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2026年度課程《壽命試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)及可靠性數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析實(shí)操》公開課,助您提升專業(yè)能力!

賽盛技術(shù) ? 2026-02-08 09:02 ? 次閱讀
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課程名稱:《壽命試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)及可靠性數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析實(shí)操》

(可到企業(yè)內(nèi)部培訓(xùn))

講 師:老師

時(shí)間地點(diǎn):北京10月30-31日

主辦單位:賽盛技術(shù)

課程背景

加速壽命試驗(yàn)和高加速壽命試驗(yàn)是提成產(chǎn)品可靠性的重要手段,壽命數(shù)據(jù)分析技術(shù)是質(zhì)量可靠性人員、檢驗(yàn)人員和設(shè)計(jì)師必備的技能,是開展可靠性工作必須的手段,為滿足一線技術(shù)人員對(duì)數(shù)據(jù)處理分析技術(shù)和試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)的需求,特開展本次培訓(xùn)。本次培訓(xùn)從可靠性壽命數(shù)據(jù)基礎(chǔ)理論到工程實(shí)踐,內(nèi)容涵蓋了可靠性壽命試驗(yàn)及可靠性數(shù)據(jù)的大部分內(nèi)容,使大家能夠全面、系統(tǒng)地掌握數(shù)據(jù)收集、處理與分析的知識(shí)和能力。培訓(xùn)的數(shù)據(jù)分析技術(shù)針對(duì)產(chǎn)品不同分布(指數(shù)分布、正態(tài)分布、對(duì)數(shù)正態(tài)分布、威布爾分布)、和試驗(yàn)應(yīng)力場(chǎng)景(常規(guī)試驗(yàn)和加速試驗(yàn))進(jìn)行分析講解,提供了當(dāng)前熱點(diǎn)加速模型的介紹,以提高可靠性工程師、質(zhì)量工程師和設(shè)計(jì)師靈活運(yùn)用可靠性數(shù)據(jù)分析處理技術(shù)解決問(wèn)題的能力。

課程特色

培訓(xùn)中穿插了豐富的案例講解和實(shí)操練習(xí),并為學(xué)員發(fā)放EXCEL和MINITAB學(xué)習(xí)和練習(xí)用實(shí)操案例,和學(xué)員一起采用計(jì)算機(jī)現(xiàn)場(chǎng)傳授和練習(xí)可靠性數(shù)據(jù)技術(shù)的實(shí)際操作方法。特別是利用大家比較熟悉的EXCEL(手工)和Minitab(自動(dòng))進(jìn)行案例講解和實(shí)操練習(xí),適用不同層次的學(xué)員在工作中運(yùn)用合適的工具開展可靠性數(shù)據(jù)分析工作,讓大家學(xué)會(huì)運(yùn)用這些方法解決實(shí)際問(wèn)題的實(shí)際操作技能和水平。

學(xué)員需自帶計(jì)算機(jī),以便現(xiàn)場(chǎng)學(xué)習(xí),并自行在官網(wǎng)下載MINITAB(試用版),安裝好EXCEL或相似軟件。


面向人群

硬件設(shè)計(jì)工程師,硬件測(cè)試工程師,PCB設(shè)計(jì)工程師,可靠性工程師、EMC工程師,PI工程師,SI工程師,項(xiàng)目經(jīng)理,技術(shù)支持工程師,研發(fā)主管,研發(fā)總監(jiān),研發(fā)經(jīng)理,測(cè)試經(jīng)理,系統(tǒng)測(cè)試工程師,具有1年以上工作經(jīng)驗(yàn)的硬件設(shè)計(jì)師、項(xiàng)目管理人員。

課程內(nèi)容


第1章 產(chǎn)品壽命的基礎(chǔ)概念和參數(shù)1.1常用的可靠性指標(biāo)1.1.1可靠性定義、早期壽命(Early Life)1.1.2可靠度、不可靠度、瞬時(shí)失效率1.1.3保證壽命、平均壽命、特征壽命、中位壽命1.1.4平均修復(fù)時(shí)間、有效度。1.1.5耐久性、疲勞壽命1.2客戶要求的質(zhì)量指標(biāo)與可靠性指標(biāo)的關(guān)系1.3可靠性指標(biāo)分析實(shí)操訓(xùn)練

