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南大團隊實現(xiàn)迄今最高計算精度的模擬存算一體芯片

Carol Li ? 來源:電子發(fā)燒友網(wǎng) ? 作者:綜合報道 ? 2025-10-19 00:59 ? 次閱讀
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電子發(fā)燒友網(wǎng)綜合報道在當今計算技術(shù)快速發(fā)展的背景下,模擬計算作為一種獨特的計算范式,正逐漸展現(xiàn)出其獨特的魅力與潛力。與傳統(tǒng)的數(shù)字計算不同,模擬計算并非依賴于離散的數(shù)字信號進行運算,而是直接利用物理定律,通過連續(xù)變化的物理量(如電壓、電流等)來執(zhí)行計算任務(wù)。這種計算方式在能效和速度方面具有顯著優(yōu)勢,因為它省去了數(shù)字計算中復(fù)雜的數(shù)模轉(zhuǎn)換過程,能夠更直接、更高效地處理信息。近年來,隨著人工智能AI)硬件領(lǐng)域的蓬勃發(fā)展,模擬計算因其高效能的特點,受到了廣泛關(guān)注與研究。

而在模擬計算的廣闊領(lǐng)域中,模擬存內(nèi)計算(AnalogIn-MemoryComputing,AIMC)作為一種新興技術(shù),正成為研究的熱點。模擬存內(nèi)計算的核心思想是將計算過程與數(shù)據(jù)存儲緊密結(jié)合,直接在存儲單元內(nèi)部執(zhí)行計算操作,從而避免了數(shù)據(jù)在存儲器與計算單元之間的頻繁搬運,極大地提高了計算效率并降低了能耗。這種計算模式特別適用于需要處理大量數(shù)據(jù)的場景,如神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)推理、圖像處理等,為AI硬件的發(fā)展提供了新的思路和方向。然而,盡管模擬計算和模擬存內(nèi)計算具有諸多優(yōu)勢,但當前仍普遍面臨計算精度低、計算穩(wěn)定性不足的挑戰(zhàn)。這主要由于現(xiàn)有模擬硬件的計算方案高度依賴器件的內(nèi)在物理參數(shù)(如電阻值),這些物理參數(shù)在每次編程時往往存在較大隨機偏差,且極易受到環(huán)境因素(如溫度)的影響。上述特性使得現(xiàn)有模擬計算精度難以提高,成為制約其走向應(yīng)用的關(guān)鍵瓶頸。

近日,南京大學(xué)物理學(xué)院繆峰教授和梁世軍教授團隊針對這一難題,提出了一種高精度模擬計算方案,為模擬存內(nèi)計算領(lǐng)域帶來了新的突破。該方案將模擬計算權(quán)重的實現(xiàn)方式從不穩(wěn)定、易受環(huán)境干擾的物理參數(shù)(例如器件電阻)轉(zhuǎn)向高度穩(wěn)定的器件幾何尺寸比,突破了限制模擬計算精度的瓶頸。

基于這一創(chuàng)新思想,團隊設(shè)計并驗證了一款基于標準CMOS工藝的模擬存內(nèi)計算芯片。結(jié)合權(quán)值重映射技術(shù),該芯片在并行向量矩陣乘法運算中實現(xiàn)了僅0.101%的均方根誤差,創(chuàng)下了模擬向量-矩陣乘法運算精度的最高紀錄。值得強調(diào)的是,該芯片在-78.5°C和180°C的極端環(huán)境下依然能穩(wěn)定運行,矩陣計算的均方根誤差分別維持在0.155%和0.130%的水平,展現(xiàn)出在極端環(huán)境下保持計算精度的優(yōu)秀能力。不僅如此,該方案還可應(yīng)用于各種二值存儲介質(zhì),因而具備廣泛的應(yīng)用潛力。

本研究的核心思想是將模擬計算權(quán)重的實現(xiàn)方式從器件參數(shù)轉(zhuǎn)向器件的幾何比例(圖1A),利用器件幾何比例在制備完成后具備極高穩(wěn)定性的特點,實現(xiàn)高精度計算(圖1B)?;谶@一思想,研究團隊通過電路拓撲設(shè)計,結(jié)合存儲單元和開關(guān)器件,構(gòu)建了可編程的計算單元(圖1C)。該單元通過兩級依賴尺寸比例的電流拷貝電路實現(xiàn)輸入電流與8比特權(quán)重的乘法運算:第一級的幾何比例由8位存儲器控制;第二級為固定比例,為不同列上的第一級輸出電流賦予對應(yīng)的二進制權(quán)重。兩級共同作用,決定計算單元的整體等效比例,從而實現(xiàn)權(quán)重可編程的模擬乘法運算。通過陣列化排布這些計算單元,研究團隊設(shè)計出了一款高精度電流域向量-矩陣乘法芯片(圖1D)。

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圖1:高精度模擬計算方案與電路結(jié)構(gòu)。(A)概念示意圖。本方案利用器件的物理尺寸決定模擬信號的運算關(guān)系。(B)實現(xiàn)效果示意圖。利用器件物理尺寸的穩(wěn)定性,本方案可實現(xiàn)超越傳統(tǒng)方案的計算精度。(C)計算單元原理圖。通過兩級依賴尺寸比例的電流拷貝電路設(shè)計,結(jié)合存儲單元和開關(guān)器件,構(gòu)建了等效尺寸比例可編程的計算單元,實現(xiàn)輸入電流與8比特權(quán)重的模擬乘法運算。(D)計算陣列原理圖。通過陣列化排布計算單元,設(shè)計高精度電流域向量-矩陣乘法芯片。

