隨著AI大模型、高性能計(jì)算的快速發(fā)展,HBM高帶寬內(nèi)存、高端AI芯片、Chiplet異構(gòu)集成成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的核心方向,摩爾定律的演進(jìn)已從平面微縮轉(zhuǎn)向3D垂直集成。而晶圓鍵合,正是實(shí)現(xiàn)3D芯片、異質(zhì)材料集成、先進(jìn)封裝的核心支柱工藝。在晶圓鍵合過程中,晶圓的高精度對(duì)準(zhǔn)是決定工藝成敗、芯片性能、量產(chǎn)良率的防控線,先進(jìn)鍵合工藝的對(duì)準(zhǔn)精度要求正在向更高的精度邁進(jìn)。哪怕僅有幾納米的對(duì)準(zhǔn)偏差,都會(huì)導(dǎo)致芯片報(bào)廢、器件性能失效與可靠性降低。而實(shí)現(xiàn)納米級(jí)對(duì)準(zhǔn)的核心,正是能幫助晶圓調(diào)整位姿的壓電納米定位臺(tái)。
一、晶圓鍵合技術(shù)
1.晶圓鍵合(Wafer Bonding)是半導(dǎo)體前道制造與先進(jìn)封裝的核心工藝,是一種將兩片或多片晶圓(如硅、SiC、GaN等材料)在分子或原子尺度實(shí)現(xiàn)一體化結(jié)合的技術(shù)。晶圓鍵合的主要目的是突破傳統(tǒng)芯片制造在二維平面上的物理極限,實(shí)現(xiàn)更高性能、更低功耗和更多功能的集成,例如:
(1)3D集成:垂直堆疊不同功能的芯片,顯著提升集成度與數(shù)據(jù)傳輸速度;
(2)異質(zhì)集成:將不同材料的晶圓(如GaN、Si等)無縫結(jié)合在一起,實(shí)現(xiàn)優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)
(3)先進(jìn)封裝:制備SOI晶圓、MEMS真空腔體等特殊結(jié)構(gòu),通過晶圓級(jí)封裝大幅提升量產(chǎn)良率,降低制造成本。
(注:圖片來源于網(wǎng)絡(luò))2.典型的晶圓鍵合過程包含以下關(guān)鍵步驟:
(1)表面預(yù)處理:通過化學(xué)清洗、等離子體活化等工藝,使晶圓表面原子級(jí)平整,去除雜質(zhì)與缺陷;
(2)精確對(duì)準(zhǔn):將兩片晶圓上的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記精確重合,以確保后續(xù)電氣連接的正確性;
(3)預(yù)鍵合:將兩片對(duì)準(zhǔn)的晶圓貼合在一起,利用分子間作用力使晶圓初步貼合;
(4)退火強(qiáng)化:通過高溫加熱使原子間形成牢固的共價(jià)鍵,從而將兩片晶圓永久性地結(jié)合在一起;
(5)質(zhì)量檢測(cè):檢測(cè)鍵合強(qiáng)度、對(duì)準(zhǔn)精度與可靠性。
(注:圖片來源于網(wǎng)絡(luò))3.晶圓鍵合的核心技術(shù)指標(biāo):對(duì)準(zhǔn)精度
在晶圓鍵合的諸多技術(shù)指標(biāo)中,對(duì)準(zhǔn)精度是決定最終芯片功能與性能的最關(guān)鍵參數(shù)之一。
對(duì)準(zhǔn)精度直接關(guān)系到:電氣互聯(lián)的成效、芯片性能的優(yōu)劣、生產(chǎn)良率與成本。
(注:圖片來源于網(wǎng)絡(luò))二、壓電納米定位臺(tái):晶圓對(duì)準(zhǔn)的核心執(zhí)行單元
晶圓精對(duì)準(zhǔn)的本質(zhì),是對(duì)晶圓的位置進(jìn)行納米級(jí)的精確調(diào)整。壓電納米定位臺(tái)是以壓電陶瓷作為驅(qū)動(dòng)源,結(jié)合柔性鉸鏈機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)多軸精密運(yùn)動(dòng)的壓電平臺(tái)。其核心優(yōu)勢(shì)在于體積小、無摩擦、響應(yīng)速度快,配置高精度傳感器后,可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率及定位精度,且具有極高的可靠性。
在晶圓鍵合過程中,壓電納米定位臺(tái)通過多自由度微動(dòng),補(bǔ)償誤差,將晶圓調(diào)整到理想的對(duì)準(zhǔn)位置。這一過程需要同時(shí)滿足高精度、高穩(wěn)定性、快響應(yīng)等要求,壓電納米定位臺(tái)憑借獨(dú)有的驅(qū)動(dòng)與結(jié)構(gòu)特性,是晶圓鍵合對(duì)準(zhǔn)調(diào)姿的核心標(biāo)配部件。
芯明天壓電納米定位臺(tái)的核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)