1.3.1Excel案例練習(xí)1.3.2Minitab案例練習(xí)第2章 數(shù)據(jù)類型、來(lái)源和收集要點(diǎn)2.1可靠性數(shù)據(jù)分析的概率統(tǒng)計(jì)基礎(chǔ)2.1.1事件和概率2.1.2隨機(jī)變量與概率分布2.1.3樣本及統(tǒng)計(jì)量2.2數(shù)據(jù)類型2.3數(shù)據(jù)來(lái)源2.4可靠性指標(biāo)分析案例

2.4.1Excel案例練習(xí)2.4.2Minitab案例練習(xí)第3章 壽命與可靠性數(shù)據(jù)常用分布類型3.1指數(shù)分布3.2對(duì)數(shù)分布3.3對(duì)數(shù)正態(tài)分布3.4威布爾分布3.5Minitab練習(xí)

  • 不同產(chǎn)品BX壽命的計(jì)算
  • 保修期內(nèi)損壞數(shù)計(jì)算

第4章 壽命分布的擬合優(yōu)度檢驗(yàn)

4.1 X2檢驗(yàn)4.2指數(shù)分布的檢驗(yàn)4.2.1 K-S檢驗(yàn)4.2.2 X2檢驗(yàn)4.3正態(tài)分布的檢驗(yàn)4.3.1 K-S檢驗(yàn)4.3.2 X2檢驗(yàn)4.4威布爾分布的檢驗(yàn)4.4.1 K-S檢驗(yàn)4.4.2 X2檢驗(yàn)

4.5 應(yīng)用案例4.5.1 EXCEL應(yīng)用示例(人工計(jì)算)聯(lián)系4.5.2 Minitab應(yīng)用示例聯(lián)系

  • LCD示例
  • 穿戴電子示例
  • 不同部件示例

4.6 GB/T5080.6(IEC60605-6-2007)指數(shù)分布檢驗(yàn)4.7 威布爾分析 (IEC61649:2008,IDT)4.7.1 擬合優(yōu)度4.7.2 擬合優(yōu)度檢驗(yàn)第5章 壽命分布的參數(shù)估計(jì)5.1參數(shù)估計(jì)的基本知識(shí)5.1.1參數(shù)的點(diǎn)估計(jì)5.1.2點(diǎn)估計(jì)優(yōu)劣的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)5.1.3參數(shù)的區(qū)間估計(jì)5.2指數(shù)分布的參數(shù)估計(jì)5.2.1無(wú)替換定數(shù)截尾試驗(yàn)的參數(shù)估計(jì)5.2.2無(wú)替換定時(shí)截尾試驗(yàn)的參數(shù)估計(jì)5.2.3有替換定數(shù)截尾試驗(yàn)的參數(shù)估計(jì)5.2.4有替換定時(shí)截尾試驗(yàn)的參數(shù)估計(jì)5.2.5定時(shí)間隔測(cè)試試驗(yàn)的參數(shù)估計(jì)5.2.6隨機(jī)截尾試驗(yàn)的參數(shù)估計(jì)5.3威布爾分布的壽命參數(shù)估計(jì)5.3.1參數(shù)的點(diǎn)估計(jì)5.4 案例5.4.1 EXCEL應(yīng)用示例(人工計(jì)算)練習(xí)

  • 威布爾分布?jí)勖鼌?shù)估計(jì)
  • 指數(shù)分布?jí)勖鼌?shù)估計(jì)

5.4.2 Minitab應(yīng)用示例練習(xí)

  • 威布爾分布?jí)勖鼌?shù)估計(jì)
  • 指數(shù)分布?jí)勖鼌?shù)估計(jì)

第6章 加速壽命模型

6.1單應(yīng)力一阿倫尼斯模型精講6.1.1模型構(gòu)成6.1.2加速倍數(shù)6.1.3模型參數(shù)的取值范圍6.1.4激活能的測(cè)定6.1.5應(yīng)用示例(元件類、功率器件、整機(jī))6.1.6有置信度要求時(shí)的

應(yīng)用示例練習(xí)

6.1.7用EXCEL計(jì)算模型參數(shù)練習(xí)6.1.8用MINITAB計(jì)算激活能、加速倍數(shù)練習(xí)