隨后,研究團隊基于180nmCMOS工藝對該方案進行了流片驗證。芯片照片與測試電路如圖2A所示。研究團隊通過執(zhí)行多輪隨機向量-矩陣乘法充分測試了該芯片的計算精度。測試使用的矩陣規(guī)模為64×32(圖2B),總共由4塊芯片組成。同時,研究團隊提出了一種權(quán)值重映射方法(圖2C),可以最大程度利用器件尺寸比例的穩(wěn)定性,從而進一步提高芯片的計算精度。在1500次隨機向量-矩陣乘法實驗中,測量到的芯片輸出結(jié)果與理想值幾乎完全一致(圖2D),體現(xiàn)出極高的計算精度。進一步的統(tǒng)計結(jié)果顯示,芯片計算相對誤差的均方根僅為0.101%(圖2E),刷新了模擬計算領(lǐng)域的最高精度紀錄。與其他模擬計算方案相比,本芯片的計算精度顯著提高(圖2F)。

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圖2:高精度模擬向量-矩陣乘法測試。(A)芯片和測試電路照片。(B)模擬向量-矩陣乘法精度測試電路原理圖。(C)權(quán)值重映射方法示意圖。該方法能進一步提高芯片計算精度。(D)1500組隨機向量-矩陣乘法結(jié)果。理想輸出與實際輸出幾乎重合。(E)歸一化計算誤差的分布圖,統(tǒng)計得其均方根僅為0.101%。(F)本芯片與其他先進模擬計算方案的精度對比。

該芯片具有的超高模擬向量-矩陣乘法精度,使得其在實際應(yīng)用中表現(xiàn)優(yōu)異。研究團隊首先測試了芯片在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)推理任務(wù)中的應(yīng)用效果:利用團隊研發(fā)的高精度模擬存算芯片執(zhí)行圖3A所示神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中的全部卷積層和全連接層運算時,在MNIST測試集上識別準確率達到97.97%(圖3C),這與64位浮點精度下的軟件識別率相近(-0.49%),顯著優(yōu)于傳統(tǒng)模擬計算硬件(+3.82%)。進一步,團隊測試了該芯片在科學(xué)計算應(yīng)用中的表現(xiàn)。研究團隊利用高精度模擬存算芯片求解納維–斯托克斯方程,以模擬流體流動行為。經(jīng)實驗測試,芯片計算出的流體運動結(jié)果(圖3D)與64位浮點精度的結(jié)果高度一致(圖3E),而傳統(tǒng)低精度模擬計算硬件在執(zhí)行相同任務(wù)時則無法得到正確的結(jié)果(圖3F)。

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圖3:高精度模擬計算芯片的應(yīng)用表現(xiàn)。(A)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)與數(shù)據(jù)集。(B)在MNIST測試集上識別結(jié)果的混淆矩陣,識別率達到97.97%。(C)準確率對比。高精度模擬計算芯片測試結(jié)果與64位浮點精度下的軟件識別率相近(-0.49%),顯著優(yōu)于傳統(tǒng)模擬計算硬件(+3.82%)。(D)高精度模擬計算芯片求解納維–斯托克斯方程得到的流體行為預(yù)測結(jié)果。(E)64位浮點精度下的軟件計算結(jié)果,本芯片結(jié)果與其高度一致。(F)低精度模擬計算硬件的結(jié)果無法準確反映流體行為。

研究團隊不僅測試了該模擬存算芯片的超高計算精度,還驗證了這一芯片在極端環(huán)境中有效保持計算精度的魯棒性。即使在外界環(huán)境變化條件下,器件的幾何比例依然能保持恒定,這使得本芯片在極端環(huán)境中仍然能保持較高的計算精度。研究團隊在-78.5℃和180℃下利用該模擬存算芯片執(zhí)行模擬向量-矩陣乘法運算測試,測得相對誤差的均方根分別僅為0.155%和0.130%(圖4A、B)。在更寬溫區(qū)(-173.15℃至286.85℃)的測試中,芯片核心單元輸出電流相較于常溫條件的最大偏差僅為1.47%(圖4C-F)。此外,研究團隊也在強磁場環(huán)境(最高10T)中對芯片輸出電流進行了測量。結(jié)果顯示,芯片核心單元的輸出電流相較于無磁場條件的變化不超過0.21%(圖4G-J)。上述結(jié)果充分說明了團隊所提出的高精度模擬計算方案在極端環(huán)境下的可靠性。

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圖4:高精度模擬計算芯片的魯棒性測試。(A)低溫下(-78.5℃)芯片的向量-矩陣乘法精度測試結(jié)果。測得芯片輸出的相對誤差均方根為0.155%。(B)高溫下(180℃)芯片的向量-矩陣乘法精度測試結(jié)果。測得芯片輸出的相對誤差均方根為0.130%。(C)將芯片核心單元置于更寬溫區(qū)(-173.15℃至286.85℃)進行測試的示意圖。(D)-(F)寬溫區(qū)下的輸出電流測量結(jié)果。相對于常溫條件,輸出電流偏差不超過1.47%。(G)將芯片核心單元置于強磁場(最高10T)下進行精度測試的示意圖。(H)-(J)強磁場下的輸出電流測量結(jié)果。相對于零磁場條件,輸出電流偏差不超過0.21%。

相關(guān)研究成果以“Ultrahigh-precisionanalogcomputingusingmemory-switchinggeometricratiooftransistors”(基于器件尺寸比例穩(wěn)定性的超高精度模擬計算方案)為題,于2025年9月12日發(fā)表在學(xué)術(shù)期刊ScienceAdvances上。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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