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Chiplet封裝設(shè)計中的信號與電源完整性挑戰(zhàn)

巨霖 ? 來源:巨霖 ? 2025-11-02 10:02 ? 次閱讀
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隨著半導(dǎo)體工藝逐漸逼近物理極限,單純依靠制程微縮已難以滿足人工智能、高性能計算等領(lǐng)域?qū)λ懔εc能效的持續(xù)增長需求。在此背景下,Chiplet作為一種“后摩爾時代”的異構(gòu)集成方案應(yīng)運而生,它通過將不同工藝、功能的模塊化芯片進(jìn)行先進(jìn)封裝集成,成為應(yīng)對高帶寬、低延遲、低功耗挑戰(zhàn)的核心路徑。

然而,這種架構(gòu)也將設(shè)計的復(fù)雜性從單一的硅晶圓擴(kuò)展至整個封裝系統(tǒng),使得機械應(yīng)力、熱管理、信號完整性及電源完整性等多物理場問題相互交織,構(gòu)成了前所未有的仿真與驗證挑戰(zhàn)。

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多物理場問題凸顯封裝設(shè)計復(fù)雜性

Chiplet的2.5D、3D等先進(jìn)封裝結(jié)構(gòu),在提升集成度的同時,也引入了顯著的多物理場耦合效應(yīng)。

機械翹曲問題因封裝尺寸增大、材料種類繁多及熱應(yīng)力集中而加劇,其仿真精度高度依賴于對生產(chǎn)工藝和材料屬性的精確建模。

熱管理挑戰(zhàn)則源于多芯片功耗疊加與局部熱密度過高,仿真需精確構(gòu)建從芯片內(nèi)部模塊到系統(tǒng)級散熱路徑的完整熱阻網(wǎng)絡(luò)。這些機械與熱效應(yīng)會進(jìn)一步改變傳輸線的電氣特性,使得純粹的信號分析必須讓位于多物理場協(xié)同仿真。

在所有這些挑戰(zhàn)中,信號完整性問題因其直接關(guān)系到系統(tǒng)穩(wěn)定性而尤為關(guān)鍵。其首要挑戰(zhàn)在于跨尺度電磁建模難度。同一封裝內(nèi),互連結(jié)構(gòu)尺寸從亞微米級別的硅中介層布線,跨越至數(shù)十微米級別的有機基板走線,這種尺度差異對電磁仿真工具的網(wǎng)格剖分與算法精度構(gòu)成了極限考驗。

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與此同時,Die-to-Die接口的數(shù)據(jù)速率正持續(xù)攀升。在高布線密度下,嚴(yán)重的串?dāng)_與傳輸損耗,結(jié)合為追求低功耗而簡化的IO設(shè)計,使得信號時序裕量被極度壓縮。這要求仿真工具不僅需提供SPICE級別的電路仿真精度,還必須具備SI/PI協(xié)同分析能力,以精確評估電源噪聲對敏感時序的影響。

電源完整性同樣面臨嚴(yán)峻考驗。AI等應(yīng)用中的計算單元會產(chǎn)生特定頻率的突發(fā)電流,對電源網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成周期性沖擊。而高速接口的核心與IO電源則需在承受大電流的同時,維持極低的噪聲水平。

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仿真難點在于,電源網(wǎng)絡(luò)的電磁建模面臨與信號網(wǎng)絡(luò)類似的跨尺度挑戰(zhàn),且需在時域中模擬最惡劣的工作場景電流。成功的電源完整性仿真依賴于對電源分配網(wǎng)絡(luò)頻域阻抗的精準(zhǔn)優(yōu)化,以及通過瞬態(tài)仿真對負(fù)載突變引發(fā)的電壓波動進(jìn)行充分驗證。

精度與效率的再平衡,驅(qū)動工具鏈演進(jìn)

目前,行業(yè)正面臨長瞬態(tài)仿真與統(tǒng)計仿真的取舍困境。長瞬態(tài)仿真可真實反映物理特性,是精度驗證的基線,但其計算成本隨著信號速率與信道長度的增加而變得難以承受。統(tǒng)計眼圖算法雖能將仿真時間從數(shù)周縮短至分鐘級,但其固有的系統(tǒng)性誤差在Chiplet對時序裕量要求極高的背景下已不容忽視。

應(yīng)對這些挑戰(zhàn),需要仿真技術(shù)棧的整體演進(jìn)。行業(yè)參與者正在探索相應(yīng)的技術(shù)路徑,例如通過高保真電路模型、高精度電磁場模擬及混合求解器來應(yīng)對跨尺度建模問題。以巨霖科技的SIDesigner平臺為例,通過集成電路級與統(tǒng)計仿真求解器,旨在平衡SI/PI協(xié)同仿真時的精度與效率需求,以解決傳統(tǒng)工具在網(wǎng)格剖分適應(yīng)性與統(tǒng)計眼圖精度等方面的具體痛點。

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結(jié)語

Chiplet技術(shù)將芯片設(shè)計的戰(zhàn)場從單一的晶圓擴(kuò)展到整個封裝系統(tǒng)。在此背景下,信號與電源完整性已不再是孤立的設(shè)計環(huán)節(jié),而是與機械、熱等因素深度耦合的系統(tǒng)級問題。突破跨尺度電磁建模、實現(xiàn)高效高精度的多物理場協(xié)同仿真,已成為推動Chiplet技術(shù)持續(xù)演進(jìn)、釋放其全部性能潛力的關(guān)鍵所在。業(yè)界對新一代EDA工具的期待,正聚焦于其能否在更嚴(yán)苛的簽核標(biāo)準(zhǔn)下,真正打通從芯片到封裝乃至系統(tǒng)的全鏈路仿真。

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原文標(biāo)題:Chiplet封裝設(shè)計面臨多維仿真挑戰(zhàn),信號與電源完整性成關(guān)鍵技術(shù)瓶頸

文章出處:【微信號:巨霖,微信公眾號:巨霖】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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