6.2單應(yīng)力一逆冪率模型精講及設(shè)計(jì)加速案例、6.2.1 逆冪率模型的構(gòu)成6.2.1逆冪率模型參數(shù)的獲得6.2.2逆冪率模型應(yīng)用示例6.2.3IEC61373加速振動(dòng)試驗(yàn)6.2.4GJB150A 振動(dòng)加速案例6.2.5用EXCEL計(jì)算模型參數(shù)練習(xí)6.2.6用MINITAB計(jì)算冪指數(shù)、加速倍數(shù)練習(xí)6.2.7振動(dòng)加速模型調(diào)整試驗(yàn)時(shí)間中的應(yīng)用案例練習(xí)6.3 多應(yīng)力一廣義艾林模型精講6.3.1 高溫高濕加速模型6.3.2電熱加速模型

6.3.2 應(yīng)用案例(EXCEL壽命模型參數(shù)的計(jì)算練習(xí))

6.3.3 用MINITAB計(jì)算雙應(yīng)力加速參數(shù)和加速倍數(shù)聯(lián)系6.4 國(guó)外最新模型介紹6.4.1 Coffin-Manson模型及其適用范圍6.4.2 LESIT模型及其適用范圍6.4.3 NORRIS-LANDZBERG模型及其適用范圍6.4.4 BAYERER模型及其適用范圍6.4.5 SKiM63壽命模型及其適用范圍

第7章 壽命及加速壽命試驗(yàn)方案的設(shè)計(jì)實(shí)施

7.1 壽命試驗(yàn)的分類7.2 壽命試驗(yàn)的測(cè)試點(diǎn)7.3 壽命試驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理7.4 加速壽命試驗(yàn)的理論依據(jù)

7.5 加速應(yīng)力的選擇7.5.1 恒定應(yīng)力7.5.2 步進(jìn)應(yīng)力7.5.3 續(xù)進(jìn)應(yīng)力7.6 樣品數(shù)量的選擇7.7 激活能的計(jì)算7.8 其他加速系數(shù)的計(jì)算7.9 可靠性實(shí)驗(yàn)案例(用EXCEL和Minitab)計(jì)算練習(xí)1已知置信度和MTBF時(shí)的實(shí)驗(yàn)測(cè)定計(jì)算練習(xí)2已知置信度和可靠度時(shí)的實(shí)驗(yàn)測(cè)定計(jì)算練習(xí)3案例加速壽命實(shí)驗(yàn)測(cè)定法

第8章 高加速壽命試驗(yàn)的方案設(shè)計(jì)

1.ALT與AST的區(qū)別2.GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程,高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》簡(jiǎn)介3.GMW 8287 Revision / Edition: 2 《HIGHLY ACCELERATED LIFE TESTING (HALT) HIGHLY ACCELERATED STRESS SCREENING AND AUDITING》簡(jiǎn)介4.HALT和HASS的概念與應(yīng)用范圍5.高加速的基本原理6.HALT/HASS試驗(yàn)過(guò)程及方法 1)初始功能測(cè)試?2)?溫度步進(jìn)應(yīng)力測(cè)試?3)?溫度循環(huán)測(cè)試4)?振動(dòng)應(yīng)力測(cè)試5)?綜合應(yīng)力測(cè)試?6)?故障分析與改進(jìn)7.開展HALT和HASS的幾點(diǎn)注意事項(xiàng)

第9章 基于壽命數(shù)據(jù)的可靠性認(rèn)證試驗(yàn)

一、可靠性認(rèn)證的常用方法 1)驗(yàn)證試驗(yàn)2)失效實(shí)驗(yàn)3)通過(guò)實(shí)驗(yàn)4)過(guò)嚴(yán)實(shí)驗(yàn)

二、通過(guò)認(rèn)證試驗(yàn)的理論依據(jù)

1.一次抽樣檢驗(yàn)的一般程序2.串聯(lián)模型3.OC曲線4.樣品數(shù)計(jì)算5.MINTAB計(jì)算示例6.EXCEL計(jì)算示例三、指數(shù)分布有置信度的可靠性認(rèn)證1、確定產(chǎn)品單元;2、定義的目標(biāo);3、確定產(chǎn)品使用壽命相關(guān)的負(fù)荷;4、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間的計(jì)算;5、樣品數(shù)計(jì)算;6、樣品數(shù)有限定時(shí)的應(yīng)用;7、應(yīng)用示例。

四、威布爾分布的可靠性通過(guò)試驗(yàn)認(rèn)證(一)正常試驗(yàn)情況案例

1. 樣品應(yīng)力正常時(shí)案例2 用MINITAB計(jì)算示例案例3 試驗(yàn)設(shè)計(jì),不是0失效怎么辦?

