CSD25485F5 -20V P-Channel FemtoFET? MOSFET:小身材大能量
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,我們常常面臨著在有限空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)高性能的挑戰(zhàn)。今天要給大家介紹的 CSD25485F5 -20V P-Channel FemtoFET? MOSFET,就是一款在小尺寸下展現(xiàn)出卓越性能的器件,特別適合工業(yè)負(fù)載開(kāi)關(guān)和通用開(kāi)關(guān)等應(yīng)用。
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產(chǎn)品概述
CSD25485F5 是一款采用 P-Channel FemtoFET? MOSFET 技術(shù)的器件,其設(shè)計(jì)目標(biāo)是在眾多手持和移動(dòng)應(yīng)用中最小化占用空間。它能夠替代標(biāo)準(zhǔn)小信號(hào) MOSFET,同時(shí)顯著減小封裝尺寸。
產(chǎn)品特性
- 低導(dǎo)通電阻:不同柵源電壓下,導(dǎo)通電阻表現(xiàn)出色。例如,當(dāng) (V{GS} = –8 V) 時(shí),典型導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 僅為 29.7 mΩ,這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,器件的功率損耗較小,能夠提高電路效率。
- 低柵極電荷:總柵極電荷 (Q{g})(–4.5 V)典型值為 2.7 nC,柵極 - 漏極電荷 (Q{gd}) 為 0.56 nC。低柵極電荷有助于降低開(kāi)關(guān)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度,使器件在高頻應(yīng)用中表現(xiàn)更優(yōu)。
- 超小封裝尺寸:封裝尺寸為 1.53 mm × 0.77 mm,焊盤(pán)間距為 0.50 -mm,高度僅 0.36 -mm。如此小巧的尺寸,非常適合對(duì)空間要求苛刻的應(yīng)用場(chǎng)景。
- 集成 ESD 保護(hù)二極管:能夠有效保護(hù)器件免受靜電放電的損害,提高了器件的可靠性和穩(wěn)定性。
產(chǎn)品參數(shù)
| 參數(shù) | 測(cè)試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| (B_{V DSS})(漏 - 源電壓) | (V{GS} = 0 V),(I{DS} = –250 μA) | -20 | - | - | V |
| (I_{DSS})(漏 - 源泄漏電流) | (V{GS} = 0 V),(V{DS} = –16 V) | - | - | -100 | nA |
| (I_{GSS})(柵 - 源泄漏電流) | (V{DS} = 0 V),(V{GS} = –12 V) | - | - | -25 | nA |
| (V_{GS(th)})(柵 - 源閾值電壓) | (V{DS} = V{GS}),(I_{DS} = –250 μA) | -0.7 | -0.95 | -1.3 | V |
| (R_{DS(on)})(漏 - 源導(dǎo)通電阻) | (V{GS} = –1.8 V),(I{DS} = –0.1 A) | 89 | - | 250 | mΩ |
| (V{GS} = –2.5 V),(I{DS} = –0.9 A) | 51 | - | 70 | mΩ | |
| (V{GS} = –4.5 V),(I{DS} = –0.9 A) | 35 | - | 42 | mΩ | |
| (V{GS} = –8 V),(I{DS} = –0.9 A) | 29.7 | - | 35 | mΩ | |
| (g_{fs})(跨導(dǎo)) | (V{DS} = –2 V),(I{DS} = –0.9 A) | - | 7 | - | S |
應(yīng)用場(chǎng)景
該器件主要適用于工業(yè)負(fù)載開(kāi)關(guān)應(yīng)用和通用開(kāi)關(guān)應(yīng)用。在工業(yè)負(fù)載開(kāi)關(guān)中,其低導(dǎo)通電阻和低柵極電荷特性能夠有效降低功耗,提高系統(tǒng)效率;在通用開(kāi)關(guān)應(yīng)用中,超小的封裝尺寸可以節(jié)省電路板空間,使設(shè)計(jì)更加緊湊。
絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|
