?方案背景

當前激光芯片在激光雷達、工業(yè)傳感等領域的應用，對驅動觸發(fā)信號提出：納秒級窄脈寬 + 高精度調(diào)節(jié) + 強抗干擾的三大核心驅動需求 ，以精準驗證芯片 “脈寬 - 光功率 - 響應速度” 的關聯(lián)特性。

傳統(tǒng)脈沖發(fā)生器存在明顯技術短板：最小脈寬雖可達 300ps，但分辨率 > 50ps，無法實現(xiàn)精細化調(diào)節(jié)；僅支持單端輸出，工業(yè)環(huán)境電磁干擾（EMI）下觸發(fā)信號畸變率高；且缺乏遠程控制功能，難以適配批量測試。而德思特脈沖發(fā)生器TS-PG1072（PulseRider PG1000 系列窄脈沖發(fā)生器）憑借 10ps 分辨率、差分輸出、超低邊沿時間三大核心特性，成為解決激光芯片 “精準觸發(fā)” 難題的關鍵設備。

方案優(yōu)勢

激光芯片測試的核心痛點，本質是傳統(tǒng)觸發(fā)設備無法匹配 “高精度、高穩(wěn)定、高效率” 需求，而這些痛點恰是德思特脈沖發(fā)生器 TS-PG1072 的核心優(yōu)勢所在。

激光芯片測試的核心痛點

? 脈寬調(diào)節(jié)精度不足，無法驗證芯片線性特性

激光芯片需 5ns±0.2ns 脈寬驅動以測試 “脈寬 - 光功率” 線性關系，但傳統(tǒng)發(fā)生器分辨率 > 50ps，調(diào)節(jié)誤差超 ±5%，導致測試數(shù)據(jù)失真。TS-PG1072 的 10ps 分辨率可實現(xiàn) “ns 級脈寬的 ps 級微調(diào)”，精準匹配芯片測試需求。

? 抗干擾能力弱，觸發(fā)信號畸變影響測試結果

工業(yè)場景中 EMI 易導致傳統(tǒng)單端觸發(fā)信號振鈴幅度 > 15%，進而使 EPC9181 輸出電流波動 ±10%，無法準確捕捉芯片真實響應。TS-PG1072 支持差分輸出（±1V@100Ω），可有效抑制共模干擾，降低信號畸變率。

? 手動操作效率低，無法適配批量量產(chǎn)場景

傳統(tǒng)發(fā)生器需手動調(diào)節(jié)脈寬、頻率等參數(shù)，單顆芯片測試耗時 > 10 分鐘，且無數(shù)據(jù)自動記錄功能。TS-PG1072 支持以太網(wǎng)遠程控制與腳本編程，可實現(xiàn)參數(shù)一鍵切換、數(shù)據(jù)自動存儲，大幅提升批量測試效率。

解決方案

德思特脈沖發(fā)生器TS-PG1072 作為整個測試方案的主要模塊，其功能配置直接決定測試精度與效率，需圍繞 TS-PG1072 的技術特性，實現(xiàn)與 EPC9181、激光芯片的深度適配：

1.TS-PG1072 的核心功能適配邏輯

?脈寬精準控制：匹配激光芯片 5ns 級驅動需求

TS-PG1072 支持 300ps-1s 脈寬調(diào)節(jié)，分辨率 10ps，結合 EPC9181 的窄脈沖發(fā)生器（NPG）功能，可實現(xiàn) “輸入脈寬 16ns→輸出脈寬 5.5ns” 的精準轉換（因 EPC9181 NPG 需輸入脈寬比目標脈寬長 10ns）；

通過 TS-PG1072 的 “脈寬微調(diào)旋鈕” 或遠程指令，可將輸出脈寬誤差控制在 ±0.2ns 內(nèi)，滿足激光芯片 “脈寬 - 光功率” 線性測試的精度要求。

?差分觸發(fā)輸出：解決 EMI 干擾問題

將 TS-PG1072 設置為 “差分輸出模式”，通過專用差分線纜連接至 EPC9181 的 J11 差分觸發(fā)接口（J10 跳線切換至差分檔），相比傳統(tǒng)單端觸發(fā)，電流波形振鈴幅度從 > 15% 降至 < 5%；

