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深入解析FQP8N80C/FQPF8N80C/FQPF8N80CYDTU N - 通道QFET? MOSFET

lhl545545 ? 2026-03-29 15:45 ? 次閱讀
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深入解析FQP8N80C/FQPF8N80C/FQPF8N80CYDTU N - 通道QFET? MOSFET

一、引言

電子工程師的日常設(shè)計工作中,MOSFET是一種常見且關(guān)鍵的電子元件。今天我們要詳細探討的是Fairchild Semiconductor的FQP8N80C、FQPF8N80C和FQPF8N80CYDTU這三款N - 通道QFET? MOSFET。隨著Fairchild Semiconductor被ON Semiconductor整合,我們在使用這些元件時也需要注意一些變化。

文件下載:FQPF8N80C-D.pdf

二、整合相關(guān)注意事項

由于Fairchild Semiconductor與ON Semiconductor的整合,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改以符合ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。因為ON Semiconductor的產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線()的零件命名,所以Fairchild零件編號中的下劃線()將更改為破折號( - )。在查閱文檔時,若文檔中包含帶有下劃線(_)的設(shè)備編號,需到ON Semiconductor網(wǎng)站核實更新后的設(shè)備編號。

三、產(chǎn)品概述

(一)基本信息

這三款N - 通道增強型功率MOSFET采用了Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進的MOSFET技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計,旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強度。它們適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。

(二)主要特性

  1. 電氣參數(shù):在(V{GS}=10V)、(I{D}=4.0A)的條件下,最大漏源導(dǎo)通電阻(R_{DS(on)} = 1.55Ω),漏極電流可達8.0A,耐壓為800V。
  2. 低電荷與電容:典型柵極電荷為35nC,典型反向傳輸電容(C_{rss})為13pF,有助于降低開關(guān)損耗。
  3. 雪崩測試:經(jīng)過100%雪崩測試,保證了在雪崩情況下的可靠性。

四、產(chǎn)品參數(shù)

(一)絕對最大額定值

Symbol Parameter FQP8N80C FQPF8N80C Unit
(V_{DSS}) 漏源電壓 800 V
(I{D})((T{C}=25°C)) 連續(xù)漏極電流 8 8* A
(I{D})((T{C}=100°C)) 連續(xù)漏極電流 5.1 5.1* A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 32 32* A
(V_{GSS}) 柵源電壓 ±30 V
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 850 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 8 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 17.8 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(fù)(dv/dt) 4.5 V/ns
(P{D})((T{C}=25°C)) 功率耗散 178 W
降額系數(shù) 1.43 0.48 W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲溫度范圍 -55 to +150 °C
(T_{L}) 焊接時最大引腳溫度 300 °C

注:*漏極電流受最大結(jié)溫限制。

(二)熱特性

Symbol Parameter FQP8N80C FQPF8N80C Unit
(R_{θJC}) 結(jié)到殼的熱阻(最大) 0.89 2.66 °C / W
(R_{θCS}) 殼到散熱器的熱阻(典型,最大) 0.5 -- °C / W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) 62.5 62.5 °C / W

(三)電氣特性

  1. 關(guān)斷特性:包括漏源擊穿電壓(BV{DSS})、擊穿電壓溫度系數(shù)(Delta BV{DSS})、零柵壓漏極電流(I{DSS})、柵體正向和反向泄漏電流(I{GSSF})和(I_{GSSR})等參數(shù)。
  2. 導(dǎo)通特性:柵極閾值電壓(V{GS(th)})、靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻(R{DS(on)})、正向跨導(dǎo)(g_{fs})等。
  3. 動態(tài)特性:輸入電容(C{iss})、輸出電容(C{oss})、反向傳輸電容(C_{rss})等。
  4. 開關(guān)特性:包括導(dǎo)通延遲時間(t{d(on)})、導(dǎo)通上升時間(t{r})、關(guān)斷延遲時間(t{d(off)})、關(guān)斷下降時間(t{f})以及柵極總電荷(Q{g})、柵漏電荷(Q{gd})、柵源電荷(Q_{gs})等。
  5. 漏源二極管特性:最大連續(xù)漏源二極管正向電流(I{S})、最大脈沖漏源二極管正向電流(I{SM})、漏源二極管正向電壓(V{SD})、反向恢復(fù)時間(t{rr})和反向恢復(fù)電荷(Q_{rr})等。

五、典型特性

文檔中給出了多個典型特性圖,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨殼溫的變化、瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些特性圖對于工程師在實際設(shè)計中評估器件性能和進行參數(shù)優(yōu)化非常有幫助。

六、封裝與訂購信息

Part Number Top Mark Package Packing Method Reel Size Tape Width Quantity
FQP8N80C FQP8N80C TO - 220 Tube N/A N/A 50 units
FQPF8N80C FQPF8N80C TO - 220F Tube N/A N/A 50 units
FQPF8N80CYDTU FQPF8N80C (Y - formed) TO - 220F Tube N/A N/A 50 units

七、注意事項

(一)使用限制

ON Semiconductor產(chǎn)品不設(shè)計、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA 3類醫(yī)療設(shè)備或具有相同或類似分類的外國醫(yī)療設(shè)備,以及任何打算植入人體的設(shè)備。若買方將產(chǎn)品用于此類未預(yù)期或未授權(quán)的應(yīng)用,需承擔(dān)相關(guān)責(zé)任。

(二)產(chǎn)品狀態(tài)定義

不同的數(shù)據(jù)表標(biāo)識對應(yīng)不同的產(chǎn)品狀態(tài),如“Advance Information”表示產(chǎn)品處于設(shè)計階段,規(guī)格可能隨時更改;“Preliminary”表示首次生產(chǎn),數(shù)據(jù)為初步數(shù)據(jù);“No Identification Needed”表示全面生產(chǎn),規(guī)格為最終規(guī)格,但仍可能更改;“Obsolete”表示產(chǎn)品已停產(chǎn),數(shù)據(jù)表僅作參考。

(三)反假冒政策

Fairchild Semiconductor采取了強有力的措施來保護自身和客戶免受假冒零件的侵害。建議客戶直接從Fairchild或其授權(quán)經(jīng)銷商處購買產(chǎn)品,以確保產(chǎn)品的真實性、可追溯性和質(zhì)量。

八、總結(jié)

FQP8N80C、FQPF8N80C和FQPF8N80CYDTU這三款N - 通道QFET? MOSFET具有出色的性能和廣泛的應(yīng)用前景。在使用過程中,電子工程師需要關(guān)注整合帶來的零件編號變化,同時嚴(yán)格遵守產(chǎn)品的使用限制和注意事項。通過對產(chǎn)品參數(shù)和典型特性的深入了解,工程師可以更好地將這些器件應(yīng)用到實際設(shè)計中,實現(xiàn)更高效、可靠的電路設(shè)計。你在使用這些MOSFET時遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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