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onsemi N溝道MOSFET FQP9N90C與FQPF9N90CT深度剖析

lhl545545 ? 2026-03-30 14:30 ? 次閱讀
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onsemi N溝道MOSFET FQP9N90C與FQPF9N90CT深度剖析

作為電子工程師,在設(shè)計電路時,MOSFET的選擇至關(guān)重要。今天,我們就來深入了解一下onsemi推出的兩款N溝道增強(qiáng)型功率MOSFET——FQP9N90C和FQPF9N90CT。

文件下載:FQPF9N90C-D.PDF

產(chǎn)品概述

這兩款MOSFET采用了onsemi專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計,旨在降低導(dǎo)通電阻,同時提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。它們適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)以及電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用場景。

產(chǎn)品特性

電氣性能

  • 高耐壓大電流:能夠承受900V的漏源電壓,連續(xù)漏極電流在(T{C}=25^{circ}C)時可達(dá)8.0A,即使在(T{C}=100^{circ}C)時也有2.8A。脈沖漏極電流更是高達(dá)32A,足以應(yīng)對各種高功率需求。
  • 低導(dǎo)通電阻:在(V{GS}=10V),(I{D}=4A)的條件下,(R_{DS(on)})最大僅為1.4Ω,有效降低了功率損耗。
  • 低柵極電荷:典型值為45nC,這意味著在開關(guān)過程中能夠更快地完成充電和放電,從而提高開關(guān)速度,減少開關(guān)損耗。
  • 低反饋電容:(C_{rss})典型值為14pF,有助于降低開關(guān)過程中的干擾和振蕩,提高電路的穩(wěn)定性。
  • 雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,保證了在雪崩情況下的可靠性,能夠承受一定的過電壓和過電流沖擊。

環(huán)保特性

這兩款器件符合無鉛、無鹵化物和RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求,為綠色電子設(shè)計提供了支持。

產(chǎn)品參數(shù)

最大額定值

參數(shù) FQP9N90C FQPF9N90CT 單位
(V_{DSS})(漏源電壓) 900 900 V
(I{D})(連續(xù)漏極電流,(T{C}=25^{circ}C)) 8.0 8.0 A
(I{D})(連續(xù)漏極電流,(T{C}=100^{circ}C)) 2.8 2.8 A
(I_{DM})(脈沖漏極電流) 32 32 A
(V_{GSS})(柵源電壓) ±30 ±30 V
(E_{AS})(單脈沖雪崩能量) 900 900 mJ
(I_{AR})(雪崩電流) 8.0 8.0 A
(E_{AR})(重復(fù)雪崩能量) 20.5 20.5 mJ
(dv/dt)(峰值二極管恢復(fù)(dv/dt)) 4.0 4.0 V/ns
(P{D})(功率耗散,(T{C}=25^{circ}C)) 205 68 W
(P{D})(功率耗散,(T{C}gt25^{circ}C)時的降額) 1.64 0.54 W/°C
(T{J},T{STG})(工作和存儲溫度范圍) -55 to +175 -55 to +175 °C
(T_{L})(焊接時引腳最大溫度) 300 300 °C

熱特性

參數(shù) FQP9N90C FQPF9N90CT 單位
(R_{theta JC})(結(jié)到殼熱阻,最大) 0.61 1.85 °C/W
(R_{theta JS})(殼到散熱器熱阻,典型值) 0.5 - °C/W
(R_{theta JA})(結(jié)到環(huán)境熱阻,最大) 62.5 62.5 °C/W

電氣特性

關(guān)斷特性

  • (B_{V DSS})(漏源擊穿電壓):在(V{GS}=0V),(I{D}=250mu A)時,最小值為900V。
  • (I_{DSS})(零柵壓漏極電流):在(V{DS}=900V),(V{GS}=0V)時,最大值為10(mu A);在(V{DS}=720V),(T{C}=125^{circ}C)時,最大值為10(mu A)。
  • (I_{GSSF})(正向柵體泄漏電流):在(V{GS}=30V),(V{DS}=0V)時,最大值為100nA。
  • (I_{GSSR})(反向柵體泄漏電流):在(V{GS}=-30V),(V{DS}=0V)時,最大值為 -100nA。

導(dǎo)通特性

  • (V_{GS(th)})(柵源閾值電壓:在(V{DS}=V{GS}),(I_{D}=250mu A)時,范圍為3.0 - 5.0V。
  • (R_{DS(on)})(靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻):在(V{GS}=10V),(I{D}=4A)時,典型值為1.12Ω,最大值為1.4Ω。
  • (g_{FS})(正向跨導(dǎo)):在(V{DS}=40V),(I{D}=4A)時,典型值為9.2S。

動態(tài)特性

  • (C_{iss})(輸入電容):在(V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1.0MHz)時,范圍為2100 - 2730pF。
  • (C_{oss})(輸出電容):范圍為175 - 230pF。
  • (C_{rss})(反向傳輸電容):范圍為14 - 18pF。

開關(guān)特性

  • (t_{d(on)})(導(dǎo)通延遲時間):在(V{DD}=450V),(I{D}=9.0A),(R_{G}=25Omega)時,典型值為50ns,最大值為110ns。
  • (t_{d(off)})(關(guān)斷延遲時間):典型值為100ns,最大值為210ns。
  • (t_{r})(導(dǎo)通上升時間):典型值為75ns,最大值為160ns。
  • (t_{f})(關(guān)斷下降時間):典型值為18ns。

漏源二極管特性

  • (I_{SM})(最大脈沖漏源二極管正向電流):8.0A。
  • (V_{SP})(正向壓降):在(V{GS}=0V),(I{S}=100A)時,為1.4V。
  • (t_{rr})(反向恢復(fù)時間):550ns。
  • (Q_{m})(反向恢復(fù)電荷):6.5(mu C)。

典型特性曲線

文檔中給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線為工程師在實際應(yīng)用中提供了重要的參考依據(jù),幫助我們更好地理解器件的性能和特性。

封裝信息

封裝類型

  • FQP9N90C采用TO - 220(無鉛)封裝。
  • FQPF9N90CT采用TO - 220 - 3F(無鉛)封裝。

包裝規(guī)格

兩款器件均以1000個/管的規(guī)格進(jìn)行包裝。如果需要了解卷帶包裝規(guī)格,可參考BRD8011/D手冊。

測試電路與波形

文檔中還給出了柵極電荷測試電路與波形、電阻性開關(guān)測試電路與波形、無鉗位電感開關(guān)測試電路與波形以及峰值二極管恢復(fù)(dv/dt)測試電路與波形等。這些測試電路和波形有助于工程師在實際測試和驗證過程中準(zhǔn)確測量器件的各項性能指標(biāo)。

總結(jié)

onsemi的FQP9N90C和FQPF9N90CT N溝道MOSFET憑借其出色的電氣性能、環(huán)保特性以及豐富的參數(shù)和特性曲線,為電子工程師在開關(guān)模式電源、PFC和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用中提供了可靠的選擇。在實際設(shè)計中,我們可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求,結(jié)合這些特性和參數(shù),合理選擇和使用這兩款器件,以實現(xiàn)電路的優(yōu)化設(shè)計。大家在使用過程中有沒有遇到過什么問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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