  • 人工計(jì)算示例
  • MINITAB計(jì)算示例

(二)試驗(yàn)時(shí)間的調(diào)整案例4---正常測(cè)試 案例5—試驗(yàn)條件有限時(shí)測(cè)試 案例6—樣品不足的情況 MINITAB不同樣品數(shù)的計(jì)算示例 案例7-樣品不足加大時(shí)間的情況 案例8 用加速試驗(yàn)(循環(huán)) 案例9 用加速試驗(yàn)(時(shí)間) 案例10 實(shí)驗(yàn)結(jié)果當(dāng)出現(xiàn)失效時(shí)怎么辦?


優(yōu)質(zhì)售后服務(wù),提升培訓(xùn)效果


參訓(xùn)學(xué)員或者企業(yè)在課程結(jié)束后,可以享受相關(guān)賽盛技術(shù)的電磁兼容技術(shù)方面優(yōu)質(zhì)售后服務(wù),作為授課之補(bǔ)充,保證效果,達(dá)到學(xué)習(xí)目的。主要內(nèi)容如下:

1.【技術(shù)問(wèn)題解答】培訓(xùn)后一年內(nèi),如有課程相關(guān)技術(shù)問(wèn)題或管理問(wèn)題,可通過(guò)電話、郵件聯(lián)系賽盛技術(shù),我們將根據(jù)實(shí)際情況安排人員溝通回復(fù);

2.【定期案例分享】分享不斷,學(xué)習(xí)不斷;

3.【技術(shù)交流群】加入正式技術(shù)交流群,與行業(yè)大咖零距離溝通;

4.【EMC元件選型技術(shù)支持】如學(xué)員在EMC元件選擇或應(yīng)用上有不清楚的地方可隨時(shí)與賽盛技術(shù)溝通;

5.【往期經(jīng)典案例分析】行業(yè)典型EMC案例分享、器件選型等資料。

6.【研討會(huì)】不限人數(shù)參加賽盛技術(shù)線上或者線下研討會(huì),企業(yè)內(nèi)部工程師可相互分享,共同成長(zhǎng)。

7.【EMC測(cè)試服務(wù)】在賽盛技術(shù)進(jìn)行EMC測(cè)試服務(wù),可享受會(huì)員折扣服務(wù)!



講師資歷——張老師

張老師,某研究所正高級(jí)工程師,系統(tǒng)可靠性專家,高級(jí)顧問(wèn),西安理工大學(xué)可靠性研究院特聘教授。張老師是國(guó)務(wù)院省級(jí)政府質(zhì)量考核專家、教育部職業(yè)教育指導(dǎo)委員會(huì)電子信息委員、京滬渝市場(chǎng)監(jiān)管系統(tǒng)質(zhì)量可靠性專家、中國(guó)電子學(xué)會(huì)第八屆理事會(huì)理事;中國(guó)軌道交通網(wǎng)安全理事會(huì)理事;中國(guó)質(zhì)量協(xié)會(huì)可靠性促進(jìn)委員會(huì)專家委員;《環(huán)境試驗(yàn)》《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)》編委;TSQ創(chuàng)始人、首席診斷師,具有中國(guó)質(zhì)量工程師培訓(xùn)執(zhí)教資格。張老師出版了《電子產(chǎn)品可靠性預(yù)計(jì)》、《以可靠性為中心的質(zhì)量設(shè)計(jì)、分析和控制》,《可靠性設(shè)計(jì)》等專著。發(fā)表學(xué)術(shù)論文20篇。獲得部級(jí)二、三等獎(jiǎng)各一次,航空科技進(jìn)步三等獎(jiǎng)一項(xiàng),獲發(fā)明專利2項(xiàng)。在國(guó)內(nèi)首次提出質(zhì)量可靠性整體解決技術(shù)方法,并在400家企業(yè)推廣應(yīng)用。張老師主要從事產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)和可靠性技術(shù)研究。負(fù)責(zé)了五個(gè)國(guó)家重點(diǎn)工程的部件優(yōu)選工作,開展可靠性預(yù)計(jì)、可靠性設(shè)計(jì)、可靠性分析等研究工作。主持了GJB/Z299《電子設(shè)備可靠性預(yù)計(jì)手冊(cè)》關(guān)鍵技術(shù)研究,并相繼發(fā)布了B、C版。負(fù)責(zé)GB/T7826《故障模式、影響及危害性分析》和GB/T7829《故障樹分析(FTA)》等標(biāo)準(zhǔn)制定。張老師有豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和企業(yè)診斷經(jīng)驗(yàn)。曾為廣州地鐵電源系統(tǒng)、三一重機(jī)、重慶電網(wǎng)、沈陽(yáng)醫(yī)療設(shè)備等公司完成可靠性、維修性設(shè)計(jì)建議書;為中電科技集團(tuán)14所、10所、26所、康佳、TCL、美的等500+家單位的技術(shù)人員進(jìn)行了公開或內(nèi)部的可靠性設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)計(jì)、可靠性試驗(yàn)、3F方法、元器件選用等方面的技術(shù)培訓(xùn)或講座,受眾達(dá)10萬(wàn)人。