| (V_{DS})(漏 - 源電壓) | -20 | V |
| (V_{GS})(柵 - 源電壓) | -12 | V |
| (I_{D})(連續(xù)漏極電流) | -3.2(條件 1) -5.3(條件 2) |
A |
| (I_{DM})(脈沖漏極電流) | -31 | A |
| (P_{D})(功率耗散) | 0.5(條件 1) 1.4(條件 2) |
W |
| (V_{(ESD)})(人體模型) | 4000 | V |
| (充電器件模型) | 2000 | V |
| (T{J}),(T{stg})(工作結(jié)溫、存儲(chǔ)溫度) | -55 至 150 | °C |
這里需要注意不同條件下的參數(shù)差異,例如連續(xù)漏極電流和功率耗散在不同的銅面積條件下有不同的值,這與散熱情況密切相關(guān)。
熱信息
熱阻是衡量器件散熱性能的重要指標(biāo)。該器件在不同的安裝條件下有不同的熱阻:
- 當(dāng)器件安裝在具有 1 -in2(6.45 -cm2)、2 -oz(0.071 -mm)厚銅的 FR4 材料上時(shí),典型結(jié) - 環(huán)境熱阻 (R_{theta JA}) 為 90 °C/W。
- 當(dāng)器件安裝在最小銅安裝面積的 FR4 材料上時(shí),典型結(jié) - 環(huán)境熱阻 (R_{theta JA}) 為 245 °C/W。
在設(shè)計(jì)電路時(shí),我們需要根據(jù)實(shí)際的散熱需求和安裝條件來(lái)考慮熱阻對(duì)器件性能的影響。
典型 MOSFET 特性
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,包括瞬態(tài)熱阻抗、飽和特性、轉(zhuǎn)移特性、柵極電荷、電容特性、閾值電壓與溫度關(guān)系、導(dǎo)通電阻與溫度關(guān)系、最大安全工作區(qū)、二極管正向電壓以及最大漏極電流與溫度關(guān)系等。這些曲線能夠幫助我們更深入地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。例如,從導(dǎo)通電阻與溫度關(guān)系曲線中,我們可以看到隨著溫度的升高,導(dǎo)通電阻會(huì)發(fā)生變化,這在設(shè)計(jì)時(shí)需要考慮對(duì)電路性能的影響。
機(jī)械、封裝和訂購(gòu)信息
機(jī)械尺寸
器件的封裝尺寸為 1.53 mm × 0.77 mm,高度為 0.36 mm,引腳配置為:Pin 1 為柵極,Pin 2 為源極,Pin 3 為漏極。
推薦 PCB 布局和模板圖案
文檔中給出了推薦的最小 PCB 布局和模板圖案,這些設(shè)計(jì)能夠幫助我們更好地進(jìn)行電路板設(shè)計(jì),確保器件的性能和可靠性。例如,在 PCB 布局中,要注意焊盤(pán)尺寸和間距的設(shè)計(jì),以保證良好的焊接質(zhì)量。
訂購(gòu)信息
提供了不同的訂購(gòu)型號(hào),如 CSD25485F5、CSD25485F5.B、CSD25485F5T、CSD25485F5T.B,它們?cè)诎b數(shù)量、載體等方面有所不同。同時(shí),還給出了詳細(xì)的包裝信息,包括卷盤(pán)尺寸、載帶尺寸、盒子尺寸等。
總結(jié)
CSD25485F5 -20V P-Channel FemtoFET? MOSFET 以其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、超小封裝尺寸和集成 ESD 保護(hù)等特性,為工業(yè)負(fù)載開(kāi)關(guān)和通用開(kāi)關(guān)應(yīng)用提供了一個(gè)優(yōu)秀的解決方案。在設(shè)計(jì)過(guò)程中,我們需要充分考慮器件的各項(xiàng)參數(shù)和特性,結(jié)合實(shí)際應(yīng)用需求進(jìn)行合理設(shè)計(jì)。大家在使用這款器件時(shí),有沒(méi)有遇到過(guò)什么特別的問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的設(shè)計(jì)思路呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
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CSD25485F5 20V P 溝道 FemtoFET MOSFET
–20V P溝道FemtoFET? MOSFET CSD25501F3數(shù)據(jù)表
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