(1)納米級(jí)定位精度
壓電納米定位臺(tái)通過逆壓電效應(yīng)實(shí)現(xiàn)電信號(hào)到位移的直接轉(zhuǎn)換,分辨率和定位精度可達(dá)納米級(jí),完全滿足先進(jìn)晶圓鍵合對(duì)亞微米乃至納米級(jí)對(duì)準(zhǔn)的要求。
(2)毫秒級(jí)快速響應(yīng)
壓電納米定位臺(tái)的響應(yīng)時(shí)間通常在毫秒級(jí),可實(shí)時(shí)補(bǔ)償位移偏差。在晶圓鍵合過程中,壓電納米定位臺(tái)能夠快速完成晶圓位置的微調(diào),避免因調(diào)整滯后導(dǎo)致的對(duì)準(zhǔn)失敗。
(3)無摩擦
壓電納米定位臺(tái)采用無摩擦柔性鉸鏈機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì),具有零間隙傳動(dòng)、高導(dǎo)向精度、高分辨率、長(zhǎng)期穩(wěn)定等優(yōu)勢(shì)。
(4)多軸協(xié)同運(yùn)動(dòng)能力
晶圓對(duì)準(zhǔn)需要同時(shí)調(diào)整多個(gè)自由度,包括多軸直線及旋轉(zhuǎn),而壓電納米定位臺(tái)可實(shí)現(xiàn)三維甚至六自由度的精密運(yùn)動(dòng)。
(5)高穩(wěn)定性與可靠性
壓電納米定位臺(tái)的高剛性、零間隙的設(shè)計(jì)保證了系統(tǒng)在操作中的穩(wěn)定性和重復(fù)性,是承載晶圓的可靠平臺(tái)。
產(chǎn)品推薦
芯明天H30系列壓電納米定位臺(tái)是具有中心通孔的、XY直線及θz軸旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的三維壓電偏擺臺(tái),采用無摩擦柔性鉸鏈結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),響應(yīng)速度快、閉環(huán)定位精度高,可滿足晶圓對(duì)準(zhǔn)過程中的調(diào)整需求。
芯明天H30系列壓電納米定位臺(tái)
技術(shù)參數(shù)
|
型號(hào) |
H30.XY100R2S/K |
|
運(yùn)動(dòng)自由度 |
X、Y、θz |
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驅(qū)動(dòng)控制 |
4路驅(qū)動(dòng),3路傳感/4路驅(qū)動(dòng) |
|
標(biāo)稱直線行程范圍(0~120V) |
±56/軸 |
|
直線行程范圍(0~150V) |
±70/軸 |
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標(biāo)稱旋轉(zhuǎn)角度(0~120V) |
1.6(≈330秒) |
|
旋轉(zhuǎn)角度(0~150V) |
2(≈413秒) |
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傳感器類型 |
SGS/- |
|
XY向分辨率 |
6nm/2nm |
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θz向分辨率 |
0.3μrad(≈0.06秒)/0.1μrad(≈0.02秒) |
|
XY向重復(fù)定位精度 |
X0.057%F.S.、Y0.018%F.S./- |
|
θz向重復(fù)定位精度 |
0.03%F.S./- |
|
空載諧振頻率 |
XY450Hz、θz330Hz |
|
帶載諧振頻率@6kg |
XY110Hz、θz85Hz |
|
靜電容量 |
XY15μF、θz28.8μF |
|
階躍時(shí)間 |
150ms@6kg/5ms |
|
承載能力 |
6kg |
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材質(zhì) |
鋁合金 |
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重量(不含線) |
2.3kg |
晶圓鍵合對(duì)位納米臺(tái)
芯明天晶圓鍵合對(duì)位納米臺(tái)
技術(shù)參數(shù)
運(yùn)動(dòng)自由度:X、Y、θz
行程:XY>100μm/軸、θz>0.2mrad
納米級(jí)分辨率
承載能力:>10kg
可選真空版本
產(chǎn)品可定制
審核編輯 黃宇
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