主辦單位介紹

深圳市賽盛技術(shù)有限公司位于深圳寶安區(qū),2005年成立,是國(guó)內(nèi)首家為電子企業(yè)提供全流程全方位的電磁兼容(EMC)方案提供商;


服務(wù)范圍:EMC設(shè)計(jì)、EMC整改、EMC流程建設(shè)、EMC仿真、EMC測(cè)試及EMC培訓(xùn)、硬件培訓(xùn)等技術(shù)服務(wù)。

賽盛技術(shù)自2006年開始自主舉辦EMC培訓(xùn),2010年后開始加入信號(hào)完整性培訓(xùn)、可靠性培訓(xùn)、硬件電路培訓(xùn)等服務(wù),截至目前為9000+企業(yè)提供過(guò)培訓(xùn)服務(wù),超過(guò)30000+研發(fā)工程師參加過(guò)培訓(xùn),同時(shí)受到企業(yè)與工程師一致認(rèn)可!


培訓(xùn)初心:幫助企業(yè)提升研發(fā)團(tuán)隊(duì)能力幫助企業(yè)解決產(chǎn)品技術(shù)問(wèn)題幫助企業(yè)縮短產(chǎn)品上市周期

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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    、DCDC等)的集成和復(fù)雜度日益提高。這些系統(tǒng)內(nèi)部的高頻、功率開關(guān)器件在工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的電磁干擾(EMI),同時(shí)其自身也對(duì)電磁騷擾非常敏感。電磁兼容(EMC)問(wèn)題
    的頭像 發(fā)表于 01-17 10:03 ?1170次閱讀
    <b class='flag-5'>2026</b><b class='flag-5'>年度</b><b class='flag-5'>課程</b>《車載電源EMC設(shè)計(jì)與整改》<b class='flag-5'>公開課</b>,<b class='flag-5'>助您提升</b><b class='flag-5'>專業(yè)</b><b class='flag-5'>能力</b>!

    北京3月20-21日《電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算》公開課,助您提升專業(yè)能力

    課程名稱:《電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算》(可到企業(yè)內(nèi)部培訓(xùn))講師:武老師時(shí)間地點(diǎn):北京3月20-21日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色數(shù)學(xué)工程計(jì)算方法:通過(guò)數(shù)學(xué)和工程計(jì)算的手段,學(xué)員可以深入理解并計(jì)算出器件
    的頭像 發(fā)表于 01-15 15:42 ?102次閱讀
    北京3月20-21日《電路<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)與工程計(jì)算》<b class='flag-5'>公開課</b>,<b class='flag-5'>助您提升</b><b class='flag-5'>專業(yè)</b><b class='flag-5'>能力</b>!

    【EMC技術(shù)案例】顯示屏因屏幕排線導(dǎo)致RE超標(biāo)問(wèn)題案例

    !20262026年度《電路設(shè)計(jì)中器件選型及工程計(jì)算》公開課助您提升
    的頭像 發(fā)表于 01-12 17:55 ?1289次閱讀
    【EMC技術(shù)案例】顯示屏因屏幕排線導(dǎo)致RE超標(biāo)問(wèn)題案例

    2026年度《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測(cè)試及案例分析》首場(chǎng)公開課即將開始!

    課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測(cè)試及案例分析》講師:王老師時(shí)間地點(diǎn):上海3月19-21日、北京5月21-23日、深圳11月19-21日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色1、案例多,案例均來(lái)自
    的頭像 發(fā)表于 01-02 09:02 ?511次閱讀
    <b class='flag-5'>2026</b><b class='flag-5'>年度</b>《硬件電路<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)、測(cè)試及案例<b class='flag-5'>分析</b>》首場(chǎng)<b class='flag-5'>公開課</b>即將開始!