TS-PG1072 上升沿 < 70ps，可減少觸發(fā)信號延遲，確保 EPC9181 柵極驅動的快速響應，使電流上升沿 < 1ns，同時使得最終脈寬完整性更好，匹配激光芯片的快響應特性。

?多通道同步與遠程控制：提升測試效率

若測試多通道激光芯片，啟用 TS-PG1072 的 “多通道同步輸出” 功能，通道間同步誤差 < 10ps，可同時驅動 2-4 塊 EPC9181，實現(xiàn)多芯片并行測試；

通過TS-PG1072 的以太網(wǎng)接口，編寫 Python 或 LabVIEW 自動化腳本，可實現(xiàn) “脈沖參數(shù)設置→觸發(fā)輸出→數(shù)據(jù)采集→報告生成” 全流程自動化，單顆芯片測試耗時從 10 分鐘縮短至 < 3 分鐘。

2.TS-PG1072 與 EPC9181 的參數(shù)協(xié)同配置

（以單通道測試為例）

方案優(yōu)勢

1.精度高：10ps 分辨率實現(xiàn) ns 級脈寬的 ps 級控制

相比傳統(tǒng)發(fā)生器 > 50ps 的分辨率，TS-PG1072 的 10ps 調(diào)節(jié)精度可將脈寬誤差控制在 ±0.2ns 內(nèi)，實測激光芯片驅動脈寬 5.48ns（誤差 0.4%），為 “脈寬 - 光功率” 線性分析提供精準數(shù)據(jù)支撐。

2.抗干擾能力：差分輸出解決工業(yè) EMI 痛點

TS-PG1072 的差分輸出模式可抑制共模干擾，使 EPC9181 輸出電流波動從傳統(tǒng)方案的 ±10% 降至 ±2%，確保測試數(shù)據(jù)的真實性。

3.自動化效率：遠程控制適配量產(chǎn)場景

依托 TS-PG1072 的以太網(wǎng)遠程功能，可實現(xiàn) 1 人同時管控 10 臺測試系統(tǒng)，日均測試量從 50 顆提升至 200 顆，人力成本降低 ；且支持測試數(shù)據(jù)自動歸檔，減少人工記錄誤差。

4.兼容性拓展：多模式適配不同測試需求

TS-PG1072 支持單端 / 差分輸出、單脈沖 / 多脈沖序列、內(nèi)觸發(fā) / 外觸發(fā)等多種模式，可適配單通道 / 多通道、低功率 / 高功率激光芯片測試，無需更換觸發(fā)設備，方案復用率提升。

方案價值

1.技術價值：助力高規(guī)格芯片研發(fā)突破

憑借 TS-PG1072 的精準觸發(fā)控制，可驗證激光芯片的 “極限性能”（如雙脈沖響應、長時穩(wěn)定性），幫助研發(fā)團隊優(yōu)化芯片結構設計，縮短研發(fā)周期 ，尤其適配車規(guī)級激光雷達芯片的高可靠性測試需求。

2. 成本價值：降低設備投入與運營成本

TS-PG1072 集成 “高精度觸發(fā) + 遠程控制” 功能，無需額外采購脈沖調(diào)理模塊與自動化控制器，設備投入成本減少 ；同時批量測試效率提升，運營成本顯著降低

3.生態(tài)價值：構建可拓展的測試平臺

TS-PG1072 可兼容 EPC 系列不同型號驅動板（如 EPC9179、EPC9181），也可適配不同品牌激光芯片（如 OSRAM、ams），形成 “以 TS-PG1072 為核心的模塊化測試平臺”，滿足客戶從研發(fā)到量產(chǎn)的全生命周期測試需求。

德思特脈沖信號發(fā)生器

德思特ps級脈沖信號發(fā)生器提供多達 4 個通道，每個通道提供單脈沖、雙脈沖、三脈沖或四脈沖，每個脈沖與觸發(fā)信號的周期、寬度和延遲無關?？梢陨删哂?strong>不同寬度、周期和幅度的脈沖，可以非常快速、輕松地設置單個脈沖，使儀器等待外部觸發(fā)或以連續(xù)方式生成脈沖，非常適合大物理應用中的讀數(shù)測試、激光驅動器、速調(diào)管控制同步等。

審核編輯 黃宇

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