深入解析 FQH8N100C:高性能 N 溝道 MOSFET 的卓越之選
在電子工程師的設(shè)計(jì)工作中,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是至關(guān)重要的器件,廣泛應(yīng)用于各類電子電路。今天,我們就來深入探討 ON Semiconductor 推出的 FQH8N100C 這款 N 溝道增強(qiáng)型功率 MOSFET。
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產(chǎn)品概述
FQH8N100C 采用了 ON Semiconductor 專有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)。這種先進(jìn)的 MOSFET 技術(shù)經(jīng)過精心設(shè)計(jì),旨在降低導(dǎo)通電阻,同時(shí)提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。該器件適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)以及電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用場(chǎng)景。
關(guān)鍵特性
電氣性能
- 高耐壓與大電流:具備 1000V 的耐壓能力和 8A 的連續(xù)電流承載能力($T{C}=25^{circ}C$),即使在高溫環(huán)境下($T{C}=100^{circ}C$),也能提供 5.0A 的連續(xù)電流,滿足多種高功率應(yīng)用需求。
- 低導(dǎo)通電阻:$R{DS(on)}=1.45Omega$(最大值,$V{GS}=10V$),低導(dǎo)通電阻有助于減少功率損耗,提高電路效率。
- 低柵極電荷:典型值為 53nC,能夠?qū)崿F(xiàn)快速的開關(guān)速度,降低開關(guān)損耗。
- 低反饋電容:$C_{rss}$典型值為 16pF,有助于減少開關(guān)過程中的干擾和振蕩,提高電路的穩(wěn)定性。
可靠性
- 100% 雪崩測(cè)試:經(jīng)過嚴(yán)格的雪崩測(cè)試,確保器件在雪崩條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
- 改進(jìn)的 dv/dt 能力:能夠承受較高的電壓變化率,增強(qiáng)了器件在復(fù)雜電路環(huán)境中的抗干擾能力。
環(huán)保特性
該器件為無鉛產(chǎn)品,符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。
絕對(duì)最大額定值
| 參數(shù) | 數(shù)值 | 單位 |
|---|---|---|
| 漏源電壓($V_{DSS}$) | 1000 | V |
| 連續(xù)漏極電流($T_{C}=25^{circ}C$) | 8.0 | A |
| 連續(xù)漏極電流($T_{C}=100^{circ}C$) | 5.0 | A |
| 脈沖漏極電流($I_{DM}$) | 32 | A |
| 柵源電壓($V_{GSS}$) | ±30 | V |
| 單脈沖雪崩能量($E_{AS}$) | 850 | mJ |
| 雪崩電流($I_{AR}$) | 8.0 | A |
| 重復(fù)雪崩能量($E_{AR}$) | 22 | mJ |
| 峰值二極管恢復(fù) dv/dt | 4.0 | V/ns |
| 功率耗散($T_{C}=25^{circ}C$) | 225 | W |
| 25°C 以上降額系數(shù) | 1.79 | W/°C |
| 工作和存儲(chǔ)溫度范圍($T{J},T{STG}$) | -55 至 +150 | °C |
| 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼 1/8″,5 秒) | 300 | °C |
需要注意的是,超過這些最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
電氣特性
關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓($B_{V DSS}$):在$V{GS}=0V$,$I{D}=250mu A$的條件下,最小值為 1000V。
- 擊穿電壓溫度系數(shù):$I_{D}=250mu A$時(shí),參考 25°C,為 1.4V/°C。
- 零柵壓漏極電流($I_{DSS}$):$V{DS}=1000V$,$V{GS}=0V$時(shí),最大值為 10μA;$V{DS}=800V$,$T{C}=125^{circ}C$時(shí),最大值為 100μA。
- 柵體正向泄漏電流($I_{GSSF}$):$V{GS}=30V$,$V{DS}=0V$時(shí),最大值為 100nA。
- 柵體反向泄漏電流($I_{GSSR}$):$V{GS}=-30V$,$V{DS}=0V$時(shí),最大值為 -100nA。
導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓($V_{GS(th)}$):典型值為 3.0V。
- 正向跨導(dǎo):具體數(shù)值文檔未詳細(xì)給出。
動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容($C_{iss}$):$V{DS}=25V$,$V{GS}=0V$,$f = 1.0MHz$時(shí),典型值為 2475pF,最大值為 3220pF。
- 輸出電容($C_{oss}$):典型值為 195pF,最大值為 255pF。
- 反向傳輸電容($C_{rss}$):典型值為 16pF,最大值為 21pF。
開關(guān)特性
文檔中給出了一些開關(guān)時(shí)間和柵極電荷的相關(guān)信息,但部分?jǐn)?shù)據(jù)未完整列出,如開通延遲時(shí)間、開通上升時(shí)間等。
漏源二極管特性
- 最大連續(xù)源漏二極管正向電流($I_{S}$):文檔未詳細(xì)給出具體數(shù)值。
- 漏源二極管正向電壓:未詳細(xì)給出。
- 反向恢復(fù)時(shí)間($t_{r}$):在$V{GS}=0V$,$I{S}=8.0A$,$dI_{F}/dt = 100A/mu s$的條件下,未給出具體數(shù)值。
- 反向恢復(fù)電荷($Q_{rr}$):典型值為 5.2μC。
典型性能特性
文檔中給出了多個(gè)典型性能特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨外殼溫度的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線為工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)提供了重要的參考依據(jù)。
封裝與訂購信息
FQH8N100C 采用 TO - 247 封裝,包裝方式為管裝,每管 30 個(gè)。
總結(jié)
FQH8N100C 憑借其高耐壓、大電流、低導(dǎo)通電阻、快速開關(guān)速度以及良好的可靠性等特性,成為開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用的理想選擇。電子工程師在設(shè)計(jì)相關(guān)電路時(shí),可以充分考慮該器件的性能特點(diǎn),以實(shí)現(xiàn)高效、穩(wěn)定的電路設(shè)計(jì)。
大家在實(shí)際應(yīng)用中,是否遇到過類似 MOSFET 的選型難題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。
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