    2026年度《嵌入式系統(tǒng)軟硬件可靠性設(shè)計(jì)》公開課,助您提升專業(yè)能力!

    課程名稱:《嵌入式系統(tǒng)軟硬件可靠性設(shè)計(jì)》講師:武老師時(shí)間地點(diǎn):深圳4月24-25日主辦單位:賽盛技術(shù)課程背景隨著嵌入式系統(tǒng)在工業(yè)控制、汽車電子、航空航天、醫(yī)療設(shè)備及消費(fèi)電子等關(guān)鍵領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,其
    的頭像 發(fā)表于 12-28 10:03 ?932次閱讀
    <b class='flag-5'>2026</b><b class='flag-5'>年度</b>《嵌入式系統(tǒng)軟硬件<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)》<b class='flag-5'>公開課</b>,<b class='flag-5'>助您提升</b><b class='flag-5'>專業(yè)</b><b class='flag-5'>能力</b>!

    電解電容加速壽命試驗(yàn)的研究與應(yīng)用

    要點(diǎn): 一、加速壽命試驗(yàn)的核心方法 1、恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn) 原理:在固定的高于正常工作條件的應(yīng)
    的頭像 發(fā)表于 10-17 16:05 ?350次閱讀
    電解電容<b class='flag-5'>加速</b><b class='flag-5'>壽命</b><b class='flag-5'>試驗(yàn)</b>的研究與應(yīng)用

    HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)在可靠性測(cè)試中的區(qū)別

    什么是HALT試驗(yàn)?HALT(HighlyAcceleratedLifeTest)的全稱是加速壽命試驗(yàn)。HALT是一種通過(guò)施加逐級(jí)遞增的環(huán)
    的頭像 發(fā)表于 08-27 15:04 ?811次閱讀
    HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)在<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試中的區(qū)別

    CDM試驗(yàn)對(duì)電子器件可靠性的影響

    在電子器件制造和應(yīng)用中,靜電放電(ESD)是一個(gè)重要的可靠性問(wèn)題。CDM(帶電器件模型)試驗(yàn)是評(píng)估電子器件在靜電放電環(huán)境下的敏感可靠性的重要手段。通過(guò)CDM
    的頭像 發(fā)表于 08-27 14:59 ?1048次閱讀
    CDM<b class='flag-5'>試驗(yàn)</b>對(duì)電子器件<b class='flag-5'>可靠性</b>的影響

    AEC-Q102之高加速壽命試驗(yàn)

    在當(dāng)今快速發(fā)展的電子行業(yè),產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性是決定其市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵因素之一。為了確保電子產(chǎn)品能夠在各種復(fù)雜環(huán)境條件下長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行,可靠性測(cè)試成為了研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中不可或缺的重要環(huán)節(jié)。其中,
    的頭像 發(fā)表于 05-14 14:40 ?728次閱讀
    AEC-Q102之高<b class='flag-5'>加速</b><b class='flag-5'>壽命</b><b class='flag-5'>試驗(yàn)</b>

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過(guò)直接在未封裝晶圓上施加
    發(fā)表于 05-07 20:34

    深圳 4月21日-22日《電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算》公開課,助您提升專業(yè)能力!

    課程名稱:《電路可靠性設(shè)計(jì)與工程計(jì)算》講師:武老師時(shí)間地點(diǎn):深圳4月21日-22日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色數(shù)學(xué)工程計(jì)算方法:通過(guò)數(shù)學(xué)和工程計(jì)算的手段,學(xué)員可以深入理解并計(jì)算出器件的各種參數(shù)。這些
    的頭像 發(fā)表于 03-18 15:14 ?592次閱讀
    深圳 4月21日-22日《電路<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)與工程計(jì)算》<b class='flag-5'>公開課</b>,<b class='flag-5'>助您提升</b><b class='flag-5'>專業(yè)</b><b class='flag-5'>能力</b>!

    老化試驗(yàn)箱:加速集成電路壽命評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽

    芯片需在5內(nèi)保持99.99%可靠性,通過(guò)85℃/85% RH高溫試驗(yàn)加速測(cè)試1000小時(shí),即可等效模擬5
    的頭像 發(fā)表于 03-08 11:56 ?1082次閱讀
    老化<b class='flag-5'>試驗(yàn)</b>箱:<b class='flag-5'>加速</b>集成電路<b class='flag-5'>壽命</b>評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