小時,為TOPCon電池量產(chǎn)(如銀漿選型、工藝優(yōu)化)提供了快速、穩(wěn)定、高效的可靠性監(jiān)測工具,顯著降低因DH失效導(dǎo)致的量產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)。
美能PL/EL一體機(jī)測試儀
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美能PL/EL一體機(jī)測試儀模擬太陽光照射鈣鈦礦太陽能電池片,均勻照亮整個樣品,并用專業(yè)的鏡頭采集光致發(fā)光(PL)信號,獲得PL成像;電致發(fā)光(EL)信號,獲得EL成像。通過圖像算法和軟件對捕獲的PL/EL成像進(jìn)行處理和分析,并識別出PL/EL缺陷,根據(jù)其特征進(jìn)行分析、分類、歸納等。
- EL/PL成像,500萬像素,實(shí)現(xiàn)多種成像精度切換
- 光譜響應(yīng)范圍:400nm~1200nm
- PL光源:藍(lán)光(可定制光源尺寸、波長等)
- 多種缺陷識別分析(麻點(diǎn)、發(fā)暗、邊緣入侵等)可定制缺陷種類
美能PL/EL一體機(jī)測試儀通過電致發(fā)光(EL)信號,獲得EL成像可以對金屬柵線腐蝕失效進(jìn)行可視化表征,能在電池層級高效復(fù)現(xiàn)并量化DH失效的核心機(jī)制,為TOPCon電池量產(chǎn)提供可靠的監(jiān)測工具。
原文參考:Optimizing anti-reflection and surface passivation for n-type back-contact back-junction silicon solar cells using SiNx/SiON stack layers: Insights from quokka simulation
*特別聲明:「美能光伏」公眾號所發(fā)布的原創(chuàng)及轉(zhuǎn)載文章,僅用于學(xué)術(shù)分享和傳遞光伏行業(yè)相關(guān)信息。未經(jīng)授權(quán),不得抄襲、篡改、引用、轉(zhuǎn)載等侵犯本公眾號相關(guān)權(quán)益的行為。內(nèi)容僅供參考,若有侵權(quán),請及時聯(lián)系我司進(jìn)行刪